SU1374060A1 - Устройство дл измерени амплитуды колебаний объектов - Google Patents
Устройство дл измерени амплитуды колебаний объектов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1374060A1 SU1374060A1 SU864121960A SU4121960A SU1374060A1 SU 1374060 A1 SU1374060 A1 SU 1374060A1 SU 864121960 A SU864121960 A SU 864121960A SU 4121960 A SU4121960 A SU 4121960A SU 1374060 A1 SU1374060 A1 SU 1374060A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- amplitude
- oscillations
- calibration
- processing unit
- beam splitter
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и предназначено дл использовани при длительных испытани х деталей на усталостную прочность . Цель изобретени - повьшение точности измерени амплитуды вибраций - достигаетс за счет учета изменени с момента градуировки ркости источника света и освещенности окружающей среды. Один из потоков от источника 1 света, выполненного с двум выходами, делитс светоделителем 2 на два, один из которых, перекрыва часть колеблющегос объекта 3, /4 , проходит фотоприемник 6, электричес-- ки св занный с блоком 21 обработки, информации, куда поступает также информаци от фотоприемников 11 и 19 о колебани х имитатора 8 объекта, установленного на вибраторе 9, и о допплеровском сигнале, зарегистрированном в интерферометре Майкельсо- на, включающем светоделитель 16, оптически св занный с поверхностью имитатора 8 объекта и зеркалом 15, последовательно установленным в ходе излучени второго выхода источника за Зеркалами 13 и 14. Предварительна градуировка осуществл етс с помощью измерител 23 вибрации, а в процессе измерени амплитуды колебаний объекта 3 производитс автоматическое измерение коэффициента пропорциональности градуировочного канала, учет которого в блоке 21 обработки результатов измерени определ ет высокую точность измерени амплитуды колебаний. 1 ил. ( чвмп со vj
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и может использоватьс при длительных испытани х деталей на усталостную прочность, при балансировке роторных систем8 а также при длительных испытани х машин и механизмов .
Целью изобретени вл е рс повьше- ние точности и достоверности измерений амплитуды колебаний за счет учета изменени с момента градуировки ркости источника света, освещеннос- рги окружающей среды и нелинейности оптоэлектронного канала путем высокоточной дополнительной градуировки в реальном масштабе времени.
На чертеже изображена схема устройства .
Устройство содержит последовательно установленные источник 1 света, светоделитель 2 луча света. Исследуемый объект 3 установлен на вибраторе 4 . Далее щелева диафрагма 5 установлена перед фотоприемником 6, зеркало 7 направл ет луч света на имитатор 8 обьекта, установленньй на.виб- работе 9, щелева диафрагма 10 установлена перед фотоприемником 11, оптически св занным с зеркалом 7. На имитаторе 8 объекта установлен отражатель 12. Источник 1 света выполнен в вдце лазера с двум выходами, на втором выходе которого последовательно установлены зеркала 13 - 15. Интерферометр Майкельсона, включающий светоделитель 16 и зеркало 17, уста новлён на платформе 18, на которой установлен фотоприемник 19 с точечной диафрагмой 20 перед ним. Устройство включает блок 21 обработки информации с цифровым дисплеем 22, а также измеритель 23 амплитуды коле- баний исследуемого объекта при градуировке .
Вибратор 9 электрически соединен с блоком 21 обработки информации, который электрически с фото- приемниками 6, 11 и 19 и измерителем 23 амплитуды вибрации. Интерферометр оптически св зан через светоделитель 16 с зеркалом 15 и отражателем 12 имитатора 8 объекта.
Устройство работает следующим образом .
Луч света после выхода из источника 1 раздел етс светоделителем 2 на два луча. Первый луч направл етс на исследуемьй объект 3, колеблющийс , например, от вибратора 4. Часть луча, не перекрыта колеблющимс объектом 3, проходит щелевую диафрагму 5 и падает на фотоприемник 6. Интенсивность луча, падающего на фотоприемник 6, измен етс пропорционально амплитуде колебаний объекта 3, соответственно измен етс и электрический .сигнал, снимаемый с фотоприемника 6. Второй луч направл етс зеркалом 7 на имитатор 8 объекта, колеблющийс от градуировочного вибратора 9. Часть луча, не перекрыта
имитатором 8 объекта, проходит через щелевую диафрагму 10 и падает на фотоприемник 11, снимаемьш электрический сигнал с которого.пропорционален амплитуде колебаний имитатора 8 объекта .
I
Перед измерени ми производ т исходную градуировку следующим образом, Измерителем 23 амплитуды колебаНИИ , например оптическим микроскопом , измер ют амплитуду колебаний объекта 3 и определ ют градуировоч- ньш коэффициент измерительного канала как отношение измеренной амплитуды колебаний к электрическому сигналу , снимаемому с фотоприемника 6. Определение градуировочного коэффициента производитс с помощью бло- ка 21 обработки информации.
Аналогичным образом определ ют исходный коэффициент пропорциональности градуировочного оптоэлектрон- ного канала, дл чего вьшедший с обратной стороны источника 1 луч с помощью зеркал 13 - 15 направл ют на светоделитель 16 интерферометра. Светоделитель 16 раздел ет падающий на него луч света на два луча: изме- рительный и референтный. Измеритель ньй луч падает на измерительный отражатель 12, установленный на имитаторе 8 объекта. Это дает возможность получить на выходе фотоприемника 19 с точечной диафрагмой 20, куда падает
И референтный луч после отражени от зеркала 17, допплеровский сигнал, пропорциональный амплитуде колебаний имитатора 8 объекта. Блок 21 обработки определ ет амплитуду колебаний
имитатора 8 объекта по автоматически введенному в него допплеровскому сигналу с фотоприемника 19 и введенному сигналу с частотой колебаний вибратора 9.
Таким образом, при исходной градуировке с помощью решающего устройства определ ют коэффициенты пропорциональности оптоэлектронного и изме рительного каналов.
В процессе измерени амплитуды колебаний .исследуемого объекта 3 измерительным каналом производитс автоматическое измерение коэффициента пропорциональности градуировочного . канала. Если произойдут отклоне.ни параметров источника 1 света, освещенности окружающей среды или нели- нейности от исходных, то блок 21 оп- ределит разность в коэффициентах пропорциональности градуировочного канала, и автоматически внесет эту разность в виде; поправки в исходный градуировочный коэффициент измери- тельного канала. За счет автоматического внесени этой поправки во врем измерений достигаетс высока точность определени амплитуды колебани исследуемого объекта 3.
Блок 21, в качестве которого может использоватьс программируемый микрокалькул тор Электроника МК-46 работает по алгоритму, составленному по следующей математической модели: I
Wgrp.MCK . ИЪМ 7
.M-Hf гр. ИСХ8frp. 8ч„
А-(,Г, + -и- UOB.H,
- гр. иэм
UoБ,иc Lfrp.HCv
А - определ ема амплитуда ко
лебаний исследуемого объекта 3;
- измеренна измерителем 23 во врем исходной градуи-
40
. Иск
ровки амплитуда колебаний исследуемого объекта; - напр жение электрического сигнала, снимаемого с фотоприемника 6 во врем исход- . ной градуировки;
- частота допплеровского сигнала , снимаемого с фотоприемника 19 во врем исходной градуировки;
- частота колебаний градуиро- -
вочного вибратора 9; - длина волны излучени лазера 1 ;
„|,j - напр жение электрического
сигнала, снимаемого с фото-
с
Q 15 20 25
. ЗО
,
35
40
.
-
тр. изм
приемника 11 во врем исходной градуировки;
СОагр.изм частота допплеровского сигнала , снимаемого с фотоприемника 19 во врем измерени амплитуды колебаний исследуемого объекта 3; - частота колебаний градуировочного вибратора 9 во врем измерени амплитуды колебаний исследуемого объекта 3;
ИГР jj3v. напр жение электрического сигнала, снимаемого с фотоприемника 11 во врем измерени амплитуды колебаний исследуемого объекта 3;
- об. изм напр жение электрического
сигнала, снимаемого с фотоприемника 6 во врем измерений амплитуды колебаний исследуемого объекта 3.
Claims (1)
- Формула изобретени Устройство дл измерени амплитуды колебаний объектов, содержащее последовательно установленные источник света, фотоприемник с диафрагмой, блок обработки информации и блок градуировки , включающий измеритель амплитуды вибраций, отличающеес тем, что, с целью повышени точности измерени амплитуды вибраций , оно снабжено светоделителем, установленным между фотоприемником и источником света, который выполнен в виде лазера с двум выходами, тре- м зеркалами, последовательно установленными в ходе излучени из второго выхода лазера, и четвертым зеркалом , размещенным в ходе излучени , отраженного от светоделител , а блок градуировки выполнен в виде имитатора объекта установленного на вибраторе, электрически соединенном с блоком обработки, фотоприемника с диафрагмой , оптически св занного с четвертым зеркалом через имитатор объекта и электрически - с блоком обработки информации, и интерферометра Май- кельсона, оптически св занного через светоделитель с третьим зеркалом и поверхностью имитатора объекта и электрически - с блоком обработки информации.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864121960A SU1374060A1 (ru) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | Устройство дл измерени амплитуды колебаний объектов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864121960A SU1374060A1 (ru) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | Устройство дл измерени амплитуды колебаний объектов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1374060A1 true SU1374060A1 (ru) | 1988-02-15 |
Family
ID=21258259
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864121960A SU1374060A1 (ru) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | Устройство дл измерени амплитуды колебаний объектов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1374060A1 (ru) |
-
1986
- 1986-06-16 SU SU864121960A patent/SU1374060A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101390721B1 (ko) | 굴절률의 계측방법 및 계측장치 | |
EP0790484B1 (en) | Horizontal position error correction mechanism for electronic level | |
EP0168182B1 (en) | Optical measurement apparatus | |
US3738754A (en) | Optical contacting systems for positioning and metrology systems | |
US4678337A (en) | Laser based gaging system and method of using same | |
CN109489837A (zh) | 一种基于光学干涉仪的多波长计 | |
UST102104I4 (en) | Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices | |
SU1374060A1 (ru) | Устройство дл измерени амплитуды колебаний объектов | |
FI86479C (fi) | Anordning foer kontinuerligt maetning av ett pappersark formningstillstaond. | |
JPS6018727A (ja) | 光干渉計 | |
US6654124B2 (en) | Signal modulation compensation for wavelength meter | |
SU1404813A1 (ru) | Способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний | |
CA2053724C (en) | System for measuring the refractive index profile of optical components | |
JPH01277740A (ja) | 水中濁度計装置 | |
SU872973A1 (ru) | Фотометр дл измерени коэффициента отражени оптической поверхности | |
SU1091076A1 (ru) | Оптический доплеровский измеритель напр жений Рейнольдса в потоке жидкости или газа | |
SU1458779A1 (ru) | Автоколлимационный способ определения показателя преломления клиновидных образцов | |
CN118169076A (zh) | 一种基于频域光学相干的折射率测量装置和方法 | |
SU1213396A1 (ru) | Астрономический рефрактометр | |
SU1394059A1 (ru) | Устройство дл градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды источников механических колебаний | |
SU1176169A1 (ru) | Устройство обработки сканируемых оптических сигналов дл контрол поверхности | |
JPS5756777A (en) | Method for measuring time difference of light propagation | |
SU1753271A1 (ru) | Способ определени параметров вибрации | |
SU696283A1 (ru) | Способ измерени угла поворота издели | |
SU1479825A1 (ru) | Лазерный измеритель углового положени объекта |