TW200541390A - A method for patterning an organic light emitting diode device - Google Patents

Description

200541390 九、發明說明： 【發明所屬之技術領诚】 發明領域 本發明相關於導電膜圖案化，更確切來說，本發明係有 5關利用雷射剝蝕製程圖案化有機發光二極體元件的方法。 發明背景 基本有機發光二極體(oled)元件，如第1圖所述，為 包含配置在陽極106與陰極108間之有機層104的多層結 ίο 構100之電子元件。 有機層104—般包含電洞傳輸層ι12與電子傳輸層114 且進一步包含配置介於電洞傳輸層112與電子傳輸層114 之間的發光層110。基體102基本包含玻璃，但也可從其 他輕巧’可撓曲及透明的材料如塑膠材料而形成。在基本 15有機發光二極體元件中，陽極層106包含銦錫氧化物（IT0) 且陰極層108由金屬’包含如銀、金、約或鎂等金屬材料 製造。 提供電子至電極會導致隨電洞傳輸與電子傳輸層產生 帶電分子。這些帶電分子在發光層中再結合以藉由電致發 20 光產生光。 有機發光二極體元件技術其首要應用為液晶顯示器 (LCD)外的另一種平面顯示器。有機發光二極體顯示器提供 包含可饒性、較廣視角及較優色彩解析度等許多優於液晶 顯示器的技術。因為有機發光二極體元件為自發光，它們 200541390 不需要背光模組，因而與液晶顯示器相比消耗較少能量。 此外有機發光二極體顯示器潛在地較液晶顯示器快速、輕 巧及清晰。 5

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一有機發光二極體顯示器具有以行列矩陣形式沉積在基 體上的像素陣列。每個像素由形成在行與列交錯點上的發 光二極體構成。有兩種有機發光二極體顯示器：主動式矩 車j破動式矩陣顯示器。在被動式矩陣顯示器中，每個像 素错由提供電荷至相互穿插形成像素的行與列中而發光。 :主動式矩陣顯示器中，每個發光二極體係與控制流通於 機發光二極體電流量的薄膜電晶體組合。 勠式矩陣有機發光二極體元件係藉由沉積多層有機 /二極體元件的不同層於基體上而製成並將電極層圖案 及^個分離導電要件上。常見圖案化製程包含黃光微影 錢難術。然而有機發光二極體材料與元件結構並 ::與常見圖案化技術相容。在陰極層圖案化製程中暴露 外^、水氣及化學藥品中會導致下方有機層的衰敗。此 而:見圖案化技術額外地產生包含結構缺陷或基體污染進 造成有機發光二極體對於電子短路敏感的問題。、 雷射剝蝕技術根據利用雷射光束照射已選 :成的預定圏案而牵涉電子導電與絕緣心= :的：些技術已證明提供有機發光二極體元件更 暖^造祕。藉μ詩㈣料級料料製備、 =的顯影及#刻的多步製程以雷射直接圖案化導電棋是 20 200541390 使用已存在技術圖案化陰極基本上導致如第2圖所示 一連串的λλ磨兹〃結構。被動式矩陣有機發光二極體元件200 顯示在常見圖案化製程中形成的λ>蘑菇〃結構210其結構。 有機發光二極體元件200具備沉積在玻璃基體202的錮錫 5 氧化物陽極206及沉積介於陽極層206與陰極層208間的 有機發光層204。λ'蘑兹〃結構210係形成因此通常它們沒 有平行牆’蘑菇"210的基部212具有小於”蘑菇〃214上部 的橫截面積。並且陰極層208可用封裝層216封蓋以保護 金屬陰極208。 0 已敘述的結構能達成最佳效能。λλ蘑菇〃牆的微小傾斜變 異會，或不會使元件對電子短路敏感。另一個造成電子短 路的原因為過度陡a»肖的傾斜造成 ''蘑益〃在供烤製程中倒 塌0 此外已敘述方法通常使有機層與陰極層無法圖案化，因 15而使相鄰像素得以互相干擾。藉著以低電阻率電洞傳輸層 取代咼電阻絕層而解決此問題的意圖已執行。不過此解決 方式對於有機層之導電度妥協，因此降低元件整體功能與 效率。並且目前用於有機發光二極體元件圖案化的方法對 於大尺寸元件製造係認為太過複雜、緩慢及成本太高。 20 【赛^明内溶1】 發明概要 簡單地說，本發明提供具備多層結構，包含基體及至少 -沉積介於兩電極層間之發光有機層的被動式轉有機發 光二極體元件。該方法包含利用雷射光束呈一預定圖韻 200541390 射至多層結構區域以導致在受照射區域中多層結構的剝 蝕。電極層與發光有機層在同一照射工作中實質上同時地 圖案化。 5 圖式簡單說明 本發明藉由參考本發明說明例示形式之附屬圖式進一 步敘述。可以了解圖示特殊性無法取代本發明先前敘述之 主要性。圖示中： 第1圖為習知技藝多層有機發光二極體元件的透視圖。 10 第2圖為顯示因常見圖案化製程產生之〃蘑菇〃結構的習 知技藝被動式矩陣有機發光二極體元件。 第3圖根據本發明實施例為顯示因雷射圖案化製程導 致之〃蘑菇"結構的被動式矩陣有機發光二極體元件。 第4圖根據本發明實施例提供之方法為概敘主要步驟 15 之流程圖。 第5圖為用於本發明實施例中之準分子雷射圖案化系 統其例示圖示。 第6圖為用於本發明另一實施例中摻鈦釔鋁石榴石雷 射圖案化系統其圖示。 20 第7圖根據本發明實施例為以奈秒脈衝寬度用深紫外 光摻鈥釔鋁石榴石雷射所製造的雷射圖像照片。 第8圖根據本發明實施例為以皮秒脈衝寬度用深紫外光 摻鈥釔鋁石榴石雷射所製造的雷射圖像照片。 【實施方式3 8 200541390 敷隹實施例之詳鈿詒明 第3圖根據實施例說明利用雷射圖案化方法圖案化被 動式矩陣有機發光二極體元件300其結構。被動式矩陣有 機發光二極體元件300具備包含基體302及配置介於兩電 極層306、308間至少一發光有機層304的多層結構。此 外陰極層308因金屬陰極308高反射度而以封裝層310封

蓋。封裝層310應具備對紫外光高吸收度以提升雷射圖案 化製程效率。 基體302包含玻璃以及任何適當的透明材料如塑膠基 體發光有機層304可包含一或多層有機薄膜，但包含配 置介於電洞傳輸層112與電子傳輸層114間的高分子發光 層11〇。電極層包含陽極層306與陰極層308。陽極層3〇6 可包含銦錫氧化物（IT0)且陰極層3〇8包含任何適用金屬 材料例如鎮、銀、約、金或其他任何適用合金。 雷射剝蝕的多層有機發光二極體元件3〇〇圖案化涉 及根據預損案所執行的受照射層部分移除。雷射光束的 光子能量破壞了乡層結構巾的分子鍵錢㈣過熱因而導 致文照射材料之氣化且/或移除。當外層移除後，下層將曝 照:雷射光束t並導致進-步㈣。因為有機發光二極體 =構非常薄（數百奈米），雷射光束在同-照射工作中 實質上同時地出現以圖案化全部多層結構。 第4圖根據㈣例為概述圖案化多層結構方法的流程 402包含提供具有多層結構之被動式矩陣有機發 先-極體元件。在實施例中，多層結構包含—基體，至少 20 200541390 一發光有機層及兩電極層。步驟404包含利用雷射光束呈 預定圖案照射至~多層結構區域。步驟406包含剝#受 …、射區域中的多層結構。最後步驟408包含在同-照射工 作中實質上同時地圖案化兩電極層及發光有機層。 5 在同一照射工作中剝蝕全部結構的能力否定了對傳統 夕步驟流程的需求。單一步驟方法提供較傳統方法更準確 及更快速圖案化有機發光二極體元件的技術。此製造製程 中的簡化導致製成效率的提升。 回頭參照第3®，藉由已揭露方法形成的〃柱形體"結構 1〇 312實質上具有平行侧邊及貫穿其高度的均勻橫截面。對" 柱化體結構312更加清楚的定義縮小像素間干擾的發生 防止在烘烤中柱形體〃結構312的塌陷。此敘述之雷射 圖案化製程為提供增加準確性，更快速有機發光二極體元 Μ 2的Ik的乾式製程’並進—步提供具有低電阻率之高效 率電發光材料其用途。每一個優點貢獻了對於有機發光二 極體元件製造的整體降低成本。 雷射圖案化製造了由電子導電材料或電漿組成的殘 餘。電漿必須自電極間或，，柱形體"312移除以避免電性短路 如及確保最佳成效。該方法可包含提供在剝姓製程中任何殘 骨亥移除或電漿排出的一額外步驟。移除經由包含吸入或吹 出系、、先的任何適當方法發生。圖案化與移除步驟可同時發 生。 太在一實施例中，發射的雷射光束具備短脈衝寬度。在數 π移或皮粆私度的脈衝寬度係認為適當。短脈衝寬度允許 10 200541390 雷射光束達到含低強度且/或照度（fluence)的高雷射波峰 功率。多層結構在曝光至雷射光束的非常短時間内可圖案 化。因雷射光束照射所產生的熱擴散穿越受照射層至相關 於雷射脈衝寬度的下層深度。因此，較優控制性與較佳準 5 確性可藉由短脈衝寬度的雷射光束達成。 根據實施例的方法涉及乾式製程，因而否定對常用於傳 統圖案化技術的濕式酸或溶劑之需求。該方法可在受控制 的氣體環境，包含氮氣或覆蓋在陰極層上隔離氧氣以避免 老化的鈍氣中實施。在具有超級短脈衝寬度（此即為，皮秒 10 脈衝寬度）的雷射光束提供之處，有效的雷射圖案化在不需 受控制的氣體環境下係可達成。 根據實施例的方法可藉由以雷射光束照射有機發光二 極體元件之陰極層308而實施。陰極層308係以具有超過 陰極層308剝蝕臨界程度之能量密度的雷射光束照射，因 15而實質上同時地導致在受照射區域内多層結構的剝蝕。雷 射光束係選擇以具備足夠能量密度剝蝕陰極層308,因為 陰極層308在多層結構中相對於其他材料通常具有最高剝 餘或氣化門檻。剩餘殘骸或電漿材料藉由吸取系統而移 除。由於此方法，相間配置的陰極層308，陽極層306及 20發光有機層304都實質上同時地在同一照射工作中係剝 餘。 陰極308對於紫外光具高反射性且具高熱導電度。因此 選擇作為執行圖案化方法的雷射光束是根據超過有效剝蝕 或氣化陰極層308的能量密度門檻所挑選。 11 200541390 ”有超過有效剝餘或氣化陰 η檻的適當雷射光束 < …度 方法。例如，时關自可祕執行圖案化 &米波糟由包含但不限於248奈米或3〇8 不… 57子雷射或355奈米波長之Nd:Yag雷射的 雷射光束而執行。g宙射的 已做為的準分子產生f射光束啦 已做為執仃圖案化方法：

10 波長 脈衝寬度 脈衝能量 頻率 照度（Fluency) 照射量（shot count) 248奈米 30奈秒 440毫焦耳 250 Hz <1000毫焦耳/平方公分 2至5脈衝/20奈米IT0 15 在又照射的陰極層308上表面上，該表面係超加熱至受 φ 照射刀子夂乳化為止。一旦陰極層308受照射部分係剝 银’雷射光束502將照射並氣化下層304、306。 第5圖說明用於實施例之雷射剝餘系統5〇〇實例的結構 圖像’其中文雷射光束對準之多層有機發光二極體元件5〇4 20其上層為金屬陰極層。雷射剝蝕系統500包含準分子雷射 投影系統506。系統500進-步包含衰減器5〇8、均質器 510、鏡子512及場透鏡514以重分配雷射光束502。已重 分配之雷射光束502係指向可導引光束5〇2經由傾斜45 度之鏡子526穿越投影鏡片518的摺疊鏡516。投影鏡片 12 .200541390 518傳达光罩52〇至有機發光二極體元件5()4上。系統5〇〇 進-步包含制器522及根據參數如脈衝強度、輸出功 率、脈衝能量分佈等提供對雷射光束5G2即時分析的光束 分析器524。 5 此外’回碩參照第3 ®，敘述實施例的剝餘方法可藉由 穿越基體302對陽極層3Q6區域照射而實施。如上述方法， 相間配置的陽極層306,陰極層3Q8及發財機層咖在 同照射工作中實質上同時地係圖案化。 另-種方法可利用雷射光束5Q2經由基體3Q2照射陽 1〇極層3%而實施。雷射光束聚焦點在陰極層308其表面。 在陰極層308上聚焦雷射光束導致圖案化從陰極層起始。 因為陰極層308基本上相對於多層結構中其他材料具有最 南剝姓或氣化門檻因此為所欲。在陰極層3〇8上聚焦雷射 光束也可避免對具紫外光高吸收度的基體3〇2造成損害。 15 冑射光束係選擇以具備可迅速_或氣化陰極層308 的能量密度。當陰極層3〇8受照射部分係氣化，熱從陰極 層308經由有機層304傳導。有機層304因此係㈣且產 生之熱經由陽極層306傳導。事實上，因為多層有機發光 二極體元件結構其㈣薄的本f，全部製程似乎同時地發 20 生。 在實^>例巾’雷射光束係選擇以照射陽極層3Q6且是包 含具355奈米波長深紫外光及脈衝寬度為皮秒範圍之雷射 光束。此雷射光束可自摻歛镱銘石權石雷射衍生出來。例 13 200541390 如，該方法可利用具有下列光束特性的摻歛镱鋁石榴石雷 射光束實施： 波長 3 5 5奈米 5 脈衝寬度 12皮秒 第6圖說明適用於照射陽極之剝蝕方法的雷射圖案化 系統600其結構圖。雷射圖案化系統600包含摻歛镱鋁石 • 榴石雷射產生器602。系統600進一步包含鏡子604及光 束擴展器606以重分配雷射光束608。已重分配之雷射光 10 束608係指向可導引光束608經由傾斜45度之鏡子620 穿越聚焦鏡片612的摺疊鏡610，其中光束608係指向以 照射及圖案化有機發光二極體元件614。系統600進一步 包含偵測器616及根據參數如脈衝能量、輸出功率、能量 密度與即時監視光束608位置等提供對雷射光束608分析 15的光束分析器618。 鲁 第7圖與第8圖顯示由具脈衝寬度分別為奈秒及皮秒之 深紫外光摻歛鏡鋁石榴石雷射所形成之圖像實例。 根據不同實施例之方法圖案化的被動式矩陣有機發光 二極體元件可直接用為顯示器。繼圖案化方法的應用後， 20 不需要進一步處理。因此可外加電流至由此方法提供之有 機發光元件以發光顯示器。 當本發明實施例已詳細說明後，很明顯的這些實施例的 修正與改寫在不脫離如下述申請專利範圍之本發明範圍下 將實施至此領域中之熟知技藝。 14 200541390 【圖式簡單:明】 第1圖為習知技藝多層有機發光二極體元件的透視圖。 第2圖為顯不因常見圖案化製程產生之"蘑菇"結構的習 知技藝被動式矩陣有機發光二極體元件。 5 第3圖根據本發明實施例為顯示因雷射圖案化製程導 致之〃蘑菇〃結構的被動式矩陣有機發光二極體元件。 第4圖根據本發明實施例提供之方法為概敛主要步驟 之流程圖。 第5圖為用於本發明實施例中之準分子雷射圖案化系 10 統其例示圖示。 第6圖為用於本發明另—實施例中推錢紀銘石摘石雷 射圖案化系統其圖示。 第7圖根據本發明實把例為以奈秒脈衝寬度用深紫外 光摻鈥釔鋁石榴石雷射所製造的雷射圖像照片。 、

15第8圖根據本發明實施例為以皮秒脈衝寬度用深紫外光 摻鈥釔鋁石榴石雷射所製造的雷射圖像照片。 【主要元件符號說明】 100 多層結構 102 基體 104 有機層 106 1¼極 108 陰極 110 發光層 112 電洞傳輸層 114 電子傳輸層 200 被動式矩陣有機發光 二極體元件 202 玻璃基體 204 有機發光層 206 陽極層 208 陰極層 15 200541390

210 蘑菇/蘑菇結構 514 場透鏡 212 蘑菇基部 516 摺疊鏡 214 蘑菇上部 518 投影鏡片 216 封裝層 520 光罩 300 被動式矩陣有機發光 522 偵測器 二極體元件 524 光束分析器 302 基體 526 鏡子 304 發光有機層 600 雷射圖案化系統 306 陽極層 602 摻鈦鏡鋁石榴石雷射 308 陰極層 產生器 310 封裝層 604 鏡子 312 柱形 606 光束擴展器 402〜408 步驟 608 雷射光束 500 雷射剝蝕系統 610 摺疊鏡 502 雷射光束 612 聚焦鏡片 504 有機發光二極體元件 614 有機發光二極體元件 506 準分子雷射投影系統 616 偵測器 508 衰減器 618 光束分析器 510 均質器 620 鏡子 512 鏡子 16

Claims (1)

1. 200541390 十、申請專利範圍： ι_ -則以對被動歧时機發光二減元件進行雷射 圖案化的方法，該被動式矩陣有機發光二極體元件且有 包含-基體以及配置在二個電極層之間之至少—發光 5 彳機層的—多層結構，該方法包含以下步驟： 利用一雷射光束呈一預定圖案照射該多層結構的數個 區域，從而導致該受照射區域中該多層結構的剝餘； 其中，該等電極層以及至少一發光有機層實質上係同時 在相同照射操作期間被圖案化。 10 如巾請專利範圍第！項之用以對被動式矩陣有機發光 二極體元件進行圖案化的方法，其另包含移除在雷射圖 案化期間被排出的任何殘餘材料的步驟。 3·如申請專利範圍第1項之用以對被動式矩陣有機發光 二極體元件進行圖案化的方法，其中該放射雷射光束的 15 脈衝寬度位於一奈秒範圍以及一皮秒範圍中之至少一 者。 4_如申請專利範圍第1項之用以對被動式矩陣有機發光 二極體元件進行圖案化的方法，其中該雷射光束包含波 長低於355奈米的紫外光輻射。 20 5_ 一種用以對被動式矩陣有機發光二極體元件進行圖案 化的方法，該被動式矩陣有機發光二極體元件具有包含 a又置在一基體上之一陽極層以及配置在該陽極層以及 一陰極層之間之至少一發光有機層的一多層結構，該方 法包含以下步驟： 17 200541390 利用一雷射光束呈一預定圖案照射該陰極層的數個區 域，從而導致在該等受照射區域中該多層結構的剝蝕； 其中，該陰極層、該陽極層以及被配置在二者間的該（等） 發光有機層實質上係同時在相同照射操作期間被圖案 5 化。 6. —種用以對被動式矩陣有機發光二極體元件進行圖案 化的方法，該被動式矩陣有機發光二極體元件具有包含 設置在一基體上之一陽極層以及配置在該陽極層以及 一陰極層之間之至少一發光有機層的一多層結構，該方 10 法包含以下步驟： 利用一雷射光束呈一預定圖案透過該基體而照射該陽 極層的數個區域，從而導致在該等受照射區域中該多層 結構的剝餘； 其中，該陽極層、該陰極層以及被配置在二者間的該（等） 15 發光有機層實質上係同時在相同照射操作期間被圖案 化。 7_如申請專利範圍第6項之用以對被動式矩陣有機發光 二極體元件進行圖案化的方法，其中透過該基體之該陽 極層照射係隨該雷射光束在該陰極層上聚焦而發生。 20 8. —種具有一多層結構的被動式矩陣有機發光二極體元 件，該多層結構包含設置在一基體上之一陽極層以及配 置在該陽極層以及一陰極層之間的至少一發光有機 層，該元件係利用包含下列步驟的一方法而圖案化： 利用一雷射光束呈一預定圖案照射該多層結構的數個 18 200541390 區域，從而導致該受照射區域中該多層結構的剝蝕； 其中，該陰極層、該陽極層以及被配置在二者間的該（等） 發光有機層實質上係同時在相同照射操作期間被圖案 化。 、 5 9·如申請專利範圍第8項之被動式矩陣有機發光二極體 元件，其中照射該多層結構之該等區域的步驟包含利用 一雷射光束呈一預定圖案照射該陰極層的數個區域，從 春 而導致在該等受照射區域中該多層結構的剝蝕。 1〇_如申請專利範圍第8項之被動式矩陣有機發光二極體 10 元件，其中照射該多層結構之該等區域的步驟包含利用 一雷射光束呈一預定圖案透過該基體而照射該陽極層 的數個區域，從而導致在該等受照射區域中該多層結構 的圖案化。 如申請專利範圍第10項之被動式矩陣有機發光二極體 15 元件，其中透過該基體之陽極層照射係隨該雷射光束在 • 該陰極層上聚焦而發生。 12·—種包含具有一多層結構之被動式矩陣有機發光二極 體元件的顯示器元件，該多層結構包含設置在一基體上 之一陽極層以及配置在該陽極層以及一陰極層之間的 20 至少一發光有機層，該元件係利用包含下列步驟的一方 法而圖案化： 利用一雷射光束呈一預定圖案照射該多層結構的數個 區域，從而導致該受照射區域中該多層結構的剝蝕； 其中’該陽極層、該陰極層以及被配置在二者間的該（等） 19 200541390 發光有機層實質上係同時在相同照射操作期間被圖案 化。 13·如申請專利範圍第12項之顯示器元件，其中照射該多 層結構之該等區域的步驟包含利用一雷射光束呈一預 5 定圖案照射該陰極層的數個區域，從而導致在該等受照 射區域中該多層結構的剝蝕。 14_如申請專利範圍第12項之顯示器元件，其中照射該多 層結構之該等區域的步驟包含利用一雷射光束呈一預 定圖案透過該基體而照射該陽極層的數個區域，從而導 10 致在該等受照射區域中該多層結構的圖案化。 15·如申請專利範圍第12項之顯示器元件，其中透過該基體 之陽極層照射係隨該雷射光束在該陰極層上聚焦而發 生0 20