SU920367A1 - Interferometer for for checking concave spherical surfaces - Google Patents

Interferometer for for checking concave spherical surfaces Download PDF

Info

Publication number
SU920367A1
SU920367A1 SU802965366A SU2965366A SU920367A1 SU 920367 A1 SU920367 A1 SU 920367A1 SU 802965366 A SU802965366 A SU 802965366A SU 2965366 A SU2965366 A SU 2965366A SU 920367 A1 SU920367 A1 SU 920367A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
lens
radiation
beam splitter
radius
interferometer
Prior art date
Application number
SU802965366A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Даниил Трофимович Пуряев
Наталия Леонидовна Лазарева
Original Assignee
Московское Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Высшее Техническое Училище Им. Н.Э.Баумана
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московское Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Высшее Техническое Училище Им. Н.Э.Баумана filed Critical Московское Ордена Ленина И Ордена Трудового Красного Знамени Высшее Техническое Училище Им. Н.Э.Баумана
Priority to SU802965366A priority Critical patent/SU920367A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU920367A1 publication Critical patent/SU920367A1/en

Links

Description

(54) ИНТЕРФЕТОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ВОГНУТЫХ СФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ(54) INTERFETOMETER FOR CONTROL OF CONCURSED SPHERICAL SURFACES

II

Изобретение относитс  к оптическому приборостроению и предназначено дл  контрол  . формы высокоапертурных вогнутых сферических поверхностей.The invention relates to optical instrumentation and is intended to control. forms of high aperture concave spherical surfaces.

Известен интерферометр дл  контрол  качества вогнутых Сферических поверхностей, содержащий источник монохроматического излучени , фокусирующий объектив, светодеЛНтель в виде кубика, образованного склеиванием двух пр моугольных призм, эталонное сферическое зеркало и регистратор интерферешщ- онной картнны 1.A known interferometer for controlling the quality of concave Spherical surfaces, containing a source of monochromatic radiation, a focusing lens, a cube shaped light emitter formed by gluing two rectangular prisms, a reference spherical mirror and an interfacing card recorder 1.

Недостатками известного интерферометра  вл ютс  ограниченность диапазона апертур контролируемых поверхностей, сравнительно невысока  точность и производительное} контрол . Эти недостатки обусловлены тем, что кубик вносит сверическую аберрацию в пучок и предъ вл ютс  настолько высокие требовани  к качеству его изготовлени , что они трудно вьшолнимы на практике.The disadvantages of the known interferometer are the limited range of apertures of the tested surfaces, relatively low accuracy and productive control. These drawbacks are due to the fact that the cube introduces a spherical aberration into the beam and imposes such high demands on the quality of its manufacture that they are difficult to implement in practice.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности  вл етс  интерферометр дл  контрол  вогнутых сверическнх поверхностей.The closest to the invention to the technical essence is an interferometer for the control of concave, cross-sectional surfaces.

содержащий источник монохроматического излучени  и последовательно расположенные по ходу излучени  от источника объектив и светоделитель , на одном выходе излучени  из которого установлена линза, на другом - регистратор интерференционной картины 2.containing a source of monochromatic radiation and successively located along the course of radiation from the source, a lens and a beam splitter, at one radiation output from which the lens is mounted, on the other - an interference pattern recorder 2.

Недостатками этчэго интерферометра  вл ютс  ограниченность диапазона апертур контролируемых поверхностей, сравнительно невысока  точность и производительность контрол , что The disadvantages of this interferometer are the limited range of apertures of the tested surfaces; the accuracy and productivity of the control are relatively low;

to обусловлено высокими требовани ми, предъ вл емыми к точности изготовлени  светоделител , и сложностью процесса юстировки иитёр; ферометра.This is due to the high demands placed on the accuracy of the beam splitter and the complexity of the alignment process; ferometer

Целью изобретени   вл етс  расщиренне ди-. The aim of the invention is to extend the di.

Т5 апазона контролируемых поверхностей, повышение точности и производительности контрол .T5 apazona controlled surfaces, improving the accuracy and performance of control.

Claims (2)

Указанна  цель достигаетс  тем, что в инцрферометре , содержащем источник монохроматического излучени  и последорательно распо70 ложенные по ходу нзлучени  от источника объектив и светоделитель, на одном выходе излучени  из которого установлена лннза, на другом - регистратор интерференционной кар39 тины, линза выполнена менисковой неапланатической , вогнута  поверхность линзы обращена к светоделителю, радиус кривизны поверхности линзы определ етс  из соотношени  Пл(П;, , deCnl-И) (Пл Пс.(1г-с1л-абсолютна  величина радиуса вогнутой поверхности линзы; -абсолютна  величина радиуса выпуклой поверхности линзы; -толщина линзы; -толщина светоделител ; показатель преломлени  линзы; -показатель преломлени  светоделн ,тел . На чертеже представлена оптическа  схема интерферометра. Интерферометр содержит источник 1 монохроматического излучени , объектив 2, светоделитель 3, вьшолненньш в виде кубика, мени ковую неапланатическую линзу 4, регистратор 5 интерференционной картины. Интерферометр работает следующим образом . Излучение от источника 1 фокусируетс  объективом 2, проходит через светоделитель 3 линзу 4, и направл етс  к контролируемой поверхности 6. Излучение, отраженное от выпуклой поверхности линзы 4, образует эталонный волновой фронт сравнени . Излучение, от ражешюе от контролируемой цоверх ости 6, образует исследуемый волновой фронт. Исследуемый и эталонный волновые фронты интерферируют между собой и образуют интерференщюнную картину, дл  регистрации которой регистратор 5 интерференционной картины. По виду интерференционной картины суд т о форме контролируемой поверхности 6 Таким образом, выполнение линзы мениско вой неаиланатической, конструктивные парамет ры которой св заны указанными соотношени ми с 1гараметрами светоделител , позвол ет повысить точность контрол  благодар  тому , что когерентные лучи образуютс  на выпуклой поверхности линзы. Повышение производительности контрол  достигаетс  благодар  тому, что процесс юстировки интерферометра значительно упрощен и сводитс , по существу, к совмещению автоколлимационной точки от вьшуклой поверхности линзы с предметной точкой объектива. Формула изобретени  Интерферометр дл  контрол  вогнутых сфер4 ческих поверхностей, содержащий источник монохроматического излучени  и последова тельно расположенные по ходу излучени  от источника объектив и светоделитель, на одном выходе излучени  из которого установлена линза, на другом - регистратор интерференционной картины, отличающийс  тем, что, с целью расширени  диапазона контролируемых поверхностей, повышени  точности и производительности контрол , линза выполнена менисковой неапланатической, вогнута  поверхность линзы обращена к светоделителю , радиус кривизны поверхности линзы 1определ етс  из соотношени  , n(.X AУg- A п-(П-й)-4 dteCnl-) СПлПс)С«-сГл-) абсолютна  величина радиуса вогнутой поверхности линзы; абсолютна  величина радиуса Ашуклой поверхности линзы; толщина линзы; толщина светоделител ; показатель {феломлени  линзы; показатель преломлени  светоделител . Источншси информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Оптико-механическа  промышленность, 1973, NO 8, с. 50-58. This goal is achieved by the fact that in an incrferometer containing a source of monochromatic radiation and successively located in the course of radiation from the source, a lens and a beam splitter, at one radiation output from which the lens is installed, on the other - an interferometric image recorder the lens is facing the beam splitter, the radius of curvature of the lens surface is determined from the ratio Pl (P ;,, deCnl-I) (Pl Ps. (1g-C1l is the absolute value of the radius concave over lens heights; - absolute magnitude of the radius of the convex lens surface; - lens thickness; - beam splitter thickness; lens refractive index; - beam refractor index, phone The optical diagram of the interferometer is shown in Figure 1. performed in the form of a cube, menicon neaplanatic lens 4, the interference pattern recorder 5. The interferometer works as follows. The radiation from the source 1 is focused by the lens 2, passes through the beam splitter 3, the lens 4, and is directed to the test surface 6. The radiation reflected from the convex surface of the lens 4 forms the reference wave front of the comparison. The radiation from the radiation from the controlled surface 6, forms the wave front under study. The studied and reference wave fronts interfere with each other and form an interference pattern, for registration of which the recorder 5 is an interference pattern. By the form of the interference pattern, the shape of the test surface is judged. The increase in control productivity is achieved by the fact that the process of adjusting the interferometer is considerably simplified and reduces essentially to combining the autocollimation point from the convex lens surface with the objective point of the lens. Claims of the invention An interferometer for monitoring concave sphere surfaces containing a source of monochromatic radiation and a lens and a beam splitter sequentially arranged along the radiation path from the source, at one radiation output from which a lens is mounted, on the other an interference pattern recorder, characterized in that expanding the range of controlled surfaces, improving the accuracy and performance of the control, the lens is made meniscus neaplanatic, concave lens surface facing the beam splitter, the radius of curvature of the surface of the lens 1 is determined from the relation, n (.X А-g- A п- (П-й) -4 dteCnl-) СПЛПс) С „-СГл-) the absolute value of the radius of the concave surface of the lens; the absolute value of the radius of the Ash-shaped surface of the lens; lens thickness; thickness splitter; {felomlenia lens value; the refractive index of the beam splitter. Sources of information taken into account during the examination 1. Optical-mechanical industry, 1973, NO 8, p. 50-58. 2.Авторское свидетельство СССР ff 373519, кл. G 01 В 9/02, 19.07.73 (прототип).2. USSR author's certificate ff 373519, cl. G 01 B 9/02, 07/19/73 (prototype).
SU802965366A 1980-07-29 1980-07-29 Interferometer for for checking concave spherical surfaces SU920367A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802965366A SU920367A1 (en) 1980-07-29 1980-07-29 Interferometer for for checking concave spherical surfaces

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802965366A SU920367A1 (en) 1980-07-29 1980-07-29 Interferometer for for checking concave spherical surfaces

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU920367A1 true SU920367A1 (en) 1982-04-15

Family

ID=20911579

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802965366A SU920367A1 (en) 1980-07-29 1980-07-29 Interferometer for for checking concave spherical surfaces

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU920367A1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103292730A (en) * 2013-05-06 2013-09-11 浙江师范大学 Detection method and device for high precision reference sphere

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103292730A (en) * 2013-05-06 2013-09-11 浙江师范大学 Detection method and device for high precision reference sphere
CN103292730B (en) * 2013-05-06 2019-04-09 浙江师范大学 High precision reference sphere detection method and device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5581347A (en) Optimization method and device for direct measurement of an optical component
US4743117A (en) Device for optically measuring aspheric surface
US3895872A (en) Optical speed-measuring devices and methods for maximizing their accuracies
SU920367A1 (en) Interferometer for for checking concave spherical surfaces
US3642374A (en) Optical inspecting method
US3506361A (en) Optics testing interferometer
US4120590A (en) Method for measuring the thickness of transparent articles
SU523274A1 (en) Interferometer to control the quality of convex hyperbolic mirrors of a cassegrain telescope
SU1661567A1 (en) Method of testing surfaces of optical parts
JPS60196612A (en) Surface shape measuring apparatus
SU1104362A1 (en) Interferometer for optical surface quality control
SU953451A2 (en) Interferrometer for checking spherical surfaces
SU1044969A1 (en) Optical surface profile measuring method
JP3199487B2 (en) Interference measurement method
SU1026002A1 (en) Interferometer for checking convex spherical surface shape
SU684296A1 (en) Interferometer for testing quality of optical components
SU848999A1 (en) Interferometer for checking lens and mirror aberration changes in the process of their mounting position
SU1755041A1 (en) Interferometer for testing surface shape
JPH06147854A (en) Interference measuring method
SU1657947A1 (en) Interferometer for checking of aspherical quadric surfaces
SU623124A1 (en) Device for measuring longitudinal aberration of microobjective lenses
SU848996A1 (en) Interferometer for surface quality control, large optical element aberration determination and transparent non-uniformity investigation
SU1434305A1 (en) Compensator for monitoring the shape of parabolic surfaces of revolution
SU935702A1 (en) Interferometer for investigation of optical non-uniformities of glass in optical parts
SU1160354A1 (en) Method of alignment of lens in reference to axis of rotation