TW201026164A - Plasma excitation module - Google Patents

Plasma excitation module Download PDF

Info

Publication number
TW201026164A
TW201026164A TW097150317A TW97150317A TW201026164A TW 201026164 A TW201026164 A TW 201026164A TW 097150317 A TW097150317 A TW 097150317A TW 97150317 A TW97150317 A TW 97150317A TW 201026164 A TW201026164 A TW 201026164A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
branch
excitation module
cavity
coil
gas
Prior art date
Application number
TW097150317A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI498053B (zh
Inventor
Tung-Ying Lin
Ming-Hsien Ko
Hui-Ta Chen
Chun-Hao Chang
Original Assignee
Ind Tech Res Inst
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ind Tech Res Inst filed Critical Ind Tech Res Inst
Priority to TW097150317A priority Critical patent/TWI498053B/zh
Priority to US12/456,438 priority patent/US8604696B2/en
Publication of TW201026164A publication Critical patent/TW201026164A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI498053B publication Critical patent/TWI498053B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05HPLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
    • H05H1/00Generating plasma; Handling plasma
    • H05H1/24Generating plasma
    • H05H1/46Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • H01J37/321Radio frequency generated discharge the radio frequency energy being inductively coupled to the plasma
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/32Processing objects by plasma generation
    • H01J2237/33Processing objects by plasma generation characterised by the type of processing
    • H01J2237/332Coating
    • H01J2237/3322Problems associated with coating
    • H01J2237/3325Problems associated with coating large area

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Description

201026164 P27970082TW 29617twf.doc/n 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明是有關於一種電漿激發模組,且特別是有關於 一種感應耗合式(inductively coupled plasma,ICP)電漿激發 模組。 【先前技術】
電漿是包含離子或t子與自由基(radical)的氣體的電 離態,而受到廣泛的應用。通常電漿處理是指將氣體轉變 為電漿以及將電漿氣體沉積在基板上或將電漿氣體用於清 洗(cleaning)、塗佈(coating)、濺鍍(sputtering)、電漿化學 氣相沈積、離子植入、灰化(ashing)或餘刻等。目前常見的 電漿處理設備在運作時,當兩個電極之間形成強大的電場 之後,被供應到這兩電極之間的製程氣體就會被離子化或 解離而產生電漿。 現階段在顯示器的研發狀況,主要朝向大型化顯示器 與軟性顯示器的研究與開發應用,其中商品化過程中最重 要的課題為基板大©訂高均自度的問題。舰使用電溶 式電漿(capacitively coupled plasma,ccp)受限於電漿密肩 較小’設備之製程速率紐有效提升,_感餘合電^ (mductively coupled plasma,lcp)成為另一項極具潛 ^ ^丁。由於ICP所產生之電衆密度較高,_—般也稱 ^電之特徵為具錢生電_軸合= 圈然而,在大面積1CP的設計上會遭遇到下列問題:(1: 201026164 P27970082TW 29617twf.doc/n 當線圈長度過長時會導致駐波的問題,影绝 率;⑺在大面積化時’電漿均勻度較難進行;敕 是在線圈邊緣的部分,容易造成電聚輔助 ^ ^ 蝕刻等製程受限。 乂冤聚輔助 中華民國專利TW 00449107提出將線圈埋 中’且介電層會放置在腔體内與基板載台對向的位二 電層可調整外型,改變電場搞合強度^然而,^ 須燒結適當的介電材料,才能進行線圈的安裝。^必 置在介電材料中的線圈的散熱必須額外通以冷卻装置;在 j本上是相對高。由於線圈是嵌入於介電層中,當實測時 若需要進行調整,反而相當不便,且進行大面積二時’,声 結大面積之介電層、線圈埋設會更加困難。 凡 美國專利US6,868,_所提出的線圈設計採 的幾何外型’其線圈是由主幹與分支所構成的對稱结構。 雖然可以避免線圈長度過長所產生的駐波現象,但 的幾何外型十分複雜使得加工精度的要求會大幅提^、,增 加I加工上的困難度與成本。此外,此篇專利的供氣系^ ^單個側邊供氣的裝置,此種設計僅在低氣壓_^ ’, 氣體分子的擴餘態才會比較好,電㈣度才會比較“均勾。 美國專利US 7,079,085提出以平行並聯且互相交錯的 方式來進行線圈的設計,並利用兩線圈互補的方式來提高 電,的均勻性。此種、賴m線所繞成的雙迴路線圈, 且每個迴路間保持相鄰與平行。而單一迴路的線圈,其電 源端與地端相鄰配置。因兩線圈為並聯式的結構,因^線 201026164 F279700X2TW 29617twf.doc/n 圈總阻抗較小。此外,由於相鄰的兩線圈每隔一段距離會 彼此平行交錯,且電源流動方向相反,可有互補的功能, 以平衡電場分布。—,此種設制於大面_其線圈的 架構複雜且加工,且安裝較不便利。 【發明内容】 ❿ ❿ 聚本發明提供-種電漿激發模組,可以產生均勻的電 圏以ί發,?出—種電漿激發模組,包括—腔體、多個線 電層外側,且各線圈4設;】管= 孔系統%繞介電層並與腔體内部相連通。 線型2發明之—實施财,上述之各線圈包括至少二個 =彼=相鄰兩線型主體的連接部。各線型主 或非弯饤或不平行。連接部例如是具細構型 的距實施财’上述之各線圈舆介電層之間 包括明之—實施财’上叙衫路分支進氣李續 =二^路、氣體進口介面以及多個 介面連接進氣管路,且個分支管路。氣體進口 之間。噴嘴配置於氣體進口介面:面=於介電層與腔體 内部連通,其中各分支管路的末端連接二路= 201026164 P27970082TW 29617twf.doc/n 氣體出口孔控例如是可調整。 在本發明之一實施例中,上述各分支管路包括一第一 分支與多個第二、第三至第N分支,其中N為正整數。第 -分支連接主要管路。各第二分支連接第—分支的末端與 各第三分支的前端。各第分支連接各第N 2分支末端 與各第N分支前端。各第N分支連接第則分支的末 與喷嘴。各第N'1分支所連接的第N分支數量例如是相等。 • A在本發明之—實施财,上述各分支管路的長度為相 等。 。在本發明之一實施例中,電漿激發模組更包括介電層 支撐板,以將介電層鎖固於腔體上。 3 /在本發明之一實施例中,電漿激發模組更包括氣體供 、:系、洗連接至多管路分支進m氣體m统包括 氣體源與質流控制裝置(mass contr〇ller,娜 質抓控制裝置配置於多管路分支進㈣雌氣體源之間。 t發日牧—實施例中,賴激賴岐包括電源系 、、’遷接至線圈。電源系統包括高頻電源與匹配電路,Α 中匹配電路配置於制與高頻電狀間。 - μ 實 電餘發模岐包括真空抽 其中排氣管配置於腔體與真空泵之間。L排 在本發明之—實施例中,上述之 其例如是鋁或鋼。 )㈣為金屬, 在本發明之1關巾,上叙介電層㈣料為石英 201026164 以 7W_2TW 29617twf.doc/n 玻璃或陶竟。 官路分支進氣系統 在本發明之一實施例中,上述之多 的材料為金屬。
❹ 在本發明之-實施例中,上述之腔體的材料為金屬。 基於上述,本發明之電衆激發模組利用並聯式電 圈的大型化輯並搭配多管路分支進氣系統,可以改 善電磁場均勻度與·流場均勻度,以麵電漿密度 化,而提升薄膜形成或蝕刻製程的均句度。 為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特 舉實施例,並配合所附圖式作詳細說明如下。 【實施方式】 下列各實施例的說明是參考附加的圖式,用以例示本 《月可用以實施之特定實施例。本發明之實施射所提到 ” ’例如「上」、「下」、「前」、「後」、「左」、 右」 内」、「外」等,僅是參考附加圖式的方向。 因此’下列使用的方向用語僅是用來說明,以使熟習此項 技術者月b,據以實施’但並非用以限定本發明之範圍。 圖1疋依照本發明之一實施例之一種電漿激發模組的 剖面不意圖。 °月4…、圖1 ’電漿激發模組100包括腔體102、多個 ^圈120以及多管路分支進氣系統130。腔體102具有介 j U〇 ’介電層110例如是配置於腔體102的下部,且 復里開口 104。線圈12〇配置於腔體1〇2的介電層11〇外 201026164 P27970082TW 29617twf.doc/n 側,且各個線圈120彼此間隔—個距離而並聯。多管路分 支進氣系統130環繞介電層11〇,並與腔體1〇2内部相連 通0 在一實施例中’電漿激發模組丨⑻還包括氣體供給系 統140、電源系統15〇與真空抽氣系統16〇。氣體供給系統 140連接至多管路分支進氣系統13〇,以提供氮氣、氬氣或 其他適當的製程氣體至腔體1()2内。氣體供給系統14〇包 ❹ 括氣體源142與質流控制裝置(mass fl0w. contr〇ller, MFC)144。質流控制裝置144配置於多管路分支進氣系統 130與氣體源142之間。 電源系統150連接至線圈12〇,以導入高頻電壓至線 圈12〇而產生電磁場。電源系統150包括高頻電源152與 匹配電路1M。匹配電路酉己置於線圈m與高頻電源 152之間,以達成較高的電源傳輸效率。 真空抽氣系統160連通至腔體1〇2的抽氣口 1〇6,以 將腔體102内的空氣抽出,而使腔體102内呈現真空狀態。 真空抽氣系統160包括真空泵162與排氣管164。排氣管 164配置於腔體1〇2之抽氣口 1〇6與真空泵162之間。在 此實施例中是以雙邊排氣的電漿激發模組1〇〇為例來作說 明,亦即腔體1〇2的兩側分別具有一個抽氣口 1〇6,且分 別連接至真空抽氣系統16〇,但本發明並不限於此。 在本發明之一實施例中,電漿激發模組100藉由真空 泵162對腔體1〇2進行抽氣,直到壓力穩定後,再開啟氣 體源142經質流控制裝;置144設定氣體流量,製程氣體由 201026164 rz/y/uu»2TW 29617twf.doc/n 氣體源142供給’經質流控制裴置l44、多管路分支進氣 系統130、流入於腔體1〇2 β。待供給氣體至腔體1〇2内之 壓力穩碰,開啟高頻電源152供給高頻電壓,並搭配阻 抗匹配電路154 ’對固定於介電層110外側的線圈120導 入局頻電壓產生電磁場。經由線圈12G的電感侧於腔體 搬内產生電磁%,使電子衝擊製程氣體之中性粒子造 成氣體電,’而於腔體1G2内產生密度均勻的電裝。 ❹ 圖2是賴本發明之—實施狀-種電⑽發模組底 拍立體不思圖。圖3是依照本發明之—實施例之一種電 聚激發模組頂部的立體透視示意圖。為方便說明,在圖2 與圖3中僅緣不腔體、介電層、線圈及多管路分支進氣系 統的相對配置關係。圖4是隱藏圖3之腔體的局部立體透 視示意圖。 η月同日守參照圖1、圖2、圖3與圖4,腔體撤的底部 具有開口 104’作為進氣口以及配置感應線圈之用。腔體 1()^的材料例如是金屬。介電層11G覆蓋開π 1G4,而構成 102的一面。介電層110的上表面會與腔體102内的 真空接觸’而介電層110的下表面會與大氣接觸。介電層 110的材料例如是石英玻璃或喊。線圈12G並聯配置於 腔體102的外側,即線圈12〇配置於介電層11〇位於大氣 侧的下表面上。線圈120的材料例如是金屬,其可以為銘 或銅。多S路分支進a紐m的管路例如是配置在線圈 120的下方及環繞介電層11G的周圍。多管路分支進氣系 統㈣的管路末端分別具有多個氣體出口·,且氣體出 201026164 P27970082TW 29617twf.doc/n 口 ^30a例如是配置於介電層11〇位於腔體側的上方,而使 多官路分支進氣系統13〇能夠與腔體1〇2的内部相連通。 圖5是依照本發明之一實施例之介電層與線圈配置的 底視示意圖。圖6A至圖6C分別是依照本發明之—實施例 之線圈的示意圖。 卜明參照圖5,為多個線圈120並聯設置情形,其中, 每-線圈12G包括線型主體122與連接部124,連接;124 ,接相鄰兩個線型主體122。線型主體122彼此之間可以 疋平行也可以疋互不平行。連接部124例如 型。詳細說_是,多個線型域122湘在介 連接部124例如是將至少兩個相鄰 、線里主體122㈣料,以構成單—的線圈結構。 在:實施财’如圖6Α所示,單—線圈12〇可以是 u型i圈接^24將兩個線型主體122串聯起來所組成的 ,圈。在另一實施例中,如® 6B所示,單一線圈12〇, ❹
Si由:個ΪΪ, 124將三個線型主體122串聯起來所 又一只施例中,如圖6C所示,單一線圈 可以是藉由三個連接部124將四個線型主體122串 =的’也就是將兩個如‘6Α所示之== ,在其他實施例中,連接部 線性主體122心卩纟% ’則會使連接的兩 限定。體22“㈣,本發明於料作特別之 此外,每個單—線圈120與介電層11〇之間的距離可 10 201026164 P27970082TW 29617twf.doc/n 以是相同或是不相同。在施加的高頻電壓為相同的情況 下,當線圈120與介電層110之間的距離越近,腔體1〇2 内部所感應到的電場強度會越大;當線圈120與介電層11〇 之間的距離越遠,腔體102内部所感應到的電場強度會越 小。由於每個線圈120皆為平行並聯式的擺設方式,故可 以調整個別單一線圈120與介電層Π0之間的距離,來, 整特定區域的感應電場強度,以使電漿的均勻性獲得進— ❹ 步的提升。也就是說,每個單一線圈120與介電層11〇之 間的距離可以視需求逕行調整。此外,由於線圈12〇配置 在大氣側,因此可以輕易地調整單一線圈12〇的位置,而 使電場更均勻。 圖7A與圖7B分別是依照本發明之一實施例之線圈配 置與電漿密度的關係示意圖。須注意的是,在圖7A與圖 中所述之例示僅是為了詳細說明藉由調整每組線圈與 介電層之間的距離所達成的效果,以使熟習此項技術者能 φ 夠據以實施’但並非用以限定本發明之範圍。 舉例來說,如圖7A所示,當每個線圈12〇與介電層 110之間的距離皆相同時,會在兩侧的位置P1與P3處量 測到較,的電毁密度,而在中央的位置Μ處量測到較小 八電永费度,因此此種線圈配置之設計所產生的電衆 二^不均勻。如圖7B所示,在藉由調整位於位置P1與 ^的、線圈配置之後’亦即使位於位置pl與p3處的線圈 盥八:介電層U〇之間的距離較位於位置P2處的線圈120 ” I包層110之間的距離來得大,會量測到更均勻的電漿 201026164 P27970082TW29617twf.doc/n 密度分布。詳言之,當位於位置Ρ1與Ρ3的線圈120距離 介電層110較遠時,腔體1〇2内所感應的電場強度會較小, 因此可以使位置pi與Ρ3的電漿密度降低,而與位置Ρ2 的電漿密度呈現一致。 春 Ο 由於電漿密度與電場強度關係密切,因此要達成良好 的電場強度,線圈間的距離是相當重要。本發明之一實施 例所述之平面式線圈的結構簡單易於加工,多個並聯的線 圈結構亦可避免駐波問題,且藉由並聯線圈的方式可以視 需求調整線圈數來達成更λ面制線贿構,而有利於顯 不器等大面積電漿激發模組的需求。 、‘、、 的立照本發明之一實施例之多管路分支進氣系統 妒一。圖9是依照本發明之—實施例之噴嘴的立 腹不思圖。 請參照® 8 ’多管路分支進氣系统ls〇包括進氣 =2曰、氣體進π介面134與噴嘴136。氣體進口介面η =具有框架構型,且連接進氣管路請。氣體進口介面 例如是配置於介電層(未緣示)與腔體(未繪示)之間 連接,中’並與進氣管路132的 連接’以使進氣管路132可以與腔體内部連通 例如是具村難錄大,㈣氣體出σ 圖嘴 利用調整氣體出口咖的孔徑大小來改變氣體9: _速’可以作為微調氣場均勻性的手段。多管路乂 進氣系統130的材料例如是金屬。 刀支 進氣管路132包括主要管路132a與分支f路咖、 12 201026164 P27970082TW 29617twf.doc/n 132c、132d、132e、132f。主要管路132a例如是連接氣體 供給系統140,以使氣體源142所提供的製程氣體可以經 由進氣管路132流入腔體102内。每個分支管路132f的最 末端出口會各自連接一個喷嘴136。 如圖8所示,在一實施例中,主要管路132a位於中 央,且會連接到四周方向的分支管路132b ;每個分支管路 132b會連接到兩個分支管路132c ;每個分支管路132c會 ❹ 連接到兩個分支管路132d ;每個分支管路132e會連接到 兩個分支管路132f;而每個分支管路I32f則會各自連接到 一個噴嘴136。當氣體源142供應製程氣體至主要管路132a 時’氣體會等分地流入分支管路132b,之後由各分支管路 132b依序等分地流入分支管路132c、132d、132e、mf, 因此經過數次等分的氣體會從分支管路丨3 2 f經由喷嘴13 6 流入腔體内。此外’任意組合的分支管路132b、132c、 132d、132e、132f相連接所構成的長度例如是相等。也就 是說,製程氣體從主要管路132a依序流經各分支管路 132b、132c、132d、132e、132f至噴嘴130的流動距離皆 相同。 藉由將進氣管路132依序等分成多個分支管路132b、 132d、132e、132f,並在分支管路的最末端都連接 喷f 136 ’如此—來漸進式的多管路分支進氣可有助 ^升氣場均勻度。此外’在此實施例中每個分支管路僅 二t刀成:個分支营路’而非將每個分支管路直接連接到 :、刀的大里喷嘴’因此每:欠少量的等分管路更可以使每個
實施例之一種電漿激發模 201026164 P27970082TW 29617twf.doc/n 喷嘴排出的氣體量更為一致β 特別說明的是,電讓密度也與氣場的均勾度有關,由 於在較高缝㈣境下’電漿擴散的縣較差,因 成均勻的密度,氣場與電場的分布都轉 發明之-實施例❹管路分支進氣純,其特色除了多管 路分支進氣外,還可㈣過氣場模擬來調整不同位置喷嘴 的,孔餘,藉此微調不同位置的岐量來產生更均勾的 氣,。利用多管路分支進氣作為均勻的供氣系統產生良好 的氣場分布,可以使電漿密度更均勻。 圖10是依照本發明之另一 組底部的立體示意圖。 凊參照圖10,在一實施例中’電漿激發模組1〇〇更包 括介電層支撐板112。介電層支撐板112配置於腔體1〇2 的下方,並使介電層110與氣體進口介面134夾持在腔體 與介電層支撐板112之間。介電層支撐板ιΐ2可以將 介電層110與多管路分支進氣系統13〇鎖固於腔體1〇2 上,使腔體102内部具有氣密性,亦即使腔體1〇2内的反 應氣體可以與外界空氣隔絕。在一實施例中,介電層支撐 板112是以框架的構型壓覆在介電層110的輪廓上。介電 層支樓板H2的材料例如是金屬。 此外’本領域具有通常知識者應當知道,以上所介紹 的並聯式線圈組及多管路分支進氣系統,可以分開個別使 ^於不同的電漿激發模組,而用以提升電場均勻度或提升 氣場均勻度’並不限於上述實施例所示要同時配置在單一 14 201026164 P27970082TW 29617twf.doc/n 電漿激發模組中。 為證實本發明之電㈣發模㈣實㈣提升電聚均 句,’接下來將以實驗例,其特性n驗例之說明 僅疋用來說鴨圈配置料電辟以及多管路分支進 氣系統對於氣場的料’錢_以限定本發明之範圍。 實驗例
圖11A至圖11C分別為使用不同線圈配置之電場的分 布圖。 如圖11A所示,當電漿激發模組中配 y,(如圖6A所示之線圈)時,可以獲得較;句= 刀布。如圖11B所示,當電漿激發模組中配置的單一線圈 ,兩組U型線圈串聯(如圖6C所示之線圈)時,也可以獲 得較均勻的電場分布。 又 此外’如圖11C所示,當電漿激發模組中配置的單一 ,圈為兩組u型線圈串聯,並使位於邊緣兩側位置p4、 j的線圈距離介電層較遠(如圖7B)時,還可以使電場 h布的均勻度獲得更進一步的改善。 卜圖12A與圖12B分別為使用不同進氣管路分支配置之 乳體量分布圖。圖12C為使用如圖12B所示之進氣 支配置之氣場的分布圖。 如圖12A所示,進氣管路是由主要管路連接到四周方 ,的四個分支管路,且每個分支管路再進一步等分成八個 虱體出口,由結果可以發現,進氣量大都分布在位於中央 15 201026164 _〇 晴〜d〇c/n 此種進氣管路分支配置的 ==分支r的嶋口,而造成進氣u 配置是相同於;^在例中所使用的進氣管路分支 ❹ ❹ 個分支管路又的:=二每 連接-個噴嘴作為氣體出口。由結=的以:別 進氣的分布= 進乳管路分支配置可以使 支配ΪΓΪΤ當使用圖陶斤示使用的進氣管路分 獲得較均勻的氣場分布’而改權激發 整體而言,由以上實驗例的結果顯示 =線=配置以及多管路分支進氣系統分別可以使電二 刀布更均勻,因此電漿激發模岐用 圈或多管路分支職系_可以產生更均勻^漿⑼線 综上所述,本發明之電漿激發模組利用平面式並聯的 線圈結構’其結構簡單易於加工,且多個並聯的結構亦可 避免駐波問題產生。由於多個線圈為並聯式的配置,故可 針對個別單-線圈與介電層之間的距離進行調整,以調整 感應電場的強度,用來使電漿均勻性獲得提升。此外,騎 由調整並聯的線醜量可以達成更大面積的線圈架構,^ 16 201026164 P27970082TW 29617twf.doc/n 利於顯示器等大面積ICP的需求 再者,本發明之電漿激發模組利用多管路 統進行漸進式的多管路分支進氣,因此可有助於 ^ 的最末端義職射嘴,且可,整倾的的氣體^路 =場因此能夠藉_調不同位置的出氣量來產生3 = 雖然本發明已以實施例揭露 本發明,任何所屬姑供伟k 士曰+ 、、其並非用以限定 太,領域中具有通常知識者,在不脫離 的氣場分布,而使電漿密度更均勻。此外,每,J好 的悬太戚老lUgl Si丨洁拉〇 1 路 參 故本 本發明之精神和範圍内’當可作些 發明之佯鳟笳囹A、曰从u ^ 文動”潤飾’石又 月之保杨圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準 【圖式簡單說明】 剖面:上口依照本發明之-實施例之-種電漿激發模組的 部的發明之一實施例之-種嫩發模組底 部二明之一實施例之-種電繼模組頂 圖4,隱藏圖3之腔體的局部立體透視示意圖。 广、s圖!7^依照本發明之—實施例之介電層與線圈配置的 底視不意圖。 -立f认至圖6C分別是依照本發明之—實施例之線圈的 不思圖。 17 201026164 P27970082TW 29617twf doc/π 圖7A與圖7B分別是依照本發明之一實施例之線圈配 置與電漿密度的關係示意圖。 圖8是依照本發明之一實施例之多管路分支進氣系統 的立體示意圖。 圖9是依照本發明之一實施例之喷嘴的立體示意圖。 圖1〇是依照本發明之另一實施例之一種電漿激發模 組底部的立體示意圖。 ❿ 圖11A至圖11C分別為使用不同線圈配置之電場的分 布圖。 圖12A與圖12B分別為使甩不同進氣管路分支配置之 氣體量分布圖。 圖12C為使用如圖12B所示之進氣督路分支配置之々 場的分布圖。 氣 【主要元件符號說明】 100 :電漿激發模組 ❹ 102 :腔體 104 :開口 106 :抽氣口 110 :介電層 112 :介電層支撐板 120、120’、120” :線圈 122 :線型主體 124 :連接部 18 201026164 P27970082TW 29617twf.doc/n 130 :多管路分支進氣系統 130a、136a :氣體出口 132 :進氣管路 132a :主要管路 132b、132c、132d、132e、132f :分支管路 134 氣體進口介面 136 喷嘴 140 氣體供給系統 142 氣體源 144 質流控制裝置 150 電源糸統 152 南頻電源 154 匹配電路 160 真空抽氣系統 162 真空泵 164 :排氣管 ® P卜 P2、P3、P4、P5 :位置 19

Claims (1)

  1. 201026164 P27970082TW 29617twf.doc/n 七、申請專利範園: L 一種電漿激發模組,包括: 一腔體,該腔體具有一介電層; 多個線圈,配置於該腔體之介電層外側,各線圈係並 聯設置;以及 夕笞路分支進氣系統,環繞該介電層並與該腔體内 部相連通。 2. 如申請專利範圍第1項所述之電漿激發模組,豆 中各線圈包括: 、 〃 至> 一線型主體;以及 一連接部,連接相鄰兩線型主體。 3. 如申5月專利範圍第2項所述之電聚激發模組,其 中各該些線型主體彼此平行或不平行。 中丄利範圍第2項所述之電漿激發模組,其 〇連接°卩具有彎曲構型或非彎曲構型。 參 士々5.如申請專利範圍第1項所述之電聚激發模组,笪 中各線圈與該介騎之_距離為可調整 ,、 6. *申請專利範圍第 中該多管路分支進I魏包括:錄綠模、,且/、 一進氣管路,包括: 一主要管路;以及 $夕個分支管路,連接該主要管路; 配詈於二介面’連接該進氣管路’該氣體進口介面 置於該,丨電層與該腔體之間;以及 20 201026164 P27970082TW 29617twf.doc/n 多個噴嘴’配置於該氣體進口介面中,以使該進氣管 =腔:内部連通,其中各該些分支管路的末端連接至 各該些賀嘴。 申料職圍第6項所述之電漿激發模組,其 中各该些喷嘴的氣體出口孔徑為可調整。 8.如申請專利範圍第6項所述之電裝激發模組其 中各該些分支管路包括: '
    第一分支,連接該主要管路;以及 笛二一'第二至第Ν分支,各該些第二分支連接該 支末端與各該些第三分支前端,各該些第則分支 此些第N_2分支末端與各該些第N分支前端,各該 一效叔刀支連接第N l分支末端與各該些喷嘴,其中⑽ 正整數。 祕^士如申5月專利範圍第8項所述之多管路分支進氣系 :各5亥些第N_1分支所連接的該些第N分支數量為 相等。 从1°广申請專利範圍第6項所述之多管路分支進氣系 、,先中各該些分支管麵長度為相等。 ^ u.如申請專概㈣1項所述之電漿激發模組,更 匕~電層支樓板’以將該介電層鎖固於該腔體上。 A 12:如申請專利範圍第1項所述之電漿激發模組,更 〇括-乳體供給系統,連接至該多管路分支進氣系統。 13·如申請專利範圍第12項所述之錢激發模組,其 中該氣體供給系統更包括-氣體源與-質流控制裝置,其 21 201026164 F27970082TW 29617twf.doc/n 中該質流控制裝置配置於該多管路分支進氣系統與該氣體 源之間。 14.如申請專利範圍第1項所述之電漿激發模組,更 包括一電源系統,連接至該些線圈。 15·如申請專利範圍第14項所述之電漿激發模組,其 中該電源系統更包括一高頻電源與一匹配電路,其中該匹 鬌 配電路配置於該些線圈與該高頻電源之間。 16.如申請專利範圍第丨項所述之電漿激發模組,更 L括一真空抽氣系統,連接至該腔體。 中兮1^如巾請專利範圍第16項所述之钱激發模組,其 工抽氣系統更包括一真空泵 氣管配置於該腔體與該真空泵之間。飞吕-中該排 中該;申第1項所述之電黎激發模組’其 ® 4線項所述之電菜激發模组’其 中今入〇费如申請專利範圍第1項所述之電聚激發槎細甘 =電層的材料為石英玻璃或陶竟。親组,其 中該多故枚申明專利範圍第1項所述之電襞激發桓細甘 22分支進I魏㈣料為金屬。 申兮狀涨如申料利勒第1項所述之電f 干5亥腔趙的材料為金屬。 K轉激發摈組,其 22
TW097150317A 2008-12-23 2008-12-23 電漿激發模組 TWI498053B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW097150317A TWI498053B (zh) 2008-12-23 2008-12-23 電漿激發模組
US12/456,438 US8604696B2 (en) 2008-12-23 2009-06-16 Plasma excitation module

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW097150317A TWI498053B (zh) 2008-12-23 2008-12-23 電漿激發模組

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201026164A true TW201026164A (en) 2010-07-01
TWI498053B TWI498053B (zh) 2015-08-21

Family

ID=42264999

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW097150317A TWI498053B (zh) 2008-12-23 2008-12-23 電漿激發模組

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8604696B2 (zh)
TW (1) TWI498053B (zh)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103959920B (zh) * 2011-09-16 2016-12-07 细美事有限公司 天线结构和等离子体生成装置
KR20180112794A (ko) * 2016-01-22 2018-10-12 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 전도성 층들이 매립된 세라믹 샤워헤드
KR20210025707A (ko) * 2018-07-26 2021-03-09 램 리써치 코포레이션 콤팩트한 고밀도 플라즈마 소스
CN116997068B (zh) * 2023-09-25 2023-12-26 湘潭宏大真空技术股份有限公司 用于磁控溅射镀膜的等离子发生器及磁控溅射镀膜机

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6136140A (en) * 1993-01-12 2000-10-24 Tokyo Electron Limited Plasma processing apparatus
CH687258A5 (de) * 1993-04-22 1996-10-31 Balzers Hochvakuum Gaseinlassanordnung.
US5589737A (en) * 1994-12-06 1996-12-31 Lam Research Corporation Plasma processor for large workpieces
US5907221A (en) * 1995-08-16 1999-05-25 Applied Materials, Inc. Inductively coupled plasma reactor with an inductive coil antenna having independent loops
US5716451A (en) * 1995-08-17 1998-02-10 Tokyo Electron Limited Plasma processing apparatus
TW449107U (en) 1995-08-17 2001-08-01 Tokyo Electron Ltd Plasma processing device
DE59700524D1 (de) * 1996-12-23 1999-11-11 Sulzer Metco Ag Wohlen Indirektes Plasmatron
CN1122117C (zh) * 1997-12-05 2003-09-24 泰格尔公司 带有沉积屏蔽板的等离子体反应器
TW462207B (en) * 2000-02-24 2001-11-01 Nano Architect Res Corp Method and apparatus for generating high-density uniform plasma by inductively coupling
US6502530B1 (en) * 2000-04-26 2003-01-07 Unaxis Balzers Aktiengesellschaft Design of gas injection for the electrode in a capacitively coupled RF plasma reactor
TWI222097B (en) * 2001-06-08 2004-10-11 Jusung Eng Co Ltd Plasma processing apparatus
KR200253559Y1 (ko) 2001-07-30 2001-11-22 주식회사 플라즈마트 회전방향으로 균일한 플라즈마 밀도를 발생시키는유도결합형 플라즈마 발생장치의 안테나구조
JP5017762B2 (ja) * 2001-09-27 2012-09-05 株式会社Ihi 放電装置、プラズマ処理方法
US6868800B2 (en) 2001-09-28 2005-03-22 Tokyo Electron Limited Branching RF antennas and plasma processing apparatus
KR100443908B1 (ko) * 2001-10-25 2004-08-09 삼성전자주식회사 플라즈마 화학기상증착장치 및 이를 이용한나이트라이드막 형성방법
JP3839038B2 (ja) * 2003-06-02 2006-11-01 株式会社シンクロン 薄膜形成装置
JP2006237479A (ja) * 2005-02-28 2006-09-07 Mitsubishi Heavy Ind Ltd プラズマ処理装置
WO2008024392A2 (en) * 2006-08-22 2008-02-28 Valery Godyak Inductive plasma source with high coupling efficiency
JP4826483B2 (ja) * 2007-01-19 2011-11-30 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置
US7976674B2 (en) * 2007-06-13 2011-07-12 Tokyo Electron Limited Embedded multi-inductive large area plasma source
US20090236447A1 (en) * 2008-03-21 2009-09-24 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for controlling gas injection in process chamber

Also Published As

Publication number Publication date
US20100156300A1 (en) 2010-06-24
US8604696B2 (en) 2013-12-10
TWI498053B (zh) 2015-08-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6155199A (en) Parallel-antenna transformer-coupled plasma generation system
US8917022B2 (en) Plasma generation device and plasma processing device
TW201044923A (en) RF bus and RF return bus for plasma chamber electrode
US20080179546A1 (en) Ion beam apparatus having plasma sheath controller
TW200810612A (en) Plasma generating method, plasma generating apparatus, and plasma processing apparatus
TW201026164A (en) Plasma excitation module
CN110337170B (zh) 一种基于电流驱动技术反场位形结构的高密度等离子体射流发生装置
WO2010058560A1 (ja) プラズマ処理装置
TW201142894A (en) Inductively coupled plasma source for extracting ribbob ion beam
US20100105195A1 (en) Method and apparatus for forming a film by deposition from a plasma
TW200537992A (en) Plasma generating equipment
TW200810611A (en) Plasma generating method, plasma generating apparatus, and plasma processing apparatus
KR20140087215A (ko) 플라즈마 장치 및 기판 처리 장치
JP3751909B2 (ja) プラズマ装置及びプラズマ処理基体
TW200926907A (en) Plasma source having ferrite structures and plasma generating apparatus employing the same
TW201117678A (en) Plasma processing apparatus
CN103648978B (zh) 碳纳米墙排列体以及碳纳米墙的制造方法
CN104427736A (zh) 等离子体处理装置
US8394232B1 (en) Plasma processing apparatus
TW201221687A (en) Plasma processing apparatus
CN101855707B (zh) 等离子处理装置
TWI469695B (zh) Plasma processing device
KR102074323B1 (ko) 플라즈마 발생 장치
JP2013161715A (ja) プラズマ発生装置
KR101994480B1 (ko) 게이트 절연막 형성 방법