TW200837749A - Optical storage media and method for the production thereof - Google Patents
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Description
200837749 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 .有較數ί與_之_存膜層及具 發明亦關於Si=toad 一)聚合物及至少-添加μ 【先前技術】 10 Ϊ授權的存取、複製及。賴在近年來已關料地 15 Ιϋ的ΐΐ能力’但對於資訊與數據的複製、偽造、操控曰及/ΐ ΐΐί=υίϊϊ當的保護機制。複本的製造及再製通 吊1由間早的技術來達成。甚至於在全像安全元件(h =ty d_s)的情況下,複製可藉由接觸印刷方參如p 20 ϋΐ 〇'Η〇10^,UniVGrSity Press Cambridge(2002)) 由’已劍了所§胃的光可定址聚合物為光學儲存媒體 中之,用材料的令人關注族群。此些對於數據與資訊的複製、偽 造、刼控及/或未經授權的存取有極有效的特性(參見例如s Volkening, T. Hupe, H. Jungermann; Sicherheitsanwendungen auf 25 BaS1S mtelligenter Speicherpolymere [基於智慧儲存聚合物的安全
ShT SeCUrity 2〇05' Patrick H〇rster; S-c 2〇〇5; 光可疋址聚合物形成一種材料族群,其光學特性如吸收、發 射、反射、雙折射及散射可藉由光所引發以產生可逆改變。此類 200837749 聚合物之特徵在於,其在暴露於偏振光時,形成定向雙折射 (directed birefringence)的能力(P〇lymers as Electr〇〇ptical _
Photooptical Active Media, VP. Shibaev (Editor), Springer Verlag,
New York 1995; Natansohn et al” Chem· Mater· 1993, 403-411)。更進 5 一步已知,利用偏振光可將較佳軸會隨著偏振光之方向旋轉而移 動的$部雙折射寫入膜層中的任何期望點處,例如寫入該些聚合 物的薄膜及薄片中(K· Anderle,R. Birenheide,M· Eich,J.H·
Wendorff,Markromol· Chem·,Rapid Commun. 10, 477-483(1989)) 〇 在此方式下,資訊可被導入光可定址聚合物之膜層中。 10 例如,在DE 1〇〇 〇7 410 Α1及DE 42 083 28 Α1中敘述了連續 寫入方法(serial write),在此方法中資訊被連續地導入至光可定址 聚合物膜層。 在偏振光中可顯現出被寫入的雙折射圖案並將其讀出。為了 達j此目的例如,可將聚合物膜層導入至兩交錯的線性偏光器(偏 15 ^斋/分析器)之間,光可定址膜層的設置方式係俾使聚合物膜内的 較佳方向相對偏光器旋轉45。。對於讀出,照射包含偏光器、聚合 物膜層及分析為的結構。光會通過偏光器而被線性偏振。線性偏 振光會照射到光可定址聚合物之膜層。未曝光之區域不會導致光 束中之改變。光束未受阻擋地通過此些未曝光區域,接著照射到 20光的分析為。受到曝光的區域會導致通過之光束的(部分)去偏振 化。一部分的去偏振化光未受阻擋地穿過分析器。受到曝光的區 域在黑暗的背景中會呈現光亮。 因此,包含光可定址聚合物作為薄膜的膜層可被用於儲存資 訊及^據〔例如,在US-A 5,173,381中敘述了此類光可定址聚合 25 ^的貫ft為具有偶氮苯官能基侧鏈的聚合物。在暴露於偏振光 時,偶氮苯官能基聚合物中的光活性(ph〇t〇activey^氮苯基團會朝 垂直於偏振方向而對準。 在DE 196 31 864 A1中所敘述之光可定址聚合物為由一主幹 及兩種側鏈(即,光色(photochromic)與介晶(mesogenic)侧鏈)所構成 200837749 ί某些頻率的偏振光曝光時,光色側鏈會受到刺激而 :二‘:_項⑽七跡⑽異構化(iS0merizati0n),因此導致側 5 10 15 20 可以方ί。此導致了局部雙折射。在此方式下,資訊 忖於姑與介晶__分子間個,介晶基 亦曰、、里歷所謂的合作的定向重新定位過程⑽零論e伽⑽ reo^entationprocess)。由於介晶基團❸重新定位,可達到重新定位 ==以穩定。此外’在此方式下’資訊亦被保留於聚合 197 2〇2 88 A1敛述了光可定址均聚物,其中在均聚物中 惻基團之_交互仙極強,以致於合作定向重新定位過程類似 於以偏振光曝光的結果。 簡言之,因此一般而言,光可定址聚合物中之側基團間的分 間作用實際上為致使資訊可藉由光而被寫入聚合物中的主要原 因。,亦實質上涉及了確保聚合物中之資訊的永久保存。因此, 此些交互作用不會受到干擾為一件重要的事。 在製造儲存媒體時,至今仍無法製造具有任何期望形狀盥尺 寸的光可定址聚合物薄膜。 〃 、在施加及黏合至廣泛範圍的基板上亦持續出現問題。然而, 為了光學數據媒體領域中以及安全元件領域中的應用,與基板間 ^良好黏合為絕對必要的,且薄膜必須在基板彎曲時仍不致於脫 落又,為了光學應用,光可定址聚合物的薄膜必須不會呈現出 巧何撕裂。然而到目前為止,在先前技術中最常敘及之光可定址 聚合物恰好為該些具有聚丙烯酸曱酯為聚合物主幹,且 高易脆性者。 例如,先前技術 DE 197 20 288 A卜 DE 196 318 64 A;l、DE 44 349 66 A1及DE 1〇〇 27 153 A1敘述了可藉由多種方法製造且可施 加至基板上的光可定址聚合物薄膜。然而精確地來說,、利用光可 定址聚合物來形成任何期望形式的膜層尤其是用於大面積之塗佈 者,仍有困難。因此,根據DE 197 20 288 A1中所述之實例t光 25 200837749 可疋=聚合物僅能部分地溶解於溶劑中,因此基板的濕潤不佳及/ 或所得之膜層非均質(inhomogeneous)且膜層厚度不均勻。所述之 作為批次處理的旋塗方法並不適合用來製造任何期望形式之膜 層,尤其不適合用於光可定址聚合物之大面積塗佈。在經濟的 造方法中’必須將已默之膜層厚度的細施加至絲上。 10 15 20 要整—些參數如鑄造驗之減絲面張力。在光學儲存 取、人f衣造方法中’由於到目前為止前述之溶液僅允許光可定址 Li物t身的選擇與結構變化以及溶液或分散液中之光可定址聚 ,物的浪度變化,因此產生了許多困難。在此方式下,對於光 儲存媒體賴的製造僅能建立極小範圍轉造參數。又,藉由 定Ϊ聚合物的濃度變化,黏度與表面張力無法和 斤侍溥Μ中的光可疋址聚合物的量分開獨立調整。 實已知光可纽聚合物之側鏈的敏銳交互作用 之相關特性的主要原因,因此此些交互作用不得 I到干擾與不㈣影響。在製造中或在所得之薄财,可改盖^ 械fr里特性的添加物可嵌合於光可定址聚合物之i獨 ,鏈之間。尤其,此類添加物可殘留在所得之薄膜中。因此,孰 溶液中以改善特性為不可行的 0 ' 【發明内容】 光學=不=====之較佳 物的光學儲存材料且具j較:mu,—光可定址聚合 法與較佳光學安全元件 “储存媒體’及其製造方 根據本發明以申請專纖圍i 圍10之方法及申請專利範圍17之光^=達 25 200837749 至少一光可定址聚合物及至少-添加物的 此〇物來衣k先予儲存材料。例如,此混合物可為添加了至少一 有光可定址聚合物的熔融物、溶液或分散液。 根據本毛明,可自此混合物來製造光學儲存膜層。 下列/學儲存膜層應被理解為—種材料,資訊及數據可藉 ίΐ而被二”材料中’且例如藉助—光源而再次被顯現及/或 碩出。此貧§fl及數據可為類比或數位。 10 、相對於先前技術中之偏見,驚人地發現到藉由添加一或多種 ^加物,不僅僅能夠製如任油望形狀與尺寸的光學儲存膜 層,且允許賴層獅加至極廣泛範圍的基板材料上,更能 不對貧訊之光學儲存特性產生不良影響的情況下,實質上地改善 所得光學聚合物薄膜的機械特性。 、 ° 又i人地叙現到藉由添加至少一種添加物至光可定址聚合 ^(PAP)或其溶液或分散液中,可加速所得光學儲存膜層中側鍵二 重新定位過程,因此甚至可在寫入過程上達到正面的效果。 根據本發明’當暴露於偏振光時,可形成定向雙折射的所有 化合物,皆可被用來作為光學儲存膜層的光可定址聚合物(參見 Polymers as Electrooptical and Photooptical Active Media, V.p. Shibaev (Editor), Springer Verlag, New York 1995; Natansohn et al fhem. Mater. i993, 403-411)。光可定址聚合物之實例為具有偶氮’ 苯官能基顺的上述聚合物。光可纽聚合物的實·、敘述於砂 0622789 Al、DE 44 349 66 A卜 DE 196 318 64 Al、DE19620588 A卜 DE 10027153 A卜 DE 10027152A卜 W0 196038410 A卜 US 5496670、US 5543267、WO 9202930 A1 及 W0 1992002930 A1 中。 較佳地,使用具有偶氮苯官能基的聚丙烯酸酯來作為光可定址铲 合物。 ^ —根據本發明,添加物應被理解為添加至光可定址聚合物或其 溶液或分散液的任何材料。此添加物可較佳地影響機械、物理及、/ 或化學特性如光可定址聚合物或其溶液或該聚合物之分散液的黏 25 200837749 度、表面張力或彈性。 • ’例如增、塑化瓶/絲面雅物質皆可被 〜i二m 了與光可定址聚合物一起溶解於相同溶劑中的物 5 ΐϋίϊίϊ用作為添加物。因此,可製造出較佳混溶及分 二的層。根據本發明,例如亦可使用來自塗佈化 物。咖’此些可為消鋪(antif_s)或除氣劑 係介明重之2合物中的添加物濃度 &量%。在所得 物溶if相有獅鱗肢物、其分餘尤其聚合 4下叮i 正一邠毋需考慮光可定址聚合物之濃度。在此方 ii物=面地影響臈形成且接著可產生實質上均質的光可定址 溶液卻僅具有低添加高Ϊ:量的聚合物,但 利。在所得薄f持低殘餘添加物濃度時,此極為有 2。聚合物係較佳丄且本身之雙折射盡可能低的該些 與數據的寫入與ir厚劑。因此’其不會干擾或妨礙資訊 甲酯:it: t巧添加物的實例為聚醋、聚丙烯酸 聚乙二醇或料二氧⑽錢職峨、聚醚多醇如 25纖維素衍生物如乙笑維;^古聚碳酸醋、乙婦/丙烯氰共聚物、 為限制性。根據本it荬石夕3,上述之舉列物非 其被較佳地用作為”統(pu)。聚醚多醇尤 分散液與二成分Pu夺二:址聚合物或其溶液或其 系、,死的此類有利組合,能夠例如製造出亦可 200837749 f 訊、數據或影像的_塗膜。此類光可定域佈可有 :列舉料、金屬件及/或包含複合㈣之元件,上述之 5敕制,村結合魏不同的增厚娜加劑。此允許調 所物特性,及其鎌或分細雜触铜整,及 十石ΐ本!㈣之另—實施例中,塑化劑被添加到光可定址聚入物 i化二聚液或分散液中。根據本發明之:當 imp 9壌虱化物、亞砜、砜、鄰苯二甲酸酯與其衍 上if之燒f賴與其衍生物、聚乙稀醇、聚sl及聚醋多醇, ΐΐ= f ί制性。添加塑化劑具有下列優點:所得薄Ϊ且 15 ί二鱼i壬現出較少撕裂。又,光學健存膜層的抗拉強度即使 的:i係貫質有所改善。因此可實質上延長光學儲存膜層 根據本發明,交聯之二成分系統如自異氰酸酯盥 可被用作為塑化劑?聚“尤 20劍據本發明’亦可結合複數種不_塑化劑添加物。此μ 特性及其溶液或分散劑特性的最佳調整及所得^ 且古ίίί明之特定雛實施财,細旨乡醇及/絲S旨被用作A 具有先可疋址聚合物之混合物中的添加物。此些物 作為 25 =其同時具有增厚劑與塑化劑之功用且可被^作為 化劑。因此’可確實調絲合減合物的減域得 成特性。同時’可有利地製造具有較佳彈性的所得薄膜。 發明所製造的此類光學儲存膜層,更可耐受f曾 、\據本 戴且表現出較佳的抗張·。 W胃战大的機械負 200837749 明,尤其較佳地使用聚乙二醇(舰)及聚丙二醇 忒酯多醇添加物。此些者較佳地具有介於200〇至 之間的黏均分子量(average viscometric molecular weight)。 尤其較佳的實施例中,使用聚環氧乙烷(PE0)或聚環氧 、元()來作為聚酯添加物。根據本發明,此些者較佳地且有> 於100000至500_之間的黏均分子量。 d丨 在建立本發明時,儲存膜層本身可被直接用作為儲存媒體。 T如光可疋址聚合物可形成自我支#(self-supporting)薄膜或簿 片0 、〆研 1〇 本發明更相關於光學儲存媒體及其製造方法,其中根據本發 明,=述之光學儲存膜層可被施加至支撐材料上。 又 μ地,支撐材料為薄片形式。在下文中,支撐物及支撐材 料亦被稱為基板。根據本發明,基板之形狀、尺寸或厚度係有利 地不被限制。根據本發明,可藉由所有已知的技術自包含至少一 15 ill的溶液而將光可定址聚合物施加至基板層,尤其施加至支 f溥片二該技術可例如為旋塗、喷塗、刮塗、浸塗或鑄造。溶液 表現出實質上較佳之基板濕潤及基板上之較佳膜形成。 根據本發明,較佳地使用間隙塗佈(gap coating)、輥式到刀塗 佈(kmfe 0yer roll c〇ating)、覆面刮刀塗佈(匕浪⑽沉 20 coatmg)、浮刀式塗佈(fl〇ating㈣免c〇ating)、氣刀式塗佈恤如泡 coating)、^塗、簾式塗佈(c_inc〇ating)、旋幕塗佈(r〇吻sc_ coating)、逆報式塗佈(reverse r〇u⑺紐啤)、凹版塗佈、計量桿 (metermg rod ’馬雅棒Meyer bar)塗佈及槽模(狹缝、擠出)塗佈^ 作為將薄膜施加至支撐物的施加處理。 25交具有光學儲存膜層施加於其上的基板將機械穩定性提供予光 學數據儲存媒體。選擇性或額外地,基板更可施行更進一步系統 整功能/例如,基板可作為黏合膜。根據本發明,丙稀氰/ 丁 二稀/苯乙烯(ABS)、聚碳酸酯(pC)、pC/ABS混合物、聚對苯二甲 酸乙KPET)、聚萘乙卿>EN)、聚氯乙烯(pvc)、料基丙婦酸 12 200837749 甲酯(PMMA)、聚酯、聚乙烯(PE)、聚丙烯(PP)、纖維素與其衍生 物、聚醯胺(PA)、環烯烴聚合物與共聚物(COP)、聚苯硫醚(PPS) 或聚亞醯胺(PI)以及玻璃與金屬支撐膜層可被用作為適合的基板 材料,但上列者並非限制性。 5 在本發明更進一步之實施例中,在將光可定址聚合物塗佈於 基板或支撐薄片上之前,可對基板或支撐薄片額外提供反射層。 此反射層可改善儲存於光學膜中之資訊的某些讀出方法,或可允 許其他的讀出方法。在此類實施例中,反射層可為金屬層。例如, 金屬如鋁、鈦、金、鉻、叙與銀或合金可被用作為此反射層。根 10據本發明,較佳為鋁、鉻及銀。 、、金屬層的製造可藉由已知方法來達成,例如電鍍、氣相沈積、 濕式化學施加及濺鍍。根據本發明,市面上販售之金屬 埶 塑性薄片亦適合作為支撐薄片。 ^ 、在另一實施例中,反射層可為複數層的結構。在此處,所需 15或期望的反射程度,係藉由在層結構内特定的複數反射層來達成。 根據本發明之包含光可定址聚合物與至少一添加物的薄膜, f利地與聚合物基板並與金屬或金屬化之表賴層皆具有良好附 者。因此光學儲存媒體的機械負載能力係正面地受到影響且其耐
一透明膜層的形式。 例如盡可能無雙折射之塗膜或薄片或另
媒體可被用來記錄類比與數位 其在例如寫入資訊時具有實質 13 200837749 具有較長的耐久性。藉著層可耐受較高的機械負载且亦 5 性實質上將更多媒 =值:保護之資訊的:ίΓ二其可在有敏感 券及標記或產品保護之領域。 *通仃祖、ID卡、票 10全元件,該臈儲存臈層的光學安 =:根據本發明, 15 細t=irr辨析的雙折射圖案寫入至此膜層中,因此 有利。一旦^類層來作為光學儲存元件尤其 ΛΑ 处丄 、子女王圖案已被導入至,例如待受保缚之吝口 口 ^者^二無f辨析其為安全圖案。此有利地^潛在的產 20 ,振先子糸統才能使聚合物膜層中的資訊顯現並被讀出。因此, U具備顧之技術知識且在不_根據本發明之絲儲存材料 =情^下’根本無法偽造根據本發明之光學安全元件。類似地排 縣她繼存膜層更 所有已知的寫入方法亦可被用來將資訊導入安全元件的光學 25儲存膜層巾。例如,此些方法為攝影曝光、前向寫入(f〇rward writing) 及逆向寫入(reverse writing)。所用之寫入方法尤其可取決於應用。 原則上,不需要使用雷射或單色光源。光源必須僅發出特定波長 之輻射,光可定址聚合物在此波長下會被刺激以引發發色團 (chromophore)的位向。在具有偶氮苯官能基侧鏈之聚合物的情況 200837749 下,光源必須發出會導致反-順-反同質異構反應的輻射(R. Hagen, T Bieringer: Photoaddressable Polymers for Optical Data Storage. In:
Advanced Materials,WILEY-VCH Verlag GmbH(2001),No· 13/23, pages 1805-1810)。在最簡單的情況下,其可為具有寬廣光譜範圍 的白熾燈泡。較佳地例如可使用市售之照明器一投影機來將任何 數目之影像投射至安全元件的光學儲存膜層中,在此投影機之前 係δ又置用以產生線性偏振光的一偏光器。除了影像外,亦可將機 械可讀取之資訊寫入光學儲存膜層中。例如,此可為條碼、矩陣 碼及/或 OCR(光學文字辨識,0ptical character recognition)文字。 在本發明之另一實施例中,亦可藉由曝光而將遮罩寫入安全 元件的光學儲存膜層中。 ” 在根據本發明之另一實施例中,已聚焦的偏振光束可在光學 儲存膜層的表面上方掃描,且光源可在需達成曝光時開啟。或者, 該光可藉由快門而到達光學儲存膜層。 一 15 20 一在本發明之一建構中,光學安全元件之設計俾使存在於其中 之光學儲存膜層為透明,且與其相連之基板及/或材料亦選擇j生地 ,透明的。接著,可以習知的方式完成讀出的動作。例如,此 藉由將光學儲存膜層安插於兩交錯的線性偏光器之間,該兩交錯 的偏光裔較佳地相對於聚合物膜層中的較佳方向旋轉衫产7此 =下’偏振光學系統可由光源(在最簡單的情況中為白^燈 f偏光器所構成,其中光學安全元件係安插於偏絲之間織^) =部分相對於黑色的背景呈制亮。或者,線性偏光器^ 25負的圖樣 ΪΓ于^置。在此情況下,被曝光的部分相對於明亮的背景呈現 …、色。類似地,亦可使用兩圓形偏光器,藉此可類似地產生正盥 在本發明之較佳實施例中,在光學安全元件中於光 層下方可提供—反射膜層。在此情況下,認證測試可3 =ί器(線性或圓形)安置於安全元件的正前方’並將2元S 由偏光器㈣絲達成。因此㈣合物膜層所傳輪且蚁^ 15 200837749 10 15 20 25 所反射的光可藉由偏光器所觀察到。利用線性偏光器,相對於與 聚合物膜層之較佳方向夾45度下的明亮背景,被曝光的部分呈現 黑色。有利地,因此可藉著僅使用一偏光器及一光源來提供根據 本發明之光學安全元件的單簡認證測試。此實施例的更一優點為 ,學安全元件亦可被應用於不透光物體。此外,尤其在與應受保 f之材!? 一起使用,光學安全元件毋需被設置於兩偏光器之間便 能達到簡易讀出及/或認證測試。此大幅地延伸了根據本發明之用 以增加防偽保護之光學安全元件的使用範圍。令人訝異地,已發 現反射膜層的反射率不需極高便能讀取光學安全元件。因此,金 屬,,並非絕對的必須。例如,一旦光學儲存膜層被施加至透明 支撐薄片後,支撐薄片之背部的反射率(背反射率)便足夠。反射的 程度愈低,在讀出時藉由曝光所呈現的像影便愈弱。然而,原則 上背光反射率的程度可低於〗〇/〇。 在本發明的一較佳建構中,藉由曝光可將具有不同偏振方向 的各種影像導入至光學儲存膜層中。在此處,單獨影像的像素可 較佳地設置俾使其在聚合物膜層中不會重疊。令人訝異地,已發 現,以此方式可將數件資訊以依序向上堆疊(〇ne〇nt〇p〇fthe〇ther) 道Λ止之尤其較佳實施例中,可藉由線性光曝光而將兩像 t 械層巾,其巾在的__偏振方向係彼此旋 在此情況下,光學儲存膜層内不會有任何影像為肉眼 二ΐ具有兩影像的光學安全元件受到線性偏光器的照射且 备的偏光器所觀察到,則在偏光器與較佳軸夾45度 影像中的—者,此係由於將聚合物中的此影像 *先所¥致。另—影像中的較佳軸可與偏光H的偏振方向平行或 的^向寫入光學儲存膜層中,在讀出一件資訊時可在毋需影響其 他資Λ的方式下連續讀出。有利地,在根據本發明之光學安全元 件中於光可定址聚合物膜層内之—區域巾,並非_可見的數件 貧訊卻可因此而以並排(side by side)的方式呈現。此能夠額外地增 加根據本發明之光學安全元件的防偽特性。 16 200837749 時,先前可見的影像消失而另的;^光器旋糾度 可有利地先後可見。在讀出另一影丨方式下,兩影像 在光學安全元件的-有利建不會交互干擾。 曝光而被導入至光學膜層中的—或多個了 他影像:若僅有形成-影像的像素被再次曝光,mm 的像素並未被再次曝光,則可達成根據本心象 據本發明,藉由覆寫用之曝光可導入刪除。根 於示券有效性的#訊。例如,在票券有效 利用其他資訊覆寫此資訊。 爾此貝況或可 在本發明更進-步之建構中,在寫入光學儲存膜 光學保護層施加至聚合物膜層。 、㈢後了將 15 20 25 ,據本發明,光學保護膜層應被理解為,允許具有波長可 至冊!ί除及/或覆寫的紐魏或反射,但無法穿透的膜層。與 ,膜層可額外施行較外臈層的其他保護功能。接著^用2二 長的光,仍可有利地讀出根據本發明之光學安全元件,但 ^ 因此被未經授權的方式改變或甚酬除。由於射定址&八物二 =為:可^過程’因此可權宜地保護已被寫入的資訊不^刪除 及/或復寫。在此方式下,可達到防偽保護的更進一步改善。 ^根據本發明,在塗佈光學保護膜層之前或之後可對光學儲存 膜層進行寫入。相關於製造技術的理由下,在寫入後 學保護膜層的光學儲存膜層為不利的。令人對異地灸=現g 儲存膜層在曝光前可設置保護膜。在此情況下,亦可自背部(即g 離保護層之侧)達到寫入。接著可將光學儲存膜層之已曝光^側施加 至欲保護之材料上。 在本發明更進一步之實施例中,光學安全元件所具有之結構 可依序包含光學保護層、光學儲存膜層及反射金屬層。有利^, 17 200837749 由於可以極薄的膜層來施加金屬而使其仍具有曝光所需之足夠穿 透率,因此寫入可藉由將金屬層之側暴露於光而達成(亦參考實例 6)。 、 在另一較佳實施例中,光學儲存膜層可較佳地具有選定的厚 5度,俾使垂直及平行於聚合物之較佳方向的偏振波的相位差為λ/2 或其奇數倍(λ=讀出光的波長)。因此在讀出時可有利地產生亮區與 暗區間的最大對比。 根據等式△LKnpOd(其中光路徑長度之間的差值;^二在 25 QC下平行於較佳方向的折射係數;ns=在25。(:下垂直於較佳方 1〇向的折射係數;聚合物膜層的厚度),相位差可藉由折射係數之 間的差值(np-ns)及膜層厚度來加以控制。折射係數之間的差值係取 決於曝光參數(曝光的時間長度及強度)。對於每一種光學儲存材料 而言,存在著折射係數之間的最大差值,在受曝光膜層中的所有 發色團係垂直於寫入偏振方向時可達到此最大差值(飽和行為)。 15 在一建構中,可以俾使根據本發明之光學安全元件被直接施 加至材料的方式來連接光學安全元件與複數材料。例如,此可藉 由印刷、鑄造或其他已知方式來達成。或者,安全元件可與材^ 为開製造,隨後才連接至材料。例如,安全元件可為薄片或呈'有 反射膜層之複合薄片的形式。 ^ 20 具有光學安全元件之變化形之光學儲存媒體的不同建構與有 利實施例的組合亦落在本發明的範轉中。 、 【實施方式】 25 述了其備製 圖1顯示了光可疋址聚合物的結構分子式,即且有 能基之聚甲基丙烯_之光可定址聚合物,在 圖2顯示了各種光學儲存膜層的曝光曲線。 於綠雷射光曝光(亦參考實例3),因此引發頂射 resolution)^,, 18 200837749 二;了ϊ的數τ ί線?示了純光可纽聚合物 5層f C 的5%比例’根據本發明的光學儲存膜 ^^pap'^ 、上更鬲的折射係數。相較於不具有任何添加 物的純PAP膜層,此為光學特性的明顯改善。 膜声圖藉由曝光而將兩不同影像寫人至光學儲存 巧人的影像係利用一遮罩(圖3(b))所處(理=其元(^)的 ,所處理,此遮罩在「Γ」的地利用一遮罩(圖3(e)) 中的該些元素。當兩影像彼^匕上下雄田,好&置在「lj之影像 係顯示於圖3g巾堆^「’/b_晴楚。此 色。 荀疋起見,具有「1」的影像被著色為灰 15 成限ϋ了結合了下列·狀詳細地轉本發明,但卻不對其構 實例 言’圖1中所示之具有偶氮苯官能基 20
m Γ 來作為光可奴聚合物(ΡΑΡ),而在WO 9851721中敘述了其備製。 實例1 備製PAP添加物溶液。 25 將fOg之PAP與lg的添加物一起加入至一容器中,接著加入 79g的環戊酮。在攪拌的情況下將此混合物加熱至如。。,並 續授拌幾分鐘(細流的情況下)。此錄為橘色至深紅色的溶液、, 其為20重量%濃度的MP溶液,具有!重量%之比例的添加物。 表l(a’ b)中所示之PAP溶液係以類似的方式所備製。表, b)亦總結了具有不同添加物與添加物量之1〇重量%與兀重% ΡΑΡ溶液的黏度。 〃 ° 19 200837749 表1 :具有不同添加物之不同比例的PAP溶液的黏度(在 CP4/40量測系統中於來自Bohlin Instruments的CVO 120 HR黏度 计中以旋轉式測黏度法(r〇tati〇n visc〇metry)的方式量測)。 表 1(a) 溶液中之PEG/PEO的重量% 0 1 2.1 3·4 黏度[mPas] 20重量%之PAP與 PEG 35T 12 12-9 25.1 39.3 20重量%之PAP與 PEO 100T 12 17-6 39 7L3 20重量%之PAP與 PEO 200T 12 32.2 62.9 157 20重量%之PAP與 PEO 300T 12 31.9 56.3 156 5在切變率為11.3 Ι/s時之黏度 表 1(b) 溶液中之PEG/PEO的重量% 0 0.5 1.05 1.7 黏度[mPas] 10重量%之PAP與 PEG 35T 3.2 - - 5.6 10重量%之PAP與 PEO 100T 3.2 - 10.8 10重量%之PAP與 PEO 200T 3.2 - - 12.7 10重量%之PAP與 PEO 300T 3.2 - - 11.4 在切變率為I1·3 i/s時之黏度。 20 200837749 在所示的參數範财,溶液表現出牛頓流體行為。極明顯地, 猎由選擇添加劑及/或添加劑的濃度(上至約157 mpa .可、 液的黏度在廣大的範财變動。另—方面,僅藉由變化= > 度,旎達到自約 1.2 mPa · S(cydopentanone,環戊酮)至 12 · S(%戊自种20重量%的PAP溶液)的參數範圍。在環戊且 的PAP溶液並不穩定,絲可定址聚合物^ 會Ik者時間而沈降為固體。 1 ’ 實例2 猎由叙塗將PAP溶液施加至反射性玻璃支揮件。 為了施行光學量測’將溶液施加至反射性玻縣板上以 ί ί層。為了達到此目的’使用來自T—s之直徑為20二m 且7予度為5 mm的圓形雷射鏡(型號BK7A1+Si02)。 15 25 Μ ϊίϋ旋塗來施行塗佈。為了達到此目的,使用「細_CT 」疋:ϋ機。一雷射鏡係固定至裝置的可旋轉件上, t ii溶液的覆蓋麟動數秒。根據裝置_動程式(加速度、旋 ΐίΐϊ旋ΐ時間),可獲得具有覆蓋率為㈣至h〇3 g/m2的高 非晶塗膜。藉著將已塗佈之玻璃支撐件館存在 至/亚下的真工至中,自塗膜層去除殘留的溶劑。 實例3 光學特性的量測。 例2的樣品以線性偏振的綠(523nm)雷射光曝光。此 I fit折射,此雙折射可藉祕無雷射之偏振方向夾 純又f於工· ρ、ί性偏振二極體雷射(650 nm)所讀出。適當的設備 . R. Hagen et al.5 Photoaddressable Polymers for Ontical =^;Γ’ AdV_d 麻執蓮,13,版找 Pages 製成中在材料中所建立之雙折射^被繪 21 200837749 實例4 光學安全元件、製造及認證測試。 將光塗之2〇%濃度溶液 5 15 為1.6至2 μΓ 尽為μ勺市售PET膜層。膜層厚度 ,以反财式讀出之絲安全元件的軌下,在ρΕτ膜層與 二Ϊ光合物的膜層之間加人光學密度約G·8 _層。在光學 女王2件的情況下,此辨識係於傳輸時測試,省略了金屬層。 ^ ^^^^^(Sharp PG-MB65X XGA5 DLP technology, 3000 明Ansi Lrnnen)及下游聚焦鏡片(聚焦距離1〇〇 mm),將黑/ ^象投射域下設有料的光學儲存膜層。—線性偏光器係設 f在聚焦鏡#與光學儲存膜層之間。在光可定址聚合物膜層上的 广像具有直徑約2 cm的尺寸。投射設備所產生之影像為影像填充 (image filling),即投影設備之1〇24 χ 像素的影像視野被用至最 且^有約25%的亮度。曝光持續1分鐘。結果為非肉眼可辨 ,之光學安全元件。若線性偏光器係設置於安全元件上且相對於 ♦合物中之較佳光學軸旋轉45度,則在經由偏光器之反射光束中 可辨認出曝光所寫入之影像為明亮背景下的暗部。 f例5 20 ^有兩影像之光學安全元件,製造及認證測試 藉由曝光刻意地將兩影像「上下堆疊」地寫入底下設有鋁層 的光學儲存膜層。欲寫入之影像顯示了數字「丨」與「2」(參考圖 3(a)與(d))。利用一遮罩(圖3(b))處理具有「1」之影像,俾使其僅 由一半的元件所構成(圖3(c))。類似地利用一遮罩(圖3(e))來處理 25具有「2」的影像,此遮罩在具有「2」的影像中省略了正好設置 在具有「1」之影像中的該些元素。當兩影像彼此上下堆疊時,此 變得非常清楚。此係顯示於圖3g中,為了清楚起見,具有「1」 的影像被著色為灰色。 猎由暴路至類似於實例1的線性偏振光而將此兩影像連續地 22 200837749 寫入光學館存臈層中 .像之偏振方向旋轉了 45产:办像中的偏振方向係相對於第一影 .行兩影像的曝光,在第每—情況下利用不同的軸來進 5肉眼無法辨識的雔垒產生了被寫入至光學安全元件且 全元件上。若了,,將細_設置於安 出兩影像中之該—者。;;另一影軸旋轉45度則可讀 先前 10的遮罩寫又至&入-^由目5 >數,藉由曝光將自圖3e之類型 此刪除件^此處所用之偏光器為圓形偏光器。藉 實例』有2」之衫像但部保留了具有「1」之影像。 具^光學保護層的安全元件。 15包含^ 層施加至厚度為2〇〇μΠ1的聚醯胺·12基板。將 層。聚_、r塗?一起施加至光學儲存膜層作為光學保護 ςλ /二曰主膜為作為醇類成分之Desmophen651 MPAP5.6重量
Del Η Τ'11 ^ ^ tt%) ' 旦。/、: Γ甘3390 BA(20·8重量%)及作為溶劑之二丙酮醇(34.5重 iU基乙基嗣(12.2重量%)的混合物。加入數毫客_的辛酸 20鋅作為催化劑。塗膜被直接施加至光學儲存膜層。 、取ί斤^之染料為來自Ciba之0raso1 Red BL。在添加異氰酸酯形 成聚氨酯塗膜前,將此染料包含至醇類成分中。塗膜中的染 度約為5重量%。 染料阻擋了會導致圖丨所用之光可定址聚合物中之偶氮笨發 25色團之定位的波長,但卻允許讀出用的紅光通過。塗膜厚度約為 2μιη 〇 類似於實例4 ’將安全元件曝光於背對(facing away)塗膜之側 來的光。如所預期,面對塗膜之側的曝光並不成功。藉助於相對 於聚合物中之較佳方向旋轉45度的偏振膜,可自兩側讀出此影像。 23 200837749 亦可藉助圓形偏振光的均勻曝光而自背 .像。如所職,無法自面獻舰行^對錢之側刪除影 利,具有反細設置於絲儲存膜層下 及光iii媒働膜層 偽功能且可接受認證測試的光學安全卜元二、了 -有較佳特性、防 10【圖式簡單說明】 限制根°Γ細之細節與圖示可解釋本發明但卻不對其產生 儲存膜層的實例。°白"、員示了藉由曝光而將不同影像寫入光學 【主要元件符號說明】 20 24
Claims (1)
- 200837749 十、申請專利範圍: 1· 一種光學儲存膜層,其特徵在於:其係自至少一光可定址聚合 物及至/ 添加物的混合物所製成。 5 2·根據申請專利範圍第i項所述之光學儲存膜層,其中該添加物 為增尽劑及/或塑化劑及/或表面活性物質。 3.根據申請專利範圍第丨或2項所述之光學儲存膜層,其中該添 加劑為聚合物。 10 4·根據申請專利範圍第丨至3項中之任一項所述之光學儲存膜 層,其中該添加物為聚酯或聚酯多醇。 5·根據申請專利範圍第4項所述之光學儲存膜層,其中該聚酯多 15醇為聚乙二醇或聚丙二醇。 ^根,申請專利範圍第4或5項所述之光學儲存膜層,其中該聚 酯多醇具有介於2000至looooo的黏均分子量。 20 ^根據申請專利範圍第4項所述之光學儲存膜層,其中該聚醋為 4乙烯氧化物或聚丙烯氧化物。 25 ^根據申請專利範圍第4或7項所述之光學儲存膜層,其中該聚 酉曰具有100000至500000之黏均分子量。 =根據前列申請專利範圍之任一項所述之光學儲存膜層,其中該 :加物的總量係介於基於所得膜層之總重量的1至3〇重量%, 仏地介於1至20重量%。 25 200837749 1〇· —種光學儲存媒體,其特徵在於:根據前列申請專利範圍之任 一項所述之光學儲存膜層係施加於一基板。 11·根據申請專利範圍第1〇項所述之光學儲存媒體,其中該光學 5儲存膜層的膜層厚度係介於2〇〇削至2 μηι之間,較佳地係介於 30 nm至5 μηι之間,尤其較佳地係介於10 nm至50 μιη之間。 10 根據申請專利範圍第10或u項所述之光學儲存媒體,其中該 基板為反射性及/或設有額外的反射層。 5 =申請專利範圍第10至12項中任一項所述之光學儲存媒 體’,、中该光學儲存膜層設有透明外層。 15 =|^/=料利範圍第1G至13項巾任—賴述之光學儲存 不—f方法’其特徵在於:根據前列申請專利範圍1至9項 T任一者的光學儲存膜層係施加於一基板。 、 Ϊ的:種严ί申請專利範圍第1至9項中任-項所述之光學儲存膜 2〇 9的用返,其係用於記錄類比與數位數據與資訊。 、 根射請專概圍㈣至13射任—韻述之光學儲存 25 =说根專概_16項之絲崎舰的崎,係作為通 仃证m卡、票券與標籤的儲存媒體,尤其用於產品保^作為通 18· 一種光學安全元件,其包含自至少一 添加物之-混合物所製成的一光學儲存膜層。物Η至少- 26 200837749 安全元件,其中該光學 19.根據申請專利範圍第18項所述之光風 儲存膜層係被施加於一基板。 予 2〇·根據申請專利範圍第19項所述之光 — 5為反雜及/或找光學齡賴下方財_^=。’,、中該基板 L根專利範圍第獅射之任—項所述之光學安全 1〇先而以上下堆疊的方式被寫人至該絲儲存=f。係精由偏振 ^ ϋ射料概圍帛賴述之光學安全元件, 之〜複數個數據或影像以使其不重疊的方式製作。...... “乡齡元件,其中一 20 25根m申請專利範圍第18至24項中任一項所述之光學安全 該光學學儲存膜層的厚度’俾使垂直及平行偏振於 ' λ/2或其奇數倍,而λ為讀出光的波長。 ^ ^列申請專利範圍第18至25項中任一項所述之光學安全 Iffi认^途,係作為通行證、1〇卡、票券與標籤的防偽保護,尤 具用於產品保護。 27
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