SU1280312A1 - Дифракционный способ измерени ширины прот женного объекта - Google Patents

Дифракционный способ измерени ширины прот женного объекта Download PDF

Info

Publication number
SU1280312A1
SU1280312A1 SU833620900A SU3620900A SU1280312A1 SU 1280312 A1 SU1280312 A1 SU 1280312A1 SU 833620900 A SU833620900 A SU 833620900A SU 3620900 A SU3620900 A SU 3620900A SU 1280312 A1 SU1280312 A1 SU 1280312A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
diffraction
diffraction pattern
minimum
detectors
adder
Prior art date
Application number
SU833620900A
Other languages
English (en)
Inventor
Аркадий Сергеевич Бернштейн
Маргарита Никитична Лоди
Original Assignee
Московский станкоинструментальный институт
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский станкоинструментальный институт filed Critical Московский станкоинструментальный институт
Priority to SU833620900A priority Critical patent/SU1280312A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1280312A1 publication Critical patent/SU1280312A1/ru

Links

Abstract

Изобретение относитс  к иэмери- ,тельной технике. Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерени  путем уменьшени  мощности излучени  лазера. Направл ют на волокно 20 монохроматический когерентный пучок света, формируемый лазером 1 и телескопической системой 2. Формируют дифракционную картину объективом 3 и зеркалом 4 с приводом в плоскости анализа. Сканиру20 3 4 ют дифракционную картину зеркалом 4 с приводом с преобразованием интенсивности в электрический сигнал фотоприемником 5. Выдел ют нечетные гармонические составл ющие из электрического сигнала, снимаемого с фотоприемника 5 ПОЛОСОВЫМ фильтрами 7, 9, 10 и детекторами 12, 14, 15, сигналы с которых суммируют сумматором 17. Вьщел ют четные гармонические составл ющие полосовыми фильтрами 8, 11 и детекторами 13, 16, сигналы с которых суммируют сумматором 18. Наход т отношение сигналов, снимаемых с сумматоров 17, 18 блоком 19 делени . По величине отношени  суд т 0ширине волокна 20. При синусоидальном и пилообразном законах сканировани  сканирование провод т в области первого и второго дифракционных минимумов в диапазонах соответственно от 0,62 до 1,24 и от 1,45 до 2,9 относительно положений первого и второго минимумов, формируемых при среднем диаметре волокна 20. 2 з,п. ф-лы, 1ил . i (Л ND 00 О :А9 o

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано -дп  измерени  ширины прот женных малоразмерных объектов, например стекловолокна.
Цель изобретени  - повышение точности измерени  путем уменьшени  вли ни  мощности излучени  лазера.
На чертеже представлена функцио- нальна  схема устройства дл  реализации предлагаемого способа.
Устройство содержит оптически св занные лазер 1, телескопическую систему 2, объектив 3, зер.кало 4 с приводом, фотоприемник 5, усилитель 6, вход которого подключен к фотоприемнику 5, полосовые фильтры 7-11, входы которых подключены к выходу усилител  6, детекторы 12-16, входы которых подключены соответственно к выходам полосовых фильтров 7-11, первый сумматор 17, выходы которого подключены к выходам детекторов 12, 14 и 15, второй сумматор 18, входы которого подключены к выходам детекторов 13 и 16 и блок 19 делени , входы которого подключены к выходам первого 17 и второго 18 сумматоров. На схеме обозначено также волокно 20.
Способ осуществл ют следующим образом .
На волокно 20 направл ют монохроматический когерентный пучок света, формируемый лазером 1 и расшир емый телескопической системой 2.
Дифракционное изображение волокна 20 строитс  с помощью объектива 3 и зеркала 4 с приводом в плоскости анализа , в которой установлен фотоприемник 5..
Фотоприемник 5 преобразует интенсивность дифракционной картины в электрический сигнал, который усиливаетс  усилителем 6 и поступает на набор полосовых фильтров 7-11, выходные сигналы с которых детектируютс  детекторами 12-16. . При сканировании дифракционной картины посинусоидальному или пилообразному закону с помощью зеркала 4 с приводом.в области формировани  первого или второго дифракционного минимума на выходе усилител  6 формируетс  сигнал сложного спектра.
Нечетные гармонические составл ющие сигнала сложного спектра выдел ютс  полосовыми фильтрами 7, 9 и 10, детектируютс  детекторами 12,
суммируютс  первым сумма-.
4 и 15 и тором 17.
Четные гармонические составл ющие сигнала сложного спектра вьщел ютс  полосовыми фильтрами 8 и 11, детектируютс  детекторами 13 и 16 и суммируютс  вторым сумматором 18.
Блок 19 делени  осуществл ет деление сигнала, снимаемого с выхода первого сумматора 17, на сигнал, снимаемый с выхода второго сумматора 18. По результату делени  суд т о ширине волокна 20.
При сканировании дифракционной картины по синусоидальному закону в области формировани  первого дифракционного минимума диапазон,сканировани  выбирают от 0,62 до 1,24 относительно положени  первого ди- фракционного минимума при средней ширине волокна 20.
При сканировании дифракционной картины по пилообразному закону в области формировани  второго дифракционного минимума диапазон сканиро- вани  выбирают от 1,45 до 2,9 относительно положени  второго дифракционного минимума при средней ширине волокна 20.
Использование предлагаемого способа позвол ет повысить точность измерени  в результате уменьшени  вли ни  мощности излучени  лазера.

Claims (2)

  1. Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано -дп  измерени  ширины прот жен ных малоразмерных объектов, например стекловолокна. Цель изобретени  - повышение точ ности измерени  путем уменьшени  вли ни  мощности излучени  лазера. На чертеже представлена функциональна  схема устройства дл  реализации предлагаемого способа. Устройство содержит оптически св занные лазер 1, телескопическую систему 2, объектив 3, зер.кало 4 с приводом, фотоприемник 5, усилитель 6, вход которого подключен к фотоприемнику 5, полосовые фильтры 7-11, входы которых подключены к выходу усилител  6, детекторы 12-16, входы которых подключены соответственно к выходам полосовых фильтров 7-11, пер вый сумматор 17, выходы которого под ключены к выходам детекторов 12, 14 и 15, второй сумматор 18, входы кото рого подключены к выходам детекторов 13 и 16 и блок 19 делени , входы которого подключены к выходам первого 17 и второго 18 сумматоров. На схеме обозначено также волокно 20. Способ осуществл ют следующим образом . На волокно 20 направл ют монохроматический когерентный пучок света, формируемый лазером 1 и расшир емый телескопической системой 2. Дифракционное изображение волокна 20 строитс  с помощью объектива 3 и зеркала 4 с приводом в плоскости ана лиза, в которой установлен фотоприем ник 5.. Фотоприемник 5 преобразует интенсивность дифракционной картины в электрический сигнал, который усиливаетс  усилителем 6 и поступает на набор полосовых фильтров 7-11, выход ные сигналы с которых детектируютс  детекторами 12-16. . При сканировании дифракционной картины посинусоидальному или пилообразному закону с помощью зеркала 4 с приводом.в области формировани  первого или второго дифракционного минимума на выходе усилител  6 формируетс  сигнал сложного спектра. Нечетные гармонические составл ющие сигнала сложного спектра выдел ютс  полосовыми фильтрами 7, 9 и 10, детектируютс  детекторами 12, 4 и 15 и суммируютс  первым сумма-. тором 17. Четные гармонические составл ющие сигнала сложного спектра вьщел ютс  полосовыми фильтрами 8 и 11, детектируютс  детекторами 13 и 16 и суммируютс  вторым сумматором 18. Блок 19 делени  осуществл ет деление сигнала, снимаемого с выхода первого сумматора 17, на сигнал, снимаемый с выхода второго сумматора 18. По результату делени  суд т о ширине волокна 20. При сканировании дифракционной картины по синусоидальному закону в области формировани  первого дифракционного минимума диапазон,сканировани  выбирают от 0,62 до 1,24 относительно положени  первого дифракционного минимума при средней ширине волокна 20. При сканировании дифракционной картины по пилообразному закону в области формировани  второго дифракционного минимума диапазон сканиро- вани  выбирают от 1,45 до 2,9 относительно положени  второго дифракционного минимума при средней ширине волокна 20. Использование предлагаемого способа позвол ет повысить точность измерени  в результате уменьшени  вли ни  мощности излучени  лазера. Формула изобретени  1. Дифракционный способ измерени  ширины прот женного объекта, заключающийс  в том, что направл ют на прот женный объект монохроматический когерентный пучок света, формируют дифракционную картину в плоскости анализа, сканируют дифракционную картину в 1тлоскости анализа с преобразованием интенсивности дифра1б онной картины в злектри.ческий сигнал, отличающийс  тем, что, с целью повьшени  точности измерени , сканирование дифракционной картины провод т в диапазоне, меньшем рассто ни  между минимумами дифракционной картины, из электрического сигнала вьщел ют два сигнала, каждый из которых пропорционален сумме нечетных и соответственно четных гармонических составл ющих, дел т сигналы, пропорциональные суммам нечетных и четных гармонических составл ющих.
    312803124
    друг на друга и по их соотношению , фракционного миниму1 а при средней суд т о ширине прот женного объек- ширине прот женного объекта. та.3. Способ по п.I, о т л и ч а ю
  2. 2. Способ по п.1 отличаю- 5 дифракционной картины провод т по щ и и с   тем, что сканированиепилообразному закону в области фордифракционной картины провод т помировани  второго дифракционного
    синусоидальному закону в областиминимума в диапазоне от 1,А5 до 9
    формировани  первого дифракционногоотносительно положени  второго ди-
    минимума в диапазоне от 0,62 до 1,24 10 фракционного минимума при средней относительно положени  первого ди-ширине прот женного объекта.
    щ и и с   тем, что сканирование
SU833620900A 1983-06-01 1983-06-01 Дифракционный способ измерени ширины прот женного объекта SU1280312A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833620900A SU1280312A1 (ru) 1983-06-01 1983-06-01 Дифракционный способ измерени ширины прот женного объекта

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833620900A SU1280312A1 (ru) 1983-06-01 1983-06-01 Дифракционный способ измерени ширины прот женного объекта

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1280312A1 true SU1280312A1 (ru) 1986-12-30

Family

ID=21074068

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833620900A SU1280312A1 (ru) 1983-06-01 1983-06-01 Дифракционный способ измерени ширины прот женного объекта

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1280312A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 372429, кл. G О В 11/10, 1971. Авторское свидетельство СССР № 731278, кл. G 01 В 11/08, 1978 прототип. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3941484A (en) Non-contact dimensional measurement technique
US5392110A (en) Method and device for measuring height of object whose surface has irregular reflectance
US4047022A (en) Auto focus with spatial filtering and pairwise interrogation of photoelectric diodes
EP0767361A3 (en) Method and apparatus for spectral analysis
ES8402931A1 (es) Aparato para la inspeccion optica de objetos presentes en un campo de observacion.
EP0358661B1 (en) Method and system for determining surface profile information
SU1280312A1 (ru) Дифракционный способ измерени ширины прот женного объекта
US4115005A (en) Method for optically measuring a roughness profile of surface
SU1370456A1 (ru) Способ фиксации положени границы объекта
DE69327909T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Spektralen Bilderfassung
GB2043387A (en) Optical velocity measurement
JPH0156682B2 (ru)
JPS57161608A (en) Measuring device for object size
SU1087911A1 (ru) Дифракционный некогерентный оптико-электронный спектроанализатор пространственных сигналов
JPS6280507A (ja) 路面ひびわれ測定方法
SU1538047A1 (ru) Способ измерени шероховатости поверхности
RU2028626C1 (ru) Устройство для измерения частоты гармонических электрических колебаний
JPS5756704A (en) Detector for surface flaw of bloom
SU1067353A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений объекта
SU968604A2 (ru) Фотоэлектрическое устройство дл измерени линейных размеров
JPS5584909A (en) Information reading system by laser beam
JPH0129401B2 (ru)
SU1660216A1 (ru) Способ формировани сигнала изображени изолинии рельефа местности
SU815499A1 (ru) Устройство автоматической рисовкиРЕльЕфА пО СТЕРЕОпАРЕ цВЕТНыХСНиМКОВ
RU2020522C1 (ru) Адаптивный телескоп