TH52676B - วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ - Google Patents
วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำInfo
- Publication number
- TH52676B TH52676B TH301003386A TH0301003386A TH52676B TH 52676 B TH52676 B TH 52676B TH 301003386 A TH301003386 A TH 301003386A TH 0301003386 A TH0301003386 A TH 0301003386A TH 52676 B TH52676 B TH 52676B
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- semiconductor substrate
- cutting
- section
- cut
- cross
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract 58
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract 57
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims 42
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract 20
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract 20
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims abstract 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims 14
- 238000005755 formation reaction Methods 0.000 claims 14
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 claims 3
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims 1
- FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N benzyl N-[2-hydroxy-4-(3-oxomorpholin-4-yl)phenyl]carbamate Chemical compound OC1=C(NC(=O)OCC2=CC=CC=C2)C=CC(=C1)N1CCOCC1=O FFBHFFJDDLITSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010309 melting process Methods 0.000 claims 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 9
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract 9
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract 9
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 abstract 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 abstract 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 abstract 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 abstract 1
Abstract
DC60 (04/12/46) หลังจากที่ส่วนตัดตามแผน 9 ที่มีพื้นฐานบนบริเวณผ่านการดำเนินการให้หลอมเหลว 13 ได้ รับการก่อรูปขึ้นมาในภายในของแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 โดยการทำให้การดูดกลืนพหุโฟตอนบังเกิด ขึ้นมา แผ่นสารยึดติด 20 ที่แปะติดกับแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 จะได้รับการทำให้ยืดออก ผลก็คือ แผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 จะได้รับการตัดอย่างเที่ยงตรงเป็นชิปสารกึ่งตัวนำ 25 ตามแนวของส่วนตัด ตามแผน 9 ณ เวลานี้ พื้นผิวตัดที่หันหน้าเข้าหากัน 25a, 25a ของชิปสารกึ่งตัวนำ 25 ที่อยู่ใกล้กันจะ ได้รับการทำให้แยกออกจากสภาพที่ยืดติดกันแน่น; ดังนั้น ชั้นเรซืนเพื่อการติดกับเบ้ารับ 23 จะได้รับ การตัดด้วยเช่นกันตามแนวของส่วนตัดตามแผน 9 ดังนั้น จะสามารถตัดแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 และ ชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับ 23 ได้อย่างมีประสิทธิภาพมากกว่าในกรณีที่ทำการตัดแผ่นเวเฟอร์ ซิลิคอน 11 และชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับ 23 โดยอาศัยใบมีดโดยไม่ตัดซับสเทรท 21 อยู่อย่างมาก หลังจากที่ส่วนตัดตามแผน 9 ที่มีพื้นฐานบนบริเวณผ่านการดำเนินการให้หลอมเหลว 13 ได้ รับการก่อรูปขึ้นมาในภายในของแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 โดยการทำให้การดูดกลืนพหุโฟตอนบังเกิด ขึ้นมา แผ่นสารยึดติด 20 ที่แปะติดกับแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 จะได้รับการทำให้ยืดออก ผลก็คือ แผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 จะได้รับการตัดอย่างเที่ยงตรงเป็นชิปสารกึ่งตัวนำ 25 ตามแนวของส่วนตัด ตามแผน 9 ณ เวลานี้ พื้นผิวตัดที่หันหน้าเข้าหากัน 25a, 25a ของชิปสารกึ่งตัวนำ 25 ที่อยู่ใกล้กันจะ ได้รับการทำให้แยกออกจากสภาพที่ยืดติดกันแน่น; ดังนั้น ชั้นเรซีนเพื่อการติดกับเบ้ารับ 23 จะได้รับ การตัดด้วยเช่นกันตามแนวของส่วนตัดตามแผน 9 ดังนั้น จะสามารถตัดแผ่นเวเฟอร์ซิลิคอน 11 และ ชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับ 23 ได้อย่างมีประสิทธิภาพมากกว่าในกรณีที่ทำการตัดแผ่นเวเฟอร์ ซิลิคอน 11 และชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับ 23 โดยอาศัยใบมัดโดยไม่ตัดซับสเทรท 21 อยู่อย่างมาก
Claims (8)
1. วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ, วิธีการดังกล่าวประกอบรวมด้วยขั้นตอนของ; การก่อรูปส่วนตัดที่ซึ่งควรทำการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำขั้นมาโดยการฉายแสงเลเซอร์ใน สภาพที่จุดลู่รวมของแสงเลเซอร์ได้รับการกำหนดให้มีตำแหน่งอยู่ภายในซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ ซึ่ง ได้ติดแผ่นเข้าไปโดยมีชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับแทรกอยู่ตรงกลาง เพื่อการก่อรูปบริเวณดัดแปลง ขึ้นมา; การตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวตามแนวของส่วนตัดดังกล่าวโดยการทำให้เกิดความ เค้นขึ้นมาในซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวตามแนวของส่วนตัดดังกล่าว หลังขั้นตอนการก่อรูปดัง กล่าว; และ การตัดชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับดังกล่าวตามแนวพื้นผิวตัดของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดัง กล่าวโดยการทำให้แผ่นดังกล่าวยืดออก หลังขั้นตอนการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว 1
2. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 11 ที่ซึ่ง บริเวณดัดแปลงดังกล่าวเป็นบริเวณผ่านการดำเนินการให้ หลอมเหลว 1
3. วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำซึ่งก่อรูปขึ้นมาให้มีชิ้นส่วนเชิงหน้าที่บนผิวด้าน หน้าของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ โดยได้รับการตัดตามแนวของแนวตัดตามแผน. วิธีการดังกล่าว ประกอบรวมด้วยขั้นตอนของ; การก่อรูปบริเวณดัดแปลงขึ้นมาโดยการฉายแสงเลเซอร์ ,การใช้ผิวด้านหลังของซับสเทรท สารกึ่งตัวนำดังกล่าวเป็นระนาบของการตกกระทบของแสงเลเซอร์ และการจัดตำแหน่งของจุดโฟกัส ของแสงไว้ภายในของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว และการก่อรูปบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดขึ้นมาที่ ด้านใน ณ ระยะทางที่กำหนดจากระนาบดังกล่าวของการตกกระทบของแสงเลเซอร์ ตามแนวของ แนวตัดตามแผนดังกล่าว โดยอาศัยบริเวณดัดแปลง; การติดตั้งชิ้นประกอบยึดจับที่ยืดได้ลงบนผิวด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวโดย อาศัยชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับที่วางแทรกไว้ หลังการก่อรูปบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าว;และ การตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวและชั้นเรซินเพื่อการติดกับเบ้ารับดังกล่าวตามแนว ของแนวตัดตามแผนดังกล่าวหลังการติดตั้งชิ้นประกอบยึดจับดังกล่าว โดยการทำให้ชิ้นประกอบยึด จับดังกล่าวยืดออก 1
4. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ประกอบรวมต่อไปอีกด้วยขั้นตอนของ; การขัดผิวด้านหลังของ ซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวในลักษณะที่ทำให้ซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าวมีความหนาตามที่ กำหนด ก่อนการก่อรูปบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวขึ้นมา 1
5. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 13 หรือข้อถือสิทธิข้อ 14 ที่ซึ่งบริเวณดัดแปลงดังกล่าวมีบริเวณผ่าน การปฏิบัติให้หลอมรวม 1
6. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึง 15 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งเมื่อบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวได้ รับการก่อรูปขึ้นมา รอยแตกที่เริ่มต้นจากบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวจะได้รับการทำให้บรรลุถึง ผิวด้านหน้าของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว 1
7. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 13 ถึง 15 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งเมื่อบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวได้ รับการก่อรูปขึ้นมา รอยแตกที่เริ่มต้นจากบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวจะได้รับการทำให้บรรลุถึง ผิวด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว 1
8. วิธีการตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ถึง 3 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งเมื่อบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวได้รับ การก่อรูปขึ้นมา รอยแตกที่เริ่มต้นจากบริเวณจุดเริ่มต้นการตัดดังกล่าวจะได้รับการทำให้บรรลุถึงผิว ด้านหน้าและผิวด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำดังกล่าว
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH65465A TH65465A (th) | 2004-12-13 |
| TH52676B true TH52676B (th) | 2016-12-02 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TWI511192B (zh) | Laser processing methods and wafers | |
| CN101351870B (zh) | 激光加工方法及半导体芯片 | |
| JP4440582B2 (ja) | 半導体基板の切断方法 | |
| US9221124B2 (en) | Ultrashort laser pulse wafer scribing | |
| CN102623373B (zh) | 切断用加工方法 | |
| EP1748474B1 (en) | Laser processing method | |
| KR102851778B1 (ko) | 판 모양의 작업물 안으로 적어도 하나의 컷아웃부 또는 구멍을 도입하기 위한 방법 | |
| CN100487868C (zh) | 激光加工方法和半导体芯片 | |
| US20120077315A1 (en) | Semiconductor substrate cutting method | |
| JP2004001076A5 (th) | ||
| JP5269356B2 (ja) | レーザ加工方法 | |
| EP1494271A4 (en) | PROCESS FOR DISCONNECTING A SUBSTRATE | |
| CN1938828A (zh) | 激光加工方法及半导体芯片 | |
| TW201235141A (en) | Substrate machining device and substrate machining method | |
| CN102172799A (zh) | 激光加工方法及激光加工装置 | |
| JP2006167804A5 (th) | ||
| KR20110110238A (ko) | 전자부품 제조용 절단장치 및 절단방법 | |
| CN114643426A (zh) | 提升高硼硅玻璃激光切割裂片质量和效率的装置及方法 | |
| TH52676B (th) | วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ | |
| TH65465A (th) | วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ | |
| CN107214419A (zh) | 一种激光加工晶圆的方法及装置 | |
| JP2010142829A (ja) | レーザ加工方法 | |
| TH53577B (th) | วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ | |
| JP2012186256A (ja) | 電子部品の製造方法 | |
| TH73543A (th) | วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ |