TW199246B - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
TW199246B
TW199246B TW081104947A TW81104947A TW199246B TW 199246 B TW199246 B TW 199246B TW 081104947 A TW081104947 A TW 081104947A TW 81104947 A TW81104947 A TW 81104947A TW 199246 B TW199246 B TW 199246B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
gate
input
node
pull
output
Prior art date
Application number
TW081104947A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Advanced Micro Devices Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advanced Micro Devices Inc filed Critical Advanced Micro Devices Inc
Application granted granted Critical
Publication of TW199246B publication Critical patent/TW199246B/zh

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/04Modifications for accelerating switching
    • H03K17/041Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit
    • H03K17/0412Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit
    • H03K17/04123Modifications for accelerating switching without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit in field-effect transistor switches
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/06Modifications for ensuring a fully conducting state
    • H03K17/063Modifications for ensuring a fully conducting state in field-effect transistor switches

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Dram (AREA)

Description

Λ 6 Η 6 五、發明説明(3) 發明背景 經濟部屮央櫺準局κχ工消伢合作社印製 尤高 β 必容条載接 I, ί 邏 率有裝置有,的裝門 条 連有 ,較 份相得負連卩 高 拉動具道裝只置置道之 路有 部之使大括 ?*0於 上移其通道,裝裝通壓 電 , 作各需以動包Ϊ,装應 道質以Ρ-通間拉道Ν-電 體者S,所路驅路 對 通本。的Ν-之上通用極 積用 ,處如電求電 相Ρ-的多小 ,端作Ν-使閘 腥使 έ 面非衝要衝 生 ,置倍大性極用 ,。於 導知 Μ 介並缓當缓産 量裝二同導源披之壓低 半習 SS'壓份號出是出 5 之以 容道的相傳和置言電至 成於 — g部信輸像輸irao 置 動通置有大端裝換極拉 製之 S3 同之動,動αοβ 裝 驅 Ν 裝於較極道 c 電上 f 88 的 點節 所較增同不處驅合驅©*拉 高為道之的汲通器極能 術,自 ^ 的面和耦之 上HO有因通較它於N-耦閘僅 技作 Λ、、 統介面相此 1卩為VO要 ,ρ-置於,種隨的極 S 輔和 ΜΟ操立 糸於介份如 as 作位求代為裝由置此極它電 CM速 ί 希子,供部 ,”^置準要取^:道。裝當源着極 由快 電是提它地VD位裝壓上所it通性道。是耦源 Is1 I 關有 u? / 於可要其型位電道電用置 ίΝ 導通值同隨 , 有具出和。。需與典電應通出應裝Ob,傳P-抗如圔是 係之 要份合常能 。應供P-輸在道 m 率的的阻就企點 明良 裔部耦經份此供源 一高 ,通1C動倍等的用將缺 發改 „1 常同相 ,部如源電用的是N-ns移 二相小作極有 本種“ 經不此此 一 是電低 ,位可由Γ1大有於大的電僅 一輯 的彼因的即高於候準 已nt較 ,之半們極的 指邏 統須。統時於接時輯 裝(i之置較一他源置 (請先閲讀背而之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度遑用中8«家標準(CNS)T4規格(210X297公龙) 〇 81. 7. 20,000張(11) 199246 Λ 6 Π 6 經读部中央描準局CX工消许合作社印製 五、發明説明(4 ) 限電壓降。 於第1圖中,顯示了習知之源極隨耦器電路2,該電路 包括有Ν -通道上拉電晶體ΜΝ1。電晶體ΜΝ1的汲極,連接至 高源供應電位VDD,大約為+ 5.0V。電晶體ΜΝ1的閘極連接 至輸入節點4,以接收輸入控制信號ENHIGH。電晶體ΜΝ1的 源極連接至輸出節點6,以提供輸出。如通常所熟知的 CMOS數位積體電路,輸入控制信號ENHIGH,其正常邏輯準 位,為由低電源供應電位VSS所表示之(1)低或“0”邏輯 狀態,和由高電源供應電位VDD所表示之(2)高或“1”邏 輯狀態。低電源供應電位VSS通常連接至外部接地或0V。 因此,假如閘極電壓於節點4 ,限制操作於C Μ 0 S ( 0〜+ 5.0V)範圍内,那麼Ν-通道源極隨耦電路僅能上拉節點6之 輸出至+ 5.0V電壓減掉門限電壓VTn,大約為+ 3.5V。電壓 VTn為主體效應增強通道電晶體ΜΝ1之門限值,該門限電 歷傜相依於相關之加至基片電壓之源極電極的操作電壓而 可變化。 此門限電壓能藉由連接N -通道基片至源極電極而固定 。可是,此種技術僅能於CMOS技術中進行,於CMOS技術中 ,H -通道裝置與P -阱基片相隔離。應注意到假如希望連接 至TTL輸出邏輯準位,那麼習知之源極隨耦器電路2即十分 適用,因為節點6之輸出僅需上拉至大約+2.4V電壓。另一 方面,假如要求較高之輸出電壓準位,即CMOS邏輯準位 之0〜+ 5 · 0 V ,那麼就閘極電壓必須增加,或者門電壓必須 減少。因為裝置門限電壓之減少,將會在另一電路上産生 (請先閲讀背而之注意事項#填窍本頁) 本紙張尺度逍用中a Η家樣準(CNS) T4規格(210X297公釐) 4 81. 7. 20,000張(II) 199246 Λ 6 η 6 經濟部中央標準局员工消费合作社印製 五、發明説明(5 ) 反效果,因此通常不採用此過程。 於習知技蕤中,曾企圖利用第2圖中所示之閘極升壓 電路8來增加閘極電壓。該升壓電路8包括附加之第2Ν -通 道電晶體ΜΝ2。該電晶體ΜΝ2之閘極連接至高電源供應電位 VDD,和它的源極連接至輸入節點4,以接收輸入控制信號 ENHIGH。電晶體ΜΝ2的汲極連接至Ν -通道上拉電晶體ΜΝ1的 閘極(節點NUP)。自電容SC連接於閘極節點NUP和輸出節點 6之間。當信號Ε Ν Η I G Η出現(高邏輯準位),電晶體 Μ Ν 2於 輸入控制信號Ε Ν Η I G Η和閘極節點Ν ϋ Ρ之間提供隔離。 當輸入控制信號ENHIGH在做低至高之轉移時,電晶體 ΜΝ2不關掉,一直到輸人控制信號ENHIGH到逹大約+ 3.5V為 止,這是再由於主體效應門限的關傜。基於此點,當電晶 體ΜΝ1的源極電壓上升,自電容推升閘極節點HUP成較高, 此當升壓效應開始時實施。如此,此有大約+ 3.5V起始電 壓的自升壓電路8,於閘極節點NUP承受無益之供應電壓上 升,該節點N U P的電壓上升,實際上慢於提供至第1圖所示 之習知源極隨耦電路2閘極之輸入控制信號ENHIGH。因此, 當升壓電路8對應至高邏輯準位,將産生較高之最後輸出 電壓準位,而有較慢之操作速度。 因此希望能提供一種改良之自升壓電路,該自升壓電 路不僅提供較高之邏輯“1”輸出電壓準位,而且亦有較 快速之轉換度。本發明自升壓電路,較之第2圖之習知自 升壓電路,表現出如述之改良。 發明概要 (請先閲讀背而之注意事項#填寫本頁) 本紙51尺度边用中國Η家樣準(CNS)肀4規格(210X297公龙) 5 81. 7. 20,000¾ (11) 經濟部屮央標準局员工消费合作社印製 B 6 l99246 五、發明説明(6 ) 本發明之一目的為提供一種改良之自升壓電路,該自 升壓電路有相對簡單和經濟之製造和组合,而又能克服先 前技藝自升壓電路之缺點。 本發明之另一目的為提供一種CMOS自升壓電路,該自 升壓電路有較快之操作速度,和較之於習知使用者有較高 之邏輯“ 1 ”輸出電壓準位。 本發明之又一目的為提供一種CMOS自升壓電路,該自 升壓電路由第一上拉裝置,閘極裝置,自電容,第二上拉 裝置,和脈衝電路所形成。 按照這些目標和目的,本發明偽有關提供一種有較快 之操作速度,和對應至高邏輯狀態,有較高輸出電壓準位 之CMOS自升壓電路,該電路包括輸入節點,上拉N-通道電 晶體,自電容,N -通道閘電晶體,上拉P -通道電晶體, HAND邏輯閘,和延遲之件。該輸入即點接收擺動於對應至 低邏輯準位之低電源供應電位和對應至高邏輯準位之高電 源供應電位之間的輸入控制信號。該上拉N -通道電晶體之 汲極連接至高電源供應電位,而其閘極連接至閘極節點, 以及其源極連接至輸出節點。該自電容横跨連接上拉N -通 道電晶體的閘極和汲極。該N -通道閘控電晶體之汲極-源 極傳導路徑連接於閘極節點和輸入節點之間,和其閘極連 接至高電源供應電位。 上拉P -通道電晶體之源極連接至高電源供應電位,其 閘極連接至下拉節點,和其汲極連接至閘極節點。HAND邏 輯蘭有第一輸入,第二輸入,和輸出。該NAND邏輯閘之第 (請先閲讀背而之注意事項#塡寫本頁) 本紙5Jt尺度遑用中SH家《準(CNS)〒4規格(210X297公;《:) 6 81. 7. 20,000張⑻ 199246__ 五、發明説明(7 ) 一輸入連接至輸入節點,和NAND邏輯閘的輸出連接至下拉 和 點 節 〇 入號 输信 於制 接控 連入 互輸 相遲 件延明 元以説 遲,單 延間簡 。 之之 點入式 節輸圖 二 第 的 蘭 輯 邐 考完 參更 合夠 配能 之而 述 , 下明 由說 , 細 點詳 優之 和字 的數 目示 它指 其應 和對 些份: 這部中 之之其 明中 , 發圖解 本和瞭 式的 圖全 圖 意 ; 示圖 之意 路示 電之 器路 锅電 隨壓 極升 源自 之之 知知 習 習 為為 圖圖 1 2 第第 成 製 it 理- 原 造 榑 明 發 本 照 依 為 圖; 3 圖 第意 示 之 路 電 壓 升 自 (請先閲讀背而之注意事項再填寫本頁) 第第 4 5 形形 波波 之之 點點 同 同 不不 各各 於於 路路 電電 圖圖 1 2 第第 為為 圖圖 形 波 之 點 同 不 各 於 路 電 圖明 13說 第 - 圖例 6 施 第實 佳 較 增置 自裝 0S拉 CMi 之 一 成第 構括 理包 原10 明路 發電 本壓 照增 依自 S » ο 式CM 圖 〇 考圖 參意 細示 詳之 在10 現路 電 壓 經濟部中央櫺準局员工消t合作社印製 電 , 衝間 脈時 和換 . 轉 6 . 1 之 置速 裝快 拉 較 上供 二 提 第僅 , 不 SC路 容 電 電壓 自 增 . 自 4 -1 之 置明 裝發 控本 ms ο 8 » 1A 12路 於 應 對 使 以 性 導 傳 之位 高準 較壓 供電 提出 2 } 1 輸 置之 装高 拉較 上生 1 産 第位 於準 也輯 且邏 而高 ο 1 的 Η Γ Μ 它 體 , ο } V Μ 晶 ο 道電5. 通拉卜 Ν-上 之 〇 大量 較容 對動 D 相驅VD 個之位 一 高電 成較應 形有供 12Η1源 置Ξ m 裝Bi古问 晶a 1 S± ^ ^ 一豸連 第1,極 MH汲 體之 為 地 型 典 晶 霄 本紙張尺度边Λ中a國家標準(CHS) T4規格(2丨0X297公龙) 7 81. 7. 20,000¾ (II)
JL 99246 Λ 6 It 6 經濟部屮央標準局貝工消费合作社印製 五、發明説明(8 ) 源極連接至輸出節點2 0。電晶髏Μ N 1的閛極連接至通常指 稱為HUP之節點。自電容SC之一端連接至節點NUP(電晶體 MH1之閘極),和它的另一端連接至輸出節點20(電晶體 MN1的源極)。應注意到下拉裝置(未顯示)典型地連接於輸 出節點20和低電壓供應電位VSS之間。可是,為了清楚表 示之目的,下拉電晶體故意地予以省略,因為其並非靥於 本發明的一部份。 閘控裝置1 4為形成相對較小之N -通道Μ 0 S電晶體Μ N 2 , 該電晶體ΜΝ2之其中一傳導路徑電極連接至閘極節點NUP, 而其另一傳導路徑電極,連接至輸入節點22。該輸入節點 2 2接收輸人控制信號Ε Ν Η I G Η。電晶體Μ Ν 2的閘極,連接至 高電源供應電位V D D。 第二上拉裝置16形成一相對較小之Ρ-通道M0S電晶體 Μ Ρ 1 ,該電晶體Μ Ρ 1之大小相似於電晶體Μ Ν 2。電晶體Μ Ρ 1之 源極連接至高電源供應電位V D D ,和其汲極連接至閘極節 點N U Ρ。電晶體Μ Ρ 1之閘極連接至通常指稱為P D 1之下拉節 點。 脈衝電路18由第一,第二和第三反相器II〜13,和 NAND邏輯閘HD1所形成的延遲網路所組成。第一反相器I 1 之輸入於線路24連接至HAND邏輯閘ND1的第一輸入,以及 連接至輸入節點22,以接收輸入控制信號EHHIGH。控制信 號Ε Ν Η I G Η變化於邏輯“ 0 ”準位,其為實質地於低電源供 應電位或接地V S S ,和邏輯“ 1 ”準位,其為實質地於高電 源供應電位VDD之間。第二反相器12之輸入連接至第一反 (請先閲讀背而之注意事項再填寫本頁) 裝. 訂- 本紙張尺度逍用中a困家楳毕(CNS)T4規格(210X297公龙) 8 81. 7. 20,000張(II) 經濟部中央標準局员工消费合作社印!5i Λ 6 , Β 6ϊ. 9 9 2 4 ϋ 五、發明説明(9 ) 相器II之輸出,和它的輸出連接至第三反相器I 3的輸入 。第三反相器13的輸出,於線路26連接至HAND通轉閘 ND1之第二輸入。NAND通輯閘ND1之輸出亦連接至下拉節點 PD1 〇 第3圖之CMOS自增壓電路之上拉操作作用,現將參照 第6圖的波形來作說明。首先,假定輸入控制信號ENHIGH 於時間是在低邏輯準位,和上拉霣晶體MN1和MP1二者 關閉。結果,於輸出節點20之輸出信號將在低逸輯準位。 於時間t 0 ,以控制信號Ε Ν Η I G Η是低邏輯準位,閘Ο 1於線 路24之第一輸入將是在低邏輯準位,和閘ND1於線路26之 第二输入將是在高邏輯準位。因此,閘ND1之輸出將是在 高邏輯準位。而且,閘控電晶體ΜΝ2之源極(輸入節點22) 是在接地電位VSS,和它的閘極是.在高電源供應電位VDD, 以共源極模式傳導,並鉗制閘極節點HUP接近至接地電位 VSS,因此而維持上拉電晶體MN1是在非導通狀態。 當控制信號ENHIGH (曲線28)於時間tl作低至高之轉換 ,反相器II〜13作用為延遲元件,將維持線路26在短時 間於高邏輯準位。將線路24提升至高邏輯準位,這將使得 閘ND1之輸出或下拉節點P01 (曲線30)變成為低遴輯準位。 其結果,第二上拉電晶髏Μ P 1將瞬間開啓,因此而使得閘 極節點NUP(曲線32)於時間t2上拉幾乎至高電源供應電位 VDD。輸出節點20(曲線34)將隨耦着閘極節點NUP,因為電 昌體MN1之汲極(輸入節點22)是在高電源供應電位VDD,和 它的閘極亦連接至VDD而傳導於源極隨耦器模式。 (請先閲讀背而之注意事項#填寫本頁) 裝· 訂· 本紙張尺度遑用中明Η家«準(CNS) TM規格(210X297公*) 9 81. 7. 20,000張(II) 199246 Λ 6 Π 6 經濟部屮央標準局员工消赀合作社印製 五、發明説明(10) 當輸入控制信號ENHIGH是在高遍輯準位傳進經由反相 器I 1〜I 3,於線路26上之閘ND1的第二輸入將最後變成 低邏輯準位。此將使得閘ND1的輸出(曲線30)於時間t3,轉 回到高S輯準位,如此將使得第二上拉電晶體MP1轉回至 非導通狀態。因此而能看出,於時間t 2和t 3之間,於第一 上拉電晶體MN1的源極輸出電壓(曲線34)上升,以及由於 自電容SC,閘極節點NUP(曲線32)披推至高於高電源供應 電位V D D。 由這些技藝可瞭解到,假如閘ND1的輸出不使第二上 拉電晶體MP1關掉,那麼因為提供了 一連纊的傳導路徑經 由電晶體MP1至高電源供應電位VDD,將使得自增壓效應喪 失。而且,應注意到,由於在上拉電晶體MD1的汲極和基 片(該基片接合VDD)之間産生固有之寄生二極體,閘極節 點NUP被鉗制至相等於二極體壓降,高於高電源供應電位 VDD之電壓。 於此方式,本發明之CMOS自增壓電路提供較快速之上 升時間以於節點NUP有較高之閘極電壓,和相對應於時間 t3之高邏輯準位,有最後大約+ 5.0V之較高輸出電壓。尤 其,比較第6_的輸出曲線34與相關之第4圖的輸出曲線 36(共同對應至第1圖之電路),以及第5_之曲線38(對應 至第2圖之電路),能夠看出第4圖之輸出電壓於較長時間 t4,僅到達大約+ 3.5V,以及第5圖之輸出電壓,於較長時 間t 5 ,僅到達大約+ 4 . 5 V。此外,於第6圖的曲線3 2 (閘極 節點ΝϋΡ)之上升時間要遠快於第5圖中曲線40之上升時間。 10 本紙張尺度遑用中a Η家«準(CHS)肀4規格(210X297公龙) 81. 7. 20,000張(II) (請先閲請背而之注意事項#填窵本頁) 裝- 訂_ 線_ Λ 6 η 6 199246 五、發明説明(11) 應瞭解到I 1〜I 3之每一個反相器最好是由CMOS反相 器製成,該等反相器有P-通道M0S電晶匾和N-通道M0S電晶 體,這些電晶體的閘極共同相連接以成為其輸入,和這些 電晶體的汲極共同相連接以成為其輸出。而且,於第3圖 中之延遲網路顯示是由3個反相器組成,因此應注意到它 可用單一値反相器來替代。換言之,延網路能以任何奇數 個串聯連結之反相器,以達到所希望之改變延遅時間數量 而製成。 由上述之詳細說明,能瞭解到本發明提供了一種改良 之自增壓電路,該電路有較快之操作速度,和有較高之邏 輯“1”輸出電壓準位。本發明之自增壓電路包括第一上 拉裝置,閘控裝置,自電容,第二上拉裝置,和脈衝電路 。此脈衝電路是由延遲網路和HAND邏輯閘所組成。 本發明己藉較佳實施例作了說明,但理應瞭解就有 關技藝所做的改變或修飾,或就相等元件所做之替換,皆 不脱離本發明之真正範圍。此外,本發明亦可做多種修飾 以適合特定狀況或材料需要,然其皆不脱離本發明之中心 範圍。因此,本發明並不僅限於待定實施例所掲示的為其 最佳實施模式,本發明包括了所有於所附之申請專利範圍 内之實施例。 本紙張尺度遑用中a國家«準(CNS>T4規格(210X297公*) (請先閲請背而之注意事項再塥寫本頁) 裝· 訂_ 經濟部中央標準局员工消费合作社印製 81. 7. 20,000¾ (II)

Claims (1)

  1. A7199246 B7 C7 ___ D7_ 六'申請專利範圍 1. 一種CMOS自增壓電路,該霣路有較快速之操作速度, 和對應至高邏輯狀態有較高之輸出電壓準位,包括: 輸入節點(22),該輸入節點(22)接收擺動於對應 至低邏輯準位之低電源供應電位(VSS)和對應至高邏 輯準位之高電源供應電位(V D D )之間的輸入控制信號 (ENH IGH); 上拉N -通道電晶體(MN1),該電晶體(MN1)之汲極 連接至該高電源供應電位(V D D ), 其閘極連接至閘極 節點(NUP),和其源極連接至輸出節點(20); 自電容(SC),該自電容(SC)跨接於該上拉N -通道 電晶體(Μ N 1)之該閘極和該源極; Ν -通道閘控電晶體(ΜΝ2),該電晶體(ΜΝ2)之汲-源極傳導路徑連接於該閘極(NUP)和該輸入節點(22) 之間,以及其閘極連接至該高電源供電位(V D D ); 上拉Ρ -通道電晶體(Μ Ρ 1 ),該電晶體(Μ Ρ 1 )之源極 連接至該高電源供應電位(VDD),其閘極連接至下拉節 點(P D 1 ),和其汲極連接至該閘極節點(Η U Ρ ); H A N D邏輯閘(N D 1),該邏輯閘(N D 1 )有第一輸入, 第二輸入和輸出,該NAND邏輯閘的第一輸入連接至該 输入節點(22),該HAND邏輯閘的输出連接至該下拉節 點(P D 1);以及 延遲機構,該延羥機構相連接於該輸入節點(22) 和該NAND邏輯閘的第二輸入之間,以延遅該輸入控制 信號。_ 甲4(210X 297公肩) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ,訂. A7X99246 c? ___ D7_ 六、申請專利範園 2. 如申請專利範画第1項之CMOS自增壓霄路,其中該延遲 機構包括至少一値反相器,該反相器之输入連接至該 輸入節點(22),和其輸出連接至該NAND通輯閘(ND1)的 該第二輸入。 3. 如申請專利範圍第1項之CMOS自增壓電路,其中該延遲 機構包括第一,第二和第三反相器(11,12,1 3),該 第一反相器(II)之輸入連接至該輸入節點(22),和其 输出連接至該第二反相器(12)的輸入,該第三反相器 (13)之輸入連接至該第二反相器(12)的輸出,和其 輸出連接至該NAND邏輯閘(ND1)的該第二輸入。 4. 如申請專利範圍第1項之CMOS自增壓電路,其中該延遅 機構包括任何奇數個串聯連接之反相器。 5. 如申請專利範圍第1項之CMOS自增壓電路,其中當該輸 入控制信號做低至高轉換,該NAND通輯閘的輸出使得 該上拉P -通道電晶體(Μ P 1)瞬間開啓,以便起始上拉閘 極節點(NUP)使接近至該高電源供應電位(VDD),因此 而使得該上拉Ν -通道電晶醱(ΜΝ1)有較佳之傳導性,以 提供在輸出節點(20)上有較高之輸出電壓。 6. 如申請專利範圍第1項之CMOS自增壓電路,其中該上拉 P -通道電晶體(MP1)和該閘控電晶腥(MN2),較之於該 上拉N -通道電晶體(MN1)之體積,相對較小。 7. 如申請專利範圍第5項之CMOS自增壓電路,其中該閘極 節點(HUP)電壓,由於它的自電容(SC),結果被推升至 高於該高電源供應霄位(VDD)電壓,和其中於該輸出節 13 甲4(210X 297公沒) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) •装:·. •訂. .綠. 經濟部中央標準局員工消费合作社印製 AT B7 _ D7 六、申請專利範® 點(20)處之霄歷,上升接近至該高霣源供應電位(VDD) 〇 8.—種CMOS自增壓電路,該電路有較快速之操作速度, 和對應至高邐輯狀態有較高之輸出霄壓準位,包括: 輸入節點(22),該輸入節點(22)接收擺動於對應 至低邏輯準位之低電源供應電位(VSS)和對應至高邏輯 準位之高電源供應電位(V D D )之間的輸入控制信號( ENH IGH); 上拉N -通道電晶體(Μ N1 ),該電晶體(Μ N1 )之汲極 連接至該高電源供應電位(V D D ),其閘極連接至閘極 節點(NUP),和其源極連接至輸出節點(20); 自電容(SC),該自電容(SC)跨接於該上拉Η -通道 電晶體(Μ Ν 1 )之該閘極和該源極; Ν -通道閘控電晶髏(Μ Ν 2 ),該電晶體(Μ Ν 2 )之汲-源 極傳導路徑連接於該閘極(N U Ρ )和該輸入節點(2 2 )之間 ,以及其閘極連接至該高電源供應電位(V D 5 ); 上拉Ρ -通道電晶髏(Μ Ρ 1 ),該電晶體(Μ Ρ 1 )之源極 連接至該.高電源供應電位(VDD),其閘極連接至下拉節 點(P D 1),和其汲極連接至該閘極節點(N U Ρ ); 脈衝電路機構(18),該電路機構(18)反應該輸入 控制信號做低至高轉換,以産生脈衝信號;以及 為了使得該上拉Ν-通道電晶體(ΜΝ1)有較大之傳導 性,該上拉Ρ -通道電晶體(ΜΡ1)之閘極反應該脈衝信號 V 以起始上拉該閘極節點(NUP)接近至該高電源供應電位 本纸張尺度適用中ΒΗ家標準(CNS)甲4規格(210x297公*) ι 4 (請先閱讀背面之注竟事項再填窝本頁) 經漪部屮央標準局貝工消费合作社印製 AT B71992^0 D7 六'申請專利範園 ,俾便於输出節點(20)提供較高之输出霣騣。 9. 如申請専利範圍第8項之CMOS自增壓電路,其中該脈衝 霣路機構(18)包括遢輯閘控機構,該邏轉閘控機構具 有第一輸入,第二輪入和輸出,該酱輯閛控機構的第 一輸入連接至該输入節點(22),該邐輯閛控機構的輸 出連接至該下拉節點(PD1),以及反相器機構相連接於 該輸入節點(22)和該通輯閘控機構的第二輸入之間, 以延遅該輸入控制信號。 10. 如申請專利範圍第9項之CMOS自增壓電路,其中該反相 器機構包括第一,第二和第三反相器(II, 12, 13) ,該第一反相器(II)之輸入連接至該输入節點(22), - 和它的輸出連接至該第二反相器(12)的輸入,該第三 反相器(I 3)之輸入連接至該第二反相器(I 2)的輸出 ,和它的輸出連接至該邏輯閘控機構的該第二輸入。 11. 如申請專利範圍第8項之CMOS自增壓電路,其中該上拉 P -通道電晶鱧(MP1)和該閛控電晶體之體積,較之於該 上拉N -通道電晶體(Μ N1)之體積,要相對較小。 12. 如申請專利範圍第8項之CMOS自增壓電路,其中該閘極 節點(Ν ϋ P ),由於其自電容(S C )之關係,結果電壓被推 升至較高於該高電源供應電位(VDD),和其中在該輸出 節點(20)之電壓,上升接近至該高電源供應電位(VDD) (請先閱讀背面之注意事項再填苈本頁 -装· 本纸張尺度逋用中B國家#準(CNS)甲4規格(210x297公;¢)
TW081104947A 1991-09-16 1992-06-23 TW199246B (zh)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/760,414 US5160860A (en) 1991-09-16 1991-09-16 Input transition responsive CMOS self-boost circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
TW199246B true TW199246B (zh) 1993-02-01

Family

ID=25059041

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW081104947A TW199246B (zh) 1991-09-16 1992-06-23

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5160860A (zh)
EP (1) EP0533332A1 (zh)
JP (1) JPH05291939A (zh)
KR (1) KR930006978A (zh)
TW (1) TW199246B (zh)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3623004B2 (ja) * 1994-03-30 2005-02-23 松下電器産業株式会社 電圧レベル変換回路
JPH09162713A (ja) * 1995-12-11 1997-06-20 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路
US6104229A (en) * 1996-05-02 2000-08-15 Integrated Device Technology, Inc. High voltage tolerable input buffer and method for operating same
US5973512A (en) * 1997-12-02 1999-10-26 National Semiconductor Corporation CMOS output buffer having load independent slewing
US7755939B2 (en) * 2008-01-15 2010-07-13 Micron Technology, Inc. System and devices including memory resistant to program disturb and methods of using, making, and operating the same
US8750049B2 (en) * 2010-06-02 2014-06-10 Stmicroelectronics International N.V. Word line driver for memory
WO2020241158A1 (ja) * 2019-05-30 2020-12-03 パナソニックIpマネジメント株式会社 ドライバ回路、及びスイッチシステム
WO2021220479A1 (ja) * 2020-04-30 2021-11-04 株式会社ソシオネクスト 入力回路

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3579275A (en) * 1969-01-07 1971-05-18 North American Rockwell Isolation circuit for gating devices
GB1375958A (en) * 1972-06-29 1974-12-04 Ibm Pulse circuit
US4381460A (en) * 1980-05-27 1983-04-26 National Semiconductor Corporation Bootstrap driver circuit
US4692638A (en) * 1984-07-02 1987-09-08 Texas Instruments Incorporated CMOS/NMOS decoder and high-level driver circuit
US4618786A (en) * 1984-08-13 1986-10-21 Thomson Components - Mostek Corporation Precharge circuit for enhancement mode memory circuits
JPS61294695A (ja) * 1985-06-20 1986-12-25 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
JPH0193927A (ja) * 1987-10-06 1989-04-12 Fujitsu Ltd プログラム可能な論理回路
JPH0282713A (ja) * 1988-09-19 1990-03-23 Fujitsu Ltd スイッチング補助回路

Also Published As

Publication number Publication date
JPH05291939A (ja) 1993-11-05
KR930006978A (ko) 1993-04-22
US5160860A (en) 1992-11-03
EP0533332A1 (en) 1993-03-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR930003929B1 (ko) 데이타 출력버퍼
TW462074B (en) Semiconductor device
TW565855B (en) Output circuit
US7375574B2 (en) Semiconductor device
TW421878B (en) High-voltage tolerant input buffer in low-voltage technology
JP3792788B2 (ja) 半導体メモリ装置の定電圧発生回路
US7583110B2 (en) High-speed, low-power input buffer for integrated circuit devices
TW442956B (en) Semiconductor device with dummy interface circuit
TW199246B (zh)
US6066975A (en) Level converter circuit
CN107230487A (zh) 半导体装置及其输出电路
TW417283B (en) Voltage level shifting circuit
TW200308145A (en) Level conversion circuit converting logic level of signal
US5952851A (en) Boosted voltage driver
JP4748841B2 (ja) 半導体装置
JP3863301B2 (ja) レベルシフター及びこれを用いた半導体メモリ装置
JP3237644B2 (ja) レベル変換回路
KR100301602B1 (ko) 출력파형의링잉을억제하는것이가능한반도체장치
CA1157919A (en) Buffer circuitry
US4529889A (en) Sense amplifier latch voltage waveform generator circuit
JPS6143896B2 (zh)
US5589784A (en) Method and apparatus for detecting changes in a clock signal to static states
CN112383298B (zh) 一种ddr发送电路
TW521271B (en) Coupling circuit for preventing gate junction breakdown of flash memory
US20030062924A1 (en) Voltage translation circuit using a controlled transmission PMOS transistor