TH51200A - เกลือไอโอโดเนียมที่เป็นตัวให้กรดแบบแฝงเร้น - Google Patents

เกลือไอโอโดเนียมที่เป็นตัวให้กรดแบบแฝงเร้น

Info

Publication number
TH51200A
TH51200A TH1004897A TH0001004897A TH51200A TH 51200 A TH51200 A TH 51200A TH 1004897 A TH1004897 A TH 1004897A TH 0001004897 A TH0001004897 A TH 0001004897A TH 51200 A TH51200 A TH 51200A
Authority
TH
Thailand
Prior art keywords
alkyl
replaced
compound
formula
radiation
Prior art date
Application number
TH1004897A
Other languages
English (en)
Other versions
TH16006B (th
Inventor
ฮูลซ์ นายเรนฮาร์ด
เบอร์บูม นายยีน-ลุ๊ค
วอล์ฟ นายยีน-ปิแอร์
ไอแอลจี นายสตีเฟ่น
ยามาโต นายฮิโตชิ
อาซาคูระ นายโตชิคาเกะ
Original Assignee
นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า
นายธเนศ เปเรร่า
Filing date
Publication date
Application filed by นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า, นายธเนศ เปเรร่า filed Critical นายโรจน์วิทย์ เปเรร่า
Publication of TH51200A publication Critical patent/TH51200A/th
Publication of TH16006B publication Critical patent/TH16006B/th

Links

Abstract

DC60 (12/03/44) ส่วนผสมที่ไวต่อการกระตุ้นโดยการฉายรังสี ที่ประกอบด้วย (a1) สารประกอบที่สามารถโพลีเมอไรซ์ได้ หรือ สามารถเชื่อมข้ามได้เชิง ไอออนประจุบวก หรือ เชิงแคทะไลทิคด้วยกรด หรือ (a2) สารประกอบที่เพิ่มความสามารถละลายได้ของมัน ในดีเวลลอปเปอร์ ภาย ใต้การกระทำของกรด และ (c) อย่างน้อยที่สุด ตัวหนึ่งของเกลือไดเอริลไอโอโดเนียม ของสูตร I (สูตรเคมี) (I), ซึ่ง X คือ C3-C20 แอลคิล ชนิดแขนง หรือ C3-C8 ไซโคลแอลคิล X1 คือ ไฮโดรเจน C1-C20 แอลคิล เชิงเส้น C3-C20 แอลคิล ชนิดแขนง หรือ C3-C8 ไซโคลแอลคิล โดย กำหนดว่า ผลรวมของคาร์บอนอะตอมใน X และ X1 อย่างน้อยที่สุด คือ 4 Y คือ C1-C10 แอลคิล เชิงเส้น C3-C10 แอลคิล ชนิดแขนง หรือ C3-C8 ไซโคลแอลคิล A คือ ไอออนประจุลบ ที่ไม่เป็นนิวคลีโอฟิลิค ที่ถูกเลือกจากกลุ่ม (BF4) (SbF6) (PF6) (B(C6F5))4 C1-C20 แอลคิลซัลโฟเนท C2-C20 เฮโลแอลคิลซัลโฟเนท C6-C10 เอริลซัลโฟเนท ที่ไม่ถูกเข้าแทนที่ แคมฟอร์ซัลโฟเนท C1-C20-เปอร์ฟลูออโรแอลคิลซัลโฟนิลเมทไทด์ C1-C20- เปอร์ฟลูออโรแอลคิล ซัลโฟนิลอิไมด์ และ C6-C10 เอริลซัลโฟเนท ที่ถูกเข้าแทนที่ด้วย เฮโลเจน NO2 C1-C12 แอลคิล C1-C12 เฮโลแอลคิล C1-C12 แอลคอกซี หรือ โดย COOR1 และ R1 คือ C1-C20 แอลคิล ฟีนิล เบนซิล หรือ ฟีนิล ที่ถูกเข้าแทนที่แบบโมโน- หรือ โพลี-โดย C1-C12 แอลคิล C1-C12 แอลคอกซี หรือ โดยเฮโลเจน โดยกำหนดว่า วงแหวนฟีนิล 2 วง บนอะตอมไอโอดีน ไม่ถูกเข้าแทนที่แบบเดียว กัน มีความไวสูง ความเสถียรในการเก็บสูง มีความสามารถละลายได้ดี และมีแนวโน้ม ที่จะตกผลึกต่ำ ส่วนผสมที่ไวต่อการกระตุ้นโดยการฉายรังสี ที่ประกอบด้วย (a1) สารประกอบที่สามารถโพลีเมอไรซ์ได้ หรือ สามารถเชื่อมข้ามได้เชิง ไอออนประจุบวก หรือ เชิงแคทะไลทิคด้วยกรด หรือ (a2) สารประกอบที่เพิ่มความสามารถละลายได้ของมัน ในดีเวลลอปเปอร์ ภาย ใต้การกระทำของกรด และ (c) อย่างน้อยที่สุด ตัวหนึ่งของเกลือไดเอริลไอโอโดเนียม ของสูตร I (สูตรเคมี) (I), ซึ่ง X คือ C3-C20 แอลคิล ชนิดแขนง หรือ C3-C8 ไซโคลแอลคิล X1 คือ ไฮโดรเจน C1-C20 แอลคิล เชิงเส้น C3-C20 แอลคิล ชนิดแขนง หรือ C3-C8 ไซโคลแอลคิล โดย กำหนดว่า ผลรวมของคาร์บอนอะตอมใน X และ X1 อย่างน้อยที่สุด คือ 4 Y คือ C1-C10 แอลคิล เชิงเส้น C3-C10 แอลคิล ชนิดแขนง หรือ C3-C8 ไซโคลแอลคิล A คือ ไอออนประจุลบ ที่ไม่เป็นนิวคลีโอฟิลิค ที่ถูกเลือกจากกลุ่ม (BF4) (SbF6) (PF6) (B(C6F5))4 C1-C20 แอลคิลซัลโฟเนท C2-C20 เฮโลแอลคิลซัลโฟเนท C6-C10 เอริลซัลโฟเนท ที่ไม่ถูกเข้าแทนที่ แคมฟอร์ซัลโฟเนท C1-C20-เปอร์ฟลูออโรแอลคิลซัลโฟนิลเมทไทด์ C1-C20- เปอร์ฟลูออโรแอลคิล ซัลโฟนิลอิไมด์ และ C6-C10 เอริลซัลโฟเนท ที่ถูกเข้าแทนที่ด้วย เฮโลเจน NO2 C1-C12 แอลคิล C1-C12 เฮโลแอลคิล C1-C12 แอลคอกซี หรือ โดย COOR1 และ R1 คือ C1-C20 แอลคิล ฟีนิล เบนซิล หรือ ฟีนิล ที่ถูกเข้าแทนที่แบบโมโน- หรือ โพลี-โดย C1-C12 แอลคิล C1-C12 แอลคอกซี หรือ โดยเฮโลเจน โดยกำหนดว่า วงแหวนฟีนิล 2 วง บนอะตอมไอโอดีน ไม่ถูกเข้าแทนที่แบบเดียว กัน มีความไวสูง ความเสถียรในการเก็บสูง มีความสามารถละลายได้ดี และมีแนวโน้ม ที่จะตกผลึกต่ำ

Claims (8)

1. ส่วนผสมที่ไวต่อการกระตุ้นโดยการฉายรังสีที่ประกอบด้วย (a1) สารประกอบที่สามารถโพลีเมอไรซ์ได้ หรือ สามารถเชื่อมข้ามได้เชิงไอออน ประจุบวก หรือ เชิงแคทะไลทิคด้วยกรด หรือ (a2) สารประกอบที่เพิ่มความสามารถละลายได้ของมันในดีเวลลอปเปอร์ ภายใต้ การกระทำของกรด และ (b) อย่างน้อยที่สุดตัวหนึ่งของเกลือไดเอริลไอโอโดเนียมของสูตร I (สูตรเคมี) (I) ซึ่ง X คือ C3-C20 แอลคิล ชนิดแขนง หรือ C3-C8 ไซโคลแอลคิล X1 คือ ไฮโดรเจน, C1-C20 แอลคิล เชิงเส้น, C3-C20 แอลคิล ชนิดแขนง หรือ C3-C8 ไซโคลแอลคิล โดยกำหนดว่าผลรวมของคาร์บอนอะตอมใน X และ X1 อย่างน้อยที่สุดคือ 4 Y คือ C1-C10 แอลคิล เชิงเส้น, C3-C10 แอลคิล ชนิดแขนง หรือ C3-C8 ไซโคลแอลคิล A คือ ไอออนประจุลบ ที่ไม่เป็นนิวคลีโอฟิลิค ที่ถูกเลือกจากกลุ่ม (BF4) , (SbF6) , (PF6) , (B(C6F5))4, C1-C20 แอลคิลซัลโฟเนท, C2-C20 เฮโลแอลคิลซัลโฟเนท, C6-C10 เอริลซัลโฟเนท ที่ไม่ ถูกเข้าแทนที่, แคมฟอร์ซัลโฟเนท, C1-C20 -เปอร์ฟลูออโรแอลคิลซัลโฟนิลเมทไทด์, C1-C20 -เปอร์ฟลู ออโรแอลคิลซัลโฟนิลอิไมด์ และ C6-C10 เอริลซัลโฟเนท ที่ถูกเข้าแทนที่ด้วย เฮโลเจน, NO2, C1-C12 แอลคิล, C1-C12 เฮโลแอลคิล, C1-C12 แอลคอกซี หรือ โดย COOR1 และ R1 คือ C1-C20 แอลคิล, ฟีนิล, เบนซิล, หรือ ฟีนิล ที่ถูกเข้าแทนที่แบบโมโน- หรือ โพลี- โดย C1-C12 แอลคิล, C1-C12 แอลคอกซี หรือ โดยเฮโลเจน โดยกำหนดว่า วงแหวนฟีนิล 2 วง บนอะตอมไอโอดีน ไม่ถูกเข้าแทนที่แบบเดียว กัน
2. ส่วนผสมที่ไวต่อการกระตุ้นโดยการฉายรังสี ตามข้อถือสิทธิ 1 ซึ่งสาร ประกอบของสูตร I ในนั้น X คือ C4-C12 แอลคิล ชนิดแขนง หรือไซโคลเฮกซิล
3. ส่วนผสมที่ไวต่อการกระตุ้นโดยการฉายรังสี ตามข้อถือสิทธิ 1 ซึ่งสาร ประกอบของสูตร I ในนั้น Y คือ C1-C6 แอลคิล เชิงเส้น หรือไซโคลเฮกซิล
4. ส่วนผสมที่ไวต่อการกระตุ้นโดยการฉายรังสี ตามข้อถือสิทธิ 1 ซึ่งสาร ประกอบของสูตร I ในนั้น A คือ ไอออนประจุลบ ที่ไม่เป็นนิวคลีโอฟิลิค ที่ถูกเลือกจากกลุ่ม (PF6), (B(C6F5))4,C1-C12 แอลคิลซัลโฟเนท, C2-C12 เฮโลแอลคิลซัลโฟเนท, ฟีนิลซัลโฟเนท ที่ไม่ ถูกเข้าแทนที่, แคมฟอร์ซัลโฟเนท, C1-C20 เปอร์ฟลูออโรแอลคิลซัลโฟนิลเมทไทด์, C1-C20-เปอร์ฟลู ออโรแอลคิลซัลโฟนิลอิไมด์ และ ฟีนิลซัลโฟเนท ที่ถูกเข้าแทนที่ด้วย เฮโลเจน, NO2, C1-C12 แอลคิล, C1-C12 เฮโลแอลคิล, C1-C12 แอลคิกซี หรือ โดย COOR1
5. ส่วนผสมที่ไวต่อการกระตุ้นโดยการฉายรังสี ตามข้อถือสิทธิ 1 ซึ่งสาร ปะกอบของสูตร I ในนั้น X คือ C4-C6 แอลคิล เชิงแขนง หรือ ไซโคลเฮกซิล X1 คือ ไฮโดรเจน หรือ C4-C6 แอลคิล เชิงแขนง Y คือ C1-C4 แอลคิล เชิงเส้น, C3-C4 แอลคิล เชิงแขนง หรือ ไซโคลเฮกซิล A คือ ไอออนประจุลบ ที่ไม่เป็นนิวคลิโอฟิลิค ที่ถูกเลือกจากกลุ่ม (PF6), แคมฟอร์ซัลโฟเนท และฟีนิลซัลโฟเนท ที่ถูกเข้าแทนที่ด้วย C1-C4 แอลคิล
6. ส่วนผสมที่ไวต่อการกระตุ้นโดยการฉายรังสี ตามข้อถือสิทธิ 1 ซึ่ง องค์ประกอบ (a1) ในนั้น อย่างน้อยที่สุด คือ สารประกอบตัวหนึ่งที่ถูกเลือกจากกลุ่มของสาร ประกอบไซโคลเอลิฟาทิค อีปอกซี, ไกลซิคิล อีเทอร์, สารประกอบออกซีเทน, ไวนิล อีเทอร์, มีเลมีน เรซิน ที่สามารถเชื่อมข้ามได้ด้วยกรด, สารประกอบไฮดรอกซิเมทิลีน ที่สามารถเชื่อมข้าม ได้ด้วยกรด และสารประกอบแอลคอกซีเมทีลีน ที่สามารถเชื่อมข้ามได้ด้วยกรด
7. ส่วนผสมที่ไวต่อการกระตุ้นโดยการฉายรังสี ตามข้อถือสิทธิ 1 ซึ่ง องค์ประกอบ (a2) ในนั้น อย่างน้อยที่สุด คือ สารประกอบตัวหนึ่งที่ถูกเลือกจากกลุ่มของไซโคล เอลิฟาทิค โคโพลีเมอร์, โคโพลีเมอร์ ที่มีกลุ่ม 4-ไฮดอรกซี-ฟีนิล, โคโพลีเมอร์ที่มีเมลีอิค แอซิด แอนไฮไดรด์ และโคโพลีเมอร์ ที่มีเอคริลอิค แอซิด-, เอคริลอิค แอซิด เอสเทอร์- และเมทาคริลอิค แอซิด เอสเทอร์ โดยกำหนดว่า โคโพลีเมอร์เหล่านั้นมีกลุ่มฟังชันแนล ที่เพิ่มความสามารถละลาย ได้ของโพลีเมอร์นั้นในดีเวลลอปเปอร์ที่เป็นต่าง ภายหลังการทำปฏิกิริยากับกรด 8. ส่วนผสมที่ไวต่อการกระตุ้นโดยการฉายรังสี ตามข้อถือสิทธิ 1 ที่นอกจาก องค์ประกอบ (a1) หรือ (a2) และ (b) แล้วยังประกอบด้วยอย่างน้อยที่สุดสารประกอบตัวกระตุ้น (d) ตัวหนึ่ง 9. ส่วนผสมที่ไวต่อการกระตุ้นโดยการฉายรังสี ตามข้อถือสิทธิ 8 ซึ่ง สารประกอบตัวกระตุ้น (d) คือ เบนโซฟีโนน, ไทโอแซนโทน, แอนทราซีน หรืออนุพันธ์ของสาร เหล่านี้ 1 0. วิธีการทำโพลีเมอไรเซชันด้วยแสง หรือเชื่อมข้ามสารประกอบที่สามารถ โพลีเมอไรซ์ได้ หรือสามารถเชื่อมข้ามได้เชิงไอออนประจุบวก หรือ เชิงกรด-แคทะไลทิค ภายใต้ การกระทำของการฉายรังสีแม่เหล็กไฟฟ้า หรือ ลำแสงอิเลคทรอน ซึ่งในวิธีการนั้นใช้ สาร ประกอบตามสูตร I ตามข้อถือสิทธิ 1 เป็นตัวให้กรดด้วยแสงแฝงเร้น 1 1. ซับสเทรตที่ถูกเคลือบ ซึ่งอย่างน้อยที่สุดผิวหน้าด้านหนึ่งถูกเคลือบด้วยส่วน ผสมตามข้อถือสิทธิ 1 1 2. วิธีการทำการผลิตภาพนูน ซึ่งส่วนผสมตามข้อถือสิทธิ 1 ถูกใช้กับซับสเทรต หนึ่งแล้วให้ถูกกับแสงที่เป็น อิเมจ-ไวซ์ 1 3. ตัวต้านทางแสงที่ประกอบด้วยสารประกอบสูตร I ตามข้อถือสิทธิ 1 เป็น ตัวให้กรดที่ไวต่อการกระตุ้นโดยการฉายรังสี 1 4. ตัวต้านทานแสงตามข้อถือสิทธิ 13 ซึ่งตัวต้านทานแสงนั้น คือ ตัวต้านทาน เนกะทีฟ 1 5. ตัวต้านทางแสงตามข้อถือสิทธิ 13 ซึ่งตัวต้านทางแสงนั้น คือ ตัวต้านทาน โพซิทีฟ 1 6. ตัวต้านทานแสงตามข้อถือสิทธิ 13 ซึ่งตัวต้านทานแสงนั้น คือ ตัวต้านทาน ที่เพิ่มขึ้นเชิงเคมี 1 7.วิธีการตามข้อถือสิทธิ 10 ในการผลิตส่วนผสมที่เคลือบผิวหน้าส่วนผสมสาร เคลือบที่เป็นผง, หมึกพิมพ์ แผ่นพิมพ์ สารประกอบทำฟัน สเทอรีโอไลโทแกรฟีเรซิน สารยึดติด สารเคลือบต้านการเกาะติด ที่กรองสี วัสดุต้านทาน หรือวัสดุบันทึกเป็นภาพ 1
8. สารประกอบสูตร I ตามข้อถือสทิธิ 1
TH1004897A 2000-12-15 เกลือไอโอโดเนียมที่เป็นตัวให้กรดแบบแฝงเร้น TH16006B (th)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TH51200A true TH51200A (th) 2002-05-28
TH16006B TH16006B (th) 2004-01-13

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69702605T2 (de) Fotoerzeugung von Aminen aus alpha-Aminoacetophenonen
DE69809029T2 (de) Nicht-flüchtige phenylglyoxalsäureester
AU613980B2 (en) Radiation-polymerizable acrylate and alkacrylate compounds
TW591323B (en) Photoresist composition for deep UV and process thereof
EP0255486B1 (de) Titanocene und deren Verwendung
AT402298B (de) Alkoxyphenyl-substituierte bisbenzoylphosphinoxide
TWI233537B (en) Photoresist compositions comprising blends of ionic and non-ionic photoacid generators
KR960018764A (ko) 감광성 수지 조성물
KR970702514A (ko) 레지스트패턴 형성방법
TWI253542B (en) Positive-working photoresist composition
KR960022615A (ko) 감광성 내식막 조성물
DE19708294A1 (de) Alkylphenylbisacylphosphinoxide und Photoinitiatormischungen
JPH0447680B2 (th)
KR960032093A (ko) 화학 증폭형 감방사선성 수지 조성물
DE69932995T2 (de) Lichtempfindliche Harzzusammensetzung
KR960022623A (ko) 가교결합된 중합체
DE1917543A1 (de) Aromatische polycyclische Verbindungen als Sensibilisierungsmittel fuer photolysierbare organische Halogenverbindungen
EP1056757B1 (en) Substituted benzoylferrocene anionic photoinitiators
KR890002711A (ko) 폴리페놀 및 선정된 에폭시 또는 비닐 에테르 화합물 기재의 네가티브 감광성 내식막(photoresist)
JPH04350661A (ja) ポジ作動感光性静電マスター
KR860008476A (ko) 심부 자외선 석판인쇄 내식막 조성물 및 그의 이용법
EP0898202A1 (en) Photogeneration of amines from alpha-aminoacetophenones
JPS6088005A (ja) 光硬化樹脂組成物
DE2125457A1 (de) Photopolymerisierbare Kunststoffmasse
KR20140043672A (ko) Euv 용 또는 eb 용 레지스트 조성물, 및 레지스트 패턴 형성 방법