SU953522A1 - Способ контрол износа деталей - Google Patents

Способ контрол износа деталей Download PDF

Info

Publication number
SU953522A1
SU953522A1 SU802932583A SU2932583A SU953522A1 SU 953522 A1 SU953522 A1 SU 953522A1 SU 802932583 A SU802932583 A SU 802932583A SU 2932583 A SU2932583 A SU 2932583A SU 953522 A1 SU953522 A1 SU 953522A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
wear
radiation
standard
intensity
dependence
Prior art date
Application number
SU802932583A
Other languages
English (en)
Inventor
Николай Александрович Скуратов
Original Assignee
Ростовский-на-Дону научно-исследовательский институт технологии машиностроения
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ростовский-на-Дону научно-исследовательский институт технологии машиностроения filed Critical Ростовский-на-Дону научно-исследовательский институт технологии машиностроения
Priority to SU802932583A priority Critical patent/SU953522A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU953522A1 publication Critical patent/SU953522A1/ru

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Description

(54) СПОСОБ КСЖТРОЛЯ ИЗНОСА ДЕТАЛЕЙ
1
Изобретение относитс  к испытатель ной технике, а именно к исследованию износа деталей.
Известен способ контрол  износа деталей , заключающийс - в том, что исследуемую поверхность изнашиваемой детали и эталона облучают, стро т график зависимости интенсивности излучени  от толпданы сло  эталона, измер ют интенси кость излучени  детали после изнашива- ,Q ВИЯ и оценивают износ по эталонной зависимости t.1 ,
Недостатком кзвестного способа  ьл етс  то, что он св зан с использованием радиоактивных воцеств непосредст- ,5 ве но в зоне трени , что требует соблюдени  специальных мер безопасности при работе.
Цель изобретени  - устраноаие радиоактивности в зоне трени , упрощение20 процесса исследований и расширение области применени .
Поставленна  -депь достигаетс  тем, что согласно способу контрол  износа
деталей, заключающемус  в том, что исследуемую поверхность Из нашзшаемой детали и эталона облучают, стро т график зависимости интенсивности излучени  от толщины сло  эталона, измер ют интенсивность тгалучени  детали после изнашивани  н оценивают износ по эталонной зависимости, в изнашиваемой детали вы:Попн ют паз, размещают в нем заподлицо биметаллическую ппастпану, верхний слой вьшопнен из TOIXJ металла, что и изнашива иса  деталь, после изнашивани  деталь подвергают облучению от внешнего источника ионизирующего излучени  и измер ют интенсивность вторичного рентгеновского характеристичесжого излучени  наружного и внутреннего слое биметаллической пластины.
Способ осуществл етс  следующим образом.
Облучают эталон, измер ют интенсивность излучени  эталона в зависэггмости от толщины сло  и стро т график зависим мости излучени  детали после изнашвва

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Способ контроля износа деталей, заключающийся в том, что исследуемую поверхность изнашиваемой детали и эталона облучают, строят график зависимости излучения от толщины слоя эталона, измеряют интенсивность излучения детали после изнашивания и оценивают износ по эталонной зависимости, отличающийся тем, что, с 'целью устранения радиоактивности в зоне трения, упрощения процесса исследования и расширения области применения, в изнашиваемой детали выполняют паз, размещают в- нем заподлицо биметаллическую пластину, верхний слой которой выполнен из того же металла, что и изнашиваемая деталь, после изнашивания деталь подвергают облучению от внешнего источника ионизирующего излучения и измеряют интенсивность вторичного рентгеновского характеристического излучения наружного и внутреннего слоев биметаллической пластины.
SU802932583A 1980-05-20 1980-05-20 Способ контрол износа деталей SU953522A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802932583A SU953522A1 (ru) 1980-05-20 1980-05-20 Способ контрол износа деталей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802932583A SU953522A1 (ru) 1980-05-20 1980-05-20 Способ контрол износа деталей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU953522A1 true SU953522A1 (ru) 1982-08-23

Family

ID=20898896

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802932583A SU953522A1 (ru) 1980-05-20 1980-05-20 Способ контрол износа деталей

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU953522A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3586361D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum verbesserten nachweis von elektromagnetischen signalen.
NZ331948A (en) Determining presence and desnity of object using two radiation sources
GB816062A (en) Method and apparatus for measuring the thickness of a deposit
ES298196A1 (es) Procedimiento y aparato para la determinaciën del contenido de elementos pesados en una muestra
ATE169743T1 (de) Methode der strahlungsmessung und des strahlungsnachweis mit verbesserter empfindlichkeit
FI913029A (fi) Foerfarande foer maetning av jaernhalten i zinkskikt.
SE7604502L (sv) Optisk branddetektor
SU953522A1 (ru) Способ контрол износа деталей
ES2096092T3 (es) Metodo de deteccion y medicion de radiacion.
JPS5786743A (en) Grease measuring device
SE7711809L (sv) Forfarande for att meta ytvikter
ATE73549T1 (de) Kernstrahlungsdetektor.
SE9500089L (sv) Metod och anordning för att mäta benmineralhalten i skelettet
JPS5756742A (en) Method for foreseeing life of metallic material
JPS52127292A (en) Analyzer
JPS57180120A (en) Monitoring device for beam annealing
JPS5226248A (en) Device for measuring the thickness of alluminium plate
JPS57197410A (en) Measuring method of adhered amount of high polymer film on metallic plate
SU1693551A1 (ru) Способ определени содержани оксида хрома в кожевенном полуфабрикате
JPS54685A (en) Simultaneously measurement of florescent x ray and diffracted x ray of minute area
JPS5459193A (en) Fluorescent x-ray sulfur analytical apparatus
JPS5622925A (en) Analytic measurement method for base material for optical fiber
JPS57190205A (en) Method for measuring thickness of painted film by fluorescent x ray
GB1248965A (en) A method and apparatus for measuring the energy and/or dose of radiation by radiation-sensitive transparent solid body measuring elements
JPS57172207A (en) Measuring method for plating thickness by x rays