SU968604A2 - Фотоэлектрическое устройство дл измерени линейных размеров - Google Patents

Фотоэлектрическое устройство дл измерени линейных размеров Download PDF

Info

Publication number
SU968604A2
SU968604A2 SU803228501A SU3228501A SU968604A2 SU 968604 A2 SU968604 A2 SU 968604A2 SU 803228501 A SU803228501 A SU 803228501A SU 3228501 A SU3228501 A SU 3228501A SU 968604 A2 SU968604 A2 SU 968604A2
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
lens
scanner
light
plane
measured
Prior art date
Application number
SU803228501A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Михайлович Жилкин
Александр Евгеньевич Здобников
Анатолий Николаевич Крылов
Original Assignee
Московский Институт Инженеров Геодезии,Аэрофотосъемки И Картографии
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский Институт Инженеров Геодезии,Аэрофотосъемки И Картографии filed Critical Московский Институт Инженеров Геодезии,Аэрофотосъемки И Картографии
Priority to SU803228501A priority Critical patent/SU968604A2/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU968604A2 publication Critical patent/SU968604A2/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения линейных размеров ,
По основному авт. св. № 665204 известно фотоэлектрическое устройство для измерения линейных размеров, содержащее источник излучения, последовательно установленный по ходу светового луча сканатор, выполненный в виде зеркального ножа, упругих направляющих для вращательного движения, привода, объектива, фотоприемника и электронного блока обработки [1 ].
Однако известное устройство имеет недостаточную точность измерения, обусловленную зависимостью точности измерения от изменения излучательной способности источника света и отражательной способности поверхности объекта измерения.
Целью изобретения является повышение точности измерений.
Цель достигается тем, что фотоэлектрическое устройство снабжено дополнительным фотоприемником, располагаемым в обратном ходе световых лучей от измеряемого объекта, и электрически связанными узкополос ным усилителем фотоэлектрического сигнала, амплитудным детектором и блоком управления излучения источника света, образующими канал обратной связи источника света, а на одной из поверхностей объектива, симметрично относительно его центра, нанесена непрозрачная полоса, ориентированная параллельно срезу сканатора и имеющая ширину, равную проекции среза мгновенного светового пучка от· сканатора на поверхность объектива.
На чертеже.представлена принципиальная схема фотоэлектрического, устройства.
Фотоэлектрическое устройство включает источник 1 монохроматического излучения, например лазер,последовательно расположенные по ходу излучения ^конденсор 2, сканатор 3£выполненный в виде зеркального ножа' и вращаемый от привода 4 через упругие направляющие 5, объектив 6, на . поверхности которого симметрично относительно его центра нанесена непрозрачная полоса 7, и фотоприемник 8, расположенный в обратном ходе канала обратной связи, узкополосный усилитель 9, амплитудный детектор 10, блок 11 управления излучательной способностью монохроматического источника 1, а также информационный фотоприемник 12 и электронный блок 13 обработки сигналов.
Устройство работает следующим образом. 5
Монохроматический световой пучок от источника 1 с помощью конденсора 2 фокусируется на сканаторе 3, который под действием привода- 4 совершает гармонические колебания. Ю
В результате этого световой поток совершает в пространстве плоские угловые колебания. Прошедший через . объектив 6 сканирующий световой по- 15 ток совершает аналогичные плоские угловые колебания относительно точки пересечения оптически сопряженной плоскости с оптической осью объектива 6. Поверхность измеряемого объек- 20 та 14 расположена в указанной сопряженной плоскости, и отраженный от ее поверхности световой поток собирается объективом 6 в плоскости анализа, где расположен сканатор 3. Когда по- '25 верхность измеряемого объекта точно расположена в плоскости, оптически сопряженной через объектив 6 с плоскостью анализа,, световое пятно на поверхности измеряемого объекта 14 сфокусировано и неподвижно, а отраженный 30 световой поток полностью размещается на сканаторе 3 и не проходит на фотоприемник 12, установленный за ним.Когда же поверхность измеряемого объекта · выходит из сопряженной плоскости,то 35 отраженный световой поток приходит в,, плоскость анализа расфокусированным и подвижным, его размеры превышают размеры сканатора 3 и на фотоприемник 12 попадает световой по- 40 ток’, промодулированный по амплитуде, вызывая тем самым переменный фотЪ- , электрический сигнал, несущий информацию об изменении линейных размерой, который затем подается в электронный 45 блок 13 обработки сигналов.
Отраженный световой пучок от сканатора 3,, вследствие его колебаний, сканирует по углу, что приводит к возвозвратно-поступательному перемеще-; $q нию проекции следа пятна на поверх-’ ности объектива 6. Параметры сканирования выбраны так, что угловая амплитуда отклонения пучка совпадает с апертурным углом объектива 6. Степень диафрагмирования света полосой зависит от мгновенного углового положения пучка в пространстве, при этом центр сканирования пучка совпадает с центром полосы 7. В результате плоских угловых колебаний световой поток дополни тельно модулируется в пространстве с помощью непрозрачной полосы 7, нанесенной на поверхность объектива.6 с частотой , равной удвоеннойчастоте колебаний сканатора 3.
Часть светового потока, отраженного от измеряемого объекта 14, попадает на фотоприемник 8, с которого фототок поступает на вход узкополосного усилителя 9·, настроенного на частоту второй гармоники фотоэлектрического сигнала, а далее‘сигнал снимается со входа усилителя 9, детектируется амплитудным детектором 10 и поступает на вход блока 11 управления излучательной способности источника 1 монохроматического излучения.
При изменении величины отраженного светового потока изменяется значение амплитуды второй гармоники фотоэлектрического сигнала, в блоке регулировки излучательной способности источника излучения вырабатывается сигнал, регулирующий излучательную способность источника света таким образом, что при уменьшении светового потока на фотоприемнике излучательная способность источника света увеличивается и наоборот. '
Положительный эффект состоит в получении стабильного уровня интенсивности излучения на срезе сканатора в обратном ходе, что повышает . точность измерения.

Claims (1)

  1. способностью монохроматического источника 1, а также информационный фотоприемник 12 и электронный блок 13 обработки сигналов. Устройство работает следующим образом. Монохроматический световой пучок от источника 1 с помощью кондёнсора 2 фокусируетс  на сканатрре 3, который под действием привода 4 совершает гармонические колебани . В результате этого световой поток совершает в пространстве плоские угловые 1к6лебанй . Прошедший через . объектив 6 сканирующий световой поток совершает аналогичные плоские угловые колебани  относительно трчки пер1есечени  оптически сопр женной плоскости с оптической осью объектива 6. Поверхность измер емого объекта 14 расположена в указанной сопр женной плоскости, и отраженный от ее поверхности световой поток собираетс  объективом 6 в плоскости анализа, где расположен сканатор 3. Когда поверхность измер емого объекта точно расположена в плоскости, оптически сопр женной через объектив 6 с плоскостью анализа,, световое п тно на поверхности измер емого объекта 14 сфокусировано и неподвижно, а отраженный световой поток полностью размещаетс  на сксхнаторе 3 и не проходит на фотоприемник 12, установленный за ним.Ког да же поверхность измер емого объекта выходит из сопр женной плоскости,то отраженный световой поток приходит ;в.., плоскость анализа расфокусированНБ1М и подвижным, его размеры превышают размеры сканатора 3 и на фотоприемник 12 попадает световой поток , промодулированный по амплитуде, вызыва  тем самым переменный фотй-- -, электрический сигнал, несущий информацию об изменении линейных размером который затем подаетс  в электронный блок 13 обработки сигналов. Отраженный световой пучокот сканатора 3,, вследствие его колебаний, сканирует по углу, что приводит к во возвратно-постуиательному перемеще-; нию проекции следа п тна на поверхности объектива б. Параметры сканиро вани  выбраны так, что углова  ампли туда отклонени  пучка сойпалает с апертурным углом объектива 6. Степен диафрагмировани  света полосой зависит от мгновенного углового положени пучка в пространстве, при этом центр сканировани  пучка совпадает с центро пйлосы 7. В результате плоских угловых колебаний световой поток дополни тельно модулируетс  в пространстве с помощью непрозрачной полосы 7, нанесенной на поверхность объектива.6 с частотой , равной-удвоеннойчастоте колебаний сканатора 3. Часть светового потока, отраженно- го от измер емого объекта 14, попадает на фотоприемник 8, с которого фототок поступает на вход узкополосного усилител  9, настроенного на частоту второй гармоники фотоэлектрического сигнала, а далеесигнал снимаетс  со входа усилител  9, детектируетс  амплитудным детектором 10 и поступает на вход блока 11 управлени  излучательной способности источника 1 монохроматического излучени . При изменении величины отраженного светового потока измен етс  значение амплитуды второй гармоники фотоэлектрического сигнала, в блоке регулировки излучательной способности источника излучени  вырабатываетс  сигнал, регулирующий излучательную способ .ность источника света таким образом, что при уменьшении светового потока на фотоприемнике излучательна  способность источника света увеличиваетс  и наоборот. Положительный эффект состоит в получении стабильного уровн  интенсивности излучени  на срезе сканатора в обратном ходе, что повышает . точность измерени . Формула изобретени  Фотоэлектрическое устройство дл  измерени  линейных размеров по авт.. св. № 665204, о т л и ч а ю щ е е с   тем, что, сцелью повышени  точности измерени , оно снабжено дополнительным фртоприёмником, располагаемым в обратном ходе световых лучей от измер емого объекта, и электрически св занными узкополосным усилителем фотоэлектрического сигнала , амплитудным детектором и блоком управлени  излучени  источника. света, образующими канал обратной св зи источника свет, а на одной из поверхностей объектива, симметрично относительно его центра, нанесена непрозрачна  полоса, ориентированна  параллельно срезу сканатора и имеюща  ширину, равную проекции среза мгновенного светового пучка от сканатора на поверхность объектива. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1. Авторское Свидетельство СССР № 665204, кл. 0,01 В 11/00, 1979.
SU803228501A 1980-12-31 1980-12-31 Фотоэлектрическое устройство дл измерени линейных размеров SU968604A2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU803228501A SU968604A2 (ru) 1980-12-31 1980-12-31 Фотоэлектрическое устройство дл измерени линейных размеров

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU803228501A SU968604A2 (ru) 1980-12-31 1980-12-31 Фотоэлектрическое устройство дл измерени линейных размеров

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU665204A Addition SU135415A1 (ru) 1960-04-30 1960-04-30 Почвенный бур

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU968604A2 true SU968604A2 (ru) 1982-10-23

Family

ID=20935902

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU803228501A SU968604A2 (ru) 1980-12-31 1980-12-31 Фотоэлектрическое устройство дл измерени линейных размеров

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU968604A2 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4650330A (en) Surface condition measurement apparatus
KR850007039A (ko) 용접기 계측헤드(計測 head)
US4744661A (en) Device for measuring small distances
US4168126A (en) Electro-optical measuring system using precision light translator
US4090792A (en) Single beam photometer for investigating a specimen
US4570074A (en) Flying spot scanner system
SU968604A2 (ru) Фотоэлектрическое устройство дл измерени линейных размеров
US4115005A (en) Method for optically measuring a roughness profile of surface
US3218913A (en) Method and apparatus for electro-optically aligning a remote object
SU1370456A1 (ru) Способ фиксации положени границы объекта
GB2146116A (en) Surface condition measurement apparatus
US4048492A (en) Method and apparatus for automatic focusing an optical system with a scanning grating
JP3250627B2 (ja) 距離測定装置
US4685804A (en) Method and apparatus for the measurement of the location or movement of a body
SU1182344A1 (ru) Дистанционный теневой визуализатор плотностных неоднородностей жидких сред
JPH0875433A (ja) 表面形状測定装置
SU1753271A1 (ru) Способ определени параметров вибрации
EP0162973A1 (en) Distance measuring device
SU785644A1 (ru) Фотоэлектрическое устройство дл измерени геометрических размеров объектов
RU1772634C (ru) Способ измерени амплитуды колебаний
RU1796901C (ru) Устройство дл бесконтактного измерени профил деталей
RU1783300C (ru) Способ измерени толщины ленты и устройство дл его осуществлени
SU1578554A2 (ru) Устройство дл контрол объективов
SU1231411A1 (ru) Оптико-электронное устройство дл измерени амплитуд акустических колебаний поверхности
JPH06221818A (ja) 厚さ測定装置