SU913184A1 - Устройство для,измерения углового распределения рассеянного излучения г - Google Patents

Устройство для,измерения углового распределения рассеянного излучения г Download PDF

Info

Publication number
SU913184A1
SU913184A1 SU792810466A SU2810466A SU913184A1 SU 913184 A1 SU913184 A1 SU 913184A1 SU 792810466 A SU792810466 A SU 792810466A SU 2810466 A SU2810466 A SU 2810466A SU 913184 A1 SU913184 A1 SU 913184A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radiation
scanning
axis
angular distribution
photodetector
Prior art date
Application number
SU792810466A
Other languages
English (en)
Inventor
Valentin S Grebnev
Vladimir V Berdnik
Original Assignee
Kz Ni T Pi Khim Fotograf
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kz Ni T Pi Khim Fotograf filed Critical Kz Ni T Pi Khim Fotograf
Priority to SU792810466A priority Critical patent/SU913184A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU913184A1 publication Critical patent/SU913184A1/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/47Scattering, i.e. diffuse reflection

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относится к технике фен тометрических измерений и может быть использовано для быстрого исследования свойств материалов, в частности в химико-фотографической промышленности для экспресс контроля процесса физического 5 созревания фотоэмульсии, а также в лакокрасочной промьплленности для контроля рассеивающих свойств покрытий.
Известны устройства для измерения углового распределения рассеянного излу-10 чения, содержащие источник: излучения, оптическую систему формирования возбуждающего излучения, исследуемый образец на пути возбуждающего излучения, фотоприемник для приема рассеянного образдом излучения, поворачиваемый вокруг образца для снятия углового распределения рассеянного излучения [1^·
Недостатком таких устройств является малая скорость измерений.
Наиболее близким по технической сущности к предложенному является устройство для измерения углового распределе2
ния рассеянного излучения, содержащее источник излучения и установленные по ходу излучения сканирующее зеркало, оптическую систему, фокусирующую сканирующее излучение в неподвижную точку сканирования, неподвижный фотоприемник, ось которого проходит через точку сканирования, и электронный блок обработки сигнала фотоприемника [ 2].
Недостатком этого устройства являют>ся погрешности измерений, возникающие вследствие неравномерного коэффициента отражения оптической системы, фокусирующей излучение в точку сканирования,
'и нестабильность излучения источника.
Целью изобретения является повышение точности измерения относительным методом.
Указанная цель достигается тем, что в известном устройстве, содержащем источник излучения и установленные по ходу излучения сканирующее зеркало, опги чес кую систему, фокусирующую сканирующее излучение в неподвижную точку
913184
сканирования, неподвижный приемник, осе которого проходит через точку сканировали^ и электронный блок обработки сигнала фотоприемника, дополнительно введен фотоприемник, ось которого проходит че- 5 рез точку сканирования перпендикулярно плоскости сканирования оси излучения.
На фиг. 1 представлена схема устройства; на фиг. 2 - сечение А-А на фиг.1.*
Устройство содержит источник излуче- ю ния 1, сканирующее зеркало 2, оптическую систему 3, фокусирующую излучение в неподвижную точку и выполненную в виде отражательного эллиптического цилиндра, исследуемый' образец 4, фотопри- ,$ емники 5 и 6, электронный блок 7 для получения сигналов с фотоприемников, блок 8 для обработки электрического сигнала. Сканирующее' зеркало вращается вокруг оси, расположенной под углом к его нормали. Исследуемый образец 4 и сканирующее зеркало расположены в сопряженных фокусах оптической системы 3. Ось фотоприемника 5 совмещена с большой осью оптической системы 3. Ось фо- 25 топриемника 6 расположена перпендикулярно гглоскости сканирования оси излучения и проходит через точку сканирования.
30
Устройство работает следующим образом.
Пучок излучения от источника 1 при помощи сканирующего зеркала 2 разворачивается по зеркальной поверхности оптической системы 3 и, отражаясь от нее, попадает под различными углами на исследуемый образец 4. Рассеянное образцом излучение воспринимается фотоприемником 5 и 6. Электрические сигналы с фотоприемников 5 и 6 поступают на вход электронного блока 7, который формирует на выходе сигнал, равный отношению электрических сигналов фотоприемников. Блок 8 преобразует этот сигнал в сигнал функции углового распределения рассеянного излучения.
Введение в устройство дополнительного фотоприемника, ось которого проходит через точку сканирования перпендикулярно плоскости сканирования оси излучения, позволяет исключить влияние неравномерности коэффициента отражения оптической системы и нестабильности источника излучения на точность измерений.

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Устройство Для измерения углового распределения рассеянного излучения, содержащее источник излучения и установленные по ходу излучения сканирующее зеркало, оптическую систему, фокусирующую сканирующее излучение в неподвижную точку сканирования, неподвижный фотоприемник, ось которого проходит через точку сканирования, и электронный блок обработки сигнала ' фотоприемника, отличающееся' тем, что, с целью повышения точности измерения относительным методов в устройство введен дополнительный фотоприемник, ось которого проходит через точку сканирования перпендикулярно плоскости сканирования оси излучения.
SU792810466A 1979-08-23 1979-08-23 Устройство для,измерения углового распределения рассеянного излучения г SU913184A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792810466A SU913184A1 (ru) 1979-08-23 1979-08-23 Устройство для,измерения углового распределения рассеянного излучения г

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU792810466A SU913184A1 (ru) 1979-08-23 1979-08-23 Устройство для,измерения углового распределения рассеянного излучения г

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU913184A1 true SU913184A1 (ru) 1982-03-15

Family

ID=20846622

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU792810466A SU913184A1 (ru) 1979-08-23 1979-08-23 Устройство для,измерения углового распределения рассеянного излучения г

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU913184A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0152834A1 (en) Apparatus for automatic measurement of stress in a transparent body by means of scattered light
EP0396409A3 (en) High resolution ellipsometric apparatus
FI78355B (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
SU913184A1 (ru) Устройство для,измерения углового распределения рассеянного излучения г
Robinson et al. The measurement of the frequency response of a photodiode and amplifier using an opto-mechanical frequency response calibrator
US4586816A (en) Optical fibre spot size determination apparatus
JPH0118371B2 (ru)
SU693180A1 (ru) Устройство дл измерени характеристик оптической плотности жидкости
SU1538047A1 (ru) Способ измерени шероховатости поверхности
JPH0850007A (ja) 膜厚評価方法および装置
SU1024714A1 (ru) Оптико-электронна система дл измерени параметров планарных волноводных пленок
JP2523334B2 (ja) 光学式変位計
RU2156437C2 (ru) Устройство для определения шероховатости поверхности
RU2025656C1 (ru) Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок в фиксированной точке
SU654853A1 (ru) Бесконтактный фотометрический способ измерени высоты шероховатости поверхности непрозрачных образцов
SU1404813A1 (ru) Способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний
SU1130779A1 (ru) Устройство дл оптического зондировани атмосферы
SU1208496A1 (ru) Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени
RU1770850C (ru) Способ определени спектральных направленно-полусферических коэффициентов отражени образцов
RU1770847C (ru) Устройство дл измерени распределени градиента показател преломлени
SU851112A1 (ru) Устройство дл определени инди-КАТРиС РАССЕ Ни диСпЕРСНОй СРЕды
SU391411A1 (ru) Способ измерения зеркальной составляющей
SU922598A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента поглощени
SU1125514A1 (ru) Рефрактометр-колориметр
SU1114929A1 (ru) Устройство дл исследовани неоднородностей плазмы по рассе нию оптического излучени