TH83400B - วงจรลูปแบบล็อคเฟสและวิธีการควบคุมลูปแบบล็อคเฟส - Google Patents
วงจรลูปแบบล็อคเฟสและวิธีการควบคุมลูปแบบล็อคเฟสInfo
- Publication number
- TH83400B TH83400B TH601003902A TH0601003902A TH83400B TH 83400 B TH83400 B TH 83400B TH 601003902 A TH601003902 A TH 601003902A TH 0601003902 A TH0601003902 A TH 0601003902A TH 83400 B TH83400 B TH 83400B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- phase
- locked loop
- pattern
- signal
- error
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract 6
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract 1
Abstract
วงจรลูปแบบล็อคเฟสและวิธีการควบคุมลูปแบบล็อคเฟสในระบบถอดแบบแผ่นดิสก์แบบ ทำงานด้วยแสงซึ่งมีสภาพที่มี ISI ในระดับสูงสามารถตรวจจับค่าผิดพลาดเฟสและค่าผิดพลาดความถี่ของ สัญญาณเข้าได้โดยอาศัยแบบแผน อาทิเช่น แบบแผนการประสานเวลา ซึ่งมีการกระจายสม่ำเสมอที่ กำหนดไว้ล่วงหน้าตลอดทั้งช่วง วงจรลูปแบบล็อคเฟสมีส่วนที่เป็นเครื่องสุ่มตัวอย่างซึ่งสุ่มตัวอย่าง สัญญาณเข้าตามสัญญาณออกของนาฬิกาสุ่มตัวอย่างจากวงจรลูปแบบล็อคเฟส, มีหน่วยกำเนิดค่าผิดพลาด สัญญาณ/เฟสในการตรวจจับแบบแผนซึ่งกำเนิดสัญญาณตรวจจับแบบแผนที่บ่งบอกการตรวจจับแบบ แผนที่กำหนดไว้ล่วงหน้า,ตรวจจับค่าผิดพลาดเฟสระหว่างสัญญาณเข้าที่สุ่มตัวอย่างมากับจุดตัดข้ามศูนย์ ของสัญญาณเข้าถ้าสัญญาณเข้าที่สุ่มตัวอย่างมาซึ่งถูกส่งออกจากเครื่องสุ่มตัวอย่างมีแบบแผนที่กำหนดไว้ ล่วงหน้า และส่งค่าผิดพลาดเฟสที่ถูกตรวจจับออกมา และมีหน่วยกำเนิดนาฬิกาสุ่มตัวอย่างซึ่งกำเนิด นาฬิกาสุ่มตัวอย่างโดยอาศัยสัญญาณตรวจจับแบบแผนและค่าผิดพลาดเฟส โดยที่แบบแผนที่กำหนดไว้ ล่วงหน้าเป็นแบบแผนซึ่งมีการกระจายอย่างสม่ำเสมอตลอดทั้งช่วงที่สัญญาณเข้าสามารถถูกป้อนเข้าไป ได้
Claims (1)
1. วงจรลูปแบบล็อคเฟส ซึ่งมีส่วนประกอบดังต่อไบนี้ เครื่องสุ่มตัวอย่างซึ่งสุ่มตัวอย่างสัญญาณเข้าตามสัญญาณออกของนาฬิกาสุ่มตัวอย่าง หน่วยกำเนิดค่าผิดพลาดสัญญาณ/เฟสในการตรวจจับแบบแผนซึ่งกำเนิดสัญญาณตรวจ จับแบบแผนที่บ่งบอกการตรวจจับแบบแผนที่กำหนดไว้ล่วงหน้า, ตรวจจับค่าผิดพลาดเฟสระหว่าง สัญญาณเข้าที่สุ่มตัวอย่างมากับจุดตัดข้ามศูนย์ของสัญญาณเข้าถ้าสัญญาณเข้าที่สุ่มตัวอย่างมาซึ่งถูกส่ง ออกจากเครื่องสุ่มตัวอย่างมีแบบแผนที่กำหนดไว้ล่วงหน้า และส่งค่าผิดพลาดเฟสออก
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH83400A TH83400A (th) | 2007-03-01 |
| TH83400B true TH83400B (th) | 2007-03-01 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TW200741217A (en) | Testing apparatus, testing method, jitter filter circuit, and method of jitter filtering | |
| TW200718026A (en) | An improved lock detect circuit for a phase locked loop | |
| WO2008114509A1 (ja) | クロックデータリカバリ回路、方法ならびにそれらを利用した試験装置 | |
| US10436856B2 (en) | Magnetic sensor apparatus and current sensor apparatus | |
| JP2008224255A (ja) | 電源ノイズ測定回路および測定方法 | |
| JP2009278528A5 (th) | ||
| JP2013243606A5 (th) | ||
| JP2015527013A5 (th) | ||
| JP2005210297A (ja) | ノイズ検出装置 | |
| TW200709570A (en) | Phase locked loop circuit and phase locked loop control method | |
| US8565271B2 (en) | Multiplexer lane alignment for high-speed data systems | |
| US12085977B2 (en) | Clock drift monitor | |
| TH83400B (th) | วงจรลูปแบบล็อคเฟสและวิธีการควบคุมลูปแบบล็อคเฟส | |
| CN104820225B (zh) | 基于时标监测和载波相位的接收机抗干扰监测系统及方法 | |
| TH83400A (th) | วงจรลูปแบบล็อคเฟสและวิธีการควบคุมลูปแบบล็อคเฟส | |
| TW200506906A (en) | Detecting device for tracing error | |
| WO2007114098A1 (ja) | ジッタ増幅器、ジッタ増幅方法、電子デバイス、試験装置、及び試験方法 | |
| TW200718930A (en) | Temperature detecting apparatus | |
| DE602006000313D1 (de) | Auf Run-length basierender Frequenzdetektor für eine Phasenregelschleife und dazu gehöriges Verfahren | |
| JP2013070254A (ja) | Ｃｄｒ回路 | |
| JP5210646B2 (ja) | 被測定信号の変化点を検出する装置、方法および試験装置 | |
| JP6352117B2 (ja) | 濾波装置および濾波方法 | |
| JP2011176521A (ja) | Ｐｌｌ回路のジッタ補正装置 | |
| CN105187056A (zh) | 一种时钟信号生成装置及时钟信号生成方法 | |
| JP5249357B2 (ja) | 電子デバイス、試験装置および試験方法 |