TW200532194A - Method of identifying sugar chain structure and apparatus for analyzing the same - Google Patents

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200532194 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於使用質量分析裝置之糖鏈構造解析系 統。 Μ 【先前技術】

由於人類基因組之初稿序列資料公開，研究開發之方 向開始轉移到後基因組研究之蛋白f功能、構造解析以及 相互作用解析。另一方面，由於研究，已逐漸明瞭活體内 之蛋白質約有半數會於轉譯後受到糖鏈的修飾，藉由該佟 饰而方能發揮其原冑之功m，糖蛋白之功能解明7 :用以實現基因組藥物或再生醫療之不可欠缺的方法。亦 即_人世代後基因組研究必需將糖鏈與蛋白質視為一體徹 底解析’從解明其功能白勺「糖蛋白體學（giyc寧」 觀點開始進行研究開發’特別期盼能開發出可迅速地解析 功此與構造解析困難之糖鏈的新穎技術。 糖鏈與蛋白質等之安定性或分佈性關係密切，係發揮 作為細胞表面之辨識分子等之於細胞之高層次生命機能表 現方面之重要功能。但是，糖鍵由於構成糖之種類、糖： =合順序:構成糖間之結合模式或變旋異構物（Αη_)構 ::差異，，而具有極高的多樣性。例如，構成糖之中， =唐(G1C)、半乳糖_)、甘露糖(Μ叫為分子量相同之 二::由=構成糖之種類為數並不多，但是由於多數的 非常地,7左右的構成糖鍵結而成，故其鍵結的組合 夕。必夕’尚存在分支構造不同之異構物，如Η 5 •200532194 旋異構物等異構物， 又’亦有經硫酸化、鱗酸化等修飾 者。 除了其多樣性以外，由於糖鏈之存在量極微而使分 更為困難，吉一 竹 、 且到目前為止仍尚未開發出能使糖鏈放大的方 法。 酵素^為止已開發使用之糖鏈構造分析法有：使用水解 併3 HPLC之方法、凝集素親和層析法、甲基化分析、 >二为析、NMR等各種方法（非專利文獻υ，但該等中任 、皆無法獨自得到糖鏈構造之完整資訊，必需組 方法進仃解析。因此，為了解析1個糖鏈，必需花費’夕 時間進”雜的操作，而無法以高生產力進行解;;U多 量分二方面’上述各種解…以質 、月b成為日後糖鏈構造解析之主流。 但是，以往所實施之MS/MS(MS2)之質量 無法區分變旋異構物或構造異構物等之問題。/有 化二:::= 的（Ms。，以㈣㈣疋及4擇]·[(ηΐ)進—步碎片化J 以仔到搪鏈之複雜構造資訊（非專利文 而，由於在碎片化時有時合 ）。必 要對該等全部的碎片離至數百種碎片離子， ㈣咖刪_)是不實Μ;化及進行模式配對 子進行進一步的碎片化更對主要的碎片離 驗。 而要大樣的樣本以進行試誤試 非專利文獻1 :大倉，龜「 龜山糖鏈構造解析之現狀與 6 •200532194 將來」，Bioindustry-CMC出版，2003年1月，18〜24頁 与t 專矛1J 文獻 2 : Y. Takegawa，d a/·，“Structural assignment of isomeric 2-aminopyridine-derivatized oligosaccharides using MSn spectral matching’’， Rapid Commun. Mass Spectrum, 2004;18:385-391 【發明内容】 本發明欲解決之課題在於提供一種糖鏈構造解析系 統，其可使用微量的樣本而簡便且迅速地定出糖鏈之完整 I的-次構造。 本發明人等，為了求得能僅以質量分析而迅速地決定 糖鏈構造之方法，經過努力的研究結果發現，可藉由從生 成之碎片（fragment)離子中選擇適當的離子，對該離子（或 該等離子）施以次階段的碎片化，以迅速且正確地得到包括 異構物或單糖間鍵結位置資訊之糖鏈完整一次構造資訊的 方法。 亦即，為了解決上述問題，本發明係使用質量分析裝 置之糖鏈構造鑑定方法，其係藉由比對測定MS3碎片模式 (將分析目標糖鏈進行碎片質量分析所得到MS2碎片模式 中所含各MS2碎片離子進一步進行碎片質量分析所得到） 與儲存於資料庫中之參考MS3碎片模式，以鑑定分析目標 糖鏈之構造。該方法之特徵為，對於測定MS2碎片模式中 所含複數之MS2碎片離子，僅對儲存於資料庫中以質量電 荷比作為先驅離子質量電荷比之複數參考MS3碎片模式彼 此之類似度為既定值以下的測定MS2碎片離子實施碎片質 7 •200532194 量分析。 文口刖述，由於糖鏈存在 分析加以區別是困難的Γ…等以質量 行碎片化，…近來逐漸了解藉由反覆進 ^ 式會產生差異。目前，藉由採用至咖 為酉曰之碎片模式，幾乎 至MS3 、 于了以釔疋大部分的糖鏈構造。 然而，由於為了得到MS3碎 行2階俨的边Η几 才、式 品仗原糖鏈進 故* 1個糖鏈所得到之MS3碎片模犬 數！龐大。如果將由未知糖鏈得到之 二： 何依循的依序比對，不僅很花時門乂碎片換式)沒有任 的比對（鐘定）。不僅很化時間’也可能會沒辦法正確 因此，本發明係如上述，對於Η 中所含之複數MS2碎片離+心 疋碎片杈式 V “也 手片離子’僅對以職碎片離子質量 电何比作為先驅離子質| 、里 之，似声Α箱生 參考MS3碎月模式彼此 之大員似度為預先設定值（篦 子，H牛& 疋值）以下之MS2碎片離 子只轭進一步的碎片質量分析。 擇，亥等二：存在有3個以上該種碎片模式時，可選 之難。壬思2個組合之類似度中最高者作為上述類似度 右儲存於資料庫之炎| 0士 gp X >考MS3碎片模式間彼此類似度高 k，即使對未知試樣 進订MS3分析以測定MS3碎片模式， 在比對時也很難判定盥， ” 7者相付。而，使用本發明之方法， 攸MS3石+片模式彼此類 似度低的MS2碎片模式先（或從較 低者先）進行碎片質量公士 、里刀析，再比對MS3碎片模式，可更 8 •200532194 快速的進行鑑定。 上述MS3碎片模式彼此之類似度 離子之質量電荷比結合並儲存於資料庫中1為：先與先驅 速的進行模式配對。 9 可更快 關於上述選定之體碎片離子，較佳為依既定的 類：序又排广利用與上述參考_碎片模式彼二 、&。又，亦可考慮資料庫所儲存之參考⑽碎片 數目排序。依該順位進行碎片質量 “ 片模式與資料庫所储存之二 二之類似度為事先設定之值(第2既定值)以上時，則分 析結束，依模式配對鑑定糖鏈構造。 刀 又，如此之處理對象MS2碎片離子，較佳 MS2碎片模式中緣值強度為既定值以上者。 又’依上述步驟進行鑑定時，較佳為先由測定（含先驅 之峰）之MS2碎片模式算出糖鏈之理論組成，再依據 該組成’從資料庫所儲存之MS2碎片模式及㈣碎片離 子當中事先選擇（挑選）供測定购碎片模式與碎片離 對者。 θ上述步驟，係關於將MS2碎片離子進一步進行碎片質 量分析準貝1卜而本發明之方法中欲由更碎片化而生成之碎 =離子（MSn碎#離子）巾衫何者先進行進—步之碎片質 董分析時，亦可同樣地利用該步驟。如上所述，幾乎大多 數的糖鏈皆能藉由肖MS3碎片模式配對來鑑定構造，但是 對於一部分較複雜或是異構物構造差異微小的糖鏈，則需 9 -200532194 要實施MS4或更多階段的碎片化。此情 “ 明之方法為準則，可望更有效率。 /中，精由以本發 如上，在進行各階段之碎片 驅離子之碎片能量讯$ 刀日寸，較佳為將先 里5又成依該先驅離子所定山— 上。藉由將該能量值μ & 4 疋出之既定值以 月匕里值，又成先驅離子大八 值，可使由碎片化所味& 70王碎片化程度之 ，乃化所生成之碎片離子再 高糖鏈構造鑑定之可A w 良子，而能提 值對應於㈣離子儲存於資料庫卜 疋之碎片此量 質量分析’雖可期待成為能迅速複 鏈構造解析之方法，但是 I雜且夕樣之糖 ^ y irfc 一為了進仃正確的鑑定，必兩；5费 進行糖鏈離子之⑹碎片化Η⑻碎片離子之;覆 擇Μ(ϋ〇再次碎片化]，至 貝里測疋及選 模式的比對。但是，由 杈式以進行 百種碎片離子，要對該等全部的碎片離子再進= 至數 及叙式配對（pattern matching)是不實際的。又 = 對主要的碎片離子進行進一步的碎片化 =針 本以進行試誤試驗。 心要大樣的樣 本發明之料料解析可作為進― 行時之有用準則，+ 片化進 免一 . 可使鑑定更迅速。且，由於不兩 進行無異議的分析，可、、鸪 樣亦足以進行鑑定。㈣樣㈣耗’即使只有微量試 【實施方式】 以心1個實施例詳細說明本發明。圖1係顯示用 本發明之糖鏈構造解析裝置的概略構成，該裝置， 200532194 係由質量分析裝置MS及含資料庫DB之解析裝置ANL所 構成，該質量分析裝置MS ，係具備基質輔助雷射脫附游 離裝置（Matrix Assisted Laser Desorption/Ionization)MALDI、 四極電場型離子補捉裝置（Quadrupole Ion Trap)QIT、以及 飛行時間型質量分析器（Time of Flight)TOF。資料庫DB 中，儲存有多數構造已解明之糖鏈離子、以及其1級及2 級（MS2及MS3)碎片化離子（fragment ion)之質量分析模 式（fragment pattern )。除了解析裝置ANL以外，另具備 • 資料比對裝置（Pattern Matcher)，其可將由質量分析裝置MS 送出的碎片模式（資料）與資料庫DB所儲存之碎片模式（資 料）加以比對，並計算出其類似度。又，質量分析裝置MS 中，設置有控制整個裝置之控制部CNTL。 以圖1 5說明以該裝置進行未知糖鏈構造解析之步驟。 首先，由含有糖蛋白質或糖脂質的活體試樣中，以切斷酵 素或化學性之切斷反應將欲鑑定之未知糖鏈切出。將所得 $ 到之糖鏈試樣視需要加以標記化，與基劑混合後置於質量 分析裝置MS中。於質量分析部MS，將試樣以MALDI離 子化，以TOF進行質量分析。藉此，可測定該糖鏈離子（先 質離子）之質量電荷比（質量m/電荷z)。又，於離子捕捉裝 置QIT内進行碎片化，以生成碎片離子，並測定各碎片離 子之質量電荷比以及強度。藉此，可得到MS/MS碎片模 式（測定MS2碎片模式，MS2Pm)(步驟S1)。該MS2碎片 模式之例係示於圖2。該例中，先驅離子（未知糖鏈試樣之 離子）的質量電荷比m/z為2147.8。而MS2碎片模式之資 11 200532194 料由質量分析裳置MS送到解析裳置胤。 解析裝置ANL，可由]ν[ς? # u 自MS2碎片模式之資料得到. (1) 先驅離子之質量電荷比、 · (2) 各碎片離子之質量電荷比、及 (3) 各碎片離子之強度。 料裝置胤，可依據料資❹及絲 用之標記劑、切斷酵辛、铽藥 樣時所使 "、仏 大樂寺育料’計算出糖鏈之料 成(步驟S2)。又’標記化劑等之資訊，可由分：：理： 里分析裝置MS輪入，亦可從解析裝置anl輸入。從質 在圖2之例的情形中，由先驅離子之質 2 147.8 ’可算出糖鏈理論組成為（h叫(此版h。了 其次，在解析裝置ANL計算出，具有 的所有糖鏈異構物的MS碎片 响、卫成 Μς?ρρη, τ月杈式（參考MS2碎片模式， 咖）、以及由質量分析裝置Ms送出之聰碎片模式 :2FPm)彼此的類似度s。關於計算2個碎片模式類似度 S相異度D)之方法，將於後詳細說明。接著，預備選擇與 測疋MS2碎片模式彼此之類似度§為既定值⑶以上之參 考MS2碎片模式（步驟S3)。 若理論組成為（HeX)5(HexNAc)6，則如圖3所*，在解 /置ANL之資料庫DB中儲存有4種糖鏈異構物之MS2 碎片模式。呈現各碎片模式之糖鏈構造模型係顯示在該模 式上。與圖2之測定碎片模式之類似度為既定* 以上 者，只有（c)與（d)2種。 從預備選擇之參考MS2碎片模式中，依強度的高低依 12 200532194 序僅挑選既定個數的碎片峰（步驟S4) 可依事先決定的個數決定，堂。此處碎片峰之選擇 々」遠释強声 對於最大峰之強度程度）之上者。 X壬又在既定值（相 由圖3⑷、⑷之2個參考Ms 個碎片峰。 拉式，選擇以下6 m/z=2129 m/z=l848

m/z=l782 m/z=l645 m/z=1483 m/z=i280 二選擇的碎片峰中，選擇欲在質量分析裝置 發明之方法。 ）此處係使用本 =，以選擇之碎片峰所對應之碎片離子定為先驅離 ^ ’ 存於資料庫DB中之MS3碎片模式（通常，對 於1個先驅離子’會儲存複數個聰碎片模式），並曾出 =彼此之類似度(並非後述相異度D，而是以類似程：較 问呈現較高值之類似度）s。㈣類似度為既定值M2以 下之MS2碎片離子於質量分析裝置ms中進行碎片質量分 析⑼驟S5)。X，此日寺，將該等㈣碎片離子依類似度低 至南的順序進行排序（步驟S6)。 刀別對應於上述選擇之6個碎片峰之MS3碎片模式係 不於圖4。贫榮rh / ' 4寺之中，以m/z=I483為先驅離子之2個]V1S3 13 200532194 1片模式’以及以m/z=128()為先驅離子之2個则 拉式:相較於其他先驅離子之MS3碎片模式，其彼此之類 以的耘度較低。將該等儲存於資料庫DB之參考㈣碎片 離子、與未知試樣之測定MS3碎片模式進行模式配對 ㈣⑽她hlng)時，兩參考MS3碎片模式彼此類似度低 (―兩者好開）者，較兩參考MS3碎片模式彼此類似者在判 疋與測疋MS3碎片模式是否相符方面較為容易。 又’圖4中係分別顯示2個湖碎片模式，但有時 於1個先驅離子在資料庫DB中會儲存有3個以上之⑽ 碎片模式。此情形中，可以任意2個MS3碎片模式間的類 似度為指#，但較佳為以彼此類似度最高之2個MS3碎片 模式間的類似度作為指標。此情形，由於與其他⑽碎片 模式彼此的類似度皆齡兮望& u — 沒白#乂 4寺為低，故可以確實地進行測 參考模式配對。 圖4中’由於m/z=1280與聰碎片模式彼此的類似 度低’故將該等排在第"立，將㈣彻之⑽ 子排在第2位。 依據該選擇以及排序的結果，解析裝置胤會將接著 碎片質量分析所需之先驅離子之質量電荷比送到質 裝置MS。質量分析裝置⑽會依據由解析裝置狐送至 的資料’僅由離子捕捉裝置QIT内所生成t MS2碎片離 子中留下指定的碎片離子（於上述料的情形，為泰测 的碎片離子），將JL以既定Μ处θ ’ 八以既疋的能量進行碎片化以進行MS3 質量分析（步驟S7)。如此所得到m/z=i28〇(正確值為 14 200532194 ηι/ζ=12 80·4)的測定MS3碎片模式示於圖5。 測定MS3碎片模式之資料會從質量分析裝置ms送到 解析叙置ANL’在此分別算出與圖4第2段之2個參考MS3 碎片模式之類似度，並與既定之閾值S31加以比較（步驟 S8)。於此場合，如圖6所示，（a)與測定Ms3碎片模式之 類似度較高。

精此，可鑑定出本次分析試樣 上部所示構造之（Hex)5(HexNAc)6。

其次，說明上述鑑定步驟中所使用之演算法，用以瞀 出未知試樣之敎碎與儲存在:# I =之類似度。又，以下關於演算法的說明中，將= ~片模式稱為圖譜（spectral)。 (1)對測定圖譜及參考圖譜，分 之峰合併A . 夺m/z值為某範圍内 後之:（祖ge)。以料峰中強度最高之峰作為合併

(2)當測定圖譜合併後之η個峰（P1，P2 Xl(1 —1〜n)時，製成如下之圖譜向量χ。 ·，ρη)之強度為 X-(x 1，χ2,…，χη) 之參考圖譜的峰， (3)從參考圖譜中決定相當於峰pi 由該峰強度製成如下之圖譜向量 Y=(yl，y2，".，yn) Y的歐幾里得距離求出 (4)依下式’從兩個向量X盘 圖譜間的相異度m。 〃 〇1===Σ(ί = 1 〜n)(xi-yi)2 15 *200532194 當兩圖譜完全相同時，此處所算出之⑴值為〇 譜差異愈大，D1值愈大，故D1值可以表現㈣b = 以作為兩圖譜類似度之標準。 "夕枯 使虽兩圖譜越相近時有 較大之值，可用相異度的倒數等來表現。 才有 (5)依如上方式算出之相異度m， FI 田&即使已知糖鏈 。多考圖^曰）（/、有未知試樣之圖譜（測定圖譜）中 之峰膚符合低相異度（高類似度），故改 考圖譜之向量計算方法，再計 曰與麥 異"為既定值以下之二:亦即，對於相 #考圖瑨，從芩考圖譜算出上述 向里X，仗測定圖譜算出上述向量γ，以求出相異度叫。 以實際資料驗證上述相異度（類似度）之計算方 :!二驗證時使用之試樣，係將…票記化之糖鍵進行 貝里二斤所得到之圖譜。以合併時m/z值的範圍為⑼、 峰被此-致時之m/z範圍為05,進行計算。又，強度值， « ^由質量分析裝置axima_qit(axima為島津製作所 之㈣商標）輸出之峰列表的％面積值（於既定範圍内之 波蜂面積值）。 ⑴〇NA-〇_la(1〇〇 _ 〇NA 〇〇〇〇ib(i〇〇 取比較 兩者之構造式如圖7⑷、⑻所示。關於該等之2種異 構物’以不同實驗採取同一構造物試樣得到之圖譜彼此間 的相異度’以及異構物試樣之圖譜彼此間的相異度的計管 結果係示於圖8。 卞# 圖的第1仃為ONA_〇〇〇01a(1〇〇1k MS2圖譜（先驅 離子之質量電荷㈣1214)之相異度計算結果。中央2攔 16 -200532194 的資料表示將同樣試樣進行不同質量分析所得到圖譜之平 句相”度值右側2欄的資料表示異構物〇na_〇〇⑻ 之MS2圖譜間的相異度值。〇NA_〇〇〇〇la(i〇〇 i)與⑽冬 〇〇〇〇lb(1〇0.2)之MS2圖譜，在同樣試樣間的才目異度與異構 物之相異度方面差異不大。 圖 8 之第 2 行為將 〇NA-〇〇〇〇la(1〇〇 1}之 m/z=9i5 之 碎片離子進一步碎片化之質量分析圖譜（MS3圖譜）的相異 度計算結果。與上述同樣，中央2攔的資料表示將同樣試 樣進行不同質量分析所得到圖譜之平均相異度值，右側2 攔的資料表示異構物ONA_〇〇〇〇la(1〇〇1)i m/z=9i5的μ§3 圖譜間的相異度值。當分析至MS3圖譜時，異構物試樣間 的相異度會較同樣試樣間的差異度為大。圖8第3行為 m/z=l 196的先驅離子的結果，亦呈現同樣的結果。 圖8之第4〜第6行為對ONA_〇〇〇〇lb(1〇〇 2)進行同樣 計算得到的結果。關於以m/z=1214為先驅離子之ms2圖 譜以及以m/z=915為先驅離子之MS3圖譜測定結果，同樣 試樣彼此間相異度值與異構間相異度之值雖看不出有差 異，但關於以m/z=1196為先驅離子之MS3圖譜測定結果， 同樣試樣彼此的相異度較異構物間的相異度為小。 (2) €^0-00001〇(1〇0.3)與 〇NG_〇〇〇〇ld(1〇〇 4)之比較 兩者之構造如圖9(c)、（d)所示。圖1〇表示與上述同 樣的相異度計算結果。該等試樣在任一情形中，同樣試樣 間之相異度皆遠較異構物試樣間之相異度為小。 (3) €^0-00001€(310.2)與〇]^〇-〇〇〇〇1以31〇.3)之比較 17 •200532194 兩者構造表示於圖ll(e)、（f)，相異度之計算結果示 於圖12。關於該試樣，除以m/z=128〇為先驅離子的情形 以外，同樣試樣間相異度均較異構物試樣間的相異度為 大，此係由於兩試樣之峰的形態稍有不同，而因合併操作 而產生該差異。關於以m/z=128〇為先驅離子的MS3圖譜， 同樣試樣間的相異度較異構物試樣間的相異度為低。故， 可以區別出兩異構物。 (4)(^-000020(400.2)、ONG._〇21(4〇〇 3)與 〇NG 000022(400.5)3 種之比較 各構造式係示於圖13。由MS2圖譜區分不出3種里 構物。但是’當選擇特定峰進行MS3時，則可區別3種異 構物。特別是若為以m/z=1686、1764、1967之先驅離子 作為峰之MS3 _譜，則相異度最低的構造（最類似之試樣） 顯不正確的糖鏈構造。

由以上實驗結果’可確認上述計算方法可對2個圖譜 的類似度(相異度)有效進行判定。又，當於階段異構 物間㈣造差異無法由圖譜類似度（相異度）表現出來時， :藉由進订MS3碎片質量分析、及計算圖譜類似度(相 ”度），以區別出異構物構造的差異。 【圖式簡單說明】 圖1表示用以實施本發明之裝置的概略構成圖。 圖2表示於本發明-實施例中所採取之測定MS2碎片 圖 為儲存於資料庫中 對應於上述測定MS2片段模式 18 •200532194 之參考MS2碎片模式及其構造模型。 驅離子之MS3碎片 之測定MS3碎片模 圖為以各種MS2碎片離子為先 杈式比較圖。 圖5為m/z=1280之MS2碎片離子 式0 “為儲存於資料庫中對應於 之參考卿碎片模式及其構造模型。^聰片段极式

度）之lit用於驗證計算2個碎片模式（輯）類似度（相異 度）之次异法之2種試樣的糖鏈構造式。 圖8為同試樣之相異度計算結果之表。 式。圖9為上述演算法驗證用之另外2種試樣的糖鍵構造 造式 圖10為同試樣之相異度計算結果之表。 圖Π為上述演算法驗證用之再另外2種試樣 的糖鏈構 • 圖1 2為同試樣之相異度計算結果之表。 圖1 3為上述演算法驗證用之再另 丹力汁2種忒樣的糖鏈構 造式。 圖1 4為同試樣之相異度計算結果之表。 圖1 5為表示本發明方法之一實施例的流程圖。 【主要元件符號說明】 MALDI 矩陣支援雷射脫離離子化裝置 QIT 四極電場型離子捕捉裝置 TOF 飛行時間型質量分析器 19 •200532194 CNTRL 控制部 MS 質量分析裝置 PM 模式配對裝置 DB 資料庫 ANL 解析裝置

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Claims (1)

1. 200532194 十、申請專利範圍： 1 · 一種糖鏈構造梦宏 由比對測定MS3碎；二法，係使用質量分析裝置，藉 分析所得到MS2碎片才^(將分析目標糖鍵進行碎片質量 牛、隹> * 果式中所含之各MS2碎片籬早、# 步進行碎片質量分析 午月離子進一 ^ η i- -V 寸1與儲存於資料庫中之參考ms；3 石丁片杈式，以鑑定分析 "^ MS3 7目I糖鏈之構造，其特徵 於測定MS2片段楹爷山 在於· π 、式中所含複數之MS2碎 >；籬+ + 僅對儲存於資料庫中之複數參考厘 以離子中， 電荷比作為先驅離子質量 吴工以其質夏 以下之測定MS2片段離n 一 貝似度在既疋值 又離子進行碎片質量分析。 2 ·如申請專利範圍筮 -”L * 圍弟1項之糖鏈構造鑑定方法，俜在 貧料庫中儲存參考MS4 &係在 十乃模式及進一步進行辟Η MSn參考碎片模式 片化之 半炉ΰ儿 將，、與測疋出之MS4碎片模式或進一 步石r片化之MSn測定碎片楹 μ 片杈式進仃比對，藉此來鑑定分浙 目標糖鏈之構造； 疋刀析 於測定MSn片段模式中所含複數之Msn碎片離子中， 僅對複數之參考MSn+i辟η y L 卒片杈式彼此的類似度為既定值以 下的MSn碎片離子進行碎片質量分析。 3. -種糖鏈構造鐘定方法，係使用質量分析裝置，藉 由比對測$ MS3碎片模式（將分析目標糖鏈進行碎片質量 分析所得t MS2碎片模式中所含各购碎片離子進—步 進灯石卞片為置分析而得）與儲存於資料庫中之參考Μ”碎 片模式，以鑑定分析目標糖鏈之構造，其特徵在於： 於測疋MS2片段模式中所含複數之MS2碎片離子中， 21 *200532194 二儲存於貢料庫中之複數參考MS3碎片模式（以其質量電 啊比作為先驅離子f量電荷比）彼此的類似度低之測定 片段離子起依序進行碎片質量分析。 4.如申請專利範圍第3項之糖鏈構造鑑定方法， 資料庫中儲存參考MS4碎片模式及進—步進行碎片^ MSn參考碎m將其與敎^腦碎片模式或進 步碎片化之MSn測定碎片模式進行比對，藉此來鑑定 目標糖鏈之構造； 於測定他片段模式中所含複數之MSn碎片離子中’ 僅對稷數之麥考MSn+1碎片模式彼此的類似度為既 下的MSn碎片離子進行碎片質量分析。 5·如申請專利範圍第1項〜第 鑑定方法，其中，㈣夫考Ms +1員中任—項之糖鍵構造 ^考MSn+1碎片模式彼此之類似戶 結合先驅離子之質量電荷比而儲存於資料庫中。 又 、二如申請專利範圍第1項〜第…任-項之糖鏈構 -甲僅以測疋MSn碎片模式中峰 定值以上的MSn碎片離子作為對象。 ”、 7·如申請專利範圍第〗項〜第4項中任一項 造鑑定方法，其係從測定Ms碎 、’、' 叶乃衩式中异出糖鏈之理 組成，再依據該組成，事先從儲存於資料庫 ： 碎片模式中限定比對對象。 n 1 8·如申請專利範圍第丨項〜第 造鑑定方法，其中，進行碎片質量八杯Γ項之糖鏈構 丁卞月貝里分析時，係將碎片化能 量設定成依先驅離子而定之既定值以上。 22 •200532194 ，八9二申:’專利範圍第8項之糖鏈構造鑑定方法，4 该刀衣n之既定值_存於資料庫内。 其中 10·如申請專利範圍第！ 一 造鑑定方法，苴中7 ^ 、 員中任一項之糠鏈構 定： ，、中2個碎片模式之類似度係依以下步驟決 a)方；第1之碎片模式中 柄旦兩朴、 之峰合併為_， 、貝里电何比為既定範圍内 峰； 〃強度最高之峰作為代表該範圍的 b)於弟2之碎#禮彳士 地選擇代表峰； 》 以共a)相同的範圍畫分同樣 C)以兩碎片模式之各範圍内之 2個圖譜間的歐幾里 峰強度作為要素之 定類似度。 離作為相異度’依據該相異度決 , ~片輪式其相異度為既定值以下的第2碎 =，係調換第】及第2碎片模式， J 2相異度，並依據第2相異度決定類似度。 ^出第 X種二鏈解析用質量分析裝置，其特徵在於具備： 次里刀析和具有離子保持、碎片機構； 貧料庫部’料有已知之糖鏈之M ^料處理部’依申請專利範圍第〗項〜第:=一 頁的方法控制该質量分析裝置’並進行分析目的糖鍵之鑑 疋〇 13.-種記錄有程式之記錄媒體，該程式係用以實施申 23 •200532194 請專利範圍第1項〜第11項中任一項方法之程式。十一、圖式： 如次頁。

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