TR201816334T4 - Bir mesafenin optik belirlenmesi için yöntem ve düzenek. - Google Patents
Bir mesafenin optik belirlenmesi için yöntem ve düzenek. Download PDFInfo
- Publication number
- TR201816334T4 TR201816334T4 TR2018/16334T TR201816334T TR201816334T4 TR 201816334 T4 TR201816334 T4 TR 201816334T4 TR 2018/16334 T TR2018/16334 T TR 2018/16334T TR 201816334 T TR201816334 T TR 201816334T TR 201816334 T4 TR201816334 T4 TR 201816334T4
- Authority
- TR
- Turkey
- Prior art keywords
- hole
- lighting
- distance
- feature
- reference surface
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 24
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 43
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 23
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 10
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 4
- 241000220317 Rosa Species 0.000 claims 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000009956 embroidering Methods 0.000 claims 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 21
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 12
- 238000010147 laser engraving Methods 0.000 description 4
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 3
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 3
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000003698 laser cutting Methods 0.000 description 2
- 206010063659 Aversion Diseases 0.000 description 1
- 238000005352 clarification Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000010422 painting Methods 0.000 description 1
- 235000012771 pancakes Nutrition 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/03—Observing, e.g. monitoring, the workpiece
- B23K26/032—Observing, e.g. monitoring, the workpiece using optical means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/028—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring lateral position of a boundary of the object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0608—Height gauges
Abstract
Buluş, bir düzenekte (1) oluşturulan bir delik (7) ile bir referans yüzeyi (8) arasındaki bir mesafenin (A) optik belirlenmesi için, aşağıdaki adımları içeren bir yöntemle ilgilidir: Bir açı (a, -a') ile, yani eğik biçimde delikten (7) geçen en az bir aydınlatma ışını (17a, 17b) aracılığıyla delikten (7) referans yüzeyinin (8) aydınlatılması, delikten (7) referans yüzeyinin (8) en az bir resminin kaydedilmesi ve referans yüzeyinin (8) aydınlatma ışını (17a, 17b) tarafından aydınlatılan bölgesi (22) ile içinde en az bir resmin kaydedildiği deliğin (7) bir kenar konturu (9) arasındaki kayma (V) yardımıyla mesafenin (A) belirlenmesi. Buluş ayrıca, düzenekte (1) oluşturulan bir delik (7) ile bir referans yüzeyi (8) arasındaki mesafenin optik belirlenmesi için bir düzenekle (1) ilgilidir. Delik (7) özellikle bir işleme ağzına (6) yapılabilir. Referans yüzeyinde (8) bir işlenen parça üst yüzeyi söz konusudur. (Şekil 1)
Description
TARIFNAME
BIR MESAFENIN OPTIK BELIRLENMESI IÇIN YÖNTEM VE DÜZENEK
Mevcut bulus bir delik ile bir refernas yüzeyi arasindaki bir
mesafenin optik belirlenmesi için bir yöntemle ilgilidir.
Bulus ayrica düzenekte yapilan bir delik ve bir referans
yüzeyi arasindaki mesafenin belirlenmesi için yönteme ait bir
düzenek ile ilgilidir.
Düzenekte Örnegin bir isleme kafasi, özellikle bir lazer
isleme kafasi veya bir isleme makinesi, örnegin bir lazer
Bir isleme kafasi ile bir islenen parça üst yüzeyi arasindaki
mesafenin belirlenmesi için kapasitif mesafe ölçüm yöntemleri
bilinmektedir, bu yöntemlerde mesafenin ölçülmesi için isleme
kafasi veya bununla sabit biçimde bagli olan yapi parçasi,
Örnegin bir isleme agzi ile islenen parça arasindaki mesafeye
bagli kapasite belirlenir.
Bu türdeki kapasitif mesafe ölçüm yöntemlerinde tipik biçimde
isleme agzi yanina bir elektronik yerlestirilir.
Ayrica tipik biçimde mesafe senroriginin kalibre edilmesi
gereklidir ve kapasite ölçümü sirasinda dikkate alinan,
islenen parça üst yüzeyindeki alan daha büyük olmalidir,
böylece orada mevcut olan hatali konturlar ölçüm sonucunu
etkileyebilmektedir.
DE 100 56 329 Al'den bir optik mesafe ölçüm yöntemi
bilinmektedir, burada islenen parça isleme sisteminin isleme
kafasinin islenecek olan parçanin üst yüzeyinden nesafesinin
belirlenmesi için, bir ölçüm objesinin bir üst yüzeyin
görüntüsünü almasi ve ölçüm objesinin üst yüzeydeki
görüntüsünün, içinde gelen görüntünün ölçüm objesine uygun bir
bölge filtrelemesine verildigi bir kayit düzeneginde
görüntülenmesi öngörülmüstür.
Bölgesel olarak filtrelenen isik akimi, nominal konumun
mesafesine uygun bir çikis sinyali olusturulmasi için üst
yüzeyin belirlenen bir nominal konumuna uygun olan, dalga boyu
alanlarina düzenlenen nominal degerler ile karsilastirilan
isik akimi ölçümr sinyallerininr gönderilmesi içini en az iki
dalga boyu alani için kaydedilir.
Ölçüm objesi resmi için kullanilan resim optigi tipik biçimde
bir renk hatasina sahiptir, böylece kayit düzenegi en az iki
dalga boyu alanindaki isik akimi ölçüm sinyali yardimiyla
nominal konum mesafesini belirleyebilir.
enerjili isleme isini araciligiyla kumanda edilmesi için bir
yöntem ve düzenek açiklanmistir, burada isleme isini ve/veya
aydinlatma isini, isleme isininin islenen parçaya geldigi
alanini kaydirilmasir için ve/Veyar aydinlatmar isini tarafindan
islenen parçada olusturulan aydinlatma alaninin optik eksenine
dikey biçimde hareket ettirilebilmesi için bir mercekten
geçirilir.
Örnegin mercegin hareketi ile aydinlatma alani geldigi alanin
üzerini kapatir.
Bir örnekte elektronik olarak kullanilabilen bir resim
olusturulmasi için resim isin yolunun mercek tarafindan gelme
alaninda Odaklandigi bir denetleme kamerasi Öngörülmüstür.
referans yüzeyi arasindaki mesafenin optik belirlenmesi için
bir düzenek açiklamaktadir.
Bulusun amaci
Bulusun amaci, bir isleme agzindaki bir delik ile özellikle
bir islenen parça üst yüzeyindeki bir referans yüzeyi
arasindaki mesafenin basit ve güvenilir biçimde optik
belirlenmesine olanak saglayan bir yöntem ve bir düzenek
gelistirmektir.
Bulusun konusu
Bu amaca bulusa uygun olarak Isteni l'e göre bir yönteni ile
ulasilmistir.
Bulusa göre, en az bir aydinlatma isininin dikey degil,
tersine bir açi ile, yani egik olarak delikten geçirilmesi
önerilmektedir.
Bu sekilde delige mesafeli olan referans yüzeyinde aydinlatma
isini tarafindan aydinlatilan alanin delige, delik ile
referans yüzeyi (dogrusal) arasindaki mesafeye bagli olan yan
taraf kaymasi olusur.
Referans yüzeyinin delikten bir resminin alinmasi ile deligin
kenar konturu ile aydinlatilan alan arasindaki kayma
belirlenebilir, çünkü kenar konturu, ile referans yüzeyindeki
aydinlatilan alan arasinda delige sinir olan yapi parçasinin,
yani bir isleme agzi kenarinin gölgesi resmedilir.
Gölge olusturulmasi amaciyla aydinlatma isini tipik biçimde
deligin kenar konturu, Örnegin, iç konturu, veya isleme agzi
kenari tarafindan sinirlanir.
Ideal biçimde aydinlatma isini tam. açi (derece olarak) ile
delikten geçer, burada aydinlatma isininin olusturdugu isin
demetinin uçlarda genislemesi nedeniyle isin demetinin kenar
isinlari açisi (mrad alaninda) birbirinden farkli olabilir.
Kayma ve aydinlatma isininin delikten geçtigi bilinen açi
yardimiyla mesafe üçgenleme ile belirlenebilir.
Kaydedilen resimdeki aydinlatilan alan ile kenar konturu
arasindaki kaymanin dogrudan belirlenmesine alternatif olarak,
kaydedilen resimdeki aydinlatilan alanin genisliginin
belirlenmesi ve deligin bilinen geometrisi veya genisligi
yardimiyla kaymanin veya mesafenin belirlenmesi olanagi
mevcuttur.
Burada mesafenin belirlenmesi için aydinlatilan alanin
belirlenen genisligi dogrudan, yani kaymanin geometrik
belirlenmesi olmadan mesafe ile iliskilendirilebilir.
Bu basvuru çerçevesinde kayma yardimiyla mesafenin
belirlenmesi altinda böyle bir uygulama biçimi de anlasilir.
Örnegin bir islenen parça üst yüzeyinin söz konusu oldugu
referans üst yüzeyi tipik biçimde içinde deligin olustugu
düzleme paralel ilerler.
Bulusta delik bir isleme agzinda olusturulur ve resim bir
izleme yönü boyunca isleme agzinin agiz eksenine koaksiyal
Bu durumda. deligin kenar konturu isleme agzinin. iç konturu
tarafindan olusturulur.
Düzenekteki isleme agzi tanimli bir konuma veya pozisyona
sahip oldugundan ve böylece Ölçüm kenarini olusturan iç
konturun bir resim kaydetme düzenegine veya bir detektöre
tanimli bir konuma sahip oldugundan ve bu sekilde masrafli bir
ayarlama islemi gerekli olmadigindan bu durum avantajlidir.
Isleme agzindan izleme bu durumda agiz eksenine koeksenel yani
yönden bagimsiz gerçeklesir.
Bu, yan kayma yardimiyla basit biçimde mesafenin
belirlenebilmesi için avantajlidir.
Agiz ekseni tipik biçimde bir yüksek enerji isininin örnegin
bir lazer isininin veya plazma isininin isin ekseni ile
birlikte izleme agzindan bir islenen parçada odaklanir.
Gözleme bu durumda yüksek enerji isinina koeksenel
gerçeklesir.
Isleme agzi, tam bir ifade ile iç kontur konik yapilabilir.
Bu durumda isleme agzi deligi altinda, iç enine kesitinin agiz
eksenine çapraz minimum genislemeye sahip oldugu, yani minimum
iç çapa sahip alanin yuvarlak agiz geometrisinin tipik biçimde
islenen parçaya ilerledigi, agiz ekseni boyunca ilerleyen alan
anlasilir.
Bir diger versiyonda delik en az bir aydinlatma isini
tarafindan tamamen aydinlatilir.
Bu, özellikle inesafe belirleniminin. referans üst yüzeyindeki
aydinlatilan alanin genisligi yardimiyla gerçeklestigi durum
için avantajlidir.
Bir diger versiyonda aydinlatma isininin delikten geçtigi açi
2,5° ila 25°, tercihen 2,5° ila 10° arasindadir.
Mesafenin tam belirlenimi için aydinlatma isininin delige olan
açisinin çok küçük seçilmemesi avantajlidir.
Bir isleme agzindaki delik konik iç kenar ile olusturulmussa
aydinlatma isininin delikten geçtigi maksimum açi kural olarak
isleme agzinin konik iç konturunun agiz boyuna eksenine olan
açisina denktir.
Özellikle aydinlatma isininin delikten geçtigi açi, agiz
boyuna ekseni ile isleme agzinin konik iç konturunu çevreleyen
açiya tam olarak denk olabilir.
Bu durumda aydinlatma isini isleme agzinin iç konturu boyunca
ilerler ve buna paraleldir.
Bir diger versiyonda en az iki aydinlatma isini ayni zamanda
veya farkli zamanlarda farkli aydinlatma. yönlerinden 've/veya
farkli açilardan delikten geçer.
Farkli aydinlatma yönlerinden aydinlatma ile mesafe
belirleniminde ölçüm güvenligi artar.
(Toplam. ölçüde) farkli açilarin seçimi ile çözünürlük. veya
ölçüm alani degisebilir.
Uygulamaya göre deligin ayni anda veya farkli zamanlarda
aydinlatilmasi avantajli olabilir.
Son durumda farkli zamanlarda kaydedilen ve aydinlatmanin
farkli aydinlatma yönlerinden ve/veya farkli açilar altinda
gerçeklestigi iki veya daha fazla resimden, kayma veya
referans yüzeyindeki aydinlatilan alanin genisligi
belirlenirken dogrulugun ve bununla belirlenecek mesafenin
dogrulugunun artirilmasi için bir ortalama deger olusturulur.
Farkli aydinlatma yönleri deligin çevre yönü ile ilgilidir,
yani farkli aydinlatma yönlerinden aydinlatma isinlari deligin
çevresi boyunca farkli alanlarda delikten geçer.
Mesafeninr mümkün oldugunca kesin belirlenmesi için referans
yüzeyinin aydinlatildigi aydinlatma yönlerinin birbirinden
mümkün oldugunca farkli olmasi avantajlidir.
Aydinlatma yönleri arasindaki büyük bir farka özellikle, her
iki aydinlatma isini birbirine tam karsilikli duran iki alanda
delikten geçtiginde veya böyle bir düzlemde bulundugunda
ulasilir.
Bir diger uygulama formunda en az bir aydinlatma isini delige
ulasmadan önce dis ortada, yani merkezi eksene veya bir optik
eksene kayacak sekilde bir odaklama düzeneginden geçer.
Odaklama düzenegi olarak tipik biçimde bir veya daha fazla
odaklama mercegi veya bir odaklama aynasi, özellikle bir Off-
Axis-Parabol aynasi kullanilir.
Aydinlatma isini dis ortada odakma ünitesine, örnegin bir
odaklama merceginin optik eksenine kaydirilmis biçimde
geldiginde lazer isini optik eksene dogru kirilir, böylece bu,
odaklama merceginden geçtikten sonra optik eksene bir açiya
sahiptir.
Odaklama düzeneginin optik ekseni isleme agzinin agiz boyuna
ekseni ile çakisiyorsa aydinlatma isini istenildigi gibi egik
biçimde, yani bir açi ile isleme agzi deliginden geçer.
Aydinlatma. isininin. odaklama. düzenegi optik eksenine yeterli
büyüklükte açiya sahip olmasinin saglanmasi için aydinlatma
isini özellikle odaklama ünitesinde, örnegin bir mercekte bir
kenar alanina verilebilir.
Bir diger uygulamada en az bir aydinlatma isini odaklama
düzenegine ulasmadan önce delikten geçen bir yüksek enerji
isinina paralel ilerler.
Bu versiyonda aydinlatma isini odaklama düzeneginde yüksek
enerji isinina paralel veya koaksiyeldir.
Yüksek enerji isini tipik biçimde odaklama düzenegine ortali
gelir, yani isin ekseni odaklama düzeneginin optik ekseni ile
çakisir, bu sirada aydinlatma isini odaklama düzenegindeki
isin eksenine kaydirilarak verilir.
Bir diger gelistirilmis uygulamada en az bir aydinlatma isini
yüksek enerji isininin geçmesi için bir oluklu aynada yüksek
enerji isinina paralel yönde çevrilir.
Scraper ayna da denilen bir oluklu ayna yardimiyla yani tipik
biçimde yüksek enerji isininin geçecegi merkezi bir delige
sahip bir ayna yardimiyla aydinlatma isinlari özellikle basit
biçimde oluklu aynanin düz kenar alanina verilmesi ile lazer
Aydinlatma isinlari çevrildikten sonra yüksek enerji isininin
isin eksenine kaydirilacak sekilde ilerler.
Oluklu ayna, yüksek enerji isinina paralel ilerleyen izleme
isini yolunun resim kayit düzenegine, tipik olarak bir
kameraya en az bir resim kaydi için yönlendirilir.
Bir oluklu ayna alaninda en az bir aydinlatma isininin yüksek
enerji isinina. paralel yönlendirilmesi için bir` diger optik
düzenek, örnegin kismen geçirgen bir ayna, özellikle çift
renkli bir ayna kullanilabilir.
Bir diger Aversiyonda referans yüzeyi bir islenen parça üst
yüzeyidir.
Bu durumda tipik biçimde isleme kafasi olarak, özellikle lazer
isleme kafasi olarak yapilan düzenek arasindaki mesafenin
belirlenmesi islenen parça islenirken yapilabilir.
Bu sekilde mesafe gerekirse uygun bir kumanda düzenegi veya
ayar düzenegi yardimiyla düzeltilebilir.
Bulus ayrica, bilgisayar progranu. bir veri isleme sistemine
geçtiginde yukarida açiklanan yöntemin tüm adimlarinin
uygulanmasi için yapilan bir bilgisayar programi ürünü ile
Veri isleme sisteminde üzerinde deligin yapildigi düzenege
yerlestirilen örnegin bir kumanda düzenegi, bir ayar düzenegi
veya bir degerlendirme düzenegi söz konusudur.
Ayrica örnegin bir isleme makinesinin bölümü olan harici bir
düzenek de söz konusu olabilir.
Bulusun bir diger konusu giriste belirtilen türde bir
düzenekle ilgilidir, bu düzenek sunlari içerir: Referans
yüzeyini aydinlatmak için O°'lik çesitli açilarda delikten
geçen. en az bir aydinlatma. isininin. olusturulmasi için bir
aydinlatma. düzenegi, delikten geçerek ilerleyen izleme isini
yolu araciligiyla referans yüzeyinin en az bir resminin
kaydedilmesi için bir resim kayit düzenegi, refernas yüzeyinin
en az bir aydinlatma isini tarafindan aydinlatilan alani ile
içinde en az bir alinan resmin olusturuldugu veya
programlandigi deligin bir kenar konturu arasindaki kayma
yardimiyla mesafenin belirlenmesi için bir degerlendirme
düzenegi.
Düzenek örnegin isleme kafasi olarak, özellikle lazer isleme
kafasi olarak yapilabilir.
Bu durumda degerlendirme düzenegi tipik biçimde isleme
kafasina entegre edilir.
Düzenekte ayrica bir isleme makinesi, özellikle bir lazer
Bu durumda degerlendirme düzenegi tipik biçimde isleme
kafasindan ayri biçimde düzenlenir.
Bir uygulama formunda bir yüksek enerji isininin geçmesi için
bir isleme agzi deliginden ilerleyen. bir izleme isini yolu
araciligiyla. en az bir` resmin kaydedilmesi için resini kayit
düzenegi yapilmistir.
Resim kayit düzenegi, izleme isini yolunun bir yüksek enerji
isininin, örnegin bir lazer isininin veya islenen parçanin
islenmesi için kullanilan. plazma isininin. da geçtigi isleme
agzi deliginden ilerleyecegi sekilde düzenlenir veya
yönlendirilir.
Böyle bir izleme isini yolunun gerçeklestirilmesi için resim
kayit düzenegine bir veya birkaç uygun konumlanmis optik
elemana sahip Örnegin bir veya birkaç mercek formunda bir
görüntüleme düzenegi eklenebilir.
Bir gelistirilmis biçimde isleme agzinin boyuna eksenine
koeksenel izleme yönünden en az bir resim kaydeden resim kayit
düzenegi yapilmistir.
Yüksek enerji isini isin ekseni ideal durumda isleme agzinin
boyuna ekseni ile çakisir, yani yüksek enerji isini Herkezi
olarak isleme agzi deliginden geçer.
Agiz eksenine dikey yönlendirilen, isleme agzi boyuna eksenine
koeksenel referans yüzeyinin tipik biçimde izlenmesi ile
mesafenin belirlenmesini açik biçimde basitlestirecek sekilde
yönden bagimsiz bir izleme gerçeklestirilebilir.
Bir diger uygulama formunda resim kayit düzenegi üzerinde en
az bir resim olusturulan en az bir detektör yüzeyine sahiptir.
Detektör yüzeyi özellikle bir kamerada, örnegin bir CCD-Chips
veya CMOS-Chips formunda uygulanabilir.
Gerekirse resim enine kesitinin mevcut detektör yüzeyine
adapte edilmesi için resim optigi bir isin teleskopuna
sahiptir.
Bir diger uygulama formunda, farkli aydinlatma yönlerinden
ve/Veya farkli açilar altinda delikten geçen ve ayni anda veya
farkli zamanlarda olusturulabilen en az iki aydinlatma
isininin olusturulmasi için aydinlatma düzenegi yapilmistir.
Aydinlatma düzenegi bu amaçla her birinin bir aydinlatma isini
olusturdugu iki veya daha fazla aydinlatma kaynagina sahiptir.
Fakat aydinlatma düzeneginin örnegin bir lazer diyot veya bir
LED formunda sadece bir aydinlatma kaynagina sahip olmasi ve
aydinlatma isininin yönünün ve bununla aydinlatma yönünün
degistirilmesi için aydinlatma isini yolunun uygun biçimde
adapte edilmesi de mümkündür.
Gerekirse bir aydinlatma. kaynagi tarafindan olusturulan
aydinlatma isini Örnegin bir isin iletkeni araciligiyla iki
aydinlatma isinina dagitilabilir.
Bir uygulama formunda aydinlatma isininin delikten geçtigi
açi, tam ifade ile açi toplami 2,5° ile 25°, tercihen 2,5° ile
° arasindadir.
Açi tipik biçimde bir isleme agzinda olusturulan bir deligin
agiz boyuna ekseni ile çakistigi deligin normal yönüne dogru
Açi, tipik biçimde aydinlatma isininin verildigi odaklama
düzeneginin kirilma kuvvetine baglidir, burada açi ideal
biçimde aydinlatma isininin genelde isleme agzinin konik
ilerleyen. iç tarafina. paralel. ve isleme agzinin. iç tarafina
mesafeye sahip olmadan ilerler.
Gerekirse aydinlatma isininin kenar alani isleme agzinin üst
tarafina gelir, böylece bu kenar alan isleme agzinin
deliginden geçmez.
Gölge olusturulmasi için aydinlatma isininin isleme agzi
kenari veya iç konturu tarafindan sinirlanmasi önemlidir.
Aydinlatma isininin delikten geçtigi açi burada isleme agzi iç
konturunu agiz boyuna ekseni ile çevreleyen açidan küçük veya
büyük olabilir.
Bir diger uygulama formunda düzenek ek olarak en az bir
aydinlatma isininin dis ortadan geçmesini saglayan yüksek
enerji isininin odaklanmasi için bir odaklama düzenegi içerir.
Bu uygulama formunda aydinlatma isini odaklama ünitesinin bir
merkezi ekseni boyunca ilerlemez ve bu nedenle odaklama
ünitesinde bir Çevirme veya yön degisimi görülür, böylece
odaklama ünitesine giristen önce tipik biçimde yüksek enerji
isininin isin eksenine paralel ilerleyen aydinlatma isini
odaklama ünitesinden geçtikten sonra bir açi ile yüksek enerji
En az bir aydinlatma isininin bir açi altinda isleme isininin
isin eksenine yönünün mutlaka yüksek enerji isini odaklama
ünitesinde olmasi gerekmedigi, daha ziyade baska sekilde de,
örnegin çevirme aynasi biçiminde bir veya daha fazla çevirme
düzeneginin aydinlatma isini yönünün egilmesi için
kullanilmasi ile de gerçeklesebilecegi anlasilmalidir.
Bir gelistirilmis biçimde düzenek ek olarak bir yüksek enerji
isininin, özellikle bir lazer isininin geçisi için bir oluklu
ayna içerir, burada en az bir aydinlatma isininin yüksek
enerji isinina paralel yönde yansitilmasi için en az bir
aydinlatma isinini oluklu aynaya veren aydinlatma düzenegi
yapilmistir.
Aydinlatma isini kural olarak oluklu aynanin düz bir kenar
alanina verilir ve yansitmadan sonra yüksek enerji isinina
paralel yönlendirilir.
Oluklu. aynanin. kenar alanindaki çevirme nedeniyle aydinlatma
isini yüksek enerji isininin isin eksenine kaydirilarak
ilerler ve aydinlatma isininin egik yönü için kullanildiginda
dis ortada odaklama düzenegine verilir.
Degerlendirme düzenegi tarafindan belirlenen, referans yüzeyi,
örnegin bir islenen parça üst yüzeyi ile bir isleme agzinin
agiz deligi arasindaki mesafeyi. bir ayar' düzenegine aktaran
bir düzenek yapilabilir.
Ayar düzenegi delik ile referans yüzeyi arasindaki mesafeyi,
belirli bir isleme süreci için, örnegin lazer kesme, lazer
kaynak vb. için ve islenen parçanin malzemesi, islenen
parçanin kalinligi gibi belirli isleme parametreleri için
uygun olan bir nominal mesafeye ayarlar.
Nominal mesafe örnegin bir hafizaya veya bir tabloya
kaydedilebilir.
Bulusun diger avantajlari açiklama ve sekillerden alinabilir.
Ayni sekilde basta belirtilen ve açiklanacak olan özellikler
tek basina veya istenilen kombinasyonda kullanilabilir.
Gösterilen ve açiklanan uygulama formlari kesin bir liste
olarak anlasilmamalidir, tersine bulusun tanimlanmasi için
örnek karakterler olarak anlasilmalidir.
Sekillerin açiklamasi:
Sekil 1, bir lazer isleme agzi deligi ile bir islenen parça
arasindaki bir Hesafenin optik belirlenmesi için lazer isleme
makinesi uygulama örneginin sematik ifadesini vermektedir,
Sekil Za, b, lazer isleme agzinin agiz deliginden egik geçen
ve islenen parçanin agiz deligi kenar` konturuna dogru kayan
bir alanini aydinlatan bir aydinlatma isini ile Sekil l'deki
lazer isleme agzinin sematik ifadesini vermektedir ve
Sekil 3a, b, Sekil Za, b'ye uygun islenen parçaya bir ilk ve
ikinci mesafede referans yüzeyinin agiz deliginden kaydedilen
iki resminin sematik ifadesini vermektedir.
Sekil 1, bir lazer isininin (2) islenen parçaya (4) mesafeli
bir isleme kafasinda odaklanmasi için bir isleme kafasi (3)
içeren. bir lazer` isleme makinesi (1) formunda bir` düzenegin
Lazer› isini (2) gösterilen örnekte bir CO2-lazer` tarafindan
olusturulur.
Alternatif olarak lazer isini (2) örnegin bir sabit gövde
lazeri ile olusturulabilir.
Lazer isini (2) bir parça islemesinin islenen parçada (4)
örnegin, bir lazer kaynagi, veya, lazer` kesme süreci, biçiminde
uygulanmasi için bir odaklama mercegi (5) biçiminde bir
odaklama düzenegi araciligiyla islenen parçada (4) odaklanir.
Isleme kafasi (3) ayrica bir isleme agzi (6) içerir, burada
odaklama mercegi (5) gösterilen örnekte lazer isinini (2)
isleme agzindan (6), tam bir ifade ile isleme agzinin (6) iç
tarafindaki bir delikten (7) islenen parçada (4) odaklar ve
islenen parçanin (4) üst tarafinda olusturulan, üzerine lazer
isininin (2) bir odaklama konumunda (F) geldigi bir islenen
parça üst yüzeyinde (8) odaklanir.
Isleme agzi (6) deliginin (7) islenen parça tarafindaki ucunda
halka biçiminde çevreleyen bir kenar konturu (9) yapilmistir.
Asagida açiklanan yöntem araciligiyla isleme agzi (6) deligi
(7) ile islenen parçanin (4) üst yüzeyi (8) arasindaki mesafe
(A) belirlenir.
Yöntem gerekirse bu amaç için isleme makinesinde (l)
öngörülen, islenen parçada (4) yapilmayan bir referans
yüzeyinde uygulanabilir.
Sekil 1'de bir isin iletici tarafindan verilen lazer isininin
(2) geçtigi ve bir çevirme aynasinda (10) odaklama düzenegi
(5) yönünde ve islenen parça (4) yönünde çevrildigi bir oluklu
ayna (11) (Scraper ayna) görülmektedir.
Oluklu aynanin (ll) halka biçimli bir kenar alaninda Sekil
1'de noktali gösterilen bir izleme isini yolunun (12) izleme
isini (örnegin görülebilen dalga boyu alaninda) bir kamera
biçiminde bir resim kayit düzenegine (13) çevrilir veya
yansitilir.
Resim kayit düzeneginde (13) özellikle yüksek hiz kamerasi
olarak yapilabilen yüksek çözünürlükte bir kamera söz
konusudur.
Gösterilen örnekte resmin kaydedilmesi VIS-dalga boyu alaninda
resim kayit düzenegi (13) ile gerçeklesir.
UV alaninda resim kaydi da mümkündür.
Sekil 1'de gösterilen örnekte kaydin diger isin veya dalga
boyu bölümlerinin. resini kayit. düzenegi (13) tarafindan
disarida birakilmasi gerekiyorsa resim kayit düzenegi (13)
önüne bir filtre düzenlenebilir.
Filtre örnegin ince bantli bant geçis filtresi olarak
yapilabilir.
Bir mercek (14) odaklama mercegi (5) ile birlikte resim optigi
olarak islenen. parça ;üst yüzeyinin. (8) kamera (13) detektör
yüzeyine (13a) resmedilmesini saglar.
Resim optigi veya kamera (13) izleme isini yolunun (12) Sekil
1'de kesintili gösterilen lazer isini eksenine (19) veya onun
uzatmasina koeksenel ilerleyecegi sekilde düzenlenir.
Lazer isini ekseni (19) agiz deligi (7) alaninda tipik biçimde
rotasyon simetrik isleme agzinin (6) boyuna ekseni (6a) ile
çakistigindan islenen parça üst yüzeyinin (8) izlenmesi veya
islenen parça üst yüzeyinin (8) resminin kaydedilmesi agiz
deligine (7) koeksenel izleme yönünde (R) ve böylece yönden
bagimsiz gerçeklesir.
Isleme kafasi (3) ayrica isleme kafasina (3) mesafeli islenen
parça üs yüzeyinin (8) aydinlatilmasini saglayan bir
aydinlatma düzenegini (15) içerir.
Aydinlatma düzenegi (15) her birinin Sekil 1'de kesintili
gösterilen aydinlatma isinini (l7a, b) olusturdugu bir ilk ve
ikinci aydinlatma kaynagina (16a, b) sahiptir.
Aydinlatma kaynagi (16a, b) olarak örnegin diyot lazer` veya
LEDS öngörülebilir.
Aydinlatma isinlari (l7a, b) kenar alaninin karsilikli duran
taraflarinda birer çevirme aynasi (18a, b) üzerinden oluklu
aynaya (11) verilir ve buradan yansitilir, yani 90° çevrilir,
böylece aydinlatma isinlari (17a, b) oluklu aynadan (11) X
yönünde geçen lazer isinina (2) paralel yönlendirilir.
Her iki çevirme aynasi (18a, b) kismen geçirgen yapilmistir ve
izleme isini yolunun (12) izleme isinini gönderir, böylece
izleme isini çevirme aynasindan (18a, b) geçerek kameraya (13)
Sekil 1'de gösterilen örnekte her iki aydinlatma isini (17a,
17b) halka biçimli kenar alaninin karsilikli duran
taraflarinda odaklama mercegine (5) gelir ve buradan çevrilir,
böylece isaret düzleminde (XZ düzlemi) Ölçülen bir açi (-a, a)
ile agiz boyuna eksenine (6a) veya lazer isini eksenine (19)
Aydinlatma isinlari (17a, 17b) agiz boyuna eksenine (6a) egik
biçimde, yani bir açi (-a, a) ile isleme agzi (6) deliginden
(7) geçer.
Aydinlatma› isininin (17a, 17b) delikten› (7) geçtigi açi (a)
toplami tipik biçimde 2,5° ila 25°, tercihen 2,5° ila 10°
arasindadir.
Açinin (a) seçimi digerleri yaninda isleme agzinin (6) konik
iç konturuna giden açiya baglidir, burada her iki açi
çakisabilir fakat çakismasi zorunlu degildir.
Sekil 2a, b islenen parçanin (4) ilk aydinlatma isini (17) ile
aydinlatildigi, islenen parça üst yüzeyi (8) ile agiz deligi
(7) arasinda çesitli mesafelerde (A1, A2) Sekil 1'deki isleme
agzinin (6) bir kesitini göstermektedir.
Sekil 2a, b'de görüldügü gibi ilk aydinlatma isini (17a)
tarafindan islenen parça üst yüzeyinin (8), agiz deligine (7)
dogru, tam bir ifade ile agiz deligi (7) kenar konturundaki
(9) ikinci aydinlatma isini (l7b) düsme düzleminin (XZ
düzlemi) bulundugu alanina dogru kayan bir bölgesi (22)
aydinlatilir.
Sekil 2a ile 2b karsilastirildiginda görüldügü gibi ilgili
kayma (V1, V2), islenen parça üst yüzeyi (8) ile delik (7)
arasindaki mesafeye (A1, A2) baglidir, burada kayma (V1, V2)
artan mesafe (A1, A2) ile artar.
Sekil 2a, b yardimiyla görüldügü gibi mesafe (A) ve kayma (V)
için su iliski geçerlidir: tan (a) = \f / A. Mesafe (A) bu
amaçla kameraya sinyal teknigi ile baglanan bir degerlendirme
düzenegi (20) tarafindan belirlenebilir.
Degerlendirme düzenegi (20) örnegin bir PCS veya benzeri
formda bir isleme makinesine (1) entegre edilebilir` ve bir
kumanda veya ayar düzenegi (21) ile sinyal teknigi ile
baglanabilir.
Degerlendirme düzenegi (20) mesafeyi (A1, A2) kamera (13)
tarafindan, lazer isini eksenine (19) veya agiz boyuna
eksenine (6a) koeksenel bir izleme yönünde (R) ve böylece
yönden bagimsiz kaydedilen bir resim yardimiyla belirler.
Sekil 3a, b'de kamera (13) tarafindan kaydedilen ilk mesafeye
(Al) veya ikinci mesafeye (A2) ait resim (24) gösterilmistir.
Isleme agzinin (6) yuvarlak biçimli kenar konturu (9) islenen
parça. üst yüzeyinin (8) izlenebildigi izleme alani sinirini
olusturur.
Izlenen parça üst yüzeyinin (8) delikten (7) algilanabilen
kesitinde aydinlatilan alan (22) ve kenar konturunun (9), yani
agiz kenarinin gölgesine neden olan bir karanlik alan (23)
görülebilir.
Degerlendirme düzenegi (20) kenar konturu (9) ile aydinlatilan
alan (22) arasindaki kaymayi (Vl, V2) uygun geometri
algilamasi ile belirler ve buradan yukarida verilen formül
yardimiyla ona ait mesafeyi (Al, A2) belirler.
Alternatif veya ek olarak aydinlatilan alanin (22)
genisliginin (B1, B2), tam bir ifade ile aydinlatilan alanin
(22) delikten (7) algilanabilen kesitinin genisliginin (B1,
B2) X yönünde belirlenmesi mümkündür.
Bilinen agiz çapinda (D) aydinlatilan alan (22) kesitinin
genisligi (B) yardimiyla kayma V = D - B hesaplanir ve tan (a)
Hesap alaninda. yukaridaki formül araciligiyla. mesafe de (A)
bulunarak bir tabloda. belirlenebilir, tabloda mesafe (A) ve
kayma (V) veya aydinlatilan alan (22) genisligi (B) arasindaki
iliski çok sayida deger çifti için kaydedilir.
Özellikle mesafe (A) aydinlatilan alan genisligi (B)
yardimiyla belirlendiginde aydinlatma isininin (l7a) deligi
(7) tamamen aydinlatmasi avantajlidir.
Mesafe (A) belirlenirken kesinligin artirilmasi için ilk
aydinlatma isinina (l7a) ek olarak ikinci aydinlatma isini
(l7b) kullanilabilir.
Ikinci aydinlatma isini (l7b) islenen parça üst yüzeyinin (8)
aydinlatilmasi için ilk aydinlatma isini (l7a) ile ayni anda
veya farkli zamanda aydinlatma düzenegi (15) tarafindan
aktiflestirilebilir.
Ilk durumda resim (24) içinde iki karanlik alan olusur.
Ikinci durumda her aktiflesen aydinlatma isini (17a, 17b) için
kayma (V) veya mesafe (A) belirlenebilir ve farkli aydinlatma
isinlarindan. veya. farkli aydinlatma. düzeneklerinden (R1, R2)
(krs. Sekil 1) belirlenen mesafenin (A) mesafe degerleri bir
ortalama deger olusturulmasi ile belirlenir.
Mesafe ölçümünün kesinliginin artirilmasi için farkli
aydinlatma yönlerinin (R1, R2) kullanimina alternatif veya ek
olarak iki aydinlatma isini (17a, 17b) farkli açilar (a, a')
altinda Sekil 1'de açiklandigi gibi (a * a`) delikten (7)
Mesafenin (A) belirlenmesinde kesinligin artirilmasi için
aydinlatma düzenegi (15) tarafindan islenen parça üst yüzeyini
(8) iki üzerinde aydinlatma düzeneginden (R1, R2) ve/veya
farkli açilarda &L a') aydinlatan. iki üzerinden. aydinlatma
isini (17a, 17b) olusturulur.
Burada aydinlatma düzenekleri (R1, R2) Sekil 1'de gösterildigi
gibi lazer isini ekseni (19) veya agiz boyuna ekseni (6a) ile
iliskili ortak bir düzlemde ilerlemez, tersine islenen parça
üst yüzeyinde (8) bir projeksiyonda 180°'lik farkli açiya
sahiptir.
Örnegin projeksiyonda XY düzleminde birbirine 90° açiyla
yönelen dört aydinlatma isini, islenen parça üst yüzeyini (8)
birbirine dikey dört aydinlatma yönünden aydinlatmak için
delikten (7) geçer.
Degerlendirme düzenegi (20) tarafindan. belirlenen. mesafe (A)
yardimiyla ayar düzenegi (21) delik (7) veya lazer isleme
kafasi (3) ve islenen parça üst yüzeyi (8) arasinda nominal
mesafe ile bir karsilastirma uygular.
Bir sapma belirlendiginde ayar düzenegi (21), lazer isleme
kafasi (3) ile islenen parça üst yüzeyi (8) arasindaki
mesafeyi (A) bir nominal mesafeye ayarlamak. amaciyla lazer
isleme kafasinin (3) Z yönünde hareketi için uygun aktörü
etkiler.
Özet olarak yukarida açiklanan sekilde isleme kafasi (3) ile
islenen parça üst yüzeyi (8) arasindaki mesafenin (A)
belirlenmesi basit ve güvenilir biçimde gerçeklesebilir,
burada önerilen mesafenin optik belirlenmesinde kapasitif
mesafe belirlemesine göre ölçüm alani küçültülür, böylece
islenen parçadaki mevcut hatali konturlar ölçüm sonucunu daha
az etkiler.
Ayrica masrafli kalibrasyon Önlenir.
Claims (18)
1. Bir düzenekte (l) olusturulan delik (7) ile bir referans yüzeyi (8) arasindaki mesafenin (A) optik belirlenmesi için yöntem olup, Özelligi; Bir açi ile (a, -a'), yani egik biçimde delikten (7) geçen en az bir aydinlatma isini (l7a, l7b) araciligiyla delikten (7) referans yüzeyinin (8) aydinlatilmasi, Delikten (7) referans yüzeyinin (8) en az bir resminin kaydedilmesi ve Aydinlatma isini (l7a, l7b) tarafindan aydinlatilan referans yüzeyi (8) alani (22) ile deligin (7) bir isleme agzinda (6) olusturuldugu, en az bir resmin (24) kaydedildigi deligin (7) bir kenar konturu (9) arasindaki kayma (V) yardimiyla mesafenin (A) belirlenmesi adimlarini içermesidir.
2. Istem l'e göre yöntem olup, özelligi; isleme agzi (6) agiz eksenine (6a) koeksenel bir izleme yönü (R) boyunca en az bir resmin kaydedilmesidir.
3. Istem 1 veya Z'ye göre yöntem olup, özelligi; deligin (7) en az bir aydinlatma isini (l7a, l7b) tarafindan tamamen aydinlatilmasidir.
4. Önceki istemlerden birine göre yöntem olup, özelligi; aydinlatma isininin (l7a, l7b) delikten geçtigi açinin (a) 2,5D ila 25° arasinda olmasidir.
5. Önceki istemlerden birine göre yöntem olup, özelligi; en az iki aydinlatma isininin (l7a, l7b) ayni zamanda veya farkli zamanlarda farkli aydinlatma yönlerinden (R1, R2) ve/Veya farkli açilar (a, a') altinda delikten (7) geçmesidir.
6. Önceki istemlerden birine göre yöntem olup, özelligi; en az bir aydinlatma isininin (l7a, l7b) delige (7) ulasmadan Önce dis ortada bir odaklama düzeneginden (5) geçmesidir.
7. Istem 6'ya göre yöntem olup, özelligi; en az bir aydinlatma isininin (l7a, l7b) odaklama düzenegine (5) ulasmadan önce delikten (7) geçen bir yüksek enerji isinina, özellikle bir lazer isinina (2) paralel ilerlemesidir.
8. Istem 7'ye göre yöntem olup, özelligi; en az bir aydinlatma isininin (17a, l7b) bir oluklu aynada (11) yüksek enerji isininin (2) geçmesi için; yüksek enerji isininar (2) paralel yönde çevrilmesidir.
9. Önceki istemlerden birine göre yöntem olup, özelligi; referans yüzeyinin bir islenen parça üst yüzeyi (8) olmasidir.
10. Bilgisayar programi ürünü olup, özelligi; bilgisayar programi bir veri isleme sistemine geçtiginde önceki istemlerdenr birine göre yöntemini tüm; adimlarinin uygulanmasi için adapte edilen kod aracina sahip olmasidir.
11. Düzenekte (1) olusturulan bir delik (7) ile bir referans yüzeyi (8) arasindaki mesafenin. (A) optik belirlenmesi için düzenek olup, özelligi; Referans yüzeyinin; (8) aydinlatilmasi için; bir` açi (a, -a') ile, yani egik biçimde delikten (7) geçen en az bir aydinlatma isininin (l7a, l7b) olusturulmasi için bir aydinlatma düzenegini (15), delikten (7) geçerek ilerleyen bir izleme isini yolu (12) araciligiyla referans yüzeyinin (8) Gül az bir resminin (24) kaydedilmesi için bir resim kayit düzenegini (13), en az bir aydinlatma isini (17a, 17b) tarafindan aydinlatilan referans yüzeyi (8) alani (22) ile içinden en az bir resmin (24) kaydedildigi deligin (7) bir kenar konturu (9) arasindaki kayma (V) yardimiyla mesafenin (A) belirlenmesi için, deligin (7) isleme agzina (6) yapildigi bir degerlendirme düzenegini (20 içermesidir.
12. Istem 11'e göre düzenek olup, özelligi; bir yüksek enerji isininin (2) geçmesi için bir isleme agzi (6) deliginden (7) ilerleyen bir izleme isini yolu (12) araciligiyla en az bir resmin (24) kaydedilmesi için resim kayit düzeneginin (13) yapilmasidir.
13. Istem 12'ye göre düzenek olup, özelligi; isleme agzi (6) boyuna eksenine (6a) koeksenel bir izleme yönünden (R) en az bir` resim (24) kaydeden resim kayit düzeneginin (13) yapilmasidir.
14. Isteni 11 veya l2'ye göre düzenek olup, özelligi; resim kayit düzeneginin (13) üzerinde en az bir resmin (24) olusturuldugu en az bir detektör yüzeyine (l3a) sahip olmasidir.
15. Istem 11 ila lé'ten birine göre düzenek olup, özelligi; farkli aydinlatma yönlerinden (R1, R2) ve/Veya farkli açilar altinda (a, a') delikten (7) geçen en az iki aydinlatma isininin (17a, l7b) olusturulmasi için aydinlatma düzeneginin (l5) yapilmasidir.
16. Istem 11 ila 15'ten birine göre düzenek olup, özelligi; aydinlatma isininin (17a, l7b) delikten geçtigi açinin (a) 2,5° ila 25° arasinda olmasidir.
17. Istem 11 ila l6'dan birine göre düzenek olup, özelligi; en az bir aydinlatma isininin (l7a, l7b) dis ortadan geçtigi bir odaklama düzenegini (5) içermesidir.
18. Istem 11 ila l7'den birine göre düzenek olup, özelligi; en az bir aydinlatma isininin (l7a, l7b) yüksek. enerji isinina (2) paralel bir yönde (X) yansitilmasi amaciyla. en az bir aydinlatma isinini (l7a, l7b) oluklu aynaya (ll) veren aydinlatma düzeneginin (15) yapildigi, bir yüksek enerji isininin (2) geçisi için bir oluklu ayna (ll) içermesidir.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102014203645.3A DE102014203645B4 (de) | 2014-02-28 | 2014-02-28 | Verfahren und Vorrichtung zum optischen Bestimmen eines Abstandes |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TR201816334T4 true TR201816334T4 (tr) | 2018-11-21 |
Family
ID=52648994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TR2018/16334T TR201816334T4 (tr) | 2014-02-28 | 2015-02-25 | Bir mesafenin optik belirlenmesi için yöntem ve düzenek. |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP3111161B1 (tr) |
CN (1) | CN106030238B (tr) |
DE (1) | DE102014203645B4 (tr) |
PL (1) | PL3111161T3 (tr) |
TR (1) | TR201816334T4 (tr) |
WO (1) | WO2015128353A1 (tr) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016219927B4 (de) | 2016-10-13 | 2018-08-30 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg | Vorrichtung und Verfahren zur Überwachung eines thermischen Schneidprozesses |
DE102016222187A1 (de) * | 2016-11-11 | 2018-05-17 | Trumpf Laser- Und Systemtechnik Gmbh | Verfahren zum Bestimmen eines Strahlprofils eines Laserstrahls und Bearbeitungsmaschine |
DE102017202628B4 (de) | 2017-02-17 | 2022-03-17 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg | Verfahren zum Kodieren eines plattenartigen Werkstücks, Verfahren zum Identifizieren eines plattenartigen Werkstücks, Strahlungsbearbeitungsvorrichtung und Kodiersystem |
DE102017115922C5 (de) | 2017-07-14 | 2023-03-23 | Precitec Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Messung und Einstellung eines Abstands zwischen einem Bearbeitungskopf und einem Werkstück sowie dazugehöriges Verfahren zur Regelung |
WO2019110114A1 (en) * | 2017-12-07 | 2019-06-13 | Bystronic Laser Ag | Device for monitoring beam treatment of a workpiece and use thereof, device for beam treatment of a workpiece and use thereof, method for monitoring beam treatment of a workpiece, method for beam treatment of a workpiece |
FI128443B (en) * | 2018-12-21 | 2020-05-15 | Valmet Automation Oy | Contactless thickness measurement |
DE102019132619A1 (de) * | 2019-12-02 | 2021-06-02 | Trumpf Laser Gmbh | Verfahren zur Abstandsmessung mittels OCT und zugehöriges Computerprogrammprodukt |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4039318A1 (de) * | 1990-12-10 | 1992-06-11 | Krupp Gmbh | Einrichtung zur erfassung der hoehenlage einer laserbearbeitungsvorrichtung bezueglich eines werkstuecks |
JP2720744B2 (ja) * | 1992-12-28 | 1998-03-04 | 三菱電機株式会社 | レーザ加工機 |
DE10056329B4 (de) * | 2000-11-14 | 2006-10-26 | Precitec Kg | Optisches Abstandsmeßverfahren und Abstandssensor |
US7189985B2 (en) * | 2004-10-30 | 2007-03-13 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Tracking separation between an object and a surface using a reducing structure |
DE202007002260U1 (de) * | 2007-02-15 | 2008-06-26 | Leuze Electronic Gmbh & Co Kg | Optoelektronische Vorrichtung |
US8570194B2 (en) * | 2008-09-05 | 2013-10-29 | Microsoft Corporation | Clutch-height adjustment in an optical tracking device |
DE102011003717A1 (de) * | 2011-02-07 | 2012-08-09 | Trumpf Werkzeugmaschinen Gmbh + Co. Kg | Vorrichtung und Verfahren zur Überwachung und insbesondere zur Regelung eines Laserschneidprozesses |
DE102011016519B4 (de) * | 2011-04-08 | 2019-03-28 | Lessmüller Lasertechnik GmbH | Vorrichtung zur Bearbeitung eines Werkstücks mittels eines hochenergetischen Bearbeitungsstrahls |
-
2014
- 2014-02-28 DE DE102014203645.3A patent/DE102014203645B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2015
- 2015-02-25 CN CN201580010760.3A patent/CN106030238B/zh active Active
- 2015-02-25 TR TR2018/16334T patent/TR201816334T4/tr unknown
- 2015-02-25 PL PL15709120T patent/PL3111161T3/pl unknown
- 2015-02-25 WO PCT/EP2015/053894 patent/WO2015128353A1/de active Application Filing
- 2015-02-25 EP EP15709120.8A patent/EP3111161B1/de active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN106030238A (zh) | 2016-10-12 |
WO2015128353A1 (de) | 2015-09-03 |
DE102014203645A1 (de) | 2015-09-03 |
EP3111161B1 (de) | 2018-08-08 |
EP3111161A1 (de) | 2017-01-04 |
PL3111161T3 (pl) | 2019-02-28 |
DE102014203645B4 (de) | 2016-06-02 |
CN106030238B (zh) | 2019-03-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TR201816334T4 (tr) | Bir mesafenin optik belirlenmesi için yöntem ve düzenek. | |
US10612907B2 (en) | Device and method for measuring workpieces | |
US10830574B2 (en) | Coordinate measuring apparatus with optical sensor and corresponding method | |
TWI582525B (zh) | 影像感測器定位裝置及方法 | |
CA3036985C (en) | Method for optically measuring the weld penetration depth | |
CN109084681B (zh) | 相对接触探针校准视觉系统的系统及方法 | |
US9982997B2 (en) | Laser measurement system and method for measuring 21 GMEs | |
CN111065947B (zh) | 用于确定相干断层摄影机的光学设备的定向的设备、相干断层摄影机和激光加工系统 | |
JP6508764B2 (ja) | 白色光干渉計光学ヘッドを用いた非接触表面形状測定方法及び装置 | |
US8767218B2 (en) | Optical apparatus for non-contact measurement or testing of a body surface | |
US20120154571A1 (en) | Edge detection using structured illumination | |
US10252392B2 (en) | System for identifying and duplicating master keys | |
JP6288280B2 (ja) | 表面形状測定装置 | |
US5432330A (en) | Two-stage detection noncontact positioning apparatus having a first light detector with a central slit | |
CN113195148B (zh) | 检测生成制造设备工作区域的方法及由粉末材料生成制造构件的制造设备 | |
JP2008268122A (ja) | 非接触形状測定装置 | |
US9863757B1 (en) | Measurement apparatus | |
RU2311610C1 (ru) | Оптоэлектронное устройство контроля параметров резьбы | |
JP6839916B2 (ja) | 内面検査システムおよびその光学系 | |
JP2017129523A (ja) | 内面検査システム、アセンブリ、および導光部品 | |
KR102008253B1 (ko) | 간섭계 기반의 다채널 광 계측기 | |
WO2019230215A1 (ja) | 撮像装置 | |
CN110382159B (zh) | 用于识别工件接合位置的方法和激光加工头 | |
JP2017198485A (ja) | 内面検査システム | |
JP2017181172A (ja) | レンズユニット、計測装置、および計測システム |