TW200950615A - Circuit board test clamp - Google Patents

Description

200950615 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種測試爽具，尤指一種對電路板進行 測試之測試夾具。 【先前技術】 在電腦之組成結構中，有一個很重要之部分，就是記 憶體。記憶體是用來存儲程式和資料之部件，對於電腦來 說，有了記憶體’才有記憶功能，才能保證正常工作，目 〇前DDR ( DOUBLE DATA RAGE)記憶體已成為最主流之 記憶體產品。為保證DDR記憶體之正常工作，我們需要 對其時鐘訊號，控制訊號，定址訊號，資料讀寫訊號等進 行訊號完整性測試。該項測試主要是在DDR記憶體工作 之時候對以上訊號之高、低電平，頻率，週期，建立保持 時間等參數進行驗證。 一為對DDR記憶體之時鐘訊號，控制訊號，定址訊號，

試儀之探棒不能直接接觸記憶體之測試點

這樣我們每測試一 組訊號就需要在相對應 點以進行訊號之捕 根測試延長線出來 之記憶體測 6 200950615 試點上焊接測試延長線供測試儀之探棒進行探測，此種測 試過程會造成以下弊端： 1.由於DDR記憶體之測試點焊盤报小，點肖點之分伟 ，密，造成焊接測試延長線非㈣難，而且測試延長線很 .容易松脫’掉落，這時需要重新焊接才能繼續測試，而這 在DDR需要測試多組訊號時，嚴重影響到了訊號完整性 驗證之效率。

2·該測試延長線之焊接存在焊接不&分，虛焊等現 象’影響到訊號完整性驗證之品質。 3. 該測試延長線之焊接必須在測試某―組之前完成， 當要進行下—組㈣之賴時，㈣先Μ，取下DDR 記憶體，去除上-次之測試延長線，重新焊接，插上記憶 體，開機繼續測試這樣-個流程，過程須瑣，效率低下。 4. 反復在DDR記憶體上焊接測試延長線’極易造成記 憶體之損壞，增加了測試驗證之成本。 【發明内容】 馨於以上内容，有必要提供一種電路板測試夹具，不 需焊接測試延長線即能方便測試電路板。 :種電路板測試夾具，包括—用以夾持—待測電路板 之央持件及一固定於該爽持件上之至少-探測件，該夾持 件包括兩夾持側壁及-具彈性之連接部，該兩夾持側壁之 -端透過該連接部連接，另—端相互靠近以具夾持功能， 該探測件裝㈣其中-夾持側壁上，其包括位於其兩端之 兩測試探針，其中-測試探針用以與該待測電路板上之測 7 200950615 試點電性接觸，另一測試控 相較習知技術，該電路板測，式=連接一測試儀。 待測電路板，並將該探測件之1測試該夾持件夾持 上之測試點電性接觸，再將該_件電路板 試儀相連，即可方便地對該待測電路;探=測 .重複焊接測試延長線之環節，杜頌T d5式，4去了 ㈣起之測量不精確及損壞電 高了測試效率。 另亦大大提 ❹ 【實施方式】

請一併參考圖1及圖2,太狢aa^ A 一較佳實施方1句# + 本發月電路板測試夾具之第 實施方式包括一夾持件1〇及 夾持件1〇包括兩夾持側壁12、14 :: ^連接部16呈圓弧狀，該兩夹持側壁二::接： =該連接部16連接，其另-端相互靠近以具夹二;端 該圓弧狀之連接部16之弧 =寺功月匕 及該連接部體成型，兩爽持側壁12、14 菔砥型，該兩夾持側壁12、14 之侧面上靠近底部（對應相互靠 相互面對 滑層122、142。該兩探測侏9n ^端）权有兩絕緣防 辟” L # 件〇、40並排設置於該夾持侧 壁12上，其結構功能均相同。 本第一實施方式中，以兩探測件20、40中之其中一個 探測件20為例對其結構進行說明，該探測件2〇具有一連 接部22及分麻於該連接部22兩端之兩賴探針以及 26’該連接部22透過該夾持侧壁12上之兩固定元件⑶ 固定於該夾持側壁12上。該探測件2〇底部之測試探針％ 與連接部22垂直且位於該夹持㈣12底端下方之一小段 8 200950615 距離處，用於有效接觸待測電路板上之測試點。該探測件 2〇頂部之測試探針26自連接部22垂直弯折後繼續垂直向 上延伸，用於連接測試儀上之探棒。 請繼續-併參考圖3至圖7，當測試一電路板3〇 (如 記憶體）之雙端訊號（如差分訊號）時，將該電 •具之爽持件1〇之兩爽持側壁12、14打開，該連接部^ 彈性變形’將兩夾持側壁12、14置於該電路板3〇兩側攀 開夾持侧壁12、14，該連接部16彈性恢復，該兩探測^ ❹20、40之測試探針24、44與該電路板3〇之測試點有效地 電性接觸，將測試儀上之探棒6〇與該兩探測件2〇、4〇之 測試探針26、46有效電性連接，啟動測試儀即可為該電路 板30進行相應之雙端訊號測試。 於本第一實施方式中，當測試該電路板3〇 一單端訊號 時y將該兩測試件20、40中之一個測試件（如該測試件 40轉動移開使另一測試件（如該測試件2〇)單獨對該電 路板30之單端訊號進行測試即可。 請-併參考圖8及圖9,本發明電路板測試央具第二、 第三較佳實施方式與該第一較佳實施方式不同之處在於： 其圓弧狀連接部76及86分別連接於兩夾持側壁72、74 及82、84相互面對之侧壁上且位於防滑層722、μ。及 822 842上方，其孤口方向分別朝向上及朝下，其他結構 和功能均與本發明第一較佳實施方式之結構功能相同。 該電路板測試夾具不僅可測試該電路板30上之單端 ，號測試點Μ可測試雙端訊號測試點，還可相應地使用 複數本發明電路板測試夾具來進行對應的測試，十分方 9 200950615 便，這種測試方法可省去重複焊接測試延長線之产μ 杜絕了因測試延長線焊接瑕疵而引起之測量不精：：:亦 電路板等問題，另亦大大提高了測試效率 = 本。 1 a |凋試成 綜上所述，本發明符合發明專利要件， ❹ 利申請。m所述者僅為本發明之較佳實施 凡熟悉本案技藝之人士，在錢本發明精神所作 飾或變化’皆應涵蓋於以τ之申請專利範圍内。，夕 【圖式簡單說明】 圖1係本發明電路板測試夾具第一較佳實施 視圖。 /叭·^王 圖2係圖1之左視圖。 電路板時之正面 圖3係圖1中電路板測試夾具夾持一 示意圖。 圖4係圖3之左視圖。 © 圖5係—測試儀之探棒連接圖3中電路板測試夹且之 正面示意圖。 八 圖6係一測試儀之探棒連接圖3令電路板測試爽具之 月面示意圖。 、 圖7係圖5之左視圖。 .圖8係本發明電路板測試夾具第二較佳實施方式之主 圖 視圖 9係本發明電路板職夾具第三較佳實施方式之主 40200950615 【主要元件符號說明】 爽持件 10 探棒 60 測試探針 24、46、44、46 探測件 20、 連接部 16 、 76 、 86 固定元件 124 夾持侧壁 12、72、82 探測件連接部 22 夾持側壁 14 、 74 、 84 電路板 30 絕緣防滑層 122、142、722、742、822、842

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Claims (1)

1. ❹

   3. 如申4專利範圍第工項所述之電路板測試夾具，其中該 兩夾持侧壁相互面對之侧面上分別設有一絕緣防滑層。 4. 如申請專利範圍第3項所述之電路板測試夾具，其中該 連接邠為圓弧狀，其連接於該兩夾持侧壁相互面對之側面 上且位於該絕緣防滑層上方與夾持側壁之末端之間，其弧 200950615 十、申請專利範圍 U電路板測試夾具’包括一用以夾持-待測電路板之 =件及-固定於該夾持件上之至少—探測件，該爽持件 匕括兩夾持侧壁及一具彈性之連接部，該兩夾持側壁之一 連接部連接’另一端相互靠近以具夾持功能，該 裝設於其中-夾持_上，其包括位於其兩端之兩 料探針，其中—測試探針用以與該待測電路板上之測試 點電性接觸’另—測試探針用以電性連接-測試儀。 2·如申請專利範圍第1項所述之電路板測試夾具，其中該 連接。I5為圓弧狀，其連接於該兩夾持側壁之末端該圓弧 狀連接部弧口朝向該兩夾持側壁相互靠近之一端。 口朝向該兩夾持侧壁之相互靠近之一端。 5·如申請專利範圍第3項所述之電路板測試夾具，其中該 連接部為圓弧狀，其連接於該兩夾持侧壁相互面對之側面 上且位於該絕緣防滑層上方與夾持侧壁之末端之間，其弧 口朝向該兩夾持侧壁相互遠離之一端。 6.如申請專利範圍第1項所述之電路板測試夾具，其中該 探測件與該待測電路板上之測試點電性接觸之測試探針位 於該夾持件底端下方之一小段距離處。 12