TW200918629A - Adhesive sheet for fixing electronic parts and manufacturing method of electronic parts using the same - Google Patents

Adhesive sheet for fixing electronic parts and manufacturing method of electronic parts using the same Download PDF

Info

Publication number
TW200918629A
TW200918629A TW096139198A TW96139198A TW200918629A TW 200918629 A TW200918629 A TW 200918629A TW 096139198 A TW096139198 A TW 096139198A TW 96139198 A TW96139198 A TW 96139198A TW 200918629 A TW200918629 A TW 200918629A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
electronic component
parts
mass
adhesive sheet
electronic parts
Prior art date
Application number
TW096139198A
Other languages
English (en)
Inventor
Tomomichi Takatsu
Hironori Takesue
Koichi Taguchi
Original Assignee
Denki Kagaku Kogyo Kk
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denki Kagaku Kogyo Kk filed Critical Denki Kagaku Kogyo Kk
Publication of TW200918629A publication Critical patent/TW200918629A/zh

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J133/00Adhesives based on homopolymers or copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by only one carboxyl radical, or of salts, anhydrides, esters, amides, imides, or nitriles thereof; Adhesives based on derivatives of such polymers
    • C09J133/04Homopolymers or copolymers of esters
    • C09J133/14Homopolymers or copolymers of esters of esters containing halogen, nitrogen, sulfur or oxygen atoms in addition to the carboxy oxygen
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J7/00Adhesives in the form of films or foils
    • C09J7/20Adhesives in the form of films or foils characterised by their carriers
    • C09J7/22Plastics; Metallised plastics
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J7/00Adhesives in the form of films or foils
    • C09J7/30Adhesives in the form of films or foils characterised by the adhesive composition
    • C09J7/38Pressure-sensitive adhesives [PSA]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67132Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6835Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/544Marks applied to semiconductor devices or parts, e.g. registration marks, alignment structures, wafer maps
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/93Batch processes
    • H01L24/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L24/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2203/00Applications of adhesives in processes or use of adhesives in the form of films or foils
    • C09J2203/326Applications of adhesives in processes or use of adhesives in the form of films or foils for bonding electronic components such as wafers, chips or semiconductors
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2423/00Presence of polyolefin
    • C09J2423/006Presence of polyolefin in the substrate
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J2433/00Presence of (meth)acrylic polymer
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68327Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used during dicing or grinding
    • H01L2221/68331Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support used during dicing or grinding of passive members, e.g. die mounting substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/544Marks applied to semiconductor devices or parts
    • H01L2223/54406Marks applied to semiconductor devices or parts comprising alphanumeric information
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2223/00Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
    • H01L2223/544Marks applied to semiconductor devices or parts
    • H01L2223/54473Marks applied to semiconductor devices or parts for use after dicing
    • H01L2223/54486Located on package parts, e.g. encapsulation, leads, package substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01015Phosphorus [P]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01025Manganese [Mn]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01027Cobalt [Co]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01042Molybdenum [Mo]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01057Lanthanum [La]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01074Tungsten [W]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01088Radium [Ra]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Adhesive Tapes (AREA)

Description

200918629 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係提供一種電子構件固定用黏著片及使用它之 電子構件之製法。 【先前技術】 通常,在製造各種電子構件’已知一種方法(參照專利 文獻1 ),係將半導體電子構件進行樹脂模塑而構成的電子 構件集合體、或將在電路基板上等形成電路圖案而成的電 子構件樹脂進行模塑而構成的電子構件封裝集合體固定於 黏著片,並使用具備有鑽石等硏磨粒的切割刀片切斷 (dicing),來進行電子構件封裝之方法。 電子構件封裝集合體係例如以環氧樹脂密封而成的密 封樹脂封裝,具體上,可舉出球柵陣列(BGA ; Ball Grid Array)、晶片尺寸封裝(CSP ; Chip Size Package)、堆疊記 憶體模組(Stacked Memory Module)、系統模組(System On Μ o d u 1 e )等。 切割上述電子構件集合體時所使用的黏著片的黏著 劑,例如已知有一種方法(參照專利文獻1 ),放射線聚合性 化合物係使用具有分子量爲500以上1000以下之5官能以 上的丙烯酸酯單體。 又,近年來,因爲P D A、行動電話、及快閃記憶體等 小型電子機器的普及,晶片尺寸有微小化的傾向,又,在 使用環氧樹脂密封的密封樹脂封裝使用雷射刻印(以下記 載爲雷射標記)作爲識別的機會增加。 200918629 [專利文獻1]特開2 00 5 - 5 0 9 5 3號公報 【發明內容】 [發明所欲解決之課題] 但是,先前的方法時,在切割時會有產生電子 或糊(paste)往電子構件側面上攏之情況。而且刻 構件封裝表面之雷射標記在切割時會有消失的問 本發明係鑒於上述情形而進行,係以至少消除 前技術的課題作爲目的,特別是本發明的目的係 電子構件固定用黏著片及使用它之電子構件之製 子構件固定用黏著片之防止在切割時電子構件的 防止糊往電子構件側面上攏、或防止或減少雷射 之切割性優良。 [解決課題之手段] 依照本發明,能夠提供一種電子構件固定用 具備基材薄膜、及在前述基材薄膜層積而構成 層,該黏著劑層含有1 〇 〇質量份使(甲基)丙烯酸 含羧基單體、及含羥基單體共聚合而成的丙烯酸 20〜200質量份具有3個以上不飽和鍵的丙烯酸 酯低聚物、〇 . 〇 1〜1 〇質量份聚環氧丙基胺、及〇 量份異氰酸酯硬化劑。 依照上述構成時,因爲黏著劑的黏附力或 良,能夠防止在切割時電子構件飛散。而且,依 成時,因爲黏著劑的凝聚力優良,能夠防止糊往 側面上攏。再者,依照上述構成時,因爲黏著劑 構件飛散 印在電子 題。 一部分先 提供一種 法,該電 飛散、或 標記消失 黏著片, 之黏著劑 酯單體、 聚合物、 胺基甲酸 _ 1〜20質 保持力優 照上述構 電子構件 的黏附力 200918629 不會太高,能夠抑制刻印在電子構件封裝表面之雷射標記 在切割時消失。結果能夠提局電子構件的信賴性,謀求生 產力的提高等。 又,上述的電子構件固定用黏著片係本發明的一個態 樣’使用本發明的電子構件固定用黏著片之電子構件的製 法’亦具有同樣的技術特徵,且能夠達成同樣的作用效果。 [發明之效果] 依照本發明’藉由使黏著劑的組成爲上述構成,能夠 防止在切割時電子構件的飛散、或是能夠防止糊往上攏、 或是能夠抑制雷射標記消失。 【實施方式】 以下’使用圖示說明本發明的實施形態,又,在全部 圖示’同樣的構成要素係附加同樣的符號而省略適當的說 明。 <用語說明> 在本說明書’單體係指單體本身或是來自單體的結構 單位。本說明書的份及%若未特別記載時係質量基準。 在本說明書’(甲基)丙烯酸酯係指丙烯酸酯及甲基丙 烯酸酯之總稱。(甲基)丙烯酸等含有(甲基)之化合物等亦同 樣地,係名稱中具有「甲基」之化合物與未具有「甲基」 之化合物的總稱。 <實施形態的槪要> · 如第1圖所示,本實施形態的黏著片1係具備有基材 薄膜2、及在該基材薄膜2上層積而成的黏著劑層3之物。 200918629 而且,詳細如後述,黏著劑層3係含有1 0 0質量份使(甲基) 丙烯酸酯單體、含羧基單體、及含羥基單體共聚合而成的 丙烯酸聚合物、20〜200質量份具有3個以上不飽和鍵的 丙烯酸胺基甲酸酯低聚物、0.01〜10質量份聚環氧丙基 胺、及0.1〜2 0質量份異氰酸酯硬化劑之物。 本實施形態的黏著片1藉由使黏著劑層3的組成爲上 述構成,詳細如後述,能夠防止在切割時電子構件的飛散、 或是防止糊往電子構件側面上攏、或是抑制雷射標記消失。 <黏著劑層> (丙烯酸聚合物) 在黏著劑層3所使用丙烯酸聚合物係具有(甲基)丙烯 酸酯單體、含羧基單體、及含羥基單體之乙烯基聚合物。 丙烯酸聚合物亦可以聚合來自(甲基)丙烯酸酯單體、含羧 基單體、及含羥基單體以外之乙烯基化合物的單體。 ((甲基)丙烯酸酯單體) (甲基)丙烯酸酯單體沒有特別限定,可舉出例如(甲基) 丙烯酸甲酯、(甲基)丙烯酸乙酯、(甲基)丙烯酸丙酯、(甲 基)丙烯酸丁酯、(甲基)丙烯酸戊酯、(甲基)丙烯酸己酯、(甲 基)丙烯酸庚酯、(甲基)丙烯酸辛酯、(甲基)丙烯酸壬酯、(甲 基)丙烯酸癸酯、(甲基)丙烯酸月桂酯、(甲基)丙烯酸十三 院醋、(甲基)丙烯酸肉豆蔻酯、(甲基)丙烯酸十六烷酯、(甲 基)丙稀酸硬脂酯、(甲基)丙烯酸環己酯、及(甲基)丙烯酸 节酯等的(甲基)丙烯酸烷酯等。(甲基)丙烯酸烷酯的烷基可 以是直鏈結構,亦可以具有分枝結構或雙鍵、或醚鍵等。 200918629 在烷基具有分枝結構之(甲基)丙儲酸院酯單體可舉出 例如(甲基)丙烯酸異丙酯、(甲基)丙烯酸異丁酯、(甲基)丙 烯酸第三丁酯、及(甲基)丙烯酸2-乙基己酯等。 (甲基)丙烯酸酯單體中’使用具有碳數4以上的烷基 之(甲基)丙烯酸2 -乙基己酯、或是(甲基)丙烯酸丁酯等時’ 因爲能夠提高黏著劑(層)3與被黏著物之黏著強度’乃是較 佳。 (含羧基單體) 含羧基單體只要爲具有羧基之乙烯基化合物,沒有特 別限定,可舉出例如(甲基)丙烯酸、巴豆酸、順丁烯二酸、 伊康酸、反丁烯二酸、丙烯醯胺N -乙醇酸、及桂皮酸等的 不飽和羧酸。以(甲基)丙烯酸爲特佳。而且,上述單體可 單獨使用,亦可組合使用2種以上。 (含羥基單體) 含羥基單體除了具有羥基之乙烯基化合物以外沒有特 別限定,可舉出例如(甲基)丙烯酸2_羥基乙酯、(甲基)丙烯 酸2-羥基丙酯、(甲基)丙烯酸2-羥基丁酯、及聚乙烯醇等。 以(甲基)丙烯酸2 -羥基乙酯爲特佳。而且,上述單體可單 獨使用,亦可組合使用2種以上。 丙烯酸聚合物除了上述單體以外,亦可含有來自具有 環氧基、醯胺基、胺基、羥甲基、磺酸基、胺基磺酸基、(亞) 磷酸酯基之乙烯基化合物(以下,稱爲「含官能基單體」) 之單體。又,在此所稱乙烯基化合物係包含丙烯酸酯等。 具有環氧基之單體可舉出例如烯丙基環氧丙基醚、(甲 200918629 基)丙烯酸環氧丙基醚等。 具有醯胺基之單體可舉出例如(甲基)丙烯醢胺等。 具有胺基之單體可舉出例如(甲基)丙烯酸N -二甲胺基 乙酯。 具有羥甲基之單體可舉出例如N-羥甲基丙烯醯胺等。 丙烯酸聚合物亦可使用上述以外的乙烯基單體,可舉 出具有來自例如乙烯 '苯乙烯、乙烯基甲苯、乙酸烯丙酯、 丙酸乙稀酯、丁酸乙稀醋、特十碳酸(versatic acid)、乙稀 基乙基醚' 乙烯基丙基醚、(甲基)丙烯腈、或乙烯基異丁 基醚等的乙烯基化合物等單體者。 在100質量份丙烯酸聚合物中所聚合的含羧基單體的 含量以0.3〜15質量份爲佳。在100質量份丙烯酸聚合物 中的含羧基單體的含量在此範圍時,因爲玻璃轉移溫度 (Tg)在-40〜-1(TC的範圍,在常溫時的黏度適當,乃是較 佳。丙烯酸聚合物的玻璃轉移溫度低時,在切割時會有產 生糊往電子構件側面上攏、或是刻印在電子構件封裝表面 的雷射標記消失的情形。丙烯酸聚合物的玻璃轉移溫度高 時,會有黏附力下降、且在切割時產生電子構件飛散(晶片 飛散)的情形。 在100質量份丙烯酸聚合物中所聚合的含羥基單體的 含量以0.3〜15質量份爲佳。在100質量份丙烯酸聚合物 中的含羥基單體的含量在此範圍時,因爲玻璃轉移溫度 (Tg)在-40〜-l〇°C的範圍’在常溫時的黏度適當,乃是較 佳。丙烯酸聚合物的玻璃轉移溫度低時,在切割時會有產 -11- 200918629 生糊往電子構件側面上攏、或是刻印在電子構件封裝表面 的雷射標記消失的情形。丙烯酸聚合物的玻璃轉移溫度高 時,會有黏附力下降、且在切割時產生電子構件飛散(晶片 飛散)的情形。 (具有3個以上不飽和鍵之丙烯酸胺基甲酸酯低聚物) 在黏著劑層3,能夠使用具有3個以上不飽和鍵之丙 烯酸胺基甲酸酯低聚物。以能夠使用具有6個以上不飽和 鍵之丙烯酸胺基甲酸酯低聚物爲更佳。藉由使用此等丙烯 酸胺基甲酸酯低聚物,黏著劑層3與被黏著物的黏附性變 佳,’在切割時的晶片保持性良好,乃是較佳。不飽和鍵的 數目之上限沒有特別限定,以1 5個爲佳,以1 0個更佳。 具有3個以上不飽和鍵之丙烯酸胺基甲酸酯低聚物的 數量平均分子量沒有特別限定,數量平均分子量以3 000以 下爲佳。具有3個以上不飽和鍵之丙烯酸胺基甲酸酯低聚 物的數量平均分子量高時,會有黏著劑的黏附力不足的情 形。 具有3個以上不飽和鍵之丙烯酸胺基甲酸酯低聚物的 製法沒有特別限定,可舉出例如使在分子中含有羥基及複 數個(甲基)丙烯醯基之(甲基)丙烯酸酯化合物、與具有複數 個異氰酸酯基之化合物(例如二異氰酸酯化合物)反應,而 成爲具有3個以上不飽和鍵之丙烯酸胺基甲酸酯低聚物之 方法。 又,亦藉由在具有複數個羥基末端之多元醇低聚物, 過剩地添加具有複數個異氰酸酯基之化合物(例如二異氰 -12- 200918629 酸酯化合物)並使其反應而成爲具有複數個異氰酸醋末^ 之低聚物,進而使其與含有羥基及複數個(甲基)丙烧醯基 之(甲基)丙烯酸酯化合物反應而成爲具有3個以上不飽和 鍵之丙烯酸胺基甲酸酯低聚物。 在分子中含有羥基及複數個(甲基)丙烯醯基之(甲基) 丙烯酸酯化合物可舉出例如羥丙基化三羥甲基丙烷三(甲 基)丙烯酸酯、新戊四醇三(甲基)丙烯酸酯、二新戊四醇-羥基-五(甲基)丙烯酸酯、雙(新戊四醇)-四(甲基)丙烯酸 f.、 酯、四羥甲基甲烷-三(甲基)丙烯酸酯、去水甘油-二(甲基) 丙烯酸酯等。 具有複數個異氰酸酯基之化合物沒有限定,可舉出例 如芳香族異氰酸酯、脂環族異氰酸酯、及脂肪族異氰酸酯 等。此等異氰酸酯之中,以使用具有複數個異氰酸酯基之 芳香族異氰酸酯、或脂環族異氰酸酯爲佳。異氰酸酯成分 的形態以使用單體、二聚物、三聚物爲佳。 具有複數個異氰酸酯基之芳香族二異氰酸酯可舉出例 如二異氰酸甲苯酯、4,4-二苯基甲烷二異氰酸甲苯酯、及 二異氰酸苯二甲酯等。 具有複數個異氰酸酯基之脂環族二異氰酸酯可舉出例 如異佛爾酮二異氰酸酯、亞甲基雙(4-環己基異氰酸酯)等。 具有複數個異氰酸酯基之脂肪族二異氰酸酯可舉出例 如六亞甲基二異氰酸酯、三甲基六亞甲基二異氰酸酯等。 多元醇成分可舉出例如聚(環氧丙烷)二醇、聚(環氧@ 烷)三醇、共聚合(環氧乙烷-環氧丙烷)二醇、聚(環氧丁烷) 200918629 二醇、乙氧化雙酚A、乙氧化雙酚S螺乙二醇、己內醋改 性二醇、及碳酸酯二醇等。 具有3個以上不飽和鍵之丙烯酸胺基甲酸醋低聚物的 數量平均分子量沒有特別限定,以3 0 0 0以下爲佳。具有3 個以上不飽和鍵之丙烯酸胺基甲酸酯低聚物的數M zp均分 子量高時,對被黏著物之親合性差,會有電子構件飛散(晶 片飛散)的情形。數量平均分子量係藉由凝膠滲透色譜法 (GPC)以換算聚苯乙烯的數量平均分子量之方式所測定的 値。 具有3個以上不飽和鍵之丙烯酸胺基甲酸酯低聚物的 調配量沒有特別限定,相對於1 00質量份(甲基)丙烯酸酯 共聚物,具有3個以上不飽和鍵之丙烯酸胺基甲酸酯低聚 物以20〜200質量份爲佳。具有3個以上不飽和鍵之丙烯 酸胺基甲酸酯低聚物的調配量少時,會有在切割時產生晶 片飛散、或因爲在照射放射線後黏著片與被黏著物不容易 剝離而使電子構件的剝離費時之情形。過剩地調配時會有 在切割時產生糊往電子構件側面上攏之情形。 (聚環氧丙基胺) 聚環氧丙基胺係指具有2個以上環氧基、及1個以上 第3級氮原子之化合物,可舉出例如N,N-環氧丙基苯胺、 氧丙基甲苯胺、間-N,N-環氧丙基胺基苯基環氧丙基 醚、對-Ν,Ν -環氧丙基胺基苯基環氧丙基醚、二環氧丙基三 聚異氰酸酯、Ν,Ν,Ν,,Ν,-四環氧丙基二胺基一苯基甲烷、 ^『”,-四環氧丙基-間苯二甲基二胺、1"1,1^,1^’”’,1^”^ 200918629 環氧丙基二伸乙三胺等。 相對於100質量份丙烯酸聚合物’聚環氧丙基 用量爲0.01〜10質量份。聚環氧丙基胺的使用量少 只是在切割時會產生糊往電子構件側面上攏,且會 子構件封裝表面所刻印的雷射標記消失的情形。聚 基胺過剩時黏著劑變硬,會有在切割時產生晶片飛 形。 (異氰酸酯硬化劑) 異氰酸酯硬化劑係使用具有複數個異氰酸酯基 物。具有複數個異氰酸酯基之化合物可舉出例如芳 氰酸酯、脂環族異氰酸酯、及脂肪族異氰酸酯等。 芳香族二異氰酸酯有例如二異氰酸甲苯酯、二 烷4,4-二異氰酸酯、二異氰酸苯二甲酯等。 脂環族二異氰酸酯可舉出例如異佛爾酮二異氰 亞甲基雙(4-環己基異氰酸酯)等。 脂肪族二異氰酸酯可舉出例如六亞甲基二異氰 三甲基六亞甲基二異氰酸酯等。 此等異氰酸酯硬化劑之異氰酸酯化合物可以是 或三聚物,亦可以是加成物。 異氰酸酯硬化劑的添加量爲0 · 1〜2 0質量份。 酯硬化劑少時’在切割時會有產生糊往電子構件 攏’或在電子構件封裝表面所刻印的雷射標記消 形。異氰酸酯硬化劑過剩時黏著劑變硬,會有在切 生晶片飛散的情形。 胺的使 時,不 有在電 環氧丙 散的情 之化合 香族異 苯基甲 酸酯、 酸酯、 二聚物 異氰酸 側面上 失的情 割時產 200918629 亦可在黏著劑層3適當地添加例如聚合引發劑、熱聚 合抑制劑、軟化劑、防老劑、塡料、紫外線吸收劑、及光 安定劑等各種添加劑。 (基材薄膜) 基材薄膜2厚度及種類沒有特別限定,能夠按照用途 而適當地選擇。沒有特別限定,可舉出例如聚氯乙烯、聚 乙烯、聚丙烯、聚對酞酸乙二酯等的聚酯、乙烯-乙烯醇、 乙烯-乙酸乙烯共聚物、乙烯·丙烯酸乙酯共聚物、及離子 聚合物樹脂等。基材薄膜2亦可使用此等樹脂的混合物、 共聚物、及多層薄膜等。 基材薄膜2的成型方法沒有特別限定,可舉出例如壓 延、T模頭擠壓、吹塑、及鑄型等。 爲了防止在剝離被黏著物時帶靜電,亦可在基材薄膜 2的一面或兩面塗布防靜電劑來施加防靜電處理。 防靜電劑以使用例如四級胺鹽單體爲佳。四級胺鹽單 體可舉出例如(甲基)丙烯酸二甲基胺基乙酯四級氯化物、 (甲基)丙烯酸二乙基胺基乙酯四級氯化物、(甲基)丙烯酸甲 基乙基胺基乙酯四級氯化物、對二甲基胺基苯乙烯四級氯 化物、及對二乙基胺基苯乙烯四級氯化物等,以使用(甲基) 丙烯酸二甲基胺基乙酯四級氯化物爲佳。 爲了防止黏結等目的,能夠在基材薄膜2的表面塗布 滑劑。滑劑在基材薄膜可以摻合3 0質量%作爲上限。滑劑 沒有特別限定,可舉出例如聚矽氧樹脂、或(改性)矽油等 矽化合物、氟樹脂、六方晶氮化硼、碳黑、及二硫化鉬等。 -16- 200918629 因爲電子構件的製造係在潔淨室進行,滑劑以使用聚矽氧 化合物或氟樹脂爲佳。因爲與防靜電層的相溶性良好,聚 矽氧化合物之中特別是使用具有聚矽氧接枝單體而成的共 聚物爲適合。 滑劑及防靜電劑的使用方法沒有特別限定,例如可以 在基材薄膜的一面塗布黏著劑,並在其背面塗布滑劑及/或 防靜電劑,亦可以將滑劑及/或防靜電劑摻合在基材薄膜2 的樹脂中而薄片化。 因爲能夠抑制黏結,以在基材薄膜2施加平均表面粗 糙度(Ra)爲5微米以下的皴紋加工爲佳。 在基材薄膜2形成黏著劑層3而成爲黏著片1的方法 沒有特別限定,可舉出例如凹版塗布器、逗點式刮刀塗布 器(comma coater)、棒塗布器、刮刀塗布器(knife coater)、 或是輥塗布器等塗布器在基材薄膜上直接塗布黏著劑之方 法。亦可使用凸版印刷、凹版印刷、平版印刷、苯胺印刷、 膠版印刷、或網版印刷等在基材薄膜上印刷黏著劑。 <電子構件的製法> 黏著片1的被黏著物沒有特別限定,可舉出例如對半 導體電子構件進行樹脂模塑而構成的電子構件集合體、或 對在電路基板材上等形成電路圖案而成的電子構件進行模 塑而構成的電子構件集合體之BGA、CSP、堆疊記憶體模 組、及系統模組等。 使用黏著片1並切割來製造電子構件的方法沒有特別 限定,例如將電子構件的集合體貼在黏著片而固定後’使 200918629 用旋轉圓刀刃進行切割而成爲電子構件封裝(晶片)之方法 能夠適合使用。 切割後的電子構件的回收方法沒有特別限定,以照射 放射線的方法爲佳。照射放射線而回收電子構件之方法, 可舉出例如下述的順序。 (1) 從黏著片的基材側照射紫外線及/或放射線。 (2) 使用真空筒夾或氣動鉗子等吸附並拾起。 亦可以使用刮刀等將電子構件封裝從電子構件固定用 黏著片刮落,隨後裝入盤中來代替氣動鉗子拾起。 紫外線及/或放射線的光源沒有特別限定,可舉出例如 低壓水銀燈、高壓水銀燈、超高壓水銀燈、金屬鹵燈等的 紫外線源、或電子射線、或放出α射線、β射線、γ射線之 放射性同位素(Co6()等)。 <作用效果> 以下,說明本實施形態的電子構件固定用黏著片的作 用效果,邊參照第1圖邊說明。 本實施形態的電子構件固定用黏著片1具備基材薄膜 2、及層積於基材薄膜2而構成之黏著劑層3。而且該黏著 劑層3含有100質量份使(甲基)丙烯酸酯單體、含羧基單 體、及含羥基單體共聚合而成的丙烯酸聚合物、20〜200 質量份具有3個以上不飽和鍵的丙烯酸胺基甲酸酯低聚 物、0.01〜10質量份聚環氧丙基胺、及〇.1〜20質量份異 氰酸酯硬化劑。 依照該構成,因爲黏著劑的黏附力、及保持力優良, -18- 200918629 在切割時能夠防止電子構件的飛散。而且,因爲黏著劑的 凝聚力優良,能夠防止糊往電子構件側面上攏。而且,因 爲黏著劑的黏附力不會太高’能夠抑制刻印在電子構件封 裝表面之雷射標記在切割時消失。 又,本實施形態的電子構件固定用黏著片1,較佳是 在100質量份丙烯酸聚合物中所聚合之含羧基單體的比率 爲0.3〜15質量份、且含羥基單體的比率爲0.3〜15質量份。 這是因爲在1〇〇質量份丙烯酸聚合物中,所聚合的含 羧基單體的含量在此範圍時,玻璃轉移溫度(Tg)在-40〜 -1 0 °c的範圍,在常溫時的黏度適當之緣故。丙烯酸聚合物 的玻璃轉移溫度低時,在切割時會有產生糊往電子構件側 面上攏、或是刻印在電子構件封裝表面的雷射標記消失的 情形。丙烯酸聚合物的玻璃轉移溫度高時,會有黏附力下 降、且在切割時產生電子構件飛散(晶片飛散)的情形。 又,在1〇〇質量份丙烯酸聚合物中,所聚合的含羥基 單體的含量在此範圍時,玻璃轉移溫度(Tg)在_4〇〜- l〇°C的 範圍,在常溫時的黏度適當之緣故。丙烯酸聚合物的玻璃 轉移溫度低時,在切割時會有產生糊往電子構件側面上 攏、或是刻印在電子構件封裝表面的雷射標消失的丨B 形。丙烯酸聚合物的玻璃轉移溫度高時,會有黏附力下降、 且在切割時產生電子構件飛散(晶片飛散)的情形。 又,本實施形態的電子構件固定用黏著片1之丙嫌酸 聚合物的玻璃轉移溫度以-4 〇〜-1 〇。(:爲佳。 此時,因爲丙烯酸聚合物在常溫時的黏度適當’如上 -19- 200918629 述,能夠防止或減少在切割時糊往電子構件側面上攏、或 抑制刻印在電子構件封裝表面的雷射標記消失。 又,本實施形態的電子構件固定用黏著片1之具有3 個以上不飽和鍵之丙烯酸胺基甲酸酯低聚物的數量平均分 子量以3 0 0 0以下爲佳。 這是因爲具有3個以上不飽和鍵之丙烯酸胺基甲酸酯 低聚物的數量平均分子量高時,會有黏著劑的黏附力不足 的情形。 又’本實施形態的電子構件固定用黏著片1以電子構 件封裝固定用爲佳。 上述黏著片1係如上述,因爲切割性或拾起性等優 良,所以能夠謀求提高封裝的信賴性。 又’本實施形態的電子構件的製法,以使用上述電子 構件固定用黏著片1爲佳。 上述黏著片1係如上述,因爲切割性或拾起性等優 良’所以能夠謀求生產製程的合理化、或是提升電子構件 的品質或生產力等。 [實施例] 以下’進一步說明本發明的實施例,但是本發明未限 定於此等。 <實驗材料的調製> 實驗Ν ο · 1 -1之黏著劑及黏著片的製法如下。其他的實 驗例之表1或表2所記載的事項以外係與實驗No bi同樣。 (使用材料) -20 - 200918629 (甲基)丙烯酸酯共聚物A:係使調配由74質量份丙烯 酸丁酯、20質量份甲基丙烯酸甲酯、1質量份丙烯酸2 -羥 基乙酯、5質量份丙烯酸所構成的原料組成物共聚合,來 得到含有共聚物(丙烯酸聚合物A)之合成品。丙烯酸聚合物 A的玻璃轉移溫度(Tg)爲-28.8 本公司製品)。 丙烯酸胺基甲酸酯低聚物A :係使用異氰酸酯成分爲 脂肪族二異氰酸酯之六亞甲基二異氰酸酯的單體、含有羥 基的丙烯酸酯成分係新戊四醇五丙烯酸酯之胺基甲酸酯低 聚物,數量平均分子量(Μη)爲2,500,乙烯基數爲每1分子 爲10個之本公司製品。 丙烯酸胺基甲酸酯低聚物Β :係使用異氰酸酯成分爲 脂肪族二異氰酸酯之異佛爾酮二異氰酸酯的單體、含有羥 基的丙烯酸酯成分係新戊四醇三丙烯酸酯之胺基甲酸酯低 聚物,數量平均分子量(Μη)爲600,乙烯基數爲每1分子 爲6個之本公司製品。 丙烯酸胺基甲酸酯低聚物C :係使用使聚(環氧丙烷) 二醇的末端與六亞甲基二異氰酸酯反應而成之末端異氰酸 酯低聚物,更與丙烯酸2-羥基乙酯反應而成之末端丙烯酸 酯低聚物,數量平均分子量(Μη)爲3,400,乙烯基數爲每1 分子爲2個之本公司製品。 光聚合引發劑:使用由1-羥基環己基苯基酮所構成的 市售品(CIBA SPECIALTY CHEMICALS 公司製、IRGACURE 184)。 聚環氧丙基胺:使用由N,N,N’,N’-四環氧丙基-間二甲 -21 - 200918629 苯二胺所構成的市售品(MITSUBISHI GAS CHEMICAL公 司製、TETRAD X)。 異氰酸酯硬化劑:使用來自三羥甲基丙烷的二異氰酸 甲苯酯加成物的合成品(NIPPON POLYURETHANE INDUSTRY 公司製 L-45E)。 基材薄膜:使用厚度爲150微米的聚乙烯製薄片之市 售品。 (黏著劑) 黏著劑係以表1及表2所記載的調配,混合1 00質量 份丙烯酸聚合物A、丙烯酸胺基甲酸酯低聚物、3質量份光 聚合引發劑、聚環氧丙基胺、及異氰酸酯硬化劑而製造。 (黏著片) 在聚乙烯製的基材薄膜的一面塗布黏著劑,設置厚度 15微米的黏著劑(層)。 (評價方法) 切割性(晶片飛散):將由電子構件用封裝成形用模塑 樹脂所模塑而成的電子構件封裝集合體與電子構件用封裝 固定用黏著片貼合,放置1 〇分鐘後,切割成8毫米X 8毫 米的晶片。係重複該作業5次後的時候,晶片飛散對晶片 總數的比率。 糊往上攏:將黏著片貼合電子構件封裝集合體,並放 置10分鐘後,切割成8毫米x8毫米來製造電子構件封裝(晶 片),重複該作業5次。使用200倍的光學顯微鏡觀察糊有 無往晶片側面上攏的情形,觀察得到糊往上攏的比率。 -22 - 200918629 雷射標記消失:將黏著片貼在電子構件封裝集合體之 顯示雷射標記的面,並放置1 〇分鐘後,切割成8毫米X 8 毫米,使用80 W/cm的高水銀燈自基材面10公分的距離照 射紫外線1 5秒,來使黏著劑層硬化,並藉由真空筒夾拾起 1 〇〇個晶片。確認晶片表面之雷射標記消失爲5個以上時 爲差,雷射標記消失爲4個以下時爲可,都保持有雷射標 §己爲良。 [表1] 單位/實驗No. 1-1 1-2 1-3 1-4 1-5 丙烯酸聚合物 (質量份) 100 100 100 100 100 丙烯酸胺基甲酸酯低聚 物的調配量 (質量份) 100 100 100 15 220 丙烯酸胺基甲酸酯低聚 物的種類 - A B C A A 丙烯酸胺基甲酸酯低聚 物的數量平均分子量 - 2500 600 3400 2500 2500 聚環氧丙基胺 (質量份) 0.1 0.1 0.1 0.1 0.1 異氰酸酯硬化劑量 (質量份) 3 3 3 3 3 切割性(晶片飛散數) (%) 0 0 26 32 0 糊往上攏 (%) 0 0 0 0 18 雷射標記消失 (%) 0 0 0 0 20 (良) (良) (良) (良) (差) 備考 實施例 實施例 實施例 比較例 比較例 -23 - 200918629 丙烯酸聚合物B :係使調配由6 0質量份丙烯酸丁酯、 35質量份甲基丙烯酸甲酯、4質量份丙烯酸2-羥基乙酯、1 質量份丙烯酸所構成的原料組成物共聚合,來得到含有共 聚物(丙烯酸聚合物Β)之合成品。丙烯酸聚合物Β的玻璃 轉移溫度(Tg)爲-13.9°C (本公司製品)。 丙烯酸聚合物C:係使調配由93質量份丙烯酸丁酯、 〇質量份甲基丙烯酸甲酯、2質量份丙烯酸2-羥基乙酯、5 質量份丙烯酸所構成的原料組成物共聚合,來得到含有共 聚物(丙烯酸聚合物C)之合成品。丙烯酸聚合物C的玻璃 轉移溫度(Tg)爲- 49.6t (本公司製品)。 丙烯酸聚合物D :係使調配由8 3質量份丙烯酸丁酯、 1 〇質量份甲基丙烯酸甲酯、2質量份丙烯酸2-羥基乙酯、5 質量份丙烯酸所構成的原料組成物共聚合,來得到含有共 聚物(丙烯酸聚合物D)之合成品。丙烯酸聚合物D的玻璃 轉移溫度(Tg)爲- 39.4°C (本公司製品)。 丙烯酸聚合物E:係使調配由60質量份丙烯酸丁酯、 33質量份甲基丙烯酸甲酯'2質量份丙烯酸2-羥基乙酯、5 質量份丙烯酸所構成的原料組成物共聚合’來得到含有共 聚物(丙烯酸聚合物E)之合成品。丙烯酸聚合物E的玻璃轉 移溫度(Tg)爲-12.2°C (本公司製品)。 表2係以實驗No.1-1的處方爲基礎,來評價改變丙烯 酸聚合物的種類時的評價結果。表2中的各實驗例除了如 表2所記載的事項以外係與實驗N 〇 . 1 -1同樣。 -24 - 200918629 [表2] 單位/實驗No. 2-1 1-1 2-2 2-3 2-4 2-5 丙烯酸聚合物的種類 _ A B C D E 丙烯酸聚合物的Tg (°C) -28.8 -13.9 -49.6 -39.4 -12.2 切割性(晶片飛散數) (%) 0 0 0 0 0 糊往上攏 (%) 0 0 2 0 0 雷射標記消失 (%) - 0 (良) 0 (良) 3 (可) 0 (良) 0 (良) 備考 - 比較例 實施例 實施例 實施例 實施例 實施例 註:未使用丙烯酸聚合物之實驗No. 2-1,因爲無法使用作 爲電子構件固定用黏著片而中止評價。 <實驗的考察> 由表1及表2所示的實驗結果,得知使用該電子構件固 定用黏著片時,因爲黏著劑的黏著力/保持力優良,所以 能夠防止或減少在切割時電子構件的飛散。而且,使用該 電子構件固定用黏著片時,因爲黏著劑的凝聚力優良,能 夠防止或減少糊往電子構件側面上攏。而且,如顯示本實 施例之第2圖及顯示比較例的第3圖,使用該電子構件固 定用黏著片時,因爲黏著劑的黏附力不會太高,所以能夠 抑制刻印在電子構件封裝表面的雷射標記在切割時消滅。 以上,基於實施例說明了本發明。該實施例終究只是例 示性,該業者應當理解能夠有各種變形例且如此的變形例 亦在本發明的範圍內。 [產業上之利用可能性] -25 - 200918629 因爲本發明的電子構件固定用黏著片具有能夠達成防 止在切割時電子構件的飛散、防止糊往電子構件側面上 攏、且能夠抑制刻印在電子構件封裝表面的雷射檩記在切 割時消滅之效果,故適合使用於切割電子構件集合體來製 造電子構件之方法。 【圖式簡單說明】 第1圖係本發明的一個實施形態的黏著片的剖面模式 圖。 ^ 第2圖係本發明的一個實施形態的黏著片在剝離後的 雷射標記(刻印於電子構件封裝表面)的光學顯微鏡照片。 第3圖係先前的黏著片在剝離後的雷射標記(刻印於電 子構件封裝表面)的光學顯微鏡照片。 【元件符號說明】 1 黏著片 2 基材薄膜 3 黏著劑層 -26 -

Claims (1)

  1. 200918629 十、申請專利範圍: 1. 一種電子構件固定用黏著片,具備基材薄膜、及在該基 材薄膜層積而構成之黏著劑層’該黏著劑層含有100質 量份使(甲基)丙烯酸酯單體、含羧基單體、及含羥基單體 共聚合而成的丙烯酸聚合物、2〇〜2〇〇質量份具有3個以 上不飽和鍵的丙烯酸胺基甲酸酯低聚物、0 ·0 1〜1 0質量 份聚環氧丙基胺、及〇 · 1〜2 0質量份異氰酸酯硬化劑。 2. 如申請專利範圍第1項之電子構件固定用黏著片’其中 " 在100質量份該丙烯酸聚合物中之含羧基單體的比率爲 0.3〜15質量份,且含羥基單體的比率爲0.3〜15質量份。 3. 如申請專利範圍第1項之電子構件固定用黏著片,其中 該丙烯酸聚合物的玻璃轉移溫度爲-4 0〜-1 0 °C的範圍。 4 .如申請專利範圍第1項之電子構件固定用黏著片,其中 該具有3個以上不飽和鍵之丙烯酸胺基甲酸酯低聚物的 數量平均分子量爲3000以下。 5 ·如申請專利範圍第1項之電子構件固定用黏著片,係電 子構件封裝固定甩。 6 · —種電子構件的製法’係使用如申請專利範圍第1項之 電子構件固定用黏著片。 -27 - 200918629 七、指定代表圖: (一) 本案指定代表圖為:第1圖。 (二) 本代表圖之元件符號簡單說明: 1 黏著片 2 基材薄膜 3 黏著劑層 八、本案若有化學式時,請揭示最能顯示發明特徵的化學式:
TW096139198A 2007-10-16 2007-10-19 Adhesive sheet for fixing electronic parts and manufacturing method of electronic parts using the same TW200918629A (en)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2007/070167 WO2009050787A1 (ja) 2007-10-16 2007-10-16 電子部品固定用粘着シート及びそれを用いた電子部品の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW200918629A true TW200918629A (en) 2009-05-01

Family

ID=40567081

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW096139198A TW200918629A (en) 2007-10-16 2007-10-19 Adhesive sheet for fixing electronic parts and manufacturing method of electronic parts using the same

Country Status (2)

Country Link
TW (1) TW200918629A (zh)
WO (1) WO2009050787A1 (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2231804B1 (en) 2007-12-27 2016-09-07 3M Innovative Properties Company Urea-based pressure sensitive adhesives
CN102459490B (zh) 2009-05-15 2014-04-23 3M创新有限公司 基于氨基甲酸酯的压敏粘合剂
JP2012227232A (ja) * 2011-04-15 2012-11-15 Denki Kagaku Kogyo Kk 加工用粘着シート及びそれを用いた板状材料の製造方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2984549B2 (ja) * 1994-07-12 1999-11-29 リンテック株式会社 エネルギー線硬化型感圧粘着剤組成物およびその利用方法
JP2005050953A (ja) * 2003-07-31 2005-02-24 Sumitomo Bakelite Co Ltd 半導体基板加工用粘着テープ
JP5032740B2 (ja) * 2004-11-11 2012-09-26 電気化学工業株式会社 半導体部材の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2009050787A1 (ja) 2009-04-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI413671B (zh) 黏著劑、黏著片、多層黏著片及電子構件之製法
CN109743877B (zh) 半导体加工用粘着胶带以及半导体装置的制造方法
TWI684524B (zh) 半導體加工用薄片
TWI778939B (zh) 工件加工用黏著膠帶
TWI471397B (zh) 黏著劑、黏著片及電子零件之製造方法
JP6235893B2 (ja) バックグラインドシート
US10515830B2 (en) First protective film-forming sheet, method for forming first protective film, and method for manufacturing semiconductor chip
TWI605507B (zh) Semiconductor wafer manufacturing method
EP3355341A1 (en) Curable resin film and first protective film forming sheet
TWI495703B (zh) 電子零件之製法
TWI458003B (zh) 切割方法
KR20160083863A (ko) 보호막 형성용 조성물, 보호막 형성용 시트, 및 보호막 부착 칩
PH12014502606B1 (en) Dicing sheet
CN111670231B (zh) 膜状粘合剂及半导体加工用片
CN108701640B (zh) 保护膜形成用膜以及保护膜形成用复合片
JP5210346B2 (ja) 粘着シート及び電子部品の製造方法
JP2008013692A (ja) 電子部品固定用粘着シート及びそれを用いた電子部品の製造方法。
JP2008069185A (ja) 電子部品固定用粘着シート及びそれを用いた電子部品の製造方法。
EP3373326A1 (en) Curable resin film and first protective film forming sheet
CN111466015A (zh) 固晶膜、切割固晶片及半导体芯片的制造方法
TW200918629A (en) Adhesive sheet for fixing electronic parts and manufacturing method of electronic parts using the same
TW201704395A (zh) 薄膜狀接著劑、接著板片以及半導體裝置之製造方法
TW202132515A (zh) 黏著劑組合物及使用該黏著劑組合物之黏著片材
JP6717484B2 (ja) 粘着シート
EP3352204A1 (en) Curable resin film and first protective film forming sheet