TW200532802A - Method for reducing harmonic distortion in comb drive devices - Google Patents

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TW200532802A
TW200532802A TW093139872A TW93139872A TW200532802A TW 200532802 A TW200532802 A TW 200532802A TW 093139872 A TW093139872 A TW 093139872A TW 93139872 A TW93139872 A TW 93139872A TW 200532802 A TW200532802 A TW 200532802A
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comb drive
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wafer substrate
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TW093139872A
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Jeffrey A Ridley
James A Neus
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Honeywell Int Inc
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Description

200532802 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明大體而言係關於半導體製造及微機電系統(MEMS) 之領域。更具體言之,本發明係關於用於減少梳形驅動裝 置内諧波失真之製造方法。 【先前技術】 電梳形驅動裝置係用於在微機電系統(MEMS)裝置中提 供移動或運動。例如,該等驅動裝置可用於其中經常需要 快速致動以有效量測及/或偵測運動及加速度2MEMs類型 之加速計、陀螺儀及慣性感應裝置之製造中。 在一典型梳形驅動裝置中,使用若干錨將一主體支撐於 -底層支撐基板之上方。可致動電耦接至該主體之一或多 個駆動兀件以便以一特定方式操縱該支撐基板上方之該主 體°在某些設計中’例如,該等驅動元件可包括若干交又 梳形指’其組態成使用靜電致動將電能轉換成機械能。 -種製造靜電梳形驅動裝置之方法一般自一石夕晶圓基板 絲。藉由在該晶圓基板上擴散或蟲晶成長實現一高度摻 (例:之層,接著使用—圖案化遮罩層及-合適之钱刻製程 成所1V B°seh型之深反應式離子㈣(drie))_該層以形 成所需要之微結構。接著, i士入、Ά 使用诸如陽極結合法之合適的 Μ過程將該㈣収晶圓結合至 撐基板可包括:若干凸自,…/層支掉基板。該支 支揮U ^ 〃將主體及㈣元件支撐於該 文保基板上方同時允許於1 矽構件之全t A 丁移動,及適用於連接至 丹1干之孟屬圖案。亦可於兮* °亥支撐基板上提供一或多個電 98558.doc 200532802 〇以里測由(例如)感應器之加速或旋轉引起之主體之上/ 下移動。接著,藉由-或多個非選擇性及選擇性钱刻製程 (例如’基於KOH及EDP之钱刻)移除該石夕基板晶圓,僅留下 圖案化之高度摻雜之石夕結構。 為了當裝置來回移動時均勻施加梳形裝置之力,經蝕刻 之結構之形狀或輪廓應盡可能均勻。該經蝕刻之結構之均 勻性係視若干因素而定’包括(例如)··相鄰部件之間之間 :;及所使用之臟製程之參數。由於钱刻趨向於在相鄰 部=之間具有相對較小之間隙之彼等位置處較慢,因此梳 形指之輪廓趨向於沿著其長度為不均勻,此歸因於由該等 梳形指之部分重疊所引起之變化間隙尺寸一 一胖p 8叫。此不均勻性可在該等梳形指相對於彼此進行移動時 導致電谷改變’從而在馬達驅動功率中產生不良的電諧 此等額外4波可減少該等梳形指所需要之動力,導致 在感應器輸出中存在較大能量耗散及雜訊。在某些狀況 下,該等梳形指之非線性輪廊可產生正交或面外運動,其 步生成感應器輸出中之雜訊。如此’在此項技術中需 要用於減少梳形驅動裝置内諧波失真之改良的製造方法。 【發明内容】 發明係關於用於減少梳形驅動裝置内諧波失真之掣造 方法。在本發明之一說明性方法中,可於一用於形成二 電梳形驅動裝置之晶圓基板之表面上成長或形成—諸 度摻㈣〇-)之石夕或其它合適的材衫晶層。可於該广声 上形成一界定若干梳形驅動元件及—或多個犧牲姓刻_ 98558.doc 200532802 區之圖案化遮罩層。可採用飯刻緩衝區以使相鄰部件之間 1隙更為均勻。可在需要產生均勻蝕刻輪廟之彼等位置 處或接近彼等位置處使用此等蝕刻緩衝區。在一些狀況 ^例如田疋位於一梳形驅動結構之相鄰指之間時,蝕刻 緩衝區之尺寸可相對較小。在其它狀況下,例如當亦需要 填入無需钱刻之區域内時,餘刻緩衝區之尺寸可較大。可 將該圖:蝕刻入該P、内且直至該底層基板處。 在一狀况下,可能難以在最終之晶圓溶解期間移除置 。i Urn動結構之相鄰指之間的相對較小之姓刻緩衝 =因此,且根據本發明之_些實_,可在晶圓結j t 月J移除,亥等相對較小之姓刻緩衝區,但此並非必需。因此, 在:些說明性實施例中,於圖案化p++層之後,可將晶圓浸 主古 ?之σ適的蝕刻劑中,且藉由(例如)蝕刻、漂洗及 清洗之組合充分底切且釋放該等相對較小之钱刻緩衝區。 ; 寸因此僅相對較小之蝕刻緩衝區得以充分底 切’且所有所需之部件及任何較大钱刻緩衝區(若存在)皆保 持附著至矽基板。 。使用諸如陽極結合法之合適的結合過程可將經餘刻之晶 圓基板之頂部結合至__底層支撐基板。—旦結合至該支揮 基板,則可將摻雜硼之㈣用作H終止層⑷心〇ρ), 執行一最終背面钱刻製程以移除剩餘之晶圓基板。當在晶 因結合之前並未移除該等相對較小之钱刻緩衝區時,該最 終背面姓刻製程將釋放該等㈣緩衝區。在一歧狀況下, 可使用漂洗與清洗之組合來幫助自所得結構移除該等鞋刻 98558.doc 200532802 緩衝區。 、當使用犧牲蝕刻緩衝區時,犧牲蝕刻緩衝區可起到減小 或消除該等梳形驅動指之非重疊區域之間之該等相對較大 的間隙的作用。該等蝕刻緩衝區可形成於晶圓基板上之選 擇性區域處’以確保沿著該等梳形指之長度及/或在該等梳
形指之末端處的相對均句之㈣速率。在某些實施例中,L 例如’犧牲蝕刻緩衝區可用於在相鄰梳形指之側面之間提 供物θ”承。在蝕刻期間,此均勾間隙可減小可能沿著梳 形私之長度出現之蝕刻速率的差異。結果,為該等梳形指 提供較均勾之輪廓。結果,隨該等梳形指相對於彼此移動 所感應之電容力趨向於更為線性,此可實質上減少將電譜 波引入驅動系統中。 【實施方式】 應參看其中以相似方式將不同圖式中之相似元件編號之 圖式閱讀以下描述。無需按比例描繪之圖式描繪選定實施 例且並非意欲限制本發明之範疇。雖然說明了用於各種元 件之構造、尺寸及材料之實例,但熟習此項技術者將認識 到所提供之實例中之多個實例具有可利用之合適的替代。 圖1為一說明性先前技術之靜電梳形驅動裝置10之示意 圖八中5亥裝置10包括具有不均勻輪廓之若干梳形驅動元 件。梳形驅動裝置1〇(說明性地為一線性梳形驅動裝置)包括 第一梳形驅動構件12及第二梳形驅動構件14,每一構件均 以一相對方式形成於一玻璃支撐基板16上。雖然使用玻璃 支撐基板16,但預期該支撐基板16可由任何合適之材料或 98558.doc 200532802 材料體系製成。 4第‘形驅動構件12包括與耦接至該第二梳形驅動構 件14之右干杈形指2〇交又之若干梳形指μ。在圖1中所描繪 之特疋視圖中’出於明晰之目的僅展示了第一驅動構件12 及第一驅動構件14之一部分。然而應瞭解:除本文特定論 述之彼等組件以外,其它組件亦可安置於支撐基板工6上或 可安置於其上方。 在靜電致動期間,第一梳形驅動構件12組態成在支擇基 板16上方保持固定。第二梳形驅動構件丨條次自由地懸掛 於。亥支撐基板16上方,且組態成相對於第—梳形驅動構件 12來回移動。可在第二梳形驅動構件1 *與一錨u之間提供 一懸簧(suspended spring)22,其中該錨固定至該支撐基板 16。當驅動電壓經過零時,該懸扣將恢復力提供至第二 梳形驅動構件14。 具有連接至該第-梳形驅動構件12及該第K形㈣ 構件14之引線之外部A c電壓源(未圖示)可組態成將一電荷 傳遞至第一梳形指18及第二梳形指2〇,以感應其間之運 動。该電壓源可組態成輸出一時變電壓訊號以交變傳遞至 忒等梳形指18、20之該電荷,其與懸簧22協作引起第二驅 動構件14以一特定方式相對於第一梳形驅動構件12來回振 盈。 如圖1中可進一步看見,每一梳形指18、2〇均自一基底部 分24縱向延伸至其一末端部分%。在圖1中所描繪之說明性 先前技術之靜電梳形驅動裝置中,該等梳形指18、2〇以平 98558.doc •10· 200532802 灯方式對準,且組態成當由Ac電遷源賦能時相對於彼此縱 向移動。安置於每—側向相鄰之梳形指18、2〇之側面30之 間之重疊區域28形成-相對較小之_32,其足.μ例 如’ 1至2微米寬)從而感應該等梳形指18、20間之充足電 容。一相對較大間隙34(例如,7至9微米寬)依次於每一梳形 指18、20之間分隔非重疊區域。在致動期間,第二梳形指 20相對於第-梳形指18之移動引起在該重疊區域μ上之重 疊量隨著時間而改變 '然而,基於該等梳形指18、2〇之縱 向配置,於每一側向相鄰之梳形指18、2〇之間之該相對較 小之間隙32保持恆定。 通常使用-經㈣之⑪晶圓基板來形成所f要之驅動元 件、且接著藉由陽極結合法、黏著劑或其它合適之結合方 法將其結合至底層支撐基板16,從而實現先前技術之靜電 梳形驅動裝置之製造。常藉由_組態成執行B_h型之氣 體轉換深反應式離子蝕刻製程(DRIE)之電漿蝕刻工具形成 分隔該等各種梳形指18、20之該等間隙32、34。 形成具有均勻輪廓之梳形驅動元件之DRIE製程之效率 部分地係視該DRIE製程之蝕刻速率而定。該蝕刻速率通常 得以最佳化以沿梳形指1 8、2〇之間之最小間隙32提供一均 勻輪廓。如圖1中之虛線所指示,例如,增加量之側向餘刻 通常沿著該等梳形指18、20之側面30在其中隔間相鄰梳形 指1 8、20之間隙大於最小間隙32之彼等區域處出現。另外, 增加量之側向蝕刻通常在每一梳形指18、2〇之末端部分26 上出現,導致該等末端部分26具有不均勻之輪廓。 98558.doc 200532802 圖2為一橫向截面圖,其展示沿圖^中之線2奴梳形指20 中之一者之輪庵。如圖2中所+ 4去 Η中所不,梳形指20之垂直蝕刻 趨向於不對稱,且沿著該等側面3〇朝向梳形指2〇之底部: 面36所出現之蝕刻量大於其頂部表面38處之蝕刻量。結 果’梳形指20之底部表面36之寬度%趨向於小於頂部表: 38之寬度W2。該梳形指2()之此底切部分地歸㈣溝槽 何形狀及尺寸。在每—㈣週期期間,較高DR職刻速率 以垂直及側向方式皆可移除較多石夕,此係由於蝕刻相位有 些各向同性。結果’該等梳形指18、2G之輪摩趨向於沿著 八長度而更加不均句’在無減小間隙且從而減小#刻速率 之直接相鄰之結構的彼等區域處具有—大致較大之底切輪 廓。 网 在運作期間,在該等梳形指丨8、2〇上施加一時變電訊號, 每-側向相鄰之梳形指18、2〇之長度感應一相反電 何。此時變電荷產生-動力,該動力引起該等梳形指18、 2〇相對於彼此來回移動。然而,隨該等梳形指18、20相對 ;彼此移動’沿著該等梳形指i 8、之長度的不均勻輪廊 感應電容中之—非線性改變,其導致將㈣波失真引入馬 達驅動功率中。此將諧波引入該驅動功率中可增加以所需 要之頻率靜電致動移動構件所需之能量的量,且可增加控 制移動所必乾之驅動電子之複雜性。在一些情況下,該等 杬形扎1 8、20之不均勻輪廓可導致正交或面外運動,從而 在感應器輸出中生成更多雜訊。 現參看圖3 ’其說明根據本發明之一說明性實施例之一靜 98558.doc -12- 200532802 電梳形驅動裝置40。梳形驅動裝置4〇(說明性地為一線性類 型之梳形驅動裝置)包括一第一梳形驅動構件42及一第二 梳形驅動構件44,每一構件均以相對方式形成於一底層支 撐基板46之頂部上。該第一梳形驅動構件“可包括與耦接 至該第二梳形驅動構件44之若干梳形指5〇交又之若干梳形 指48。雖然圖3中未展示,但類似於上文所描述,亦可提供 一懸女以當驅動電壓經過零時產生一恢復力。 該等梳形指48、50可組態成以類似於上文所描述之該等 梳形指18、20之方式運作。在某些實施例中,例如,可將 方波、正弦波或任何其它合適之時變Ac電壓訊號施加至該 等梳形指48、50,從而引起該等梳形指48、5〇以所需要之 方式在該底層支撐基板46上方相對於彼此來回移動。雖然 圖3中特定說明一線性類型之梳形驅動裝置,但應瞭解,該 等梳形驅動構件42、44及相關聯之梳形指48、5〇可組態成 以一些其它所需要之方式移動。例如,梳形驅動裝置可 包含一旋轉型梳形驅動裝置,其具有一類似於pCT國際申 請案第PCT/US01/26775號中所描述之組態,該案之全文以 引用的方式併入本文中。 為減少由該等梳形指48、50之輪廓中之不均勻所引起之 諧波失真,可使用一或多個犧牲蝕刻緩衝區形成梳形驅動 裝置40。在圖3中所描繚之示意圖巾,例如,展示了在與該 等梳形指48、50相鄰之選擇性位置處之若干犧牲姓刻緩衝 區52。如下文相對於圖6冬611以更詳細方式論述之,在製造 過程期間’此等餘刻緩衝區52可用於使可引起該等梳形指 98558.doc 13 200532802 48、50之輪廓不均勻之相鄰結構之間的相對較大間隙最小 化。如虛線所指示,稍後在蝕刻缓衝區移除過程中,移除 該等犧牲餘刻緩衝區52,留下類似於上文相對於圖1所論述 之一完好結構。 在說明性實施例中,該等犧牲蝕刻緩衝區52可具有一大 體上為矩形之形狀,其界定第一及第二相對側面54與第一 及第一相對末端56。所採用之犧牲蝕刻緩衝區52之規格尺 寸可視該等梳形驅動指48、5〇之尺寸及相對間隔及該等梳 A指48、5 0與其它相鄰結構(例如,每一梳形驅動構件、 44之該等前端62、64)之間之距離而變化。該等犧牲蝕刻緩 衝區52可置放於該等梳形指48、5〇之非重疊區域内,且可 將尺寸定為:使得犧牲蝕刻緩衝區52之第一及第二相對側 面54大體上平行且與各側向相鄰之梳形指48、5〇之側面58 相鄰。 形成於犧牲钱刻緩衝區5 2之一或兩個侧面5 4之間之一第 一變乍之間隙(narrowecj gap)66可用於匹配沿著不存在指 重疊之梳形指48、50之側面58的蝕刻速率。為了沿著該等 梳形指48、50之長度提供更均勻之輪廓,可使得該第一變 窄之間隙66近似於正常存在於梳形指48、5〇之重疊區域之 間之固定寬度的間隙66。在某些實施例中,例如,該第一 變窄之間隙66可具有約!至2微米之寬度,類似於間隙“之 寬度。然而應瞭解,該第一變窄之間隙66不必限於該尺寸。 該等犧牲餘刻緩«52亦可定尺寸為形成一位於該等梳 形指48、50之末端58與該等犧牲蝕刻緩衝區“之末端%之 98558.doc 14 200532802 間的第二變窄之間隙70。可使得該第二變窄之間隙70近似 於存在於該等梳形指48、50之重疊區域間之間隙66。在某 些實施例中’例如,該第二變窄之間隙70可具有約1至2微 米之寬度,類似於間隙66之寬度。如同該第一變窄之間隙 66—般’該第二變窄之間隙7〇減小可在梳形指48、5〇之末 端6 0上出現之餘刻差異速率。 圖4為沿圖3中之線4-4之該等梳形指50中之一者之橫向 截面圖。如圖4中所示,由於出現於梳形指50之底部表面72 處之蝕刻量與出現於頂部表面74處之蝕刻量相等,因此該 梳形指50之輪廓大體上對稱。藉由於該等梳形指48、5〇之 側面56相鄰處採用犧牲蝕刻緩衝區52,可減小及/或消除底 切之作用。結果,該等經蝕刻之梳形指48、5〇的側面56趨 向於在定向成大體上垂直,且在梳形指5〇之整體厚度上具 有一更為均勻的寬度W。 圖5為一展示沿圖3中之線5·5之該等梳形驅動指5〇及犧 牲钱刻緩衝區52中之一者之輪廓的縱向截面圖。如圖5中所 不,犧牲蝕刻緩衝區52可定位成與梳形指5〇及第一梳形驅 動構件42之前端62側向相鄰且在一線上。犧牲蝕刻緩衝區 52之一末端56可與梳形指5〇之末端6〇隔開一距離,從而形 成上文論述之第二變窄之間隙7〇。若需要,則亦可提供安 置於第一梳形驅動構件42之前端60與犧牲蝕刻緩衝區“之 相對末端56之間的一類似尺寸之第三變窄之間隙%,以匹 配沿著梳形驅動構件42之該等前端60、62的蝕刻速率。 在某些實施例中,可使得由犧牲蝕刻緩衝區52形成之第 98558.doc -15- 200532802 一交乍之間隙70及第三變窄之間隙76近似於安置於該等梳 形私48、5 0之相鄰側面58之間之間隙66。在一說明性實施 例中’例如,該第二變窄之間隙7〇及該第三變窄之間隙% 可具有約1至2微米之寬度,類似於間隙66所提供之寬度。 糟由在此等位置處提供一恆定間隙寬度,可進一步控制該 等梳形指48、50之末端6〇處及在該等梳形驅動構件42、料 之刖端62、64處之餘刻速率。 雖…;圖3-5中所展示之該說明性實施例描繪了具有沿著 其長度大體上為矩形形狀之蝕刻緩衝區,但應瞭解,視所 採用之梳形驅動裝置的特定類型而$,該等姓刻緩衝區可 採取其它所需要之形狀。例如,在—利用f曲梳形指之旋 轉型梳形驅動裝置中,可使得_刻緩衝區沿著其側面 中之-或多者採取-彎曲形狀,以沿著梳形指之長度提供 句勻間隙:同本文之其它實施例一般,犧牲蝕刻緩衝 區可用於匹配無直接相鄰結構之彼等區域處的蝕刻速率, 從而導致較少底切該等梳形指。 梳形驅動裝置4G之運作類似於上文相對於上述先前技術 之靜電梳形驅動裝置H)論述之運作。可將—時變電訊號施 加至梳形指48、50’以沿著每一側向相鄰之梳形指之長度 感應使該等梳形指48、5G朝向彼此移動之相反電荷。該電 訊號可為變化的’以使得該等梳形指48、5()以所需要^方 式相對於彼此來回振盪。在某些實施例中,例如,—組緣 成輸出一方波電壓訊號之外部AC電壓可用於使梳 48、50相對於彼此來回地往復運動。在其它實施例令^ 98558.doc -16 - 200532802 使用一正弦波。 圖6 A _ 6 Η為使用一或多個犧牲姓刻緩衝區製造梳形驅動 裝置之-說明性方法的示意圖。出於明晰之目#,此等圖 式展示-梳形指112、-#刻緩衝區⑽及_梳形织1〇。立 意指6Α·㈣之截面代表—類似於圖3之梳形驅動。開始參 看圖6Α,提供-具有第—表面8〇及第二表面Μ之晶圓Μ作 為一犧牲基板,稍後藉由一蝕刻製程將其移除。可使用諸 如微遮罩之半導體製造技術由能夠經触刻之任何數量之合 適材料形成該晶圓78。雖_通常為最普遍使用之晶圓二 料,但熟習此項技術者應瞭解:若需要,則亦可使用諸如 鎵、砷化物、冑、玻璃或其類似物之其它合適材料。 如圖6Β中之-第二步驟所示,可在晶圓78之第一表面 上成長或形成-摻㈣之㈣84。在—些實施例中,例如, 蟲晶層84之構建包括—重摻㈣之蟲晶成長單晶石夕層。若 需要,則諸如銦m之其它摻雜物亦可用於形成該蟲 晶層84。在使用中,包含於成長或形成之蟲晶層84中之摻 雜物(例如硼)在補後之製造步驟中可用作蝕刻終止層,以促 進晶圓78之移除,僅留下相對較薄之蟲晶層84以形成梳形 驅動裝置之各種梳形驅動元件。 在一些狀況下,第一蟲晶層84内之相對較高之摻雜物濃 度可引起晶圓78内之内在拉伸應力。此等内在拉伸應力可 導致晶圓78足夠彎曲或凹進致使晶圓之處理不可實行。為 ,小化由僅在晶圓78之-側上成長蟲晶層84所引起之晶圓 彎曲,且在一說明性實施例中,可在晶圓78之第二表面82 98558.doc -17- 200532802 第一羞晶層84 晶圓7 8基板係 形成該晶圓78 成長或形成一弟二蟲晶層86以用於平衡由 所賦予晶圓78之應力。如圖6B中所示,所得 夾於摻雜硼之矽的相對層84、86之間,從而 之一底面90及一頂面88。 圖6C說明另一製造步驟,其涉及於第_蟲晶層84之頂面 以上使用一光罩頂蓋層92。可使用諸如光微影術之合適製 程圖案化該頂蓋層9 2以形成梳形驅動裝置之所需元件及其 它所需組件。使第一磊晶層84之頂面88曝露於周圍環境中 之若干通道94、96可允許蝕刻劑向下流動穿過該第一磊晶 層84且流至該晶圓78之第一表面8〇上。 在圖6C中所描繪之特定視圖中,頂蓋層^包括一第一遮 罩區域98 ’其可用於界定(例如)圖3中所料之犧牲姓刻緩 衝區中之一者。可使該第一遮罩區域98與頂蓋層%之第二 遮罩區域100及第三遮罩區域職】關,該第二遮罩區域 1〇〇及該第三遮罩區域1()2可用於(例如)界定圖3中所說明之 梳形指48、5〇中之每一者的結構。 磊晶層84及晶圓基板78以界定梳形驅 圖6D說明蝕刻第一 一遮罩區域98防止頂蓋層92正 動裝置之梳形驅動元件及蝕刻緩衝區之步驟。視周圍空氣 中之氣體組份及所應用之RF功率而定,使用一諸如深反應 式離子蝕刻(DRIE)之合適蝕刻製程,可穿過第一磊晶層以 且在-些狀況下可在晶圓78之頂部纟面8()内形成若干^槽 104、106。在触刻製程期間,帛一蠢曰曰曰層84上方存在之^ 從而形 下方之材料的移除 遠第一遮罩區域lQ〇 成一#刻緩衝區1 0 8。以類似之方式 98558.doc -18- 200532802 及該第三遮罩區域102防止頂蓋層92下方之材料的移除,從 而形成由該等溝槽1 G 4、1 G 6與㈣緩衝區間隔開之若干梳 形指112及梳形錨11〇。 因為通常使該蝕刻劑最佳化以用於相鄰指48、5〇之間之 間隙或間隔,所以當該蝕刻劑行進穿過該等通道94、96(圖 6C)形成該等溝槽104、106時,所存在之蝕刻緩衝區1〇8匹 配該溝槽之寬度,且有助於確保011任製程中所使用之反應 物物吳之消耗大體上均勻。結果,由於出現於該等溝槽 104、106之頂部處之蝕刻量與底部處相等,溝槽1〇4、ι〇6 之垂直蝕刻輪廓大體上成線性。一旦該等溝槽丨〇4、i 〇6已 形成,則以一方式剝離該頂蓋層92 ,留下經蝕刻之第一磊 晶層84與晶圓78完好地用於進一步之處理。 在一些狀況下,可能難以在最終之晶圓溶解期間移除置 放於梳形驅動結構之相鄰指之間的相對較小之蝕刻緩衝 區。在晶圓結合前未移除相對較小之梳形蝕刻緩衝區之狀 況下所進行之測試展示:蝕刻緩衝區會變得黏滞於完工之 裝置的區域内,在該等區域内,難以移除該等蝕刻緩衝區 且在一些狀況下事實上不可能移除該等蝕刻緩衝區。此問 題一般不影響較大蝕刻緩衝區,因為其太大而不會變得輕 易得以截留或停滯。所截留之蝕刻緩衝區可引起實質上的 良率損失。因此,且根據本發明之一些實施例,可在晶圓 結合之前移除相對較小之梳形蝕刻緩衝區,但此並非必需。 圖6E說明在晶圓結合之前自裝置之梳形驅動部分移除該 等相對較小之蝕刻緩衝區108的可選步驟。可於溫度範圍之 98558.doc -19 - 200532802 較低端(即,在約100它下)使用一選擇性蝕刻劑(例如,可購 自 Massachusetts DanverSiTransene c〇mpany之各向異性 之基於乙二胺之蝕刻劑!^£ 3〇〇_s (EDp_s)),經過一合適時 段(例如20分鐘)以完全底切該等相對較小之蝕刻緩衝區,從 而在蝕刻緩衝區108下形成一淺穴114,且導致該等蝕刻緩 衝區自由漂浮離開。在此過程中,亦可完全底切梳形指 112,但因為其附著至較大部件(圖3中之42、44),所以其可 保持完好。雖然在該說明性實施例中使用EDp,但應瞭解 任何合適之選擇性蝕刻程序均可用於底切及釋放該等相對 較小之蝕刻緩衝區。 在大多數狀況下,並非所有該等相對較小之蝕刻緩衝區 108在EDP蝕刻製程期間將完全脫離其在矽晶圓上之位 置。因此,至少在此等狀況下,可能需要進一步之移除增 強步驟。用於移除EDP殘渣之漂洗(例如,使用去離子水 H2〇)之溢流漂洗)將移除所釋放之蝕刻緩衝區ι〇8中之一 些。但在大多數狀況下,完全移除可能需要一更具侵钱性 之清洗過程。 在圖6F中所描繪之一說明性移除步驟中,例如,可使用 一聲學清洗過程幫助自周圍結構釋放蝕刻緩衝區丨〇8。在該 說明性實施例中,可將所形成之梳形驅動裝置結構浸沒於 一含有諸如去離子(DI)水之合適流體的浸泡劑126中。可在 該浸泡劑126内啟動一能夠產生音速壓波之聲源124(例 如’壓電轉換器),從而以聲學方式清洗梳形驅動裝置之各 種結構。如圖6F中所示,例如,自轉換器124發出之聲學能 98558.doc -20- 200532802 里可用於授動圍繞蝕刻緩衝區108之流體,導致該等蝕刻緩 種ί區1 (1R、、渔、、令、右: /nW予進入周圍流體中。若需要,則隨該清洗步驟之 後進行DI水漂洗及乾燥循環。 在某些實施例中,聲源124可組態成使用百萬週波超音波 /月洗過程來清洗該結構及/或幫助釋放蝕刻緩衝區1 08,該 百萬週波超音波清洗過程利用約400 KHz至1.2 MHz範圍内 相對較低月b里的音速壓波〇〇nic pressure waves)。類似於 諸如超音波清洗法之其它清洗技術,百萬週波超音波清洗 法係基於4八(ac〇Ustical ⑻i⑽)原理。然而,與超音波 清洗法相對比,百萬週波超音波清洗法產生顯著較小之氣 泡從而導致内爆時釋放較低之能量,對於經受此過程之 表面ie成很少損傷或無損傷。在一些實施例中,可將含有 右干表面活性添加劑之Summaclean sc_15之溶液添加至浸 泡州126中,以協助移除結構内之姓刻緩衝區i⑽且限制其 再沈積。雖然百萬週波超音波清洗法由於其可溫和清洗結 構之能力而-般受到青睞,但應瞭解·若需要,則亦可利 用其它合適之清洗過程。 圖6G說明將圖印之該經蝕刻之晶圓”結合至一底層支 樓基板122的步驟。在—些說明性實施例中,底層支撐基板 122可由可用於使梳形驅動裝置之各種組件電絕緣之合適 之介電材料形成。在某些實施例中,例如,該底層支撐基 板122可由諸如Pyrex⑧c〇rning 774〇型號的合適之玻璃材料 形成。 安置於底層支撐基板122之頂部表面118上方的一或多個 98558.doc 200532802 金屬電極120及導電跡線(未圖示)可用於提供與梳形驅動裝 置之各種感應元件的電連接。可使用熟習此項技術者所熟 知之技術形成金屬電極122。在某些實施例中,例如,藉由 使用合適之濺鍍或蒸鍍製程及光微影術及蝕刻或起離技術 將金屬顆粒(例如鈦、鉑、金等)濺鍍或蒸鍍於頂部表面ιΐ8 上可形成該等金屬電極122。 該底層支撐基板122可進一步包括自頂部表面118向上延 伸之一或多個凸台116。藉由蝕刻去除底層支撐基板122之籲 頂部表面11 8的一部分且完好地留下凸台丨丨6之材料可形成 凸台116。或者,可藉由自頂部表面118累積材料形成凸台 116。在任一實施例中,凸台116可組態成以容許自由移動 之方式’將該等梳形驅動構件支撐於頂部表面U8上方。 一旦電極、導電跡線、支撐件及其它所需要之元件已形 成於底層支撐基板122上,則接著翻轉或倒置圖吒中大致描 繪之經姓刻之晶圓78,使得該經钱刻之晶圓78的頂面Μ定 位於孩等凸台116之頂部上,從而懸於底層支撐基板⑵之春 頂邛表面11 8之上。接著,使用諸如陽極結合法之合適結合 製私’將經㈣之晶圓78與底層支撐基板122結合在一起, =,以高溫(例如,脈鮮c)加熱該等兩個基板,且接 "藉由將|荷施加至該等兩個構件而將其化學結合在一 起。若需要’則諸如熱融黏結、黏合劑等之其它合適之結 合方法亦可用於將該等兩個構件結合在一起。 圖6H說明可用於制# u
用於梳形驅動裝置之最終步驟。如圖6H 中所說明,移除了第—石 弟一猫晶層86及經蝕刻之晶圓78之剩餘 98558.doc -22- 200532802 部分’完好地留下懸於底層支撐基板丨22之頂部表面1丨8上 的重換雜侧之微結構。藉由使用諸如晶圓研磨或基於KOH 蝕刻之非選擇性製程與不會侵蝕或不會嚴重侵蝕高度摻雜 硼之矽的選擇性製程之組合可實現晶圓78之移除。在某些 實施例中’例如,使用一工業標準研磨製程可移除第二磊 晶層及基板78中之大部分,留下該基板78之足以不會碰撞 圖案化磊晶層之部分。接著,可使用一各向異性之基於乙 二胺之蝕刻劑(例如,可購自MassachuseUs以心⑽之
Transene CompanyiPSE 3〇〇 F)經過移除任何剩餘之材料 之合適時段來選擇性地移除殘餘的矽。然而應瞭解··任何 數量之合適摻雜選擇性蝕刻程序均可用於移除殘餘之晶圓 材料。 在一些狀況下,並非所有剩餘之蝕刻緩衝區(例如,較大 蝕刻緩衝區)在蝕刻製程期間將完全脫離其在經結 ^ 曰日
圓上之位置,且可能需要進一步之移除增強步驟。用於移 除EDP殘逢之漂洗(例士口,使用去離子水⑼则)之溢流漂 洗)將移除任何釋放之蝕刻緩衝區中之一些。但在一些狀況 下,το全移除可能需要一更具侵蝕性之清洗過程。 在類似於圖6F中所騎之步驟的—說明性移除步驟中 例如,可使用-聲學清洗過程幫助自周圍結構移除釋放 蝕刻緩衝區。可將經結合之梳形驅動裝置結構浸沒於一 有諸如去離子(DI)水之合適流體的浸泡劑126中。可在該 泡m⑽啟動-能夠產生音速壓波之聲源124(例如,廢 轉換态)’攸而以聲學方式清洗梳形驅動裝置之各種結構 98558.doc -23- 200532802 如圖6F中所示,例如,自轉換器124發出之聲學能量可用於 攪動圍繞蝕刻緩衝區之流體,從而導致該等蝕刻緩衝區漂 洋離開進入周圍流體中。若需要,則可隨該清洗步驟之後 進行一 DI水漂洗及乾燥循環。 在某些實施例中,聲源124可組態成使用百萬週波超音波 清洗過程來清洗該結構,該百萬週波超音波清洗過程利用 約400 !〇^至丨.2 MHz範圍内之相對較低能量的音速壓波。
類似於諸如超音波清洗法之其它清洗技術,百萬週波超音 波清洗法係基於聲穴原理。然而,與超音波清洗法相對比, 百萬週波超音波清洗法產生顯著較小之氣泡,從而導致内 爆時釋放較低之能量,對於經受此製程之表面造成很少損 傷或無損傷。在一些實施例中,可將含有若干表面活性添 加劑之s_aclean sc·i5的溶液添加至浸泡劑126中,以協 助移除該結構内類似於⑽之㈣緩衝區且限制其再沈 積。雖然百冑週波超音波清洗*由於其可溫和清洗結構之υ
能力而-般受到青睞’但應瞭解:若需要,則亦可 它合適之清洗過程。 /、 畜在晶圓結合前未移除相對較小之㈣緩衝區時,^ 背面钱刻製程將釋放該等相對較小之㈣緩衝區… 在任何較大之㈣緩衝區,則連同任何較大之#刻㈣ 同釋放。如上所述,若需要, 人 而戈貝彳可使用漂洗與清洗之 -以幫助自所得結構移除此等蝕刻緩衝區。 已如此描述了本發明之若+誊 ,^ 之右干貫施例,熟習此項技術者 易瞭解·可在屬於附加於本 石 不文之申凊專利範圍之範疇内 98558.doc -24- 200532802 造及使用其它實施例。上文之描述中已陳述了本文獻所覆 蓋之本發明的大量優點。應瞭解:本揭示案在許多方面僅 為次明性的。可對細節、特別是關於部件之形狀、尺寸及 配置作出修改而不超出本發明之範_。 【圖式簡單說明】 圖1為一說明性先前技術之靜電梳形驅動裝置的示意 圖,其中該裝置包括具有不均勻輪廓之若干梳形驅動元件; 圖2為一展示沿圖1中之線2·2之梳形指中之一者之的輪 廓之截面圖; 圖3為根據本發明之一說明性實.施例之靜電梳形驅動裝 置之示意圖; 圖4為沿圖3中之線4-4之該等梳形指中之一者之橫向截 面圖; 圖5為沿圖3中之線5_5之該等梳形指及犧牲蝕刻緩衝區 中之一者之縱向截面圖;及 圖6Α-6Η為利用一或多個犧牲蝕刻緩衝區製造梳形驅動 裝置之一說明性方法之示意圖。 【主要元件符號說明】 10 ' 40 靜電梳形驅動裝置 2、4、5 線 12、42 14、44 16 、 46 、 122 第一梳形驅動構件 第二梳形驅動構件 底層支樓基板 18、48、20、50、112 梳形指 98558.doc -25- 200532802 22 懸簧 23 、 110 錫 24 基底部分 26 末端部分 28 重疊區域 30 、 58 、 56 側面 32 、 34 、 66 、 70 、 76 間隙 36 38 52 、 108 54 56 58 60 62 64 72 74 78 80 82 84 86 梳形指20之底部表面 φ 梳形指20之頂部表面 犧牲蝕刻緩衝區 第一及第二相對側面 第一及第二相對末端 梳形指48、50之側面 梳形指50之末端,第一梳形驅 動構件42之前端 梳形驅動構件42之前端 籲 梳形驅動構件44之前端 梳形指50之底部表面 梳形指50之頂部表面 晶圓 第一表面 第二表面 蟲晶層 第二磊晶層 98558.doc -26- 200532802 88 頂面 90 底面 92 頂蓋層 94、 96 通道 98 第一遮罩區域 100 第二遮罩區域 102 第三遮罩區域 104 > 106 溝槽 114 淺六 116 凸台 118 底層基板122之頂部表面 120 金屬電極 124 聲源/轉換器 126 浸泡劑 W、 W!、W2 寬度 98558.doc -27-

Claims (1)

  1. 200532802 十、申請專利範圍: 1· 一種組態成在運作期間產生較少諧波失真之梳形驅動裝 置,其包含: 一第一梳形驅動構件,該第一梳形驅動構件包括一第 一複數個梳形#,每一梳形指肖具有一基底部分、一末 端部分及界定一長度之若干側面;及 -第二梳形驅動構件,該第二梳形驅動構件包括一第 一複數個梳形指,|一梳形指肖具有一基底部分、一末 :口刀及界定一長度之若干側面,該等第二複數個梳形 指與該等第一複數個梳形指間隔開且交又; 其中該等第-複數個梳形指及該等第二複數個梳形指 各自沿著其長度具有一均勻輪廓。 2. 如請求項1之梳形驅動裝置,苴 衣罝八T °亥萼第一複數個梳形指 口只等第二複數個梳形指各自一 ., 末端部分。 匕括具有-均句輪廓之 3.梳形驅動裝置’其中該等第一梳形驅動構件 用一或多個犧牲蝕 及省等第二梳形驅動構件係藉由 刻緩衝區之蝕刻製程而形成。 4.如睛求項3之梳形驅動裝置,苴 5·如請求項4之梳 荖各一 h ^其中母—犧牲钱刻緩衝區沿 相鄰梳形指之該長度形成一第—變窄之 6.如請求項5之梳形驅動裝置, Β永。 上等於一安署ρ 上亥第-變窄之間隙大體 《母-側向相鄰之梳形指之重疊側面之間 98558.doc 200532802 的間隙。 如請求項5之梳形驅動裝置,其中每—_緩衝區進-步 8. 在母-梳形指之該末端部分處形成_第二變窄之間隙。 如請求m之梳形驅動裂置’其進一步包含—適於自由地 支撲該第-梳形驅動構件及該第二梳形㈣構件之底層 支撑基板。 9. 如睛求項1之梳形驅動震置, 電梳形驅動裝置。 其中該梳形驅動裝置為一靜 1 〇·如請求項1之梳形驅動裝f i 初衣罝其中该梳形驅動裝置為一線 性類型之梳形驅動裝置。 u.如請求項1之梳形驅動裝置,其中該梳㈣動m旋 轉型梳形驅動裝置。 匕一種组態成在運作期間產生較㈣波失真之梳形驅動裝 置,其包含: -第-梳形驅動構件,該第—梳形驅動構件包括一第 一稷數個梳形指’每一梳形指均具有一基底部分、一末 端部分及界定一長度之若干側面; 一第二梳形驅動構件,該第二梳形驅動構件包括一第 二複數個梳形指,每一梳形指均具有一基底部分、一末 端部分及界定-長度之若干側面,該等第二複數個梳形 指與該等第一複數個梳形指間隔開且交又;及 其選擇性地置放於相鄰梳 其中該等第一複數個梳形 一或多個犧牲|虫刻緩衝區 形指之間之非重疊區域處。 13 _如請求項12之梳形驅動裝置 98558.doc 200532802 指及該等第二複數個梳形指夂 妊_ 如谷自包括一具有一均勻輪廓 之末端部分。 14. 15. 16. 17. 如請求項12之梳形驅較置,其中該或該等犧牲蚀刻緩 衝區係置放於該等梳形指之非重疊區域處。 如請求項14之梳形驅動裝置,其中每—犧牲钱刻緩衝區 沿著每一相鄰梳形指之該長度形成一第—變窄之間隙。 如請求項15之梳形驅動裝置, 其中$第一變窄之間隙大 體上等於一安置於每一側向相鄰之梳形指之重疊側面之 間的間隙。 如請求項15之梳形驅動裝置,其中每一姓刻緩衝區進— 步在每-梳形指之該末端部分處形成一第二變窄之間 隙0 18. 如请求項12之梳形驅動裝置,其進一步包含一適於自$ 地支撐該第一梳形驅動構件及該第二梳形驅動構件之7 19. 20. 21. 層支撐基板。 如睛求項12之梳形驅動裝置 靜電梳形驅動裝置。 如睛求項12之梳形驅動裝置 線性類型之梳形驅動裝置。 如睛求項12之梳形驅動裝置 旋轉型梳形驅動裝置。 其中該梳形驅動裝置為— 其中該梳形驅動裝置為_ 其中該梳形驅動裝置為_ 22. 一種利用一或多個犧牲蝕刻緩衝區來製造一梳形驅動裴 置之方法,其包含以下步驟: 、 提供一基板;及 98558.doc 200532802 將一圖案蝕刻入該基板内,以形成具有重疊及非重疊 區域之一或多個交叉之梳形指,該圖案亦包括在至少一 非重豐區域内之一或多個蝕刻緩衝區。 23·種利用一或多個犧牲钱刻緩衝區來製造一梳形驅動裝 置之方法,其包含以下步驟: 提供一具有一第一表面及一第二表面之晶圓基板; 將第一蠢晶層施加於該晶圓基板之該第一表面上; 將一圖案蝕刻入該第一磊晶層及該晶圓基板之至少一 部分内’以形成一或多個梳形驅動結構,於該等梳形驅 動結構之間具有一或多個犧牲蝕刻緩衝區; 藉由一選擇性蝕刻自該梳形驅動結構釋放該等犧牲蝕 刻緩衝區中之一或多個; 將該經餘刻之晶圓基板結合至一底層支撐基板;及 餘刻去除該晶圓基板。 24. 如請求項23之方法,其中該等犧牲蝕刻缓衝區係使用一 EDP餘刻劑來加以釋放。 25. 如請求項24之方法,其中釋放該或該等犧牲蝕刻緩衝區 之該步驟亦包括一聲學清洗過程。 26. 如請求項24之方法,其中釋放該或該等犧牲蝕刻緩衝區 之該步驟亦包括一百萬週波超音波清洗過程。 27. 如請求項24之方法,其進一步包含在將一圖案蝕刻入該 第一磊晶層及該晶圓基板之至少一部分内的該步驟之 前,將一第二磊晶層施加於該晶圓基板之該第二表面上 的步驟。 98558.doc 200532802 28·如β求項24之方法,其中藉由—陽極結合製程來執行將 該經_之晶圓基板結合至—底層切基板的該步驟。 29·如請求項24之方法’其進—步包含在該底層支撑基板之 一頂部表面上形成-或多個凸台之步驟,該或該等凸台 I ;在,、上方自由支撐該等經姓刻之梳形驅動結構。 30. 如請求項24之方法’其中將一圖案钕刻入該第一蟲晶層 及該晶圓基板之至少—部分内的該步驟包括將—頂蓋層 把加於該第—蠢晶層之—頂面上的步驟,該頂蓋層界定 包括至少一犧牲蝕刻緩衝區之微結構的圖案。 31. 如請求項24之方法,其中触刻該第一蟲晶層及該晶圓基 板之至少一部分的該步驟包括一深反應式離子蝕刻 (DRIE)製程。 32·如請求項24之方法,其中使用光微影術來執行蝕刻該第 一磊晶層及該晶圓基板之至少一部分的該步驟。 33·如請求項24之方法,其中該或該等犧牲蝕刻緩衝區中之 每一者均組態成於相鄰梳形驅動結構之間提供一均勻間 隙寬度。 34· —種利用一或多個犧牲蝕刻緩衝區來製造一梳形驅動裝 置之方法,其包含以下步驟: 提供一具有一第一表面及一第二表面之晶圓基板; 將一第一磊晶層施加於該晶圓基板之該第一表面上; 將一頂蓋層施加於該第一為晶層上,該頂蓋層界定一 包括至少一犧牲蝕刻緩衝區之微結構的一圖案; 姓刻该第一蟲晶層及該晶圓基板中之至少一部分,以 98558.doc 200532802 形成具有一或多個犧牲蝕刻緩衝區之該微結構; 自该第一蟲晶層移除該頂蓋層; 藉由一選擇性餘刻製程自該微結構釋放該等犧牲蝕刻 緩衝區中之一或多個; 將該經蝕刻之晶圓基板結合至一底層支撐基板;及 敍刻去除該晶圓基板。 35. 36. 37. 38. 39. 40. 41. 如請求項34之方法,其中釋放該等犧牲蝕刻緩衝區中之 一或多個的該步驟亦包括一聲學清洗過程。 如1求項3 4之方法’其中釋放該或該等犧牲钱刻緩衝區 之邊步驟亦包括一百萬週波超音波清洗過程。 如请求項34之方法,其進一步包含在將一圖案蝕刻入該 第蟲晶層及該晶圓基板之至少一部分内的該步驟之 前’將一第二磊晶層施加於該晶圓基板之該第二表面上 的步驟。 如睛求項34之方法,其中藉由一陽極結合製程來執行將 遠經餘刻之晶圓基板結合至一底層支撐基板的該步驟。 如凊求項34之方法,其進一步包含在該底層支撐基板之 頂部表面上形成一或多個凸台之步驟,該或該等凸台 適於在其上方自由支撐該經蝕刻之微結構。 如請求項34之方法,其中該微結構包括一或多個梳形驅 動結構,且其中該或該等犧牲蝕刻緩衝區中之至少一個 系、且L成於相鄰梳形驅動結構之間提供一均勻間隙寬 度。 種利用一或多個犧牲蝕刻緩衝區來製造一梳形驅動裝 98558.doc 200532802 置之方法,其包含以下步驟: 提供一具有一第一表面 ^ 第二表面之晶圓基板; 將一苐一蠢晶層施加於曰 、δ亥日日0基板之該第一表面上; 將一圖案蝕刻入該第一石曰 猫曰日層及該晶圓基板中之至少 一部分内,以形成一或客 夕個拟形驅動結構,於該等梳形 驅動結構之間具有一或容相綠^ ^ 飞夕個犧牲蝕刻緩衝區; 藉由一選擇性餘刻掣& ώ » J版&自该梳形驅動結構釋放該等犧 牲钱刻緩衝區中之一或多個; 以聲學方式移除該等經釋放之^m衝區; 將該經㈣之晶圓基板結合至—底層支縣板; 蝕刻去除該晶圓基板;及 若存在’則聲學移除該等經釋放之姓刻緩衝區中之一 或多個。 42. -種利用-或多個犧牲蝕刻緩衝區來製造一梳形驅動裝 置之方法,其包含以下步驟: 提供一具有一第一表面及一第二表面之晶圓基板; 將一第一蟲晶層施加於該晶圓基板之該第一表面上; 將一第二蠢晶層施加於該晶圓基板之該第二表面上; 將一圖案蝕刻入該第一磊晶層及該晶圓基板之至少一 部分内’以形成一或多個梳形驅動結構,於該等梳形驅 動結構之間具有一或多個犧牲|虫刻緩衝區; 藉由一選擇性蝕刻製程自該梳形驅動結構釋放該等小 犧牲蝕刻緩衝區中之一或多個; 將該經蝕刻之晶圓基板結合至一底層支撐基板;及 98558.doc -7- 200532802 餘刻去除該晶圓基板。 4 3 · —種利用一或多個犧牲钱刻緩衝區來製造一梳形驅動裝 置之方法,其包含以下步驟: 提供一具有一第一表面及一第二表面之晶圓基板; 將一第一磊晶層施加於該晶圓基板之該第一表面上; 將一圖案蝕刻入該第一磊晶層及該晶圓基板之至少一 部分内,以形成一或多個梳形驅動結構,於該等梳形驅 動結構之間具有一或多個犧牲蝕刻緩衝區; 將該經蝕刻之晶圓基板結合至一底層支撐基板;及 钱刻去除該晶圓基板,藉此自該晶圓基板釋放該等犧 牲蝕刻緩衝區中之該或該等犧牲蝕刻緩衝區。 98558.doc
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