TH53577B - วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ - Google Patents

วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ

Info

Publication number
TH53577B
TH53577B TH401003511A TH0401003511A TH53577B TH 53577 B TH53577 B TH 53577B TH 401003511 A TH401003511 A TH 401003511A TH 0401003511 A TH0401003511 A TH 0401003511A TH 53577 B TH53577 B TH 53577B
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
cutting
semiconductor substrate
wafer
cut
area
Prior art date
Application number
TH401003511A
Other languages
English (en)
Other versions
TH73543A (th
Inventor
ฟูคูมิตสึ นายเคนชิ
อัทสึมิ นายคาซูฮิโร
อูชิยามะ นายนาโอกิ
ฟูคูโย นายฟูมิสึกุ
ซูกิอูระ นายริวจิ
Original Assignee
นางสาวปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์
นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์ นางสาวปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์ นายบุญมา เตชะวณิช นายต่อพงศ์ โทณะวณิก
นายต่อพงศ์ โทณะวณิก
นายบุญมา เตชะวณิช
Filing date
Publication date
Application filed by นางสาวปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์, นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์, นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์ นางสาวปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์ นายบุญมา เตชะวณิช นายต่อพงศ์ โทณะวณิก, นายต่อพงศ์ โทณะวณิก, นายบุญมา เตชะวณิช filed Critical นางสาวปรับโยชน์ ศรีกิจจาภรณ์
Publication of TH73543A publication Critical patent/TH73543A/th
Publication of TH53577B publication Critical patent/TH53577B/th

Links

Abstract

DC60 (26/11/47) วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำซึ่งสามารถตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำที่ซึ่งส่วนผิวด้านหน้า ก่อขึ้นรูปพร้อมด้วยอุปกรณ์เชิงหน้าที่พร้อมด้วยชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์อย่างมีประสิทธิภาพจะ ได้รับการจัดเตรียมขึ้น เวเฟอร์ 11 ซึ่งมีส่วนผิวด้านหน้า 3 ซึ่งก่อขึ้นรูปพร้อมด้วยอุปกรณ์เชิงหน้าที่ 15 จะได้รับการฉายด้วยแสงเลเซอร์ L ในขณะที่จะจัดตำแหน่งจุดที่แสงลู่เข้า P ให้อยู่ภายในเวเฟอร์ 11 โดยมีส่วนผิวด้านหลัง 17 ของเวเฟอร์ 11 ทำหน้าที่เป็นส่วนผิวที่แสงเลเซอร์ตกกระทบ เพื่อที่จะ ก่อกำเนิดการดูดกลืนหลายโฟตอน ด้วยเหตุนี้จะก่อเกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัด 8 อันเนื่อง มาจากบริเวณที่ผ่านการดำเนินกรรมวิธีหลอมละลาย 13 ภายในเวเฟอร์ 11 ไปตามแนวซึ่งซับสเทรท ควรได้รับการตัดตาม 5 สำหรับผลที่ตามมานั้น สามารถก่อกำเนิดรอยแตกจากบริเวณจุดเริ่มต้น สำหรับการตัด 8 โดยธรรมชาติหรือด้วยแรงขนาดค่อนข้างน้อย เพื่อที่จะไปถึงส่วนผิวด้านหน้า 3 และ ส่วนผิวด้านหลัง 17 เพราะฉะนั้น เมื่อฟิล์มชนิดขยายตัว 21 ได้รับการติดเข้าส่วนผิวด้านหลัง 17 ของ เวเฟอร์ 11 โดยอาศัยชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์ 23 ภายหลังการก่อเกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัด 8 และจากนั้นจะได้รับการยืดขยาย เวเฟอร์ 11 และชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์ 23 จะสามารถได้รับ การตัดไปตามแนวซึ่งซับสเทรทควรได้รับการตัดตาม 5 วิธีการตัดซับสเทรคทสารกึ่งตัวนำซึ่งสามารถตัดซับสเทรทกึ่งตัวนำที่ซึ่งส่วนผิวด้านหน้าก่อขึ้นรูปพร้อมด้วย อุปกรณ์เชิงหน้าที่พร้อมด้วยชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์อย่าง มีประสิทธิภาพจะได้รับการจัดเตรียมขึ้น เวเฟอร์ 11 ซึ่งมี ส่วนผิวด้านหน้า 3 ซึ่งก่อขึ้นรูปพร้อมด้วยอุปกรณ์เชิงหน้า ที่ 15 จะได้รับการฉายด้วยแสงเลเซอร์ L ในขณะที่จะจัด่ ตำแหน่งจุดที่แสงลู่เข้า P ให้อยู่ภายในเวเฟอร์ 11 โดยมี ส่วนผิวด้านหลัง 17 ของเวเฟอร์ 11 ทำหน้าที่เป็นส่วนผิวที่ แสงเลเซอร์ตกกระทบ เพื่อที่จะก่อกำเนิดการดูดกลืนหลายโฟตอน ด้วยเหตุนี้จะก่อเกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัด 8 อัน เนื่องมาจากบริเวณที่ผ่านการดำเนินกรรมวิธีหลอมละลาย 13 ภายในเวเฟอร์ 11 ไปตามแนวซึ่งซับสเทรทควรได้รับการตัดตาม 5 สำหรับผลที่ตามมานั้น สามารถก่อกำเนินรอยแตกจากบริเวณจุด เริ่มต้นสำหรับการดัด 8 โดยธรรมชาติหรือด้วยแรงขนาดค่อน ข้างน้อย เพื่อที่จะไปถึงส่วนผิวด้านหน้า 3 และส่วนผิวด้าน หลัง 17 เพราะฉะนั้น เมื่อฟิล์มชนิดขยายตัว 21 ได้รับการ ติดเข้าส่วนผิวด้านหลัง 17 ของเวเฟอร์ 11 โดยอาศัยชั้นเร ซินยึดเกาะแบบพิมพ์ 23 ภายหลังการก่อเกิดบริเวณจุดเริ่มต้น สำหรับการตัด 8 และจากนั้นจะได้รับการยืดขยาย เวเฟอร์ 11 และชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์ 23 จะสามารถได้รับการตัดไปตาม แนวซึ่งซับสเทรทควรได้รับการตัดตาม 5

Claims (8)

1. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำสำหรับการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำซึ่งมีส่วนผิวด้านหน้าที่ก่อขึ้นรูปพร้อมด้วย อุปกรณ์เชิงหน้าที่ไปตามแนวซึ่งซับสเทรทควรได้รับการตัดตาม วิธีการนี้ประกอบรวมด้วยขั้นตอนของ การฉายซับสเทรทสารกึ่งตัวนำนี้ด้วยแสงเลเซอร์ในขณะที่จัด ตำแหน่งจุดที่แสงลู่เข้าไว้ภายในซับสเทรทสารกึ่งตัวนำโดยมี ส่วนผิวด้านด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำนี้ทำหน้าที่ เป็นส่วนผิวที่แสงเลเซอร์ตกกระทบ เพื่อที่จะก่อเกิดบริเวณ ผ่านการดัดแปร และทำให้เกิดบริเวณผ่านการดัดแปรเพื่อก่อ เกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการดัดไปตามแนวซึ่งซับสเทรทควร ได้รับการตัดตามภายในระยะที่กำหนดล่วงหน้าจากส่วนผิวที่แสง เลเซอร์ตกกระทบ และ การติดชิ้นประกอบเพื่อการยึดจับชนิดยืดขยายได้เข้ากับส่วน ผิวด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำโดยอาศัยชั้นเรซินยึด เกาะแบบพิมพ์ภายหลังการก่อเกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการ ตัด และ การตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำและชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์ไป ตามแนวซึ่งซับสเทรทควรได้รับการตัดตาม โดยการยืดขยายชิ้น ประกอบเพื่อการยึดจับภายหลังการติดชิ้นประกอบเพื่อการยึด จับนี้
2. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งประกอบรวมต่อไปด้วยขั้นตอนของการขัดส่วนผิวด้านท้ายของ ซับสเทรทสารกึ่งตัวนำในลักษณะที่ว่าซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ นี้จะมีความหนาตามที่กำหนดล่วงหน้าก่อนการก่อเกิดบริเวณจุด เริ่มต้นสำหรับการตัด
3. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 2 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งบริเวณผ่านการดัดแปรนี้รวมถึง บริเวณที่ผ่านการดำเนินกรรมวิธีหลอมละลาย
4. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 2 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งบริเวณผ่านการดัดแปรนี้รวมถึง บริเวณที่ผ่านการดำเนินกรรมวิธีหลอมละลายและที่ว่างขนาด เล็กซึ่งมีตำแหน่งอยู่บนด้านตรงข้ามของบริเวณที่ผ่านการดำ เนินกรรมวิธีหลอมละลายนี้จากส่วนผิวที่แสงเลเซอร์ตกกระทบ
5. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 4 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่ง จะยอมให้มีรอยแตกที่จะทำให้ ไปถึงส่วนผิวด้านหน้าของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำจากบริเวณจุด เริ่มต้นสำหรับการตัดซึ่งทำหน้าที่เป็นจุดเริ่มเมื่อก่อ เกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัด
6. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 4 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่ง จะยอมให้มีรอยแตกที่จะทำให้ ไปถึงส่วนด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำจากบริเวณจุด เริ่มต้นสำหรับการดัดซึ่งทำหน้าที่เป็นจุดเริ่มเมื่อก่อ เกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัด
7. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 4 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่ง จะยอมให้มีรอยแตกที่จะทำให้ ไปถึงส่วนผิวด้านหน้าและส่วนผิวด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่ง ตัวนำจากบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัดซึ่งทำหน้าที่เป็น จุดเริ่มเมื่อก่อเกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัด
8. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 7 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งประกอบรวมด้วยขั้นตอนของการ ให้ความร้อนชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์ก่อนขั้นตอนของการตัด ซับสเทรทสารกึ่งตัวนำและชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์ไปตามแนว ซึ่งซับสเทรทควรได้รับการตัดตามโดยการยืดขยายชิ้นประกอบ เพื่อการยึดจับนี้ (ข้อถือสิทธิ 8 ข้อ, 2 หน้า, 23 รูป)
TH401003511A 2004-09-10 วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ TH53577B (th)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH73543A TH73543A (th) 2005-12-15
TH53577B true TH53577B (th) 2017-01-27

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2004001076A5 (th)
US11574835B2 (en) Thermoplastic temporary adhesive for silicon handler with infra-red laser wafer de-bonding
US8551817B2 (en) Semiconductor substrate cutting method
KR100855136B1 (ko) 반도체 기판의 절단 방법
TW546721B (en) Element transfer method, element arrangement method using the same, and manufacturing method of image display device
US9099546B2 (en) Workpiece dividing method including two laser beam application steps
US10174229B2 (en) Adhesive resins for wafer bonding
JP2005086111A (ja) 半導体基板の切断方法
JP2008006492A (ja) サファイア基板の加工方法
US10644188B2 (en) Laser epitaxial lift-off GaAs substrate
TH53577B (th) วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ
TH73543A (th) วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ
JP2009259999A (ja) 熱硬化接着剤付き半導体チップの製造方法
TH65465A (th) วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ
JP2004327587A (ja) 電子部品製造方法および電子部品の集合体の製造方法ならびに電子部品の集合体
TH65466A (th) วิธีการดำเนินการด้วยเครื่องซึ่งใช้เลเซอร์
JP3572777B2 (ja) 電子部品の製造方法
JPH0260076B2 (th)
CN115088059A (zh) 加工对象物切割方法及树脂涂布装置
CN107030404A (zh) 晶片的加工方法
JP2004291193A (ja) 脆性材料の加工方法および脆性材料素子の製造方法
TH52677B (th) วิธีการดำเนินการด้วยเครื่องซึ่งใช้เลเซอร์
Xu et al. Study of the laser lift-off technology of GaN films from sapphire substrates