SU847013A1 - Interferometer for lens quality control - Google Patents

Interferometer for lens quality control Download PDF

Info

Publication number
SU847013A1
SU847013A1 SU792827072A SU2827072A SU847013A1 SU 847013 A1 SU847013 A1 SU 847013A1 SU 792827072 A SU792827072 A SU 792827072A SU 2827072 A SU2827072 A SU 2827072A SU 847013 A1 SU847013 A1 SU 847013A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
interferometer
lenses
lens
compensator
reference lens
Prior art date
Application number
SU792827072A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Даниил Трофимович Пуряев
Original Assignee
Московское Ордена Ленина И Орденатрудового Красного Знамени Высшеетехническое Училище Им.H.Э.Баумана
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московское Ордена Ленина И Орденатрудового Красного Знамени Высшеетехническое Училище Им.H.Э.Баумана filed Critical Московское Ордена Ленина И Орденатрудового Красного Знамени Высшеетехническое Училище Им.H.Э.Баумана
Priority to SU792827072A priority Critical patent/SU847013A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU847013A1 publication Critical patent/SU847013A1/en

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Description

1one

Изобретение относитс  к измерительной технике, предназначено дл  контрол  качества линз и может бЕЛТь использовано в производстве, оптических систем.The invention relates to a measurement technique, is intended to control the quality of lenses, and may be used in the manufacture of optical systems.

Известен интерферометр дл  контрол  качества линз, содержащий источник света, расположенные последовательно по ходу его лучей светоделитель , объектив, компенсатор, эталонное сферическое зеркало и регистратор интерференционной картины 1 .A known interferometer for controlling the quality of lenses contains a light source arranged in series along its rays by a beam splitter, a lens, a compensator, a reference spherical mirror, and an interference pattern recorder 1.

Недостатком данного интерферометра  вл етс  сложность конструкции, обусд овленна  необходимостью применени  эталонного сферического зеркала , диаметр которого превышает Диаметр контролируемой линзы..The disadvantage of this interferometer is the complexity of the design, due to the need to use a reference spherical mirror, the diameter of which exceeds the diameter of the controlled lens ..

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому эффекту к изобретению  вл етс  интерферометр дл  контрол  качества оптических деталей , например линз, содержгиций источник света, расположенные последовательно по ходу его лучей светоделитель , компенсатор и регистратор интерференционной картины 2.The closest in technical essence and the achieved effect to the invention is an interferometer for controlling the quality of optical components, for example lenses, contents of a light source arranged successively along its rays, a beam splitter, a compensator and an interference pattern recorder 2.

Недостатками этого интерферометра  вл ютс  сравнительно низка  точность контрол , обусловленна  тем, что компенсатор вносит дополнительные аберрации в волновой фронт, отраженный от поверхности контролируемой линзы, а также узкий диапазон параметров контролируемых линз, поскольку один компенсатор позвол ет контролировать , как правило, только одну линзу, а именно ту, дл  которой он The disadvantages of this interferometer are relatively low control accuracy due to the fact that the compensator introduces additional aberrations to the wave front reflected from the surface of the controlled lens, as well as a narrow range of parameters of the controlled lenses, since one compensator allows you to control, as a rule, only one lens namely the one for which he

Id рассчитан.Id is calculated.

Цель изобретени  - повышение точности контрол  и расширение диапазона параметров контролируемых линз.The purpose of the invention is to improve the accuracy of control and expand the range of parameters of controlled lenses.

Указанна  цель достигаетс  тем, This goal is achieved by

15 что интерферометр снабжен эталонной линзой, установленной за компенсатором , плоскопараллельной светоделительной пластиной, установленной перпендикул рно оптической оси интерфе20 рометра за эталонной линзой так, что рассто ние от светоделительной поверхности пластины до эталонной ,и контролируемой линз равны между собой .15 that the interferometer is equipped with a reference lens mounted behind the compensator, a plane-parallel beam-splitting plate, installed perpendicular to the optical axis of the interferometer behind the reference lens so that the distance from the beam-splitting surface of the plate to the reference lens and the lens being controlled are equal to each other.

2525

На чертеже представлена принципиальна  Ьхема одного из возможных вариантов интерферометра дл  контрол  качества линз.The drawing shows the principal principle of one of the possible variants of an interferometer for controlling the quality of lenses.

Интерферометр содержит источник The interferometer contains the source

Claims (2)

30 1 света, расположенные последовательно по ходу его лучей диафрагму 2, светоделитель 3, компенсатор 4, эталонную ликзу 5, плоскопараллельную светоделительную пластину 6 и регист ратор 7 интерференционной картины. Пластина 6 установлена перпендикул р но оптической оси интерферометра так что рассто ни  от ее светоделительной поверхности ло эталонной линзы 5 и контролируемой линзы 8 равны между собой. Интерферометр работает следующим o6j3a3OM. Пучок света от источника 1 проходит диафрагму 2, светоделитель 3, компенсатор 4, эталонную линзу 5 и падает на плоскопараллельную светоделительную пластину 6, котора  делит его на две части. Одна часть пуч ка преломл етс  поверхностью Б эталонной линзы 5, отражаетс  от ее поверхности А и повтор ет свой путь в обратном направлении. Друга  часть преломл етс  поверхностью Б контролируемой линзы 8, отражаетс  от ее поверхности А и повтор ет свой путь в обратном направлении. Объединив шись на светоделительной пластине 6 обе части интерферируют между собой и поступают в регистратор 7 интерференционной картины. Поскольку обе части пучка проход т в плечах интерферометра одинаковые оптические пути, нет необходимос ти осуществл ть полную компенсацию аберраций пучка лучей, подающего на светоделительную пластину 6, что позвол ет значительно расширить диа пазон параметров контролируемых линз 8 и повысить точность контрол  за счет, исключени  ошибок, вносимых компенсатором в обратном ходе лучей. Таким образом, снабжение интерферометра эталонной линзой 5 и плоскопараллельной светоделительной пластиной б позвол ет повысить точность контрол  и расширить диапазон пара етров контролируемых линз. Формула изобретени  Интерферометр дл  контрол  качества линз, содержащий источник света, расположенные последовательно по ходу его лучей светоделитель, компенсатор и регистратор интерференционной картины, отличающийс   тем, что, с целью повышени  точности контрол  и расширени  диапазона параметров контролируемых линз, он снабжен эталонной линзой, установленной за koMneHcaTopOM, плоскопараллельной светоделительной пластиной , установленной перпендикул рно оптической оси интерферометра за эталонной линзой так, что рассто ни  от светоделительной поверхности пластины до эталонной и контролируемой линз равны между собой. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Авторское- свидетельство СССР 448347, кл. G 01 В 9/02. 30 1 light located in succession along its rays aperture 2, a beam splitter 3, a compensator 4, a reference liqueur 5, a plane-parallel beam-splitting plate 6 and an interference pattern recorder 7. The plate 6 is installed perpendicular to the optical axis of the interferometer so that the distances from its beam-splitting surface to the reference lens 5 and the controlled lens 8 are equal to each other. The interferometer works as follows o6j3a3OM. The beam of light from the source 1 passes the aperture 2, the beam splitter 3, the compensator 4, the reference lens 5 and falls on the plane-parallel beam splitting plate 6, which divides it into two parts. One part of the beam is refracted by the surface B of the reference lens 5, is reflected from its surface A and repeats its path in the opposite direction. The other part is refracted by the surface B of the controlled lens 8, is reflected from its surface A and repeats its path in the opposite direction. Having united on the beam-splitting plate 6, both parts interfere with each other and enter the recorder 7 of the interference pattern. Since both parts of the beam pass the same optical paths in the arms of the interferometer, it is not necessary to fully compensate for the beam beam aberrations that feed the beam-splitting plate 6, which significantly extends the range of parameters of the monitored lenses 8 and improves the accuracy of control by eliminating errors made by the compensator in the reverse course of the rays. Thus, the supply of the interferometer with a reference lens 5 and a plane-parallel beam-splitting plate makes it possible to increase the accuracy of control and expand the range of pairs of monitored lenses. An interferometer for controlling the quality of lenses, containing a light source arranged successively along its rays, a beam splitter, a compensator and an interference pattern recorder, characterized in that, in order to increase the accuracy of control and expand the range of parameters of controlled lenses, it is equipped with a reference lens koMneHcaTopOM, a plane-parallel beam-splitting plate mounted perpendicular to the optical axis of the interferometer behind the reference lens so that it is from the light-emitting diode The corresponding surface of the plate to the reference and controlled lenses are equal to each other. Sources of information taken into account during the examination 1. The author's certificate of the USSR 448347, cl. G 01 B 9/02. 2.Авторское свидетельство СССР №373519, кл. G 01 В 9/02, 12.03.73 (прототип).2. USSR author's certificate No. 373519, cl. G 01 B 9/02, 12.03.73 (prototype).
SU792827072A 1979-10-11 1979-10-11 Interferometer for lens quality control SU847013A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792827072A SU847013A1 (en) 1979-10-11 1979-10-11 Interferometer for lens quality control

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792827072A SU847013A1 (en) 1979-10-11 1979-10-11 Interferometer for lens quality control

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU847013A1 true SU847013A1 (en) 1981-07-15

Family

ID=20853823

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792827072A SU847013A1 (en) 1979-10-11 1979-10-11 Interferometer for lens quality control

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU847013A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH05322911A (en) Doppler speedometer and displacement-data detecting apparatus
JP2755757B2 (en) Measuring method of displacement and angle
US5513000A (en) Autocollimator
US3529894A (en) Interferometer employing a plurality of pairs of interfering beams
US5410398A (en) Automatic boresight compensation device
US3107270A (en) Telescope with circular interference grating reticle
SU847013A1 (en) Interferometer for lens quality control
JPS6413403A (en) Interference length measuring apparatus
US2405960A (en) Collimating system
US3347129A (en) Photoelectric range finder
SU953451A2 (en) Interferrometer for checking spherical surfaces
SU991150A1 (en) Interferometer for optical system quality control
SU838325A1 (en) Interference cage of object linear displacement
SU1364866A1 (en) Interference device for measuring angular displacements
SU1368623A1 (en) Interferometer for checking shape of concave optical aspherical surfaces
SU523274A1 (en) Interferometer to control the quality of convex hyperbolic mirrors of a cassegrain telescope
SU842398A1 (en) Device for checking planeness of transparent articles
SU844994A1 (en) Device for obtaining parallel light beams
SU1000745A1 (en) Interferometer for checking concave cylindrical surfaces
SU1672206A1 (en) Method of measuring decentering of optical parts and device for effecting same
SU823845A1 (en) Interferometer for checking concave spherical surfase form
SU1661567A1 (en) Method of testing surfaces of optical parts
SU1471065A1 (en) Spectrointerferometer
SU1138642A1 (en) Interference device for remote measuring of small displacements
SU575910A1 (en) Holograph interferometer