SU991150A1 - Interferometer for optical system quality control - Google Patents

Interferometer for optical system quality control Download PDF

Info

Publication number
SU991150A1
SU991150A1 SU802974206A SU2974206A SU991150A1 SU 991150 A1 SU991150 A1 SU 991150A1 SU 802974206 A SU802974206 A SU 802974206A SU 2974206 A SU2974206 A SU 2974206A SU 991150 A1 SU991150 A1 SU 991150A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
lenses
interferometer
splitting
splitting unit
unit
Prior art date
Application number
SU802974206A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Алексей Иванович Кузнецов
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6681
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6681 filed Critical Предприятие П/Я Р-6681
Priority to SU802974206A priority Critical patent/SU991150A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU991150A1 publication Critical patent/SU991150A1/en

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

1-,one-,

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике, предназначено дл  контрол  качества оптических систем и может быть использовано преимущественно в производстве , зан том изготовлением крупногабаритных оптических деталей и систем высокого качества.The invention relates to instrumentation engineering, is intended to control the quality of optical systems and can be used mainly in production, engaged in the manufacture of large-sized optical components and high-quality systems.

Известен интерферометр дл  контрол  качества оптических систем, содержащий источник света, куб-призму, эталонное сферическое зеркало и регистратор интерференционной картины 1 .A known interferometer for monitoring the quality of optical systems, comprising a light source, a cube-prism, a reference spherical mirror, and an interference pattern recorder 1.

Недостатком интерферометра  вл етс  ограниченный диапазон параметров контролируемых систем, а именно максимальное относительное отверстие равно 1:2,5. При этом необходимо принимать специальные меры дл  компенсации сферической аберрации; вносимой в .интерферирующие пучки куб-призмой .The disadvantage of the interferometer is a limited range of parameters of the monitored systems, namely the maximum relative aperture is 1: 2.5. It is necessary to take special measures to compensate for spherical aberration; a cube-prism inserted into interfering beams.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности  вл етс  интерферометрThe closest to the invention to the technical essence is the interferometer

ДЛЯ контрол  качества оптическиз( систем, содержащий расположенные последовательно осветительную систему с лазерным источником излучени , светоделитёльный блок и эталонное сферическое зеркало, регистратор интерференционной картины, расположенный в обратном ходе излучени  за светоделктельным блоком, выполненным так, что он представл ет собой в Двух взаимно перпендикул рных направлени х идентичные концентрические менисковые лиизы, оптическа  ось каждой из которых составл ет угол 45° со светоделительной поверхностью блока, и установленным так, что центры кривизны сферичеЬких поверхностей менисковых линз опртчески сопр жены с фокусом осветительной си( темы 2.For quality control of optical systems (systems containing a sequential illumination system with a laser radiation source, a beam separation unit and a reference spherical mirror, an interference pattern recorder located in the reverse direction of the radiation behind a light-selective unit designed so that it is in two mutually perpendicular the directions are identical concentric meniscus lyses, the optical axis of each of which makes an angle of 45 ° with the beam-splitting surface of the block, and the mouth tained so that the centers of curvature sferichekih meniscus lens surfaces oprtcheski conjugated to focus illumination in B (2 threads.

Claims (1)

Недостатком интерферометра  вл етс  сравнительно низкий диапазон параметров конт20 ролируемых систем, который определ етс , в частности возможност ми светоделительного блока, св занными с выбором толщины менисковых линз, поэтому максимальное значение относительного отверсти  контролируемых систем составл ет 1:1,15. Цель изобретени  - расширение диапазона параметров контролируемых оптических систем. Поставленна  цель достигаетс  тем, что в интерферометре дл  контрол  качества оптических систем, содержащем расположенные последовательно осветительную систему с лазерным источником излучени , светоделительный блок и эталонное сферическое зерка ло, регистратор интерференционной картины, расположенный в обратном ходе излучени  за светоделительным блоком, выполненным так, что он представл ет собой в двух взаимно перпендикул рных направлени х идентичные концентрические менисковые линзы, оптическа  ось каждой из которых составл ет угол 45° со светоделительной поверхностью блока, и установленным так, что центры кривизны сферических поверхностей менисковых линз оптически сопр жены с фокусами осветительной системы, светоделительный блок ориентирован так, что выпуклые поверхности менисковых линз обращены к осветительной сис теме и регистратору интерференционной картины соответственно, а толщина по оптической оси каждой из менисковых линз светоделительного блока меньше светового диамет ра ее выпуклой поверхности не менее, чем в 1,15 раза. На мертеже представлена принципиальна  схема одного из возможных вариантов интерферометра дл  контрол  качества оптичес ких систем, в случае контрол  вогнутой сферической поверхности. Интерферометр содержит расположенные последовательно осветительную систему, состо щую из лазера 1, плоских зеркал 2 и 3, телескопической системы 4 и микрообъек тива 5, светоделительный блок 6, выполненный в виде двух призм 7 и 8 с наклеенными на их грани линзами 9-12 и этало шо сферическое зеркало 13 и расположенный в обратном ходе излучени  за светоделительным блоком 6 регистратор 14 интерференци онной картины. Светоделительна  поверхность блока 6 образована склеенными гран ми призмы 7 и 8. На грани .призмы 7 и 8 наклеены линзы 9-12 соответственно. Радиусы кривизны линз выбраны так, что светоделительный бло представл ет в двух взаимно перпендикул р ных направлени х идентичные концентрическ менисковые линзы, оптическа  ось каждой из которых составл ет угол 45° со светодел тельной поверхностью блока 6. Светоделительный блок 6 ориентирован т что выпуклые поверхности менисковых линз 4 обращены к осветительной системе и регк ратору 14 интерференционной картины coot ветствеино, а центры кривизны сферических поверхностей линз 9-12 оптически сопр жены с фокусом осветительной системы. Грани светоделительного блока 6 выполнены с изломом, благодар  чему толщина по оптической оси каждой из менисковых линз блока 6 меньше светового диаметра. Грани светоделительного блока 6, на которые наклеены линзы 11 и 12, выполнены с изломом, благодар  чему толщина по оптической оси каждой из менисковых линз блока 6 меньше светового диаметра ее выпуклой поверхности не менее, чем в 1,15 раз. Интерферометр работает следующим образом . Излучение лазера 1 направл етс  зеркалами 2 и 3 в телескопическую систему 4, котора  расшир ет его до требуемого диаметра. Е-ыход щий из .телескопической системы 4 плоский волновой фронт преобразуетс  микрообъективом 5 в сферический волновой фронт, падающий по нормал м на выпуклую сферическую поверхность линзы 9 светоделительного блока 6. Светоделительна  поверхность блока 6 делит сферический волновой фронт на две части, одна из которых падает на эталонное сферическое зеркало 13 по нормали к нему, а Друга  - распростран етс  в направлении нормалей к контролируемой поверхности 15. Отраженные от зеркал 13 и 15 волновые фронты интерферируют на светоделительной грани блока 6 и поступают в регистратор 14 интерференционной картины. Полученна  интерференционна  картина несет в себе информацию об ошибках формы контролируемой поверхности 15. Расширение диапазона параметров контролируемых оптических систем достигаетс  за счет того, что толщина по оптической оси каждой из менисковых линз светоделительного блока 6 меньше светового диаметра ее выпуклой поверхности не менее, чем в 1,15 раз, а также за счет того, что предметна  точка (фокус осветительной системы) вынесена в пространство перед интерферометром . Максимальное относительное отверстие оптических систем, которые могут быть проконтролированы предлагаемым интерферометром , составл ет 1:0,8. Формула изобретени  Интерферометр дл  контрол  качества оптических систем, содержащий расположенные последовательно осветительную систему с лазерным источником излучени , светодительный блок и эталонное сферическое зеркало.The disadvantage of the interferometer is a relatively low range of parameters of the monitored systems, which is determined, in particular, by the capabilities of the beam-splitting unit, related to the choice of meniscus lens thickness, therefore the maximum value of the relative aperture of the monitored systems is 1: 1.15. The purpose of the invention is to expand the range of parameters of monitored optical systems. This goal is achieved by the fact that in an interferometer for monitoring the quality of optical systems, comprising a sequential illumination system with a laser radiation source, a beam-splitting unit and a reference spherical mirror, an interference pattern recorder located in the reverse direction of the radiation behind the beam-splitting unit, designed to represents in two mutually perpendicular directions identical concentric meniscus lenses, the optical axis of each of which is an angle of 45 ° with the beam-splitting surface of the block, and installed so that the centers of curvature of the spherical surfaces of the meniscus lenses are optically coupled to the foci of the lighting system, the beam-splitting unit is oriented so that the convex surfaces of the meniscus lenses face the lighting system and the interference pattern recorder, respectively, and the thickness the optical axis of each meniscus lens of the beam-splitting unit is not less than 1.15 times the light diameter of its convex surface. The diagram shows a schematic diagram of one of the possible variants of an interferometer for controlling the quality of optical systems, in the case of controlling a concave spherical surface. The interferometer contains successively the lighting system consisting of laser 1, flat mirrors 2 and 3, telescopic system 4 and micro-object 5, beam-splitting unit 6 made in the form of two prisms 7 and 8 with lenses 9-12 pasted on their face and a spherical mirror 13 and a registrar 14 of the interference pattern located in the reverse course of the radiation behind the beam-splitting unit 6. The beam splitting surface of block 6 is formed by glued edges of prism 7 and 8. On the face of prisms 7 and 8 are lenses 9–12, respectively. The radii of curvature of the lenses are chosen so that the beam splitting unit represents in two mutually perpendicular directions identical concentric meniscus lenses, the optical axis of each of which makes an angle of 45 ° with the beam-splitting surface of the unit 6. The beam splitting unit 6 is oriented so that the convex surfaces of the meniscus The lenses 4 face the illumination system and the regulator 14 of the interference pattern coot vetvietinos, and the curvature centers of the spherical surfaces of the lenses 9-12 are optically coupled to the focus of the illumination system. The edges of the beam-splitting unit 6 are made with a break, so that the thickness along the optical axis of each of the meniscus lenses of the unit 6 is smaller than the light diameter. The edges of the beam-splitting unit 6, on which the lenses 11 and 12 are glued, are made with a break, so that the thickness along the optical axis of each of the meniscus lenses of the unit 6 is less than the light diameter of its convex surface not less than 1.15 times. The interferometer works as follows. The radiation from laser 1 is directed by mirrors 2 and 3 to the telescopic system 4, which expands it to the required diameter. The planar wave front, emanating from the telescopic system 4, is converted by the micro-lens 5 into a spherical wave front, falling normal along the convex spherical surface of the lens 9 of the beam-splitting unit 6. The beam-splitting surface of the block 6 divides the spherical wave front into two parts, one of which falls on the reference spherical mirror 13 along the normal to it, and the Friend - extends in the direction of the normals to the test surface 15. Reflected from mirrors 13 and 15, the wave fronts interfere at the beam-splitting screen audio block 6 and fed to the recorder 14, the interference pattern. The resulting interference pattern carries information about the shape errors of the monitored surface 15. The range of parameters of monitored optical systems is broadened by the fact that the thickness along the optical axis of each meniscus lens of the beam-splitting unit 6 is less than the luminous diameter of its convex surface not less than 1, 15 times, and also due to the fact that the objective point (focus of the lighting system) is brought into space in front of the interferometer. The maximum relative aperture of optical systems that can be monitored by the proposed interferometer is 1: 0.8. DETAILED DESCRIPTION An interferometer for monitoring the quality of optical systems, comprising a sequential illumination system with a laser radiation source, a light-emitting unit and a reference spherical mirror.
SU802974206A 1980-08-15 1980-08-15 Interferometer for optical system quality control SU991150A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802974206A SU991150A1 (en) 1980-08-15 1980-08-15 Interferometer for optical system quality control

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802974206A SU991150A1 (en) 1980-08-15 1980-08-15 Interferometer for optical system quality control

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU991150A1 true SU991150A1 (en) 1983-01-23

Family

ID=20914908

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802974206A SU991150A1 (en) 1980-08-15 1980-08-15 Interferometer for optical system quality control

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU991150A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5513000A (en) Autocollimator
SU991150A1 (en) Interferometer for optical system quality control
DE3070516D1 (en) Multiple-field optical system
SU523274A1 (en) Interferometer to control the quality of convex hyperbolic mirrors of a cassegrain telescope
SU149910A1 (en) Interferometer to control the quality of second-order surfaces of rotation
SU1368623A1 (en) Interferometer for checking shape of concave optical aspherical surfaces
SU953451A2 (en) Interferrometer for checking spherical surfaces
GB1459936A (en) Apparatus for illuminating minute targets
SU847013A1 (en) Interferometer for lens quality control
SU1104362A1 (en) Interferometer for optical surface quality control
SU1024868A1 (en) Focusing device
SU920367A1 (en) Interferometer for for checking concave spherical surfaces
SU987378A1 (en) Interferometer for checking optical part surface shape
SU911144A1 (en) Interferometer for checking shape of convex spherical surfaces
SU823845A1 (en) Interferometer for checking concave spherical surfase form
SU844995A1 (en) Interferometer for inspection of article surface
SU1295211A1 (en) Interferometer for checking shape of aspherical surfaces
SU1249322A1 (en) Interferometer for checking shape of convex spherical surfaces of optical parts
SU1260676A1 (en) Interferometer for checking shape of optical surfaces
SU1084597A1 (en) Interferometer for checking concave ellypsoids of revolution
SU1661567A1 (en) Method of testing surfaces of optical parts
SU1657947A1 (en) Interferometer for checking of aspherical quadric surfaces
SU996857A1 (en) Interferometer for optical surface shape checking
SU894351A1 (en) Interferometer for checking concave parabolic surfaces
SU844994A1 (en) Device for obtaining parallel light beams