SU1370456A1 - Способ фиксации положени границы объекта - Google Patents

Способ фиксации положени границы объекта Download PDF

Info

Publication number
SU1370456A1
SU1370456A1 SU864045218A SU4045218A SU1370456A1 SU 1370456 A1 SU1370456 A1 SU 1370456A1 SU 864045218 A SU864045218 A SU 864045218A SU 4045218 A SU4045218 A SU 4045218A SU 1370456 A1 SU1370456 A1 SU 1370456A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
boundary
intensity
detected
electrical signal
light spot
Prior art date
Application number
SU864045218A
Other languages
English (en)
Inventor
Евгений Казимирович Чехович
Original Assignee
Институт электроники АН БССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт электроники АН БССР filed Critical Институт электроники АН БССР
Priority to SU864045218A priority Critical patent/SU1370456A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1370456A1 publication Critical patent/SU1370456A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике. Цель изобретени  - повышение точности измерени  за счет уменьшени  вли ни  дистабилизирующих факторов. Посто нный по интенсивности поток излучени , формируемый источниками 1 , 2 поперечного монохроматического излучени , модулируетс  по интенсивности модул торами 3, 4 интенсивности , проходит ослабители 5, 6, зеркало 7 и светоделитель 8 и поступает на блок 9 сканировани . В фокальной плоскости фокусирук цего объектива 10 формируетс  сканирующее по размеру и перемещающеес  поперек границы объектива 16 световое п тно, которое переноситс  приемным объективом на фотоприемник 13. Переменна  составл юща  электрического сигнала, снимаемого с фотоприемника 13, выдел етс  и детектируетс  блоком 14 обработки сигнала. При экранировании границей объекта 16 середины светового п тна продетектированный электрический сигнал равен нулю. При этом осуществл етс  фиксаци  границы объекта 16 индикатором 15. 2 ил. (Л

Description

со
сл о
1
Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  измерени  линейных размеров различных объектов, например штриховых решеток:
Цель изобретени  - повышение точности измерени  за счет уменьшени  вли ни  дестабилизуюш;их факторов.
На фиг. 1 изображена функциональна  схема устройства дл  осуществлени  предлагаемого способа; на фиг.2 относительное перемещение светового пйгна и объекта ,на. фиг. 3 - временные диаграммы сигналов формируемых на выходе фотоприемника и в блоке обработки сигналов.
Устройство содержит оптически св занные источники 1 и 2 когерентнго монохроматического излучени  с различными длинами волн, модул торы 3 и 4 интенсивности, ослабители 5 и 6, зеркало 7, светоделитель 8, блок 9 сканировани , фокусирующий объект 10, столик 11, приемный объектив 12 последовательное соединенные фото- приемиик 13, блок 14 обработки сигналов и блок 15 индикации. Фиксируес  граница объекта 16.
Способ осуществл ют следующим образом .
Потоки излучени , формируемые источниками 1 и 2 когерентного монохроматического излучени , в виде параллельных пучков лучей направл ютс через модул торы 3 и 4 интенсивност ослабители 5 и 6, зеркало 7 и светоделитель 8 на блок 9 сканировани .
Блок 9 сканировани  осуществл ет периодическое отклонение параллельн пучков лучей по углу, направл емых на фокусирующий объектив 10, ; фокальной плоскости которого формируес  дифракционна  картина, перемещающа с  относительно объекта 16.
Модул торы 3 и 4 интенсивности осуществл ют противофазную модул ци по интенсивности потоков излучени , формируемых источниками 1 и 2 когерентного монохроматического излучени , а ослабители 5 и 6 выравнивают интенсивности потоков излучени .
Источники 1 и 2 когерентного монхроматического излучени  формируют потоки излучени  на различных длина волн, в св зи с чем размеры централного дифракционного максимума дифракционной картины, формируемой фо
кусирующим объективом 10, модулируютс  по размеру с частотой, равной частоте модул ции по интенсивности потоков излучени , задаваемой модул торами 3 и 4 интенсивности.
Потоки излучени , прошедшие через объект 16, установленный на столике 11, и приемный объектив 12, преобразуютс  фотоприемником 13 в злектри- ческий сигнал, переменна  составл юща  которого вьщел етс  и детектируетс  в блоке 14 обработки сигналов.
При сканировании размера центрального дифракционного максимума дифракционной картины модул ци  электрического сигнала возникает при экранировании части дифракционного максимума краем объекта (фиг. 2а, б, г, д). При экранировании границей объекта 16 половины центрального дифракционного максимума (фиг. 2в) модул ции электрического сигнала не
происходит. При зтом осуществл етс  фиксаци  границы объекта 16 блоком 15 индикации.
Предлагаемый способ по сравнению с известными повышает точность измерений за счет фиксации нулевого значени  продетектированного переменного электрического сигнала.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    0
    Способ фиксации положени  границы объекта, заключающийс  в том, что фокусируют посто нный по интенсивности поток излучени  в виде светового.п тна в плоскости границы объекта, осуществл ют относительное перемещение светового п та и границы объекта, преобразуют интенсивность потока излучени , прошедшего через границу 5 объекта, в электрический сигнал, выдел ют и детектируют переменную составл ющую электрического сигнала,фиксируют характерную точку продетекти- рованной переменной составл ющей электрического сигнала, по времени формировани  которой суд т о положении границы объекта, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности измерени , модулируют по размеру световое п тно, а характерную точку фиксируют при равенстве нулю продетектированной переменной составл ющей электрического сигнала.
    0
    Е
    Ф
    и,
    /V. J
    Фиг.З
SU864045218A 1986-04-03 1986-04-03 Способ фиксации положени границы объекта SU1370456A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864045218A SU1370456A1 (ru) 1986-04-03 1986-04-03 Способ фиксации положени границы объекта

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864045218A SU1370456A1 (ru) 1986-04-03 1986-04-03 Способ фиксации положени границы объекта

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1370456A1 true SU1370456A1 (ru) 1988-01-30

Family

ID=21229440

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU864045218A SU1370456A1 (ru) 1986-04-03 1986-04-03 Способ фиксации положени границы объекта

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1370456A1 (ru)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5309223A (en) * 1991-06-25 1994-05-03 Cyberoptics Corporation Laser-based semiconductor lead measurement system
US5897611A (en) * 1994-08-11 1999-04-27 Cyberoptics Corporation High precision semiconductor component alignment systems
US6118538A (en) * 1995-01-13 2000-09-12 Cyberoptics Corporation Method and apparatus for electronic component lead measurement using light based sensors on a component placement machine
US6400459B1 (en) 1995-02-24 2002-06-04 Cyberoptics Corp. Methods and apparatus for using optical sensors in component replacement heads
US7746481B2 (en) 2007-03-20 2010-06-29 Cyberoptics Corporation Method for measuring center of rotation of a nozzle of a pick and place machine using a collimated laser beam
US8068664B2 (en) 2007-06-05 2011-11-29 Cyberoptics Corporation Component sensor for pick and place machine using improved shadow imaging

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Патент US 3317739, кл. 356-172, 1967. Патент FR № 2092569, кл. G 01 В 19/00, 1972. *

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5309223A (en) * 1991-06-25 1994-05-03 Cyberoptics Corporation Laser-based semiconductor lead measurement system
US5897611A (en) * 1994-08-11 1999-04-27 Cyberoptics Corporation High precision semiconductor component alignment systems
US6118538A (en) * 1995-01-13 2000-09-12 Cyberoptics Corporation Method and apparatus for electronic component lead measurement using light based sensors on a component placement machine
US6400459B1 (en) 1995-02-24 2002-06-04 Cyberoptics Corp. Methods and apparatus for using optical sensors in component replacement heads
US7746481B2 (en) 2007-03-20 2010-06-29 Cyberoptics Corporation Method for measuring center of rotation of a nozzle of a pick and place machine using a collimated laser beam
US8068664B2 (en) 2007-06-05 2011-11-29 Cyberoptics Corporation Component sensor for pick and place machine using improved shadow imaging

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1370456A1 (ru) Способ фиксации положени границы объекта
US4722604A (en) Radiation interference devices
RU2092787C1 (ru) Способ определения коротких дистанций до диффузно-отражающих объектов и устройство для его осуществления
SU1469344A1 (ru) Устройство дл определени размеров малых объектов
US3493775A (en) Optical scanning means for use in photoelectric positioning determining apparatus
SU1753271A1 (ru) Способ определени параметров вибрации
JPS56128407A (en) Light interference device
SU1087911A1 (ru) Дифракционный некогерентный оптико-электронный спектроанализатор пространственных сигналов
SU1247776A1 (ru) Способ оптического спектрального анализа двумерных сигналов
RU1778519C (ru) Способ измерени угловых перемещений удаленного объекта и устройство дл его осуществлени
SU1413415A1 (ru) Способ определени диаметра отверстий
SU1239522A1 (ru) Способ измерени вибрации и устройство дл его осуществлени
SU695307A1 (ru) Мессбауэровский спектрометр с лазерным интерферометром дл абсолютного измерени скорости относительного перемещени
SU1357701A1 (ru) Дифракционный способ измерени линейного размера издели и устройство дл его осуществлени
SU1601515A1 (ru) Устройство дл контрол перемещений
SU1308835A1 (ru) Способ измерени диаметров и межосевого рассто ни отверстий
SU1290062A1 (ru) Оптико-электронное устройство дл пространственного позиционировани объекта
RU2095754C1 (ru) Оптико-электронное устройство для измерения положения механизма
SU1281950A1 (ru) Устройство дл определени положени фокальной плоскости объектива
SU1696890A1 (ru) Способ измерени амплитуды колебаний и устройство дл его осуществлени
SU1670405A1 (ru) Интерференционный способ измерени положени объекта
RU2159406C2 (ru) Многолучевой интерферометр для измерения параметров сферической оболочки
SU1280312A1 (ru) Дифракционный способ измерени ширины прот женного объекта
SU425135A1 (ru) Устройство для оптического моделирования диаграмм направленности антенн
SU739346A1 (ru) Устройство дл измерени параметров вибрации