TH52676B - วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ - Google Patents

วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ

Info

Publication number
TH52676B
TH52676B TH301003386A TH0301003386A TH52676B TH 52676 B TH52676 B TH 52676B TH 301003386 A TH301003386 A TH 301003386A TH 0301003386 A TH0301003386 A TH 0301003386A TH 52676 B TH52676 B TH 52676B
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
semiconductor substrate
cutting
section
cut
cross
Prior art date
Application number
TH301003386A
Other languages
English (en)
Other versions
TH65465A (th
Inventor
ฟูคูมิตสึ นายเคนชิ
อูชิยามะ นายนาโอกิ
ฟูคูโย นายฟูมิสึกุ
ซูกิอูระ นายริวจิ
Original Assignee
นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์ นายบุญมา เตชะวณิช นายต่อพงศ์ โทณะวณิก นายวิรัช ศรีเอนกราธา
นายต่อพงศ์ โทณะวณิก
นายบุญมา เตชะวณิช
นายวิรัช ศรีเอนกราธา
Filing date
Publication date
Application filed by นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์, นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์ นายบุญมา เตชะวณิช นายต่อพงศ์ โทณะวณิก นายวิรัช ศรีเอนกราธา, นายต่อพงศ์ โทณะวณิก, นายบุญมา เตชะวณิช, นายวิรัช ศรีเอนกราธา filed Critical นายจักรพรรดิ์ มงคลสิทธิ์
Publication of TH65465A publication Critical patent/TH65465A/th
Publication of TH52676B publication Critical patent/TH52676B/th

Links

Abstract

DC60 (04/12/46) หลังจากที่ส่วนตัดตามแผน 9 ที่มีพื้นฐานบนบริเวณผ่านการดำเนินการให้หลอมเหลว 13 ได้ รับการก่อรูปขึ้นมาในภายในของแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 โดยการทำให้การดูดกลืนพหุโฟตอนบังเกิด ขึ้นมา แผ่นสารยึดติด 20 ที่แปะติดกับแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 จะได้รับการทำให้ยืดออก ผลก็คือ แผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 จะได้รับการตัดอย่างเที่ยงตรงเป็นชิปสารกึ่งตัวนำ 25 ตามแนวของส่วนตัด ตามแผน 9 ณ เวลานี้ พื้นผิวตัดที่หันหน้าเข้าหากัน 25a, 25a ของชิปสารกึ่งตัวนำ 25 ที่อยู่ใกล้กันจะ ได้รับการทำให้แยกออกจากสภาพที่ยืดติดกันแน่น; ดังนั้น ชั้นเรซืนเพื่อการติดกับเบ้ารับ 23 จะได้รับ การตัดด้วยเช่นกันตามแนวของส่วนตัดตามแผน 9 ดังนั้น จะสามารถตัดแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 และ ชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับ 23 ได้อย่างมีประสิทธิภาพมากกว่าในกรณีที่ทำการตัดแผ่นเวเฟอร์ ซิลิคอน 11 และชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับ 23 โดยอาศัยใบมีดโดยไม่ตัดซับสเทรท 21 อยู่อย่างมาก หลังจากที่ส่วนตัดตามแผน 9 ที่มีพื้นฐานบนบริเวณผ่านการดำเนินการให้หลอมเหลว 13 ได้ รับการก่อรูปขึ้นมาในภายในของแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 โดยการทำให้การดูดกลืนพหุโฟตอนบังเกิด ขึ้นมา แผ่นสารยึดติด 20 ที่แปะติดกับแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 จะได้รับการทำให้ยืดออก ผลก็คือ แผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 จะได้รับการตัดอย่างเที่ยงตรงเป็นชิปสารกึ่งตัวนำ 25 ตามแนวของส่วนตัด ตามแผน 9 ณ เวลานี้ พื้นผิวตัดที่หันหน้าเข้าหากัน 25a, 25a ของชิปสารกึ่งตัวนำ 25 ที่อยู่ใกล้กันจะ ได้รับการทำให้แยกออกจากสภาพที่ยืดติดกันแน่น; ดังนั้น ชั้นเรซีนเพื่อการติดกับเบ้ารับ 23 จะได้รับ การตัดด้วยเช่นกันตามแนวของส่วนตัดตามแผน 9 ดังนั้น จะสามารถตัดแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 และ ชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับ 23 ได้อย่างมีประสิทธิภาพมากกว่าในกรณีที่ทำการตัดแผ่นเวเฟอร์ ซิลิคอน 11 และชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับ 23 โดยอาศัยใบมัดโดยไม่ตัดซับสเทรท 21 อยู่อย่างมาก

Claims (8)

1. วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ, วิธีการดังกล่าวประกอบรวมด้วยขั้นตอนของ; การก่อรูปส่วนตัดที่ซึ่งควรทำการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำขึ้นมาโดยการฉายแสงเลเซอร์ใน สภาพที่จุดลู่รวม (conversing point) ของแสงเลเซอร์ได้รับการกำหนดให้มีตำแหน่งอยู่ภายใน ซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ ซึ่งได้ติดแผ่นเข้าไปโดยมีชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับแทรกอยู่ตรงกลาง เพื่อ การก่อรูปบริเวณดัดแปลงที่ก่อรูปขึ้นมาโดยการดูดกลืนพหุโฟตอนขึ้นมาภายในซับสเทรทสารกึ่ง- ตัวนำ และส่วนตัดได้รับการก่อรูปขึ้นมาโดยบริเวณดัดแปลง;และ การตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว และขั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับดังกล่าวตามแนว ของส่วนตัดโดยการทำให้แผ่นดังกล่าวยืดออก หลังขั้นตอนการก่อรูป 2. วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ, วิธีการดังกล่าวประกอบรวมด้วยขั้นตอนของ; การก่อรูปส่วนตัดที่ซึ่งควรทำการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำขึ้นมาโดยการฉายแสงเลเซอร์ใน สภาพที่จุดลู่รวมของแสงเลเซอร์ได้รับการกำหนดให้มีตำแหน่งอยู่ภายในซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ ซึ่ง ได้ติดแผ่นเข้าไปโดยมีชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับแทรกอยู่ตรงกลาง เพื่อการก่อรูปบริเวณดัดแปลง ที่ประกอบด้วยบริเวณผ่านการดำเนินการให้หลอมเหลวที่ก่อรูปชึ้นมาโดยการดูดกลืนพหุโฟตอนขึ้น มาภายในซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ ภายใต้ภาวะซึ่งทำให้มีความหนาแน่นของกำลังค่ายอด ณ จุดลู่รวม เป็น 1x108 (วัตต์/ซม.2) หรือมากกว่านั้น และความกว้างพัลส์เป็น 1 ไมโครวินาที หรือน้อยกว่านั้น และส่วนตัดได้รับการก่อรูปขึ้นมาโดยบริเวณดัดแปลงที่ประกอบด้วยบริเวณผ่านการดำเนินการให้ หลอมเหลว;และ การตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว และชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับดังกล่าวตามแนว ของส่วนตัดดังกล่าวโดยการทำให้แผ่นดังกล่าวยืดออก หลังขั้นตอนการก่อรูปดังกล่าว 3. วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ, วิธีการดังกล่าวประกอบรวมด้วยขั้นตอนของ; การก่อรูปส่วนตัดที่ซึ่งควรทำการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำขี้มาโดยการฉายแสงเลเซอร์ใน สภาพที่จุดลู่รวมของแสงเลเซอร์ได้รับการกำหนดให้มีตำแหน่งอยู่ภายในซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ ซึ่ง ได้ติดแผ่นเข้าไปโดยมีชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับแทรกอยู่ตรงกลาง เพื่อการก่อรูปบริเวณดัดแปลง ขึ้นมา; และ การตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว และชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับดังกล่าวตามแนว ของส่วนตัดดังกล่าวโดยการทำให้แผ่นดังกล่าวยืดออก หลังขั้นตอนการก่อรูปดังกล่าว 4. วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ, วิธีการดังกล่าวประกอบรวมด้วยขั้นตอนของ; การก่อรูปส่วนตัดที่ซึ่งควรทำการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำขึ้นมาโดยการฉายแสงเลเซอร์ใน สภาพที่จุดลู่รวมของแสงเลเซอร์ได้รับการกำหนดให้มีตำแหน่งอยู่ภายในซับสเทรทสรกึ่งตัวนำ ซึ่ง ได้ติดแผ่นเข้าไป เพื่อการก่อรูปบริเวณตัดแปลงขึ้นมา;และ การตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวตามแนวของส่วนตัดดังกล่าวโดยการทำให้แผ่นดัง กล่าวยืดออก หลังขั้นตอนการก่อรูปดังกล่าว 5. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 3 หรือข้อถือสิทธิข้อ 4 ที่ซึ่ง บริเวณดัดแปลงดังกล่าวเป็นบริเวณ ผ่านการดำเนินการให้หลอมเหลว 6. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึง 4 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งรอยแตกได้รับการทำให้บรรลุถึงผิวด้าน หน้าของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวทางด้านที่แสงเลเซอร์ตกกระทบ โดยมีส่วนตัดดังกล่าวเป็น จุดเริ่มต้น ในขั้นตอนดังกล่าวที่ซึ่งส่วนตัดตามแผนได้รับการก่อรูปขึ้นมา 7. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึง 4 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งรอยแตกได้รับการทำให้บรรลุถึงผิวด้าน หลังของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวบนคนละด้านกันกับด้านที่แสงเลเซอร์ตกกระทบ โดยมีส่วน ตัดดามแผนดังกล่าวเป็นจุดเริ่มต้น ในขั้นตอนดังกล่าวที่ซึ่งส่วนตัดตามแผนได้รับการก่อรูปขั้นมา 8. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึง 4 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งรอยแตกได้รับการทำให้บรรลุถึงผิวด้าน หน้าของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวทางด้านที่แสงเลเซอร์ตกกระทบ และผิวด้านหลังของซับ- สเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวบนคนละด้านกันกับด้านนั้น โดยมีส่วนตัดตามแผนดังกล่าวเป็นจุดเริ่มต้น ในขั้นตอนดังกล่าวที่ซึ่งส่วนตัดตามแผนได้รับการก่อรูปขึ้นมา 9. วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ, วิธีการดังกล่าวประกอบรวมด้วยขั้นตอนของ: การก่อรูปส่วนตัดที่ซึ่งควรทำการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำขึ้นมาโดยการฉายแสงเลเซอร์ใน สภาพที่จุดสู่รวมของแสงเลเซอร์ได้รับการกำหนดให้มีตำแหน่งอยู่ภายในซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ ซึ่ง ได้ติดแผ่นเข้าไปโดยมีชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับแทรกอยู่ตรงกลาง เพื่อการก่อรูปบริเวณดัดแปลง ที่ก่อรูปขึ้นมาโดยบริเวณดัดแปลง; และ การตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวตามแนวของส่วนตัดดังกล่าวโดยการทำให้เกิดความ เค้นขึ้นมาในซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวตามแนวของส่วนตัดดังกล่าว หลังการก่อรูปดังกล่าว; และ การตัดชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับดังกล่าวตามแนวพื้นผิวตัดของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดัง กล่าวโดยการทำให้แผ่นดังกล่าวยืดออก หลังขั้นตอนการตัดสารกึ่งตัวนำดังกล่าว 1 0. วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ, วิธีการดังกล่าวประกอบรวมด้วยขั้นตอนของ; การก่อรูปส่วนดัดที่ซึ่งควรทำการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำขึ้นมาโดยการฉายแสงเลเซอร์ใน สภาพที่จุดลู่รวมของแสงเลเซอร์ได้รับการกำหนดให้มีตำแหน่งอยู่ภายในซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ ซึ่ง ได้ติดแผ่นเข้าไปโดยมีชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับแทรกอยู่ตรงกลาง เพื่อการก่อรูปบริเวณดัดแปลง ที่ประกอบด้วยบริเวณผ่านการดำเนินการให้หลอมเหลวที่ก่อรูปขึ้นมาโดยการดูดกลืนพหุโฟตอนขึ้น มาภายในซับสเทรทสารกึ่บตัวนำ ภายใต้ภาวะซึ่งทำให้มีความหนาแน่นของกำลังค่ายอด ณ จุดลู่รวม เป็น 1 x 108 (วัตต์/ซม.2) หรือมากกว่านั้น และความกว้างพัลส์เป็น 1 ไมโครวินาที หรือน้อยกว่านั้น และส่วนตัดได้รับการก่อรูปขึ้นมาโดยบริเวณดัดแปลงที่ประกอบด้ายบริเวณผ่านการดำเนินการให้ หลอมเหลว; การตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวตามแนวของส่วนตัดดังกล่าวโดยการทำให้เกิดความ เค้นขึ้นมาในซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวตาแนวของส่วนตัดดังกล่าว หลังขั้นตอนการก่อรูปดัง กล่าว; และ การตัดชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับดังกล่างตามแนวพื้นผิวตัดของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดัง กล่าวโดยการทำให้แผ่นดังกล่าวยืดออก หลังขั้นตอนการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว 1
1. วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ, วิธีการดังกล่าวประกอบรวมด้วยขั้นตอนของ; การก่อรูปส่วนตัดที่ซึ่งควรทำการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำขั้นมาโดยการฉายแสงเลเซอร์ใน สภาพที่จุดลู่รวมของแสงเลเซอร์ได้รับการกำหนดให้มีตำแหน่งอยู่ภายในซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ ซึ่ง ได้ติดแผ่นเข้าไปโดยมีชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับแทรกอยู่ตรงกลาง เพื่อการก่อรูปบริเวณดัดแปลง ขึ้นมา; การตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวตามแนวของส่วนตัดดังกล่าวโดยการทำให้เกิดความ เค้นขึ้นมาในซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวตามแนวของส่วนตัดดังกล่าว หลังขั้นตอนการก่อรูปดัง กล่าว; และ การตัดชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับดังกล่าวตามแนวพื้นผิวตัดของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดัง กล่าวโดยการทำให้แผ่นดังกล่าวยืดออก หลังขั้นตอนการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว 1
2. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 11 ที่ซึ่ง บริเวณดัดแปลงดังกล่าวเป็นบริเวณผ่านการดำเนินการให้ หลอมเหลว 1
3. วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำซึ่งก่อรูปขึ้นมาให้มีชิ้นส่วนเชิงหน้าที่บนผิวด้าน หน้าของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ โดยได้รับการตัดตามแนวของแนวตัดตามแผน. วิธีการดังกล่าว ประกอบรวมด้วยขั้นตอนของ; การก่อรูปบริเวณดัดแปลงขึ้นมาโดยการฉายแสงเลเซอร์ ,การใช้ผิวด้านหลังของซับสเทรท สารกึ่งตัวนำดังกล่าวเป็นระนาบของการตกกระทบของแสงเลเซอร์ และการจัดตำแหน่งของจุดโฟกัส ของแสงไว้ภายในของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว และการก่อรูปบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดขึ้นมาที่ ด้านใน ณ ระยะทางที่กำหนดจากระนาบดังกล่าวของการตกกระทบของแสงเลเซอร์ ตามแนวของ แนวตัดตามแผนดังกล่าว โดยอาศัยบริเวณดัดแปลง; การติดตั้งชิ้นประกอบยึดจับที่ยืดได้ลงบนผิวด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวโดย อาศัยชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับที่วางแทรกไว้ หลังการก่อรูปบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าว;และ การตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวและชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับดังกล่าวตามแนว ของแนวตัดตามแผนดังกล่าวหลังการติดตั้งชิ้นประกอบยึดจับดังกล่าว โดยการทำให้ชิ้นประกอบยึด จับดังกล่าวยืดออก 1
4. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ประกอบรวมต่อไปอีกด้วยขั้นตอนของ; การขัดผิวด้านหลังของ ซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวในลักษณะที่ทำให้ซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวมีความหนาตามที่ กำหนด ก่อนการก่อรูปบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวขึ้นมา 1
5. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 13 หรือข้อถือสิทธิข้อ 14 ที่ซึ่งบริเวณดัดแปลงดังกล่าวมีบริเวณผ่าน การปฏิบัติให้หลอมรวม 1
6. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึง 15 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งเมื่อบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวได้ รับการก่อรูปขึ้นมา รอยแตกที่เริ่มต้นจากบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวจะได้รับการทำให้บรรลุถึง ผิวด้านหน้าของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว 1
7. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึง 15 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งเมื่อบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวได้ รับการก่อรูปขึ้นมา รอยแตกที่เริ่มต้นจากบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวจะได้รับการทำให้บรรลุถึง ผิวด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว 1
8. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึง 3 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งเมื่อบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวได้รับ การก่อรูปขึ้นมา รอยแตกที่เริ่มต้นจากบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวจะได้รับการทำให้บรรลุถึงผิว ด้านหน้าและผิวด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว
TH301003386A 2003-09-11 วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ TH52676B (th)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH65465A TH65465A (th) 2004-12-13
TH52676B true TH52676B (th) 2016-12-02

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI511192B (zh) Laser processing methods and wafers
CN101351870B (zh) 激光加工方法及半导体芯片
JP4440582B2 (ja) 半導体基板の切断方法
US9221124B2 (en) Ultrashort laser pulse wafer scribing
CN102623373B (zh) 切断用加工方法
EP1748474B1 (en) Laser processing method
KR102851778B1 (ko) 판 모양의 작업물 안으로 적어도 하나의 컷아웃부 또는 구멍을 도입하기 위한 방법
CN100487868C (zh) 激光加工方法和半导体芯片
US20120077315A1 (en) Semiconductor substrate cutting method
JP2004001076A5 (th)
JP5269356B2 (ja) レーザ加工方法
EP1494271A4 (en) PROCESS FOR DISCONNECTING A SUBSTRATE
CN1938828A (zh) 激光加工方法及半导体芯片
TW201235141A (en) Substrate machining device and substrate machining method
CN102172799A (zh) 激光加工方法及激光加工装置
JP2006167804A5 (th)
KR20110110238A (ko) 전자부품 제조용 절단장치 및 절단방법
CN114643426A (zh) 提升高硼硅玻璃激光切割裂片质量和效率的装置及方法
TH52676B (th) วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ
TH65465A (th) วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ
CN107214419A (zh) 一种激光加工晶圆的方法及装置
JP2010142829A (ja) レーザ加工方法
TH53577B (th) วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ
JP2012186256A (ja) 電子部品の製造方法
TH73543A (th) วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ