TW200427629A - Distillation process for reducing the concentration of dinitrogen difluoride and dinitrogen tetrafluoride in nitrogen trifluoride - Google Patents

Distillation process for reducing the concentration of dinitrogen difluoride and dinitrogen tetrafluoride in nitrogen trifluoride Download PDF

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200427629 九、發明.說明: 參照相關申請案 本申請案主張2003年4月14曰申請之美國臨時專利申 請案第60/462,756號之優先權利。 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種降低三氟化氮中二氟化二氮及四氟化 二氮雜質濃度之蒸餾方法。該方法涉及以下步驟:在具有 比三氟化氮更高之常壓沸點的化合物的存在下,蒸餾三氟 化氮;及移除作為蒸餾塔塔頂物流之大體上不含該等雜質 的三氟化氮;移除作為蒸餾塔側餾份之包括該等雜質的經 濃縮物流;及移除作為蒸餾塔塔底物流之具有比三氟化氮 更高的常壓沸點之該化合物。 【先前技術】 在電漿蝕刻矽類材料以製作半導體裝置之製造方法中使 用了各種氣態含氟化合物。在半導體裝置製造中,三氟化 氮(NF3)之主要用途係作為”化學氣相沈積"(CVD)腔室清洗 氣體。CVD腔室清洗氣體可用於形成與半導體製作設備之 内表面相作用之電漿,以移除長時間所積聚之各種不良沈 積物。 更通常地,將作為清洗氣體用於半導體製造應用中之全 氟化化學物(例如NF3)稱為”電子態氣體"。具有高純度之電 子態氣體對於該等應用至關重要。已知在進入半導體裝置 製造工具之該等氣體中,即使存在極少量雜質亦可導致寬 線寬,且由此產生關於每個裝置之更少資訊。此外,即使 92626.doc 200427629 該等雜質(包括但不限於在電㈣刻劑或清洗氣體中之微 粒、金屬、濕氣及其它_化碳)僅以百萬分之一含量存在, 其存在仍可增加該等高密度積體電路的生產中之缺陷率。 結果’對於更高純度之姓刻劑及清洗氣體的需求正在增 長,且具有所要純度之材料的市場價值亦在增長。因此, 雜質之識別及其移除方法表示了製備用於料應用之含氣 化合物的重要態樣。 由各種方法(例如US 3,235,474所揭示之方法)所製備之 可含有較大量雜質,例如一氧化二氮(Ν2〇)、二氧化碳 (co2)、二氟化二氮(N2F2_順及/或N2f2_反)及四氟化二氮 (N2F4)。特別地,二氟化二氮及四氟化二氮為三氣化氮電子 減體產物中之不良雜質。在特定條件τ及較低濃度下, 該等化合物可形成不穩定及甚至爆炸性組合物。因此,為 了獲得可料電子態氣叙不含:氟化:氮及四氣化二氮 的高純度三氟化氮,必須f握使得該㈣f得以完全移除 之方法。 已知各種可用於降低NF3產物中之N2F2、N2F4及其它雜質 之方法,其涉及蒸餾、化學及熱處理、沸石、矽膠及活性 氧化銘吸附。已知梦膠及活性氧化紹均可作為在低溫下移 除雜質之吸附劑’且可作為在較高溫度下移除雜f之反應 物。 【發明内容】 本發明提供用於降低NF3中氣化雜質以產生經純化之NF3 產物的瘵餾方法。更具體而言,本發明包括一種用於降低 92626.doc 200427629 包括三氟化氮及選自由二氟化二氮及四氟化二氮組成之群 之至少一種雜質的第一混合物中該至少一種雜質濃度之方 法,該方法包括:(a)在具有比三氟化氮更高之常壓沸點的 化合物的存在下,於蒸德塔中蒸德該第一混合物;(b)在該 蒸餾塔之頂端及底端之間的一點上,自該蒸餾塔中移除包 括該至少一種雜質之第二混合物;(c)自該蒸餾塔之底端移 除包括具有比三氟化氮更高之常壓沸點的該化合物之第三 混合物;及(d)自該蒸餾塔之頂端移除具有該至少一種雜質 之降低濃度的三氟化氮產物。 【實施方式】 處於獨立及純狀態中之NF3顯示出對於積體電路製造頗 具價值之特性,且通常用於相關製造步驟中。對於使NF3 在積體電路製造過程中具有更大精確性及效應一致性之需 求使得極高之純度對於該等應用至關重要。任何其它化合 物在NF3中之存在均不利於其大部分之預期用途。例如,即 使百萬分之1莫耳濃度的另一化合物亦將被視作nf3中之雜 質,其中NF3將作為化學氣相沈積(CVD)腔室清洗氣體來出 售。雖然允許製造具有接近99.999莫耳%純度之NF3產物的 方法已合乎需要,但提供至少99.9999莫耳%純度來用於電 子態氣體應用之方法卻較佳。 用於量測NF3中雜質的該等低濃度之分析方法係可以得 到的。例如,適用於分析NF3中其它化合物的低濃度之方法 揭示於以引用的方式併入本文之the 1995 SEMI standards,第 149-153 頁,SEMI C3.39.91-Standard for Nitrogen Trifluoride 中。 92626.doc 200427629 用於製造NF3之習知方法經常在NF3產物物流中產生作為 雜質之N]F2及NZF4中之至少一種。n〗F2意謂順式異構體 (NJ2-順,本文亦稱作NJrc)或反式異構體(Njr反,本文 亦稱作NJrt)中之任一種。該等化合物sNF3產物中之存在 不利於大部分之預期用途。分離及回收大體上不含該等雜 質的NF3產物之能力極具重要性。本文中,,大體上不含"意謂 存在於NF3中的N〗F2及NJ4雜質中之至少一種的濃度低於 10 ppm-莫耳濃度,較佳低於!卯…莫耳濃度,最佳低於〇」 ppm-莫耳濃度。 包括NF3、N^F2及KF4的混合物之該等物理特性不理想, 且難以藉由習知模型化技術來模型化。本發明衍生自以下 發現,即在具有比NF3更高的常壓沸點的另一化合物之存在 下瘵德包括NF3及該等雜質之混合物時,使該及該 有效地濃縮於蒸餾塔之下部蒸餾區内。換言之,在具有比 NF3更高的常壓沸點的另一化合物之存在下蒸餾包括1^]?3及 忒等雜質之混合物時,該N#2及該N2F4有效地濃縮於蒸餾 塔的理論總板數之底端50%内,且更佳地濃縮於蒸餾塔的 理論總板數之底端25%内。 具有比NF3更高之常壓沸點的另一化合物意謂具有約 -90 C至約-20 C之常壓沸點的化合物。此外,具有比nf3 更咼之常壓沸點的化合物在本方法條件下最好不與NF3 或氟化雜質發生反應。本方法之具有比ΝΙ^更高的常壓沸 點之適當化合物包含以下類型之化合物:烴、氫氟碳 (hydrofluorocarbon)、氫氯氟碳、氫氯碳、全氟化碳及有機 92626.doc 200427629 氧化物與無機氧化物。典型性烴包含乙烷、丙烷及丙烯。 典型性氫氟碳包含氟代甲烷(HFC-41)、二氟甲燒 (HFC-3 2)、1,1,1-三氟乙·烧(HFC-143a)、五氟乙烷(HFC-125) 及氟代乙烷(HFC-161)。典型性氫氯氟碳包含氯二氟甲烷 (HCFC-22)。典型性氫氯碳包含氯代甲烧(j_jc〇40)。典型性 全氟化碳包含六氟乙烷(PFC-116)。典型性氧化物包含一氧 化二氮(ΝΑ)、二氧化碳(c〇2)、羰基氟化物(C〇F2)及全氟 乙醯基氟化物(CFsCOF)。本方法之具有& NF3更高的常壓沸 點之較佳化合物包含一氧化二氮(N2〇)、氯二氟甲烷 (HCFC-22)、二氟甲烷(HFC-32)、氟代乙烷(HFC-161)及氟 代曱烷(HFC-41)。該等化合物作為高沸點化合物可單獨或 相互組合使用於該分離。例如,已知形成了 共沸組合物或類共沸物之組合物。個別N2〇/HFC_23共沸組 合物或類共沸物之組合物可作為具有比nF3更高之常壓沸 點的化合物而應用於該分離。 更具體而言,在具有比NF3更高的常壓沸點之該等化合物 的存在下条餾NF3及該等雜質時,該等雜質N2lp2及κι在蒸 I田塔經填塞或鋪有塔盤之區内的一點上(而非在蒸餾塔之 底液中或塔頂物流中)形成最大濃度。同樣地,自蒸餾塔之 頂端及底端之間的一點上取出側餾份提供了具有比在蒸餾 底液或塔頂物流中更高之濃度的及N2F4物流,從而有 助於自u玄NF3產物中移除凡匕及Nj#中之該至少一種雜質。 基於降低NF3產物中之該等雜質的觀點,自含有,,較高”濃 度之物流而非自具有處於”較低"濃度的該等雜質之物流來 92626.doc 200427629 降低該等雜質更經濟。 稭由移除及處理其中該等雜質已叙 〉辰縮之側流,可蔣ώ 、二 將用於自吨中分離n2f2及n2f4之已知的哉 及吸附淨化方法施用於較少 7熱 積加材料,且相關設備 亦可更小且將更有效運行。此外,# e T此外,更大1之大體上不含雜 質的NF3可作為蒸餾產物而獲得。 該側館份亦提供了—種限制或降低蒸料内該等雜質之 最大濃度的方法。吾人認為叫2及叫4比nf3更具反應性, 且在特錢件下及相對較低濃度下,N2F2及N2F4化合物可 开y成不知疋及甚至爆炸性組合物,且基於材料相容性或方 法安全性之㈣,可能需要限制其塔内濃度。例如,通常 最好將等化合物之濃度(各ΝΑ及之塔内濃度)限制 在低於2,〇〇〇 ppm莫耳濃度,更佳低於1,〇〇〇 ppm-莫耳濃 度。 藉由生產NF3之方法所產生的數種化合物具有高mnF3之 沸點。該等化合物之實例包含六氟乙烷(C2F64PFC_ii6)、 六氟化硫(SF6)及二氧化碳(coy。此外,在包括NF3及CF4 的物流之蒸餾中可添加具有比NF3更高之沸點的化合物來 作為提取劑,以能夠分離該NF3及CF4。適於作為提取劑之 該等高沸點化合物的實例揭示於以引用的方式併入本文之 1^ 6,45 8,249 中,且包含氣二氟曱烷((::11(::1172或11〇^(:-22)、 二氟甲院(CH2F2或HFC-32)、乙烧(C2H6)、氟代乙烷(C2H5F 或 HFC-161)、氟代曱烷(CH3l^HFC-41)、五氟乙烷(C2HF5 或HFC-125)及一氧化二氮(AO)。 圖1圖解性說明了可用於執行該發明性蒸餾方法之態樣 92626.doc 200427629 的系統。經由管道1將包括NF3及N^2與Nd4中之至少一種 之第一混合物供應至蒸餾塔2_。至少一種具有比NF3更高之 彿點的化合物亦已與該第一混合物一起或視需要經由替代 進料點(例如經由管道”供應至該蒸餾塔。將該塔之塔頂错 出物經由管道生送至冷凝器1。使至少一部分經冷凝之餾出 物流作為回流色返回至該塔之。經冷凝之餾出物的剩餘物作 為大體上不含N〗F2或NJ4之NF3產物已經由管道z來回收。 將包括KF2及N〗F4中之至少一種之物流作為該塔之側餾份 S自該塔之中移除。將包括該至少一種具有比NF3更高之沸點 的化合物的物流經由管道艺自該塔2底液中移除,且可將其 作為產物來回收。可視需要將側餾份及送至移除該N2F2及該 一 4之加工步驟,且隨後可視需要使該經處理之側鶴份物 流返回至蒸餾塔又以用於進一步蒸销。 本發明可在各種溫度及壓力下以蒸餾塔流程來實施。雖 然蒸餾塔頂端之溫度應足以使!^匕在該塔所操作之壓力下 ,凝,但塔内最低溫度最好高於具有比抑3更高之沸點的該 等化合物之凝固點。例如,雖然該塔頂端之溫度較佳在_9〇艺 至-5(TC之範圍内,但依可能存在之較高沸點化合物而定, 卻可使用該塔頂端之更低溫度。 與us 6,45 8,249所揭示之用於在蒸館方法中利用提取劑 自NF3移除CF4之方法組合可便利地實施本發明。在該方法 中丄將包括nf3、⑶及N2F2與N2F4中的至少_種之物流送 至第-塔,其中在提取劑之存在下蒸㈣物流。在該提取 劑之存在下’自該NF3分離該CF4,移除該塔㈣物中之該 92626.doc 200427629 cf4。隨後將包括_ 枯以匕、提取劑及仏匕與Ah中之至少一種 之底液物流送至第二蒸儲塔。在該第二蒸顧塔内,於該提 取d之存在:,叫2與邮中之該至少-種將在該塔内- 中間點上顯示出最去、曲α 出取大/辰度,且可在側餾份物流中自該蒸餾 塔移除,同時NF3作A i艾丁苔立仏十 3下為%頂產物來回收。可視需要處理該側
顧份物流以移除N?F2iN -、2 4中之σ亥至少一種,且隨後可使 乡至處理之物流返问p Y W 4 至洛館不列。將作為底液物流之該提取 劑自a亥弟一 土合移除,且視需要蔣並后 儿祝而要將其反向循環至該提取塔。 若出自第二塔底液之提取劑中 攸取片J干存在其匕化合物,則可將該 底液物流之某一部分力口以#斗、 /尹化或視需要加以處理以移除該 寻其匕南'/弗點化合物,見隨接i目命® /士 /上 且卩現後視㊄要使經處理之底液物流 返回至該蒸餾系列。 圖2圖解性說明了可用於執行該發明性提取蒸館方法之 態樣的系統。經管道过將包括PFC_14、NF3及比匕與比匕 中之至少-種之第-混合物供應至蒸館塔u。在待分離混 合物(例如PFC_14及NF3)之進料點上方的一蒸镏塔進料點 上,經管道U將至少-種諸如HCFC_22之提取夾帶劑供應 至条餾塔11。將該塔之塔頂餾出物經管道^^送至冷凝器 1A使至 >、邠刀經冷凝之顧出物物流作為回流1^_返回至 該塔U。使經冷凝之餾出物的剩餘物作為大體上不含1^ HCFC-22及NZF2與NJ4中之該至少一種之pFC_14產物經管 道Μ來加以回收。 隨後將包括HCFC-22、大體上不含pFCM42NF3及N2F, 與NZF4中之該至少一種之物流經管道^自該塔^底液中移 92626.doc • 13 - 200427629 除且送至冷邠杰21,且由此送至蒸餾塔^。可將塔^之餾 出物、,、工吕逼迎送至冷凝器社。可使來自冷凝器社之若干量 的I冷疑之餾出物作為回流經管道^返回至該塔^,同時 將剩餘物作為產物經管道^來加以回收,如大體上不含 PFC 14、提取夹帶劑及與乂匕中之至少一種之nF3。將 括KF2與NZF4中之至少一種之物流作為該塔之側餾份丛 自省〗合中移除。獲得作為該蒸餾塔底液&之提取夾帶劑 (諸如HCFC-22),其中非HCFC-22化合物之濃度與其在物流 11中之濃度相比已降低。可視需要將物流&送至冷卻器 Μ,且隨後使其作為提取劑原料返回至蒸餾塔辽,即:在 待分離之第一混合物(例如PFC-14&NF3)的進料點上方的 一該塔進料點上將其送至該塔。 可視需要與已知的用於自包括NFs的物流中移除N2F2之 方法組合來貫施本發明。例如,可藉由諸如彼等在 4,193,976及US 5,183,64?中所揭示之方法來處理包括n必 之侧餾份物流,即:使側餾份物流通過由微粒金屬組成或 填塞有固態氟化物之加熱區來分解且由此移除該N2F2。隨 後可視需要使經處理之側餾份物流返回至該蒸餾系列。本 發明提供了優於先丽技術之優點,該優點在於:將該 濃縮成小量物流,其提高了先前所揭示之方法的效率及經 濟性。- 本發明可於包括KF2及Ah且該等雜質之初始濃度存在 變化之物流上實施。例如,可將本發明實施於其中N2F,及 KF4以高達1〇,〇〇〇 ppm_莫耳濃度之濃度存在之第一混合 92626.doc 14 200427629 物。然而,第—混合物中該邮及該吼之濃度最好低於 5,〇〇〇 ΡΡΓΏ-莫耳濃度,更佳低於2,麵ppm-莫耳濃度。當N2F2 之初始濃度較高時,本發明可與用於自包括^^;之物流中移 除%F2之已知方法組合而得以便利地實施。例如,在實施 本毛月之4可藉由使該侧餾份物流通過由微粒金屬組成或 填塞有固態氟化物之加熱區進行分解且由此降低該之 濃度來處理包括仏卜及比匕之第一混合物。 實例 為測定蒸餾中任何給定的兩種化合物之相對揮發度,ρΤχ 方法受到青睞。在該程序中,於恒溫下對已知容積之單元 内用於該兩種化合物之不同組合物的總絕對壓力進行量 測。在,’Phase Equilibrium in pr0cess Design”,Wiley-Interscience
Publisher ’ 1970年,Harold R· Null著,第 124至第 126頁中對 PTx程序作了更詳細描述;該案之全文以引用的方式併入本 文中。 藉由使用諸如非隨機雙液相(NRTL)方程式之活性係數方 程式模型以表示液相非理想性可將該等量測結果轉化成該 PTx單元内之平衡氣相及液相組合物。在,,The pr〇perties 〇f
Gases and Liquids,’,第四版,McGraw Hill 出版,Reid、 Pransnitz 及 Poling 著,第 241 及第 387 頁上及"Phase Equilibria in Chemical Engineering1' 5 Butterworth Publishers 出版,1985年,Stanley M· Walas著,第165至第244頁中對 諸如該NRTL方程式之活性係數方程式的應用作了更詳細 描述;先前所識別之各參照案的全文以引用的方式併入本 92626.doc -15- 200427629 文中。 任何心或說明之限制,據信魏tl方程式連同 3否奋{貝科—起即足以預測本文所述化合物之組合物 疋否會以理想之古 w ,方式運轉’且足以預測蒸館過程中該等混 口物中之組份的相對揮發度。 提供以下實例以說明本發明 本發明之範圍。以…:田 μ樣’且不希望限制 U下貝例使用以上所識別之該等NRTL方程 實例中,各塔級均係基於歸。運行效率或執行 1 以總塔級包含冷凝11及再“,㈣冷凝器作為 第一級:且以該A、、ft 口口、A 4田〜 丈口口作马 ' 為最兩編號級。在以下實例中, 以磅(重量)/小時(h)來 、 )木、、口出机動速率;以攝氏溫度 表不溫度;以磅/平方英吋 1 )木 卞万夬f乡巴對壓力(psia)來表 耳百分比(莫耳%)或十俜 刀,以莫 來表示物流濃度。^ 、耳(卯_或__莫耳濃度) 對照實例1 在該對照實例中,將包括nf 肝〇括NF3及作為雜質之N2iv順、 反與N2F4之NF3粗原料流送在 、^ 牡衣1所不之條件下運行的Y 餾塔。原料流中N2F2-順、N F g η 的〇 2順N2F2_反及ΚΙ之該等濃度各Α l,〇〇〇PPm-莫耳濃度。運行爷 杏 辰度各為 磲仃4對妝貫例中之該塔以 :作=则物之叫同時回收作為塔底液之該二
92626.doc 貝。5亥条德之結果表1中。 200427629 塔頂溫度(°c) -75 -75 -75 回流溫度(c) -75 -75 -75 餾出物溫度(°c) -75 -75 -75 底液溫度(°c) -51 -66 -72 粗原料溫度(°c) -60 -60 -60 塔頂壓力(磅/平方英吋絕對壓力) 215 215 215 冷凝器壓力(磅/平方英吋絕對壓力) 215 215 215 底液壓力(磅/平方英吋絕對壓力) 217 217 217 塔頂餾出物流出速率(磅/小時) 99.65 99.20 97.20 回流速率(磅/小時) 2000.00 2000.00 2000.00 底液流出速率(磅/小時) 0.35 0.80 2.80 粗NF3原料 nf3(磅/小時) 99.70 99.70 99.70 n2f2-順(磅/小時) 0.10 0.10 0.10 N2F2-反(碎/小時) 0.10 0.10 0.10 N2F4(磅/小時) 0.10 0.10 0.10 塔頂餾出物流出 nf3(磅/小時) 99.65 99.20 97.20 N2F2-順(碎/小時) 0.00000 0Ό0000 0.00000 N2Fr反(磅/小時) 0Ό0000 0.00000 0.00000 nf3塔頂餾出產物組份 N2F2-順(PPB-莫耳濃度) 0.001 0.000 0.000 N2F2-反(PPB-莫耳濃度) 8.809 0.991 0.356 總進口 (PPB-莫耳濃度) 8.810 0.991 0.356 NF3(莫耳%) 100.000 100.000 100.000 底液流出 nf3(磅/小時) 0.0500 0.5000 2.5000 N2F2-順(碌/小時) 0.1000 0.1000 0.1000 N2F2-反(碎/小時) 0.1000 0.1000 0.1000 n2f4(磅/小時) 0.1000 0.1000 0.1000 最大内部濃度及其所在之塔級 N2F2-順(莫耳%) 32.6000 13.7000 3.8600 92626.doc -17- 200427629 最大N2Fr順板數NO. 41 42 42 N2Fr反(莫耳%) 36.7000 13.7000 3.8600 最大N2Fr反板數NO. 41 42 42 N2F4(莫耳 %) 20.5000 8.7100 2.4500 最大N2F4板數NO. 42 42 42 塔直徑(英吋) 8 8 8 在表1所示之條件下,N2F2-順、N2F2-反及N2F4中之每一 種之最大濃度點大約在塔級41及42,且更具體而言大約在 該再沸器處或該蒸餾塔之底液餾份處。提高底液流出速率 及改變再沸器溫度不會改變該最大濃度點。 對照實例2 在該對照實例中,將包括NF3及六氟乙烷(PFC-116)及作 為雜質之N2F2-順、N2F2-反與N2F4之粗NF3原料流送至在表2 所示之條件下運行的蒸餾塔。原料流中N2F2-順、N2F2-反及 N2F4之濃度各為1000 ppm-莫耳濃度。運行該對照實例中之 該塔以自該塔移除作為塔頂餾出物之該NF3,同時回收作為 塔底液之該等雜質。在該對照實例中,未有材料係作為側 餾份物流而加以移除。該蒸餾之結果顯示於表2中。 表2 編號 4 5 6 塔板數# 42 42 42 粗原料板數 30 30 30 氣相侧餾份板數 35 35 35 塔頂溫度(°C) -75 -75 -75 回流溫度(°C) -75 -75 -75 餾出物溫度(°c) -75 - 75 -75 底液溫度(°c) -9 -11 -17 粗原料溫度(C) -60 -60 -60 92626.doc 18 200427629 塔頂壓力(磅/平方英吋絕對壓力) 215 215 215 冷凝器壓力(磅/平方英吋絕對壓力) 215 215 215 底液壓力(磅/平方英吋絕對壓力) 217 217 217 塔頂餾出物流出速率(磅/小時) 99.65 99.20 97.20 回流速率(磅/小時) 2000.00 2000.00 2000.00 底液流出速率(磅/小時) 50.35 50.80 52.80 氣相側餾份速率(磅/小時) 0.00 0.00 0.00 粗~。原料 nf3(磅/小時) 99.70 99.70 99.70 F116(磅/小時) 50.00 50.00 50.00 N2F2-順(磅/小時) 0.10 0.10 0.10 N2F2-反(碎^/小時) 0.10 0.10 0.10 N2F4(磅/小時) 0.10 0.10 0.10 塔頂餾出物流出 nf3(磅/小時) 99.65 99.20 97.20 n2f2-順(磅/小時) 0.00000 0.00000 0.00000 N2F2-反(碎/小時) 0.00005 0.00000 0.00000 nf3塔頂餾出產物組份 N2F2-順(PPB-莫耳濃度) 0.251 0.005 0.001 N2F2-反(PPB-莫耳濃度) 574.047 23.133 2.585 總進口 (PPB-莫耳濃度) 574.298 23.139 2.586 NF3(莫耳%) 100.000 100.000 100.000 底液流出 nf3(磅/小時) 0.0500 0.5000 2.5000 F116(磅/小時) 50.0000 50.0000 50.0000 N2F2-順(磅/小時) 0.0997 0.1000 0.1000 N2F2··反(碎*/’]、時) 0.0994 0.0999 0.1000 N2F4(磅/小時) 0.1000 0.1000 0.1000 塔側餾份 NF3(碎/小時) 0.0000 0.0000 0.0000 F116(磅/小時) 0.0000 0.0000 0.0000 92626.doc -19- 200427629 N2Fr順(磅/小時) 0.0000 0.0000 0.0000 N2F2-反(碎/小時) 0.0000 0·0000 0.0000 N2F4(磅/小時) 0.0000 0.0000 0.0000 最大内部濃度及其所在之塔級 N2F2-順(莫耳%) 36.2000 17.7000 4.8500 最大N2Fr順板數NO. 37 38 39 N2Fr反(莫耳%) 42.1000 19.6000 5.5700 最大N2Fr反板數NO. 34 37 39 1^^4(莫耳%) 0.3380 0.3050 0.2460 最大N2F4板數NO. 40 40 41 塔直徑(英吋) 8 8 8 與對照實例1相比,該對照實例中PFC-11 6之存在使得各 N2F2-順、N2F2-反及N2F4之最大濃度點出現在該蒸餾塔之較 高點。在無側餾份物流之情況下,各雜質之塔内濃度顯著 提高(在某一情況下高達42.1莫耳%),而後該等雜質出現在 該底液物流中且可自該塔中移除。 實例1 除了在塔級3 5自蒸餾塔中移除了 4磅/小時之侧餾份以 外,該實例與對照實例1完全相同。該蒸餾之結果顯示於表 3中0 表3 編號 7 8 9 塔板數# 42 42 42 粗原料板數 30 30 30 氣相側餾份板數 35 35 35 塔頂溫度(°C) -75 -75 -75 回流溫度(C) -75 -75 -75 餾出物溫度(°c) -75 75 -75 底液溫度(°c) -8 -10 -17 92626.doc -20- 200427629 粗nf3原料溫度(°c) -60 -60 -60 塔頂壓力(磅/平方英吋絕對壓力) 214.7 214.7 214.7 冷凝器壓力(磅/平方英吋絕對壓力) 214.7 214.7 214.7 底液壓力(磅/平方英吋絕對壓力·) 216.7 216.7. 216.7 塔頂鶴出物流出速率(碎/小時) 96.11 95.38 93.26 回流速率(磅/小時) 2000.00 2000.00 2000.00 底液流出速率(磅/小時) 49.89 50.62 52.74 氣相側餾份速率(磅/小時) 4.00 4.00 4.00 粗NF3原料 nf3(磅/小時) 99.70 99.70 99.70 F116(磅/小時) 50.00 50.00 50.00 N2F2-順(碎/小時) 0.10 0.10 0.10 N2F2*·反(碎/小時) 0.10 0.10 0.10 n2f4(磅/小時) 0.10 0.10 0.10 塔頂餾出物流出 nf3(碎/小時) 96.11 95.38 93.26 N2F2-順(碎/小時) 0·00000 0.00000 0.00000 N2F2-反(磅/小時) 0.00000 0.00000 0.00000 nf3塔頂餾出產物組份 N2F2-順(PPB-莫耳濃度) 0.004 0.002 0.000 N2F2-反(PEB-莫耳濃度) 7.405 5.271 1.841 總進口 (PPB-莫耳濃度) 7.408 5.273 1.842 NF3(莫耳%) 100.000 100.000 100.000 底液流出 NF3(磅/小時) 0.0500 0.5000 2.5000 F116(磅/小時) 49.7380 49.9710 49.9810 N2F2-順(碎/小時) 0.0006 0.0313 0.0893 N2F2-反(碎V小時) 0Ό006 0.0183 0.0719 N2F4(磅/小時) 0.0983 0.1000 0.1000 塔側餾份 nf3(磅/小時) 3.5377 3.8202 3.9418 92626.doc -21 - 200427629 F116(磅/小時) 0.2618 0.0294 0.0194 n2f2-順(磅/小時) 0.0994 0.0687 0.0107 N2F2-反(磅/小時) 0.0994 0.0817 0.0281 N2F4(磅/小時) ’ 0.0017 0.0000 0.0000 最大内部濃度及其所在之塔級 N2F2-順(莫耳%) 3.5100 9.2100 4.4800 最大N2Fr順板數NO. 35 37 39 N2F2-反(莫耳%) 2.9000 5.8900 4.1200 最大N2F2-反板數NO. 35 37 39 N2F4(莫耳 %) 0.4650 0.3230 0.2470 最大N2F4板數NO. 37 40 41 塔直徑(英吋) 8 8 8 該實例表明如何使用側餾份物流自該塔移除n2f2-順、 N2F2-反及N2F4,且由此降低各雜質所發展之濃度。雖然各 雜質之最大濃度點仍處於比對照實例1中更高之點,但與對 照實例2相比,N2F2-順及N2F2-反之最大濃度已顯著降低。 對照實例3 在該對照實例中,將包括NF3及六氟乙烷(PFC-116)及作 為雜質之N2F2-順、N2F2-反與N2F4之粗NF3原料流送至在表4 所示之條件下運行的蒸餾塔。原料流中N2F2-順、N2F2-反及 N2F4之濃度各為1,000 ppm-莫耳濃度。PFC-116之饋入速率 為5000磅/小時。運行該實例中之該塔以自該塔中移除作為 塔頂餾出物之該NF3,同時回收作為塔底液之該等雜質。在 該對照實例中,未有原料係作為側餾份物流而加以移除。 該蒸餾之結果顯示於表4中。 92626.doc -22- 200427629 表4 編號 10 11 12 塔板數# 42 42 42 粗原料級 30 30 30 氣相側餾份級 35 35 35 塔頂溫度(°C) -75 -75 -75 回流溫度(°C) -75 -75 -75 餾出物溫度(°c) -75 -75 -75 底液溫度(°c) -8 -8 -8 粗原料溫度(C) -60 -60 -60 塔頂壓力(磅/平方英吋絕對壓力) 214.7 214.7 214.7 冷凝器壓力(磅/平方英吋絕對壓力) 214.7 214.7 214.7 底液壓力(磅/平方英吋絕對壓力) 216.7 216.7 216.7 塔頂餾出物流出速率(磅/小時) 99.83 99.20 97.19 回流速率(碌/小時) 5000.00 5000.00 5000.00 底液流出速率(磅/小時) 5000.12 5000.75 5002.76 氣相側餾份速率(磅/小時) 0.00 0.00 0.00 粗NF3原料 nf3(碎/小時) 99.70 99.70 99.70 F116(磅/小時) 5000.00 5000.00 5000.00 N2F2df、(磅/ 小時) 0.10 0.10 0.10 N2F2-反(碎/小時) 0.10 0.10 0.10 n2f4(磅/小時) 0.10 0.10 0.10 塔頂餾出物流出 nf3(磅/小時) 99.65 99.2 97.19 F116(磅/小時) 0.00000 0.00000 (100000 N2F2JII (磅/小時) 0.08330 0.00000 0.00000 N2F2-反(磅/小時) 0.09940 0.00044 0扁04 nf3塔頂餾出產物組份 F116(PPB-莫耳濃度) 3.232 0·000 0.000 92626.doc -23- 200427629 N2Frm(PPB-莫耳濃度) 897199.403 17.664 0.862 Ν#2_反(PPB-莫耳濃度) 1070901.558 4752.819 435.402 總進口 (ΡΡΒ-莫耳濃度) 1968104.193 4770.483 436.264 NF3(莫耳%) 99.803 10(λ000 100.000 底液流出 nf3(磅/小時) 0.05Qg一 0.5000 2.5000 F116(磅/小時) 4999.9490 4999.9550 4999.9640 N2F2-順(碎/小時) 0.016主一 0.0985 0.0987 N2F2-反(碎/小時) 0.0006__ 0.0989 0.0993 n2f4(磅/小時) 0.10〇〇_ 0.1000 0.1000 塔側餾份 nf3(磅/小時) 〇.〇〇〇〇__ 0.0000 0.0000 F116(磅/小時) 〇.〇〇〇〇 0.0000 0.0000 N2F2-順(磅/小時) 〇.〇〇〇〇_ 0.0000 0.0000 N2F2-反(碎/小時) 〇.〇〇〇〇_ 0.0000 0.0000 n2f4(磅/小時) 0.0000^ 「0·0000 0.0000 最大内部濃度及其所在之塔級 N2F2-順(莫耳%) 86.200立一 40.2000 17.5000 最大N2F2-順板數NO. 22 28 29 N2Fr反(莫耳%) 6.88〇〇__ 30.9000 15.3000 最大N2Fr反板數NO. 12一 26 28 N2F4(莫耳 %) 0.0041__ 0.0039 0.0037 最大N2F4板數NO. 36 37 塔直徑(英吋) —8 ^ 8 8 在該對照實例中,粗原料流中相對於NFs的饋入速率之 F116的饋入速率相當於在無侧餾份的汽提塔中之?116的饋 入速率,該汽提塔在提取蒸餾塔之後使用11 6作為提取劑。 與對照實例2相比之增加的PFC-116饋入使得N2Fr順、Νβ2--反及N2F4中之每一種之最大濃度點更進一步沿蒸餾塔上 移,且使得N2F2-順及N2F2-反之塔内最大農度與對照實例2 92626.doc -24- 200427629 相比出現了實質性增加。該等因素經組合引起了該塔餾出 物中的NF3產物中之N2F2-順、N2F2-反及N2F4中的每一種之 濃度的顯著上升。 實例2 除了存在1 0磅/小時之側餾份且塔板數由42增加至62以 外,該實例與對照實例3完全相同。該蒸餾之結果顯示於表 5中。 表5 編號 13 14 15 塔板數# 62 62 62 粗原料級- 45 45 45 氣相側餾份級 50 50 50 塔頂溫度(°C) -75 -75 -75 回流溫度(°C) -75 -75 -75 餾出物溫度(°c) -75 -75 -75 底液溫度(°c) -8 -8 -8 粗nf3原料溫度(°c) -60 -60 -60 塔頂壓力(磅/平方英吋絕對壓力) 215 215 215 冷凝器壓力(碎/平方英吋絕對壓力) 215 215 215 底液壓力(碌/平方英吋絕對壓力) 217 217 217 塔頂餾出物流出速率(磅/小時) 98.86 94.53 89.98 回流速率(磅/小時) 5000.00 5000.00 5000.00 底液流出速率(磅/小時) 4991.14 4995.47 5000,02 氣相側餾份速率(磅/小時) 10.00 10.00 10.00 粗NF3原料 nf3(磅/小時) 99.70 99.70 99.70 F116(磅/小時) 5000.00 5000,00 5000.00 n2f2-順(磅/小時) 0.10 0.10 0.10 N2Fr& (磅/小時) 0.10 0.10 0.10 92626.doc -25 - 200427629 N2F4(磅/小時) 0.10 0.10 0.10 塔頂餾出物流出 nf3(磅/小時) 98.86000 94.53000 89.98000 N2Fr順(磅/小時) 0.00000 0.00000 0.00000 N2F2-反(磅/小時) 0.00000 0.00000 0.00000 nf3塔頂餾出產物組份 N2F2-順(PPB-莫耳濃度) 0.000 0.000 0.000 N2Fr反(PPB-莫耳濃度) 0.496 0.048 0.024 總進口 (PPB-莫耳濃度) 0.496 0.048 0.024 NF3(莫耳%) 100 100 100 底液流出 NF3(磅/小時) 0.0500 0.5000 2.5000 卩116(磅/小-時) 4990.9880 4994.8650 4997.4100 N2F2-順(磅/小時) 0.0005 0.0007 0.0034 N2F2-反(碎/小時) 0.0016 0.0016 0.0044 N2F4(磅/小時) 0.0996 0.0998 0.0999 塔側餾份 nf3(磅/小時) 0.7902 4.6670 7.2175 F116(磅/小時) 9.0115 5.1351 2.5903 N2F2-順(磅/小時) 0.0995 0.0993 0.0966 N2F2-反(碎/小時) 0.0984 0.0984 0.0956 n2f4(磅/小時) 0.0004 0.0002 0.0001 最大内部濃度及其所在之塔級 N2Fr順(莫耳%) 13.8000 1.8700 0.9480 隶大N2F 2-順板數NO. 44 44 44 n2f2-反(莫耳 °/〇) 19.9000 3.5000 1.9100 最大N2Fr反板數NO. 43 44 44 N2F4(莫耳 %) 0.0042 0.0040 0.0037 最大N2F4板數NO. 52 55 56 塔直徑(英吋) 8 8 8 該實例表明如何使用側餾份物流自該塔中移除n2f2- 92626.doc -26- 200427629 順、N2F2-反及N2F4,且由此降低各雜質所發展之濃度。增 加之塔級與側餾份之組合亦使吾人能夠獲得作為塔餾出物 之大體上不含雜質的NF3。 對照實例4 在該對照實例中,將包括nf3及作為雜質之n2f2-順、n2f2-反與N2F4之粗NF3原料流送至在表6所示之條件下運行的蒸 餾塔。原料流中N2F2-順、N2F2-反及N2F4之濃度各為1,000 ppm-莫耳濃度。在編號1 5中,無額外高沸點化合物饋入。 在編號1 6、17、1 8、19及20中,亦分別將額外高沸點化合 物 PFC-116、HCFC-22、HFC-23、HFC-3 2及 HFC-125 送至該 塔之粗NF3原料流中。運行該對照實例中之該塔以自該塔中 移除作為塔頂餾出物之該nf3,同時回收作為塔底液之該等 雜質。在該對照實例中,未有原料係作為側餾份物流而加 以移除。該蒸餾之結果顯示於表6中。 表6 編號 15 16 17 18 19 20 高沸點化合物 無 PFC-116 HCFC-22 HFC-23 HFC-32 HFC-125 塔板數# 42 42 42 42 42 42 粗原料級 30 30 30 30 30 30 氣相側餾份級 35 35 35 35 35 35 塔頂溫度(°C) -75 -75 -75 -75 -75 -75 回流溫度(°c) -75 -75 -75 -75 -75 -75 餾出物溫度(°c) -75 -75 -75 -75 -75 -75 底液溫度(°c) -51 -9 36 -19 18 26 粗原料溫度(C) -60 -60 -60 -60 -60 -60 塔頂壓力(磅/平方 英吋絕對壓力) 215 215 215 215 215 215 92626.doc -27- 200427629 冷凝器壓力(磅/平 方英吋絕對壓力) 215 215 215 215 215 215 底液壓力(磅/平方 英吋絕對壓力) 217 217 217 217 217 217 土合頂鶴出物流出速 率(碎/小時) 99.65 99.65 99.65 99.65 99.65 99.65 回流速率(磅/小時) 2000.00 2000.00 2000.00 2000.00 2000.00 2000.00 底液流出速率(磅/ 小時) 0.35 50.35 50.35 50.35 50.35 50.35 氣相側餾份速率 (磅/小時) 0.00 0·00 0.00 0.00 0.00 0.00 粗NF3原料 nf3(磅/小時) 99.70 99.70 99.70 99.70 99.70 99.70 高沸點化合物(磅/ 小時) - 50.00 50.00 50.00 50.00 50.00 N2F2-順(碎/小時) 0.10 0.10 0.10 0.10 0.10 0.10 N2F2-反(碎/小時) 0.10 0.10 0.10 0.10 0.10 0.10 N2F4(磅/小時) 0.10 0.10 0.10 0.10 0.10 0.10 塔頂餾出物流出 NF3(磅/小時) 99.65 99.65 99.65 99.65 99.65 99.65 N2F2-順(碎/小時) 0.00000 0.00000 0.00000 0.00000 (Χ00000 0.00000 N2Fr«反(磅/小時) 0.00000 0.00005 0.00000 0Ό0000 0.00000 0.00000 高沸點化合物(磅/ 小時) 0.00000 0.00000 0·00000 αοοοοο 0.00000 nf3塔頂餾出產物 組份 N2F2-順(PPB-莫耳 濃度) 0.001 0.251 0.004 0.009 0.004 0·007 N2Fr反(PPB-莫耳 濃度) 8.809 574.047 17.943 35.429 16.086 24.168 高沸點化合物 (PPB-莫耳濃度) 0.000 0.000 28.205 0.000 0.000 總進口(PPB-莫耳 濃度) 8.810 574.298 17.947 63.644 16.090 24.175 NF3(莫耳%) 100.000 100.000 ιοαοοο 100.000 100.000 100.000
92626.doc -28 - 200427629 底液流出 nf3(磅/小時) 0.0500 0.0500 0.0500 0.0500 0.0500 0.0500 高沸點化合物(碎/ 小時) 50.0000 50.0000 50.0000 50.0000 50.0000 N2Fr順(磅/小時) 0.1000 0.0997 0.1000 0.0999 0.0999 0.0999 N2F2-反(碌/小時) 0.1000 0.0994 0.0999 0.0998 0.0999 0.0999 N2F4(磅/小時) 0.1000 0.1000 0.1000 0.1000 0.1000 0.1000 塔側餾份 nf3(磅/小時) 0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 高沸點化合物(磅/ 小時) 0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 N2F2-順(碎/小時) 0.0000 (10000 0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 N2F2-反(镑/小時) 0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 n2f4(磅/小時) 0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 0.0000 最大内部濃度及其所在之塔級 N2F2-順(莫耳%) 32.6000 36.2000 32.7000 20.8000 31.6000 32.8000 最大N2F2-順板數 NO. 41 37 39 37 39 38 N2F2-反(莫耳%) 36.7000 42.1000 30.0000 24.6000 29.2000 28.8000 最大N2Fr反板數 NO. 41 34 39 37 39 38 N2F4(莫耳 %) 20.5000 0.3380 2.1500 0.1530 1.6300 1.0900 最大N2F4板數NO. 42 40 40 40 40 39 塔直徑(英吋) 8 8 8 8 8 8 與其中未饋入額外高沸點化合物之表6的編號1 5相比,表 6之編號16至編號20中該等高沸點化合物之存在使得N2F2-順、N2F2-反及N2F4中之每一種之最大濃度點出現於該蒸餾 塔之較高點上。 實例3 除了存在4磅/小時之側餾份以外,該實例與對照實例4之 編號16至編號20完全相同。該蒸餾之結果可見於表7。 92626.doc -29- 200427629 表7 編號 21 22 23 24 25 高沸點化合物 PFC-116 HCFC- 22 HFC-23 HFC-32 HFC-125 塔板數# 42 42 42 42 42 粗原料級 30 30 30 30 30 氣相側顧份級 35 35 35 35 35 塔頂溫度(°C) -75 -75 -75 -75 -75 回流溫度ΓΟ -75 -75 -75 -75 -75 餾出物溫度(°c) -75 -75 -75 -75 -75 底液溫度(°c) -8 37 -18 19 27 粗原料溫度(C) -60 -60 -60 -60 -60 塔頂壓力(磅/平方英吋絕 對壓力) 215 215 215 215 215 冷凝器壓力(磅/平方英吋 絕對壓力) 215 215 215 215 215 底液壓力(磅/平方英吋絕 對壓力) 217 217 217 217 217 塔頂餾出物流出速率(磅/ 小時) 96.11 95.80 95.98 95.82 95.81 回流速率(磅/小時) 2000.00 2000.00 2000.00 2000.00 2000.00 底液流出速率(磅/小時) 49.89 50.20 50.02 50.18 50.19 氣相側餾份速率(磅/小時) 4.00 4.00 4.00 4.00 4.00 粗NF3原料 NF3(碎/小時) 99.70 99.70 99.70 99.70 99.70 高沸點化合物(磅/小時) 50.00 50.00 50.00 50.00 0.10 N2F2-順(碎/小時) 0.10 0.10 0.10 0.10 0.10 N2F2-反(镑/小時) 0.10 0.10 0.10 0.10 0.10 n2f4(磅/小時) 0.10 0.10 0.10 0.10 50.00- 塔頂顧出物流出 NF3(磅/小時) 96.11 95.80 95.98 95.82 95.81 N2F2-順(磅/小時) 0.00000 0.00000 0.00000 0.00000 0.00000 92626.doc -30- 200427629 n2f2-反(磅/小時) 0.00000 0.00000 0.00000 0.00000 0.00000 高沸點化合物(磅/小時) 0.00000 0.00000 0.00000 0.00000 0.00000 nf3塔頂餾出產物組份 N2F2-順(PPB-莫耳濃度) 0.004 0.002 0.002 0.001 0.002 N2F2-反(PPB-莫耳濃度) 7.405 4.346 5.038 3.908 4.556 高沸點化合物(PPB-莫耳 濃度) 0.000 0.000 25.613 0.000 0·000 總進口 (PPB-莫耳濃度) 7.408 4.347 30.654 3.910 4.558 娜3(莫耳%) 100.000 100.000 100.000 100.000 100.000 底液流出 NF3(碎/小時) 0.0500 0.0500 0.0500 0.0500 0.0500 高沸點化合物(磅/小時) 49.7380 49.9870 49.8360 49.9550 49.9900 N2Fr〗^ (磅/小時) 0.0006 0.0408 0.0219 0.0479 0.0283 N2F2-反(碎/小時) 0.0006 0.0226 0.0125 0.0263 0.0178 n2f4(磅/小時) 0.0983 0.1000 0.1000 0.1000 0.0999 塔側餾份 NF3(碎/小時) 3.5377 3,8505 3.6700 3.8290 3.8360 高沸點化合物(磅/小時) 0.2618 0.0129 0.1643 0.0452 0.0100 N2Fr順(磅/小時) 0.0994 0.0592 0.0781 0.0521 0.0717 N2F2-反(碎/小時) 0.0994 0.0774 0.0875 0.0737 0.0822 N2F4(磅/小時) 0.0017 0.0000 0.0000 0.0000 0.0001 最大内部濃度及其所在之塔級 N2F2-順(莫耳%) 3.5100 25.8000 9.5100 25.2000 19.3000 最大N2F2-順板數NO. 35 39 37 39 38 N2Fr反(莫耳%) 2.9000 12.6000 5.8700 13.1000 9.9200 最大N2F2-反板數NO. 35 39 37 39 38 N2F4(莫耳 %) 0.4650 2.6800 0.1650 2.0100 1.8800 最大N2F4板數NO. 37 40 39 40 39 塔直徑(英吋) 8 8 8 8 8 該實例表明如何使用側餾份物流自該塔中移除n2f2-順、n2f2-反及n2f4,且由此降低各雜質所發展之濃度。其 中添加了高沸點化合物之編號1 6至編號25中各雜質之最大 濃度點雖然仍處於比其中未添加高沸點化合物之編號1 5更 92626.doc -31 - 200427629 高之點上,但與對照實例4中各編號之各高沸點化合物相 比,N2F2-順及N2F2-反之最大濃度顯著降低。 【圖式簡單說明】 圖1為可用於實施本方法之一態樣的蒸餾系統之示意圖。 圖2為可用於實施本方法之一態樣的蒸餾系統之示意圖。 【主要元件符號說明】 1 管道 2 蒸餾塔 3 管道 4 管道 5 冷凝器 6 回流 7 管道 8 側餾份 9 管道 10 管道 11 蒸餾塔 12 管道 13 管道 14 冷凝器 15 回流 16 管道 - 17 管道 18 冷卻器 92626.doc -32- 200427629 19 蒸餾塔 20 管道 21 冷凝器 22 管道 23 管道 24 蒸餾塔側餾份 25 蒸餾塔底液 26 冷卻器 92626.doc

Claims (1)

  1. )29 、申請專利範圍: 一種用於包括三氟介务 一鼠及選自由二氟化二氮及四氟化二 鼠組成之群之至少—種雜質的第^合物中降低該至少 -種雜質濃度之方法,該方法包括: (a) 在具有比三氟仆 如 鼠更向之常壓沸點的化合物存在 下’在一蒸餾塔中蒸餾該第-混合物; (b) 在該蒸|留塔之頂 、 底立而之間的一點處,自該蒸德 塔中移除包括該至少-種雜質之第二混合物; ()/‘.、、ϋ &之底端來移除包括具有比三氟化氣更高 之常壓沸點的該化合物之第三混合物;及 ⑷自及瘵餾塔之頂端來移除具有該至少一種雜質的降 低濃度之三氟化氮產物。 2. 士申哨專利範圍第!項之方法,其中在該蒸餾步驟中,在 引入該第一混合物之該蒸餾塔的點上方之一點處,將具 有比一氟化氮更咼之常壓沸點的該液相化合物引入該蒸 餾塔。 、 3 ·如申°月專利&圍第1項之方法,其中該第一混合物包括高 達母百萬分為5,〇〇〇莫耳濃度的該至少一種雜質。 4·如申明專利範圍第1項之方法,其中具有比三氟化氮更高 之常壓、/弗點的該化合物具有-90°C至-2(TC之常壓沸點。 5.如申請專利範圍第4項之方法,其中具有比三氟化氮更高 之#壓/弗點的該化合物為由下列各物組成之群中選出之 至少一種化合物:烴、氫氟碳、氫氣氟碳、氫氯碳、全 氟化碳、有機氧化物及無機氧化物。 92626.doc 200427629 6.如申請專利範圍第5項之方法,其 ^ ^ /、百比二氟化氮更咼 之吊反沸點的該化合物為由 j ^物組成之群中選出之 至y 種化合物:乙烧、丙、 — 丙烯、氟代甲烷、二氟 甲烷、氟代乙烷、^ # ^ ^ L —鼠乙烷五鼠乙烷、氯二氟f 烷、虱代T烷、六氟乙烷、一氧 甘〆虱化一虱、二氧化碳、羰 基亂化物及三氟乙醯基氟化物。 7·如申請專利範圍第5項之方夺,i由巨士 方法其中具有比三氟化氮更高 之雨㈣點的該化合物為由下列各物組成之群中選出之 至Γ種化合物:氣代甲貌、二氣甲烧、氣代乙燒、氯 一氟甲烧及一氧化二氮。 8 ·如申凊專利範圍第5項之太、、土 甘rb曰^· 身 胃之方法,其中具有比三氟化氮更高 之常壓沸點的該化合物為一氧化二氮。 9.如申請專利範圍第㈣之方法,其中在該蒸餘步驟中該第 一蒸餾塔之頂端的溫度為-9(TC至-50t:。 1〇·如申請專利範圍第巧之方法,其中該第二混合物自該蒸 t塔之該移除足以將該蒸鶴塔中該至少—種雜質之最大 濃度保持在2,〇〇〇ppm_莫耳濃度以下。 11 ·如申明專利犯圍第i項之方法,其中該蒸餘塔之頂端及底 端之間的該點位於該蒸餘塔中理論總板數之底端50%内。 12.如申请專利範圍第旧之方法,其中該蒸鶴塔之頂端及底 端之間的该點位於該蒸错塔中理論總板數之底端内。 13·如申請專利範圍第以之方法,其中該三氟化氮產物含有 低於每百萬分為〇· i莫耳濃度的該至少一種雜質。 14· -種用於包括三氟化氮及至少—種選自由二氣化二氣及 92626.doc 200427629 四氟化二氮組成之群之雜質的第一混合物中降低該至少 一種雜質濃度之方法,該方法包括: (a) 在一氧化二氮之存在下,於蒸餾塔中蒸餾該第一混 合物; (b) 在該蒸餾塔之頂端及底端之間的一點處,自該蒸餾 塔移除包括該至少一種雜質之第二混合物; (0自該瘵餾塔之底端移除包括一氧化二氮的第三混合 物;及 (d)自忒瘵餾塔之頂端來移除具有該至少一種雜質之降 低濃度的三氟化氮產物。 15. 一種用於包括三氟化氮及至少一種選自由二氟化二氮及 四氟化二氮組成之群之雜質的第一混合物中降低該至少 一種雜質濃度之方法,該方法包括: (a) 在一氧化二氮之存在下,於蒸餾塔中蒸餾該第一混 合物; (b) 在该瘵餾塔之頂端及底端之間的一點上,自該蒸餾 塔移除包括該至少一種雜質之第二混合物; (c) 自該第二混合物中移除該至少一種雜質以形成第三 混合物,且將該第三混合物饋入該蒸餾塔; (d) 自該瘵餾塔之底端移除包括一氧化二氮的第四混合 物,及 (e) 自該蒸餾塔之頂端來移除具有該至少一種雜質之降 低澴度的三氟化氮產物。 92626.doc
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