TH73543A - วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ - Google Patents
วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำInfo
- Publication number
- TH73543A TH73543A TH401003511A TH0401003511A TH73543A TH 73543 A TH73543 A TH 73543A TH 401003511 A TH401003511 A TH 401003511A TH 0401003511 A TH0401003511 A TH 0401003511A TH 73543 A TH73543 A TH 73543A
- Authority
- TH
- Thailand
- Prior art keywords
- cutting
- semiconductor substrate
- wafer
- cut
- area
- Prior art date
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract 35
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract 24
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims abstract 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract 13
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims abstract 9
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims abstract 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims abstract 5
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims abstract 3
- 238000010309 melting process Methods 0.000 claims 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 claims 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 abstract 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 abstract 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 abstract 1
Abstract
DC60 (26/11/47) วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำซึ่งสามารถตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำที่ซึ่งส่วนผิวด้านหน้า ก่อขึ้นรูปพร้อมด้วยอุปกรณ์เชิงหน้าที่พร้อมด้วยชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์อย่างมีประสิทธิภาพจะ ได้รับการจัดเตรียมขึ้น เวเฟอร์ 11 ซึ่งมีส่วนผิวด้านหน้า 3 ซึ่งก่อขึ้นรูปพร้อมด้วยอุปกรณ์เชิงหน้าที่ 15 จะได้รับการฉายด้วยแสงเลเซอร์ L ในขณะที่จะจัดตำแหน่งจุดที่แสงลู่เข้า P ให้อยู่ภายในเวเฟอร์ 11 โดยมีส่วนผิวด้านหลัง 17 ของเวเฟอร์ 11 ทำหน้าที่เป็นส่วนผิวที่แสงเลเซอร์ตกกระทบ เพื่อที่จะ ก่อกำเนิดการดูดกลืนหลายโฟตอน ด้วยเหตุนี้จะก่อเกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัด 8 อันเนื่อง มาจากบริเวณที่ผ่านการดำเนินกรรมวิธีหลอมละลาย 13 ภายในเวเฟอร์ 11 ไปตามแนวซึ่งซับสเทรท ควรได้รับการตัดตาม 5 สำหรับผลที่ตามมานั้น สามารถก่อกำเนิดรอยแตกจากบริเวณจุดเริ่มต้น สำหรับการตัด 8 โดยธรรมชาติหรือด้วยแรงขนาดค่อนข้างน้อย เพื่อที่จะไปถึงส่วนผิวด้านหน้า 3 และ ส่วนผิวด้านหลัง 17 เพราะฉะนั้น เมื่อฟิล์มชนิดขยายตัว 21 ได้รับการติดเข้าส่วนผิวด้านหลัง 17 ของ เวเฟอร์ 11 โดยอาศัยชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์ 23 ภายหลังการก่อเกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัด 8 และจากนั้นจะได้รับการยืดขยาย เวเฟอร์ 11 และชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์ 23 จะสามารถได้รับ การตัดไปตามแนวซึ่งซับสเทรทควรได้รับการตัดตาม 5 วิธีการตัดซับสเทรคทสารกึ่งตัวนำซึ่งสามารถตัดซับสเทรทกึ่งตัวนำที่ซึ่งส่วนผิวด้านหน้าก่อขึ้นรูปพร้อมด้วย อุปกรณ์เชิงหน้าที่พร้อมด้วยชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์อย่าง มีประสิทธิภาพจะได้รับการจัดเตรียมขึ้น เวเฟอร์ 11 ซึ่งมี ส่วนผิวด้านหน้า 3 ซึ่งก่อขึ้นรูปพร้อมด้วยอุปกรณ์เชิงหน้า ที่ 15 จะได้รับการฉายด้วยแสงเลเซอร์ L ในขณะที่จะจัด่ ตำแหน่งจุดที่แสงลู่เข้า P ให้อยู่ภายในเวเฟอร์ 11 โดยมี ส่วนผิวด้านหลัง 17 ของเวเฟอร์ 11 ทำหน้าที่เป็นส่วนผิวที่ แสงเลเซอร์ตกกระทบ เพื่อที่จะก่อกำเนิดการดูดกลืนหลายโฟตอน ด้วยเหตุนี้จะก่อเกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัด 8 อัน เนื่องมาจากบริเวณที่ผ่านการดำเนินกรรมวิธีหลอมละลาย 13 ภายในเวเฟอร์ 11 ไปตามแนวซึ่งซับสเทรทควรได้รับการตัดตาม 5 สำหรับผลที่ตามมานั้น สามารถก่อกำเนินรอยแตกจากบริเวณจุด เริ่มต้นสำหรับการดัด 8 โดยธรรมชาติหรือด้วยแรงขนาดค่อน ข้างน้อย เพื่อที่จะไปถึงส่วนผิวด้านหน้า 3 และส่วนผิวด้าน หลัง 17 เพราะฉะนั้น เมื่อฟิล์มชนิดขยายตัว 21 ได้รับการ ติดเข้าส่วนผิวด้านหลัง 17 ของเวเฟอร์ 11 โดยอาศัยชั้นเร ซินยึดเกาะแบบพิมพ์ 23 ภายหลังการก่อเกิดบริเวณจุดเริ่มต้น สำหรับการตัด 8 และจากนั้นจะได้รับการยืดขยาย เวเฟอร์ 11 และชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์ 23 จะสามารถได้รับการตัดไปตาม แนวซึ่งซับสเทรทควรได้รับการตัดตาม 5
Claims (8)
1. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำสำหรับการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำซึ่งมีส่วนผิวด้านหน้าที่ก่อขึ้นรูปพร้อมด้วย อุปกรณ์เชิงหน้าที่ไปตามแนวซึ่งซับสเทรทควรได้รับการตัดตาม วิธีการนี้ประกอบรวมด้วยขั้นตอนของ การฉายซับสเทรทสารกึ่งตัวนำนี้ด้วยแสงเลเซอร์ในขณะที่จัด ตำแหน่งจุดที่แสงลู่เข้าไว้ภายในซับสเทรทสารกึ่งตัวนำโดยมี ส่วนผิวด้านด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำนี้ทำหน้าที่ เป็นส่วนผิวที่แสงเลเซอร์ตกกระทบ เพื่อที่จะก่อเกิดบริเวณ ผ่านการดัดแปร และทำให้เกิดบริเวณผ่านการดัดแปรเพื่อก่อ เกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการดัดไปตามแนวซึ่งซับสเทรทควร ได้รับการตัดตามภายในระยะที่กำหนดล่วงหน้าจากส่วนผิวที่แสง เลเซอร์ตกกระทบ และ การติดชิ้นประกอบเพื่อการยึดจับชนิดยืดขยายได้เข้ากับส่วน ผิวด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำโดยอาศัยชั้นเรซินยึด เกาะแบบพิมพ์ภายหลังการก่อเกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการ ตัด และ การตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำและชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์ไป ตามแนวซึ่งซับสเทรทควรได้รับการตัดตาม โดยการยืดขยายชิ้น ประกอบเพื่อการยึดจับภายหลังการติดชิ้นประกอบเพื่อการยึด จับนี้
2. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 ซึ่งประกอบรวมต่อไปด้วยขั้นตอนของการขัดส่วนผิวด้านท้ายของ ซับสเทรทสารกึ่งตัวนำในลักษณะที่ว่าซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ นี้จะมีความหนาตามที่กำหนดล่วงหน้าก่อนการก่อเกิดบริเวณจุด เริ่มต้นสำหรับการตัด
3. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 2 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งบริเวณผ่านการดัดแปรนี้รวมถึง บริเวณที่ผ่านการดำเนินกรรมวิธีหลอมละลาย
4. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 2 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งบริเวณผ่านการดัดแปรนี้รวมถึง บริเวณที่ผ่านการดำเนินกรรมวิธีหลอมละลายและที่ว่างขนาด เล็กซึ่งมีตำแหน่งอยู่บนด้านตรงข้ามของบริเวณที่ผ่านการดำ เนินกรรมวิธีหลอมละลายนี้จากส่วนผิวที่แสงเลเซอร์ตกกระทบ
5. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 4 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่ง จะยอมให้มีรอยแตกที่จะทำให้ ไปถึงส่วนผิวด้านหน้าของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำจากบริเวณจุด เริ่มต้นสำหรับการตัดซึ่งทำหน้าที่เป็นจุดเริ่มเมื่อก่อ เกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัด
6. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 4 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่ง จะยอมให้มีรอยแตกที่จะทำให้ ไปถึงส่วนด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่งตัวนำจากบริเวณจุด เริ่มต้นสำหรับการดัดซึ่งทำหน้าที่เป็นจุดเริ่มเมื่อก่อ เกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัด
7. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 4 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่ง จะยอมให้มีรอยแตกที่จะทำให้ ไปถึงส่วนผิวด้านหน้าและส่วนผิวด้านหลังของซับสเทรทสารกึ่ง ตัวนำจากบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัดซึ่งทำหน้าที่เป็น จุดเริ่มเมื่อก่อเกิดบริเวณจุดเริ่มต้นสำหรับการตัด
8. วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำตามข้อถือสิทธิข้อ 1 หรือ 7 ข้อใดข้อหนึ่ง ที่ซึ่งประกอบรวมด้วยขั้นตอนของการ ให้ความร้อนชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์ก่อนขั้นตอนของการตัด ซับสเทรทสารกึ่งตัวนำและชั้นเรซินยึดเกาะแบบพิมพ์ไปตามแนว ซึ่งซับสเทรทควรได้รับการตัดตามโดยการยืดขยายชิ้นประกอบ เพื่อการยึดจับนี้ (ข้อถือสิทธิ 8 ข้อ, 2 หน้า, 23 รูป)
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TH73543A true TH73543A (th) | 2005-12-15 |
| TH53577B TH53577B (th) | 2017-01-27 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US11574835B2 (en) | Thermoplastic temporary adhesive for silicon handler with infra-red laser wafer de-bonding | |
| IL214705A0 (en) | Semiconductor substrate cutting method | |
| JP2004001076A5 (th) | ||
| CN100440443C (zh) | 半导体基板的切断方法 | |
| US9850406B2 (en) | Adhesive resins for wafer bonding | |
| US20120100696A1 (en) | Workpiece dividing method | |
| US20060108338A1 (en) | Laser cutting apparatus and laser cutting method | |
| KR20110110781A (ko) | 구조화 표면을 갖는 고상 재료의 얇은 독립 층을 제조하는 방법 | |
| TW201232654A (en) | Semiconductor device, and manufacturing method and manufacturing apparatus of the same | |
| TW200812123A (en) | Manufacturing method of light-emitting element | |
| JP2017536695A (ja) | 調整可能な吸収を伴う多層レーザ剥離構造体 | |
| TW202002256A (zh) | 半導體元件形成藍寶石基板、半導體元件形成藍寶石基板的製造方法以及半導體元件的轉印方法 | |
| CN107252981A (zh) | 一种激光加工晶圆的方法及装置 | |
| TH73543A (th) | วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ | |
| TH53577B (th) | วิธีการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ | |
| JP2009259999A (ja) | 熱硬化接着剤付き半導体チップの製造方法 | |
| KR100675001B1 (ko) | 웨이퍼 다이싱 방법 및 그 방법을 이용하여 제조된 다이 | |
| CN102990229B (zh) | 发光二极管晶圆切割方法 | |
| JP2004327587A (ja) | 電子部品製造方法および電子部品の集合体の製造方法ならびに電子部品の集合体 | |
| JPH0260076B2 (th) | ||
| TH65465A (th) | วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ | |
| TH52676B (th) | วิธีการของการตัดซับสเทรทสารกึ่งตัวนำ | |
| TH65466A (th) | วิธีการดำเนินการด้วยเครื่องซึ่งใช้เลเซอร์ | |
| JP3572777B2 (ja) | 電子部品の製造方法 | |
| Xu et al. | Study of the laser lift-off technology of GaN films from sapphire substrates |