SU1753271A1 - Способ определени параметров вибрации - Google Patents
Способ определени параметров вибрации Download PDFInfo
- Publication number
- SU1753271A1 SU1753271A1 SU894782464A SU4782464A SU1753271A1 SU 1753271 A1 SU1753271 A1 SU 1753271A1 SU 894782464 A SU894782464 A SU 894782464A SU 4782464 A SU4782464 A SU 4782464A SU 1753271 A1 SU1753271 A1 SU 1753271A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- electrical signal
- coherent radiation
- cos
- vibrating surface
- amplitude
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике. Цель изобретени - повышение информативности за слет одновременного определени амплитуды и частоты вибраций. Способ заключаетс в подсвете вибрирующей поверхности пучком когерентного излучени и преобразо- ванииизлучени рассе нного поверхностью в электрический сигнал, при этом размер пучка когерентного излучени выбирают исход из соотношени , приведенного в описании изобретени 1 ил.
Description
Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к бесконтактным оптическим способам измерени , и может быть использовано в измерительных и след щих устройствах.
Известен интерференционно оптический способ измерени , в котором излучение лазера направл ют в интерферометр, измерительное плечо которого согласуют с отражателем, закрепленным на колеблющемс теле, на выходе интерферометра пучки излучени измерительного и опорного плеч соедин ют и направл ют через диафрагму на фотодетектор, которым регистрируют экстремумы интерференционной картины, по числу и периоду следовани которых определ ют соответственно амплитуду и период колебаний тела. Недостатком этого способа вл етс необходимость закрепл ть отражатель на исследуемом объекте , а также сложность юстировки и настройки измерительной схемы, что ограничивает область применени этого способа.
Известен способ, не требующий закреплени отражател на исследуемом объекте
и пригодный дл измерени параметров колебаний микрообьектов с диффузно-рассеи- вающими повёрхност йГВ этом способе излучение лазера, разделенное призмой, направл ют через линЗу, фиксиру и пересека оба луча создают интерференционную картину в области колебани тела Рассе нное телом излучение регистрируют через ту же линзу фотодетектором числу и периоду импульсов фототока, образуемых при пересечении экстремумов интерференционной картины колеблющимс телом, определ ют соответственно виброперемещение и частоту колебани тела.
Недостатком этого способа вл етс то, что он неприменим дл измерени колебаний прот женных тел, что ограничивает его применение.
Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому способу вл етс способ определени параметров вибраций рассеивающих поверхностей, включающий формирование пучка когерентного излучени , подсветку вибрирующей поверхности пучком когерентного излучени , преобрази
сл
с
Ч
с о ho
ч
вание рассе нного поверхностью излучени в электрический сигнал и определение параметров вибрации по электрическому сигналу.
Недостатком известного способа вл етс его низка информативность, требующа об зательной калибровки и исключающа одновременное измерение амплитуды и частоты вибраций,
Цель изобретени - повышение информативности путем одновременного определени амплитуды и частоты вибраций..
Поставленна цель достигаетс тем, что в способе определени параметров вибраций рассеивающих поверхностей, включающем формирование пучка когерентного излучени , подсветку вибрирующей поверхности пучком коге рентного излучени , преобразование рассе нного поверхностью излучени в электрический сигнал и определение параметров вибрации по электрическому сигналу, пучок когерентного излучени формируют таким образом, что его радиус W по уровню интенсивности удовлетвор ет соотношению
-1 2 W
-2
где
2л: , Н ч а-T-(j5+T) Н - максимальна
граница диапазона измерений, на который настраиваетс схема;
Я - длина волны когерентного излучени ;
р- радиус кривизны волнового фронта подсвечивающего пучка на вибрирующей поверхности;
I - рассто ние от вибрирующей поверхности до точки наблюдени , преобразуют электрический сигнал в его спектральный аналог, осуществл ют временное накопление спектрального аналога, производ т его усреднение по независимым реализаци м, а частоту и амплитуду вибраций определ ют по частотному рассто нию и соотношению интенсивностей максимумов спектрального аналога сигнала:
п
/ fo ( 2 СС cos 2 х ) ехр ( - 2 Я cos 2 х ) cos 4 х d х
Ь2 0;
Ы Я
/ Го ( 2 О. со х ) ехр ( - 2 СГ cos х ) cos 2 х d x 5 О
где b2/bi - отношение интенсивностей максимумов спектра, соответствующих второй и первой гармоникам спектра;
10 Io(Z)- модифицированна функци Бессел нулевого пор дка.
На чертеже представлена схема устройства , реализующего способ.
Устройство содержит лазер 1 в качест15 ве источника когерентного излучени , линзу 2 в качестве формировател пучка, облучающего вибрирующую поверхность 3, фотоприемник 5 с диафрагмой 4, спектроа- нализатор 6, интегратор 7 и блок 8 измере20 ни .
П р и м е р. В качестве источника излучени примен лс лазер Л Г-52-2 (длина вол- ны 0,63 мкм, мощность- непрерывного излучени 10 мВт).
25 В качестве колеблющегос тела использовались образцы различных материалов, такие, например, как стекл нные или металлические шлифованные образцы, диаметр d п тна лазерного излучени на поверхности
30 образца составл л 0,3-2,0 мм (дл формировани п тна использовались линзы 2 с различным фокусным рассто нием).
Колебани с амплитудами 0,02-1,0 мм образцам сообщались с помощью кулачко35 вого механизма. Амплитуда колебаний измер лась с помощью индикатора ИЧ10МН, а также дополнител ьно дл повышенных частот - с помощью автоколлиматора АК-05 по блику от полированной грани образца в
40 пересчете на угол, частота контролировалась частотомером 43-38 по сигналу опт- ронной пары, св занной с механизмом.
Рассе нное излучение регистрировалось фотодиодом ФД-256 с линейным уси45 лителем электрического сигнала. Чувствительна площадка приемника ограничивалась диафрагмой 4, диаметр D которой с целью оптимизации отношени сигнала к шуму выбиралс из соотношени
50Я I
D
3
+
где величина а определ етс из уравнени
где Я - длина волны излучени ;
I - рассто ние от тела до фотоприемника .
Это соотношение обеспечивает отсутствие усреднени спекл-картины на приемной апертуре. Усиленный сигнал, пропорциональный интенсивности рассе нного излучени , подавалс на вход анализатора
спектра СК-4-72, который включал в себ последовательно соединенные блоки анализатора спектра С4-73/1, интегратора многоканального Я4С-78/1 и блока измерительного Я4С-76/1 с осциллографическим и цифровым индикаторами, на котором наблюдалс спектр мощности и измер лись его параметры.
Claims (1)
- Формула изобретени Способ определени параметров вибрации , включающий формирование пучка когерентного излучени , подсветку вибрирующей поверхности пучком когерентного излучени , преобразование рассе нного поверхностью излучени в электрический сигнал и определение параметров вибрации по электрическому сигналу, отличающийс тем, что, с целью повышени информативности путем одновременного определени амплитуды и частоты вибрации , пучок когерентного излучени формируют так, что его радиус W по уровню интенсивности Ј2 удовлетвор ет соотношению:± 1}Wг«еа(1+Чт).Н - максимальна граница диапазона измерений, на который настраиваетс схе- 35 ма;05050А - длина волны когерентного излуче- ни ;р - радиус кривизны волнового фронта подсвечивающего пучка на вибрирующей поверхности:Ј- рассто ние от вибрирующей поверхности до точки наблюдени , преобразуют электрический сигнал в его спектральный аналог, осуществл ют временное накопление спектрального аналога, производ т его усреднение по независимым реализаци м, а частоту и амплитуду вибраций определ ют по частотному рассто нию и соотношени м интенсивностей максимумов спектрального аналога электрического сигнала.;И) где величина а определ етс из уравненип/ Jo (2О. cos x )exp(-2ttcos x )cos4x d xb2 0Ы ttI7/ Jo ( 2 a cos x ) exp ( - 2 Ctcos x ) cos 2 x d x 0где b2/bi - отношение интенсивностей максимумов спектра, соответствующих второй и первой гармоникам спектра;lo(Z) - модифицированна функци Бессел нулевого пор дка.)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894782464A SU1753271A1 (ru) | 1989-12-11 | 1989-12-11 | Способ определени параметров вибрации |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894782464A SU1753271A1 (ru) | 1989-12-11 | 1989-12-11 | Способ определени параметров вибрации |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1753271A1 true SU1753271A1 (ru) | 1992-08-07 |
Family
ID=21491607
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894782464A SU1753271A1 (ru) | 1989-12-11 | 1989-12-11 | Способ определени параметров вибрации |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1753271A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2551394C2 (ru) * | 2013-07-18 | 2015-05-20 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Астраханский государственный университет" | Оптико-электрический преобразователь механических волн |
-
1989
- 1989-12-11 SU SU894782464A patent/SU1753271A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Вибрации в технике. Т. 5, М,1 Машиностроение, 1981. Патент US № 3952583, кл. G 01 Н 9/00, 1978. * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2551394C2 (ru) * | 2013-07-18 | 2015-05-20 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Астраханский государственный университет" | Оптико-электрический преобразователь механических волн |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0092369B1 (en) | Light frequency change detecting method and apparatus | |
US3680961A (en) | Measurement of particle sizes | |
SU1753271A1 (ru) | Способ определени параметров вибрации | |
SU1370456A1 (ru) | Способ фиксации положени границы объекта | |
SU1693369A1 (ru) | Устройство дл определени нулевого положени объекта | |
SU1247776A1 (ru) | Способ оптического спектрального анализа двумерных сигналов | |
SU1404813A1 (ru) | Способ градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды механических колебаний | |
SU1551985A1 (ru) | Фотоэлектрический автоколлиматор | |
SU1651106A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров колебаний объекта | |
SU811072A1 (ru) | Устройство дл измерени вибраций | |
RU1772634C (ru) | Способ измерени амплитуды колебаний | |
SU1551986A2 (ru) | Устройство дл контрол параметров вибраций одномерных тел | |
SU1254313A1 (ru) | Лазерный измеритель вибрации | |
RU1778520C (ru) | Оптико-электронный однокоординатный автоколлиматор | |
SU1350500A1 (ru) | Устройство дл измерени рассто ни до отражающей поверхности | |
SU1075814A1 (ru) | Способ измерени линейной скорости объекта и оптико-волоконный измеритель линейной скорости | |
RU1810748C (ru) | Устройство дл определени линейных продольных перемещений поверхности | |
SU1270560A1 (ru) | Устройство дл измерени углового отклонени объекта | |
SU1196686A1 (ru) | Система компенсации угловых смещений объекта дл двухлучевых интерференционных измерителей перемещений | |
SU1394059A1 (ru) | Устройство дл градуировки фотоэлектрических измерителей амплитуды источников механических колебаний | |
SU1059512A1 (ru) | Устройство дл измерени скорости движени | |
SU1139261A1 (ru) | Устройство дл измерени скорости | |
SU603842A1 (ru) | Фотоэлектрический измеритель прогибов полупроводниковых пластин | |
RU2166182C2 (ru) | Интерференционный способ измерения угла поворота объекта | |
SU1377581A1 (ru) | Устройство дл определени смещений объекта |