SU1404813A1 - Способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике дл  градуировки измерителей и может быть использовано при дистанционном измерении параметров механических колебаний в труднодоступных местах. Цель изобретени  - повьииение точности достигаетс  тем, что нри градуировке измерител  используют имитатор вибрации. После настройки и юстировки оптической системы вибратору 4 и отражателю 3 придают колебани  с требуе.мой а.мплитудой. На отражатели 3 и 12 направл ют лучи света от .чазеров 1 и 8 соответственно. При колебани х отражател  3 тень от объекта 2 перемешаетс  вдоль щелевой диафрагмы 5. .Амплитуду колебаний Аф отражател  3 измер ют лазерным интерферометром ,. По измеренным параметрам решающий блок 13 подсчитывает граду ировочныи 1 ил. коэффициент Крр по формуле

Description

4

О

00 со

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано при дистанционном измерении параметров механических колебаний в труднодоступных местах .

Цель изобретени  - повышение точности градуировки при измерении колебаний в труднодоступных местах.

На чертеже приведено устройство, реализующее способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний.

Устройство содержит лазерный источник I света, объект 2 исследовани , отражатель 3, соединенный с маломощным вибратором 4, щелевую диафрагму 5, установленную перед фотоприемником 6, лазерный интерферометр 7, включающий лазер 8, отражатель 9, делитель 10 лазерного луча, фотоприем- ник 11 и измерительный отражатель 12, св занный с маломощным вибратором 4, решающий блок 13 и цифровой дисплей 14.

Способ осуществл етс  следующим образом .

Луч света от источника 1 направл ют на неподвижный объект 2 исследовани  вдоль его поверхности, котора  частично перекрывает луч. Часть луча света, не перекрыта  поверхностью объекта 2, падает на отражатель 3 и после отражени  - на фотоприемник 6, проход  при этом через щелевую диафрагму 5. Луч света, выход щий из лазерного интерферометра 7, падает на измерительный отражатель 12, после отражени  от которого луч падает на фотоприемник 11. На фотоприемник 11 падает также луч света, вышедший из лазера 8 и отраженный от отражател  9. После настройки и юстировки оптической системы производ т градуировку измерител  следующим обра0

5

0

5

0

5

зом. Придают колебани  с требуемой амплитудой вибратору 4 и, следовательно, отражателю 3. На отражатели 3 и 12 направл ют лучи света соответственно от лазеров 1 и 8. Объект 2 исследовани  при этом не колеблетс , но перекрывает часть падающего на него луча света от источника 1. При колебани х отражател  3 тень от объекта 2 перемещаетс  (сканируетс ) вдоль щелевой диафрагмы 5. При этом фотоприемник выдает электрический сигнал, напр жение которого пропорционально амплитуде колебаний отражател  3. Амплитуду колебаний отражател  измер ют лазерным интерферометром 7. По измеренным параметрам решающий блок 13 подсчитывает градуировоч- ный коэффициент К™ по формуле

.

Описанную процедуру при градуировке повтор ют дл  всего диапазона амплитуд, при которых испытывают деталь. Результаты расчета высвечиваютс  на цифровом дисплее 14 или могут направл тьс  на ЭВМ.

Claims (1)

1. Формула изобретени 

   Способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний , заключающийс  в том, что освещают объект, задают ему калибровочные колебани , регистрируют показани  измерител  и определ ют градуировочный коэффициент как отношение показаний измерител  к амплитуде калибровочных колебаний, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности градуировки при измерении колебаний в труднодоступных местах, между объекто.м и измерителем устанавливают зеркало, а калибровочные колебани  задают с помощью зеркала.