SU391411A1 - Способ измерения зеркальной составляющей - Google Patents
Способ измерения зеркальной составляющейInfo
- Publication number
- SU391411A1 SU391411A1 SU1488262A SU1488262A SU391411A1 SU 391411 A1 SU391411 A1 SU 391411A1 SU 1488262 A SU1488262 A SU 1488262A SU 1488262 A SU1488262 A SU 1488262A SU 391411 A1 SU391411 A1 SU 391411A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- measurement
- mirror component
- measuring
- quality
- light
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Изобретение относитс к способам измерени зеркальной составл ющей отражени малых участков «ривол.инейных поверхностей. Известные способы дл измерени плоских и криволинейных поверхностей трудны в эксплуатации , дают низкую точность, что особенно относитс к измерени м кр иволинейных поверхностей. Кроме того, некоторые способы ограничиваютс измерением только плотских или только криволинейных поверхностей. Цель изобретени -разработка способа оценки качества криволинейных поверхностей, имеющих большой радиус кривизны (60 мм,) а также пригодного дл измерени плоских поверхностей. Это достигаетс тем, что оптический блок, установленный в шарнирах, плавно покачивают так, чтобы сфокусированный пучок света скользил по измер емой поверхности, а индикаци качества поверхности осуществл етс по максимальной величине показани измерительного прибора. Измерение качества производ т при помощи оптического блока, который состоит из источника излучени , системы, фокусирующей пучок света иа измер емую поверхность, диафрагм и фотоприемника. Все указанные элементы жестко закреплены в одном корпусе. При этом детали блока размещены следуюDXHM образом: источник света, фокусирующа система и диафрагма-по направлению падающего пучка, втора диафрагма и фотоприемник- по направлению отраженного пучка света, т. е. элементы размещены под определенным углом огносвтелыю друг друга. В предлагаемом способе величина угла падени (отражени ) светового пучка может быть выбрана различной, но посто нной дл выбранной оптической схемы. На чертеже представлена схема, иллюстрирующа предлагаемый способ. Прин ты следующие обозначени : источник / света; линзы 2, 3, фокусирующие пучок света на измер емую поверхность; входна диафрагма 4, 5; выходна диафрагма 6; фотоприемник 7. Углы ее и Р соответствуют углам падени и отражени светового пучка. Дл измерени качества поверхности блок устанавливают на повер.хности таким образом, чтобы сфокусироваН1Ный пучок света падал на измер емую поверхность. Затем оператор плавно покачивает блок относительно измер емой поверхности. Отраженный свет принимаетс фотоприемником. По максимальному показанию измерительного прибора определ ют качество издели . Предлагаемым способом можно оценивать качество плоских и криволинейных поверхностей .
Предмет изобретени
Способ измерени зеркальной составл ющей отражени малых участков криволинейных поверхностей с радиусом кривизны 60 мм с использованием оптического блока , содержащего источник света, фокусирующую систему, фотоприемпик, отличающийс тем, что, с целью повышени качества измерени , оптический блок плавно покачивают относительно исследуемого образца так, чтобы сфокусированный пучок света скользил по измер емому образцу.
//////Л////// ////. 5
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1488262A SU391411A1 (ru) | 1970-11-02 | 1970-11-02 | Способ измерения зеркальной составляющей |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1488262A SU391411A1 (ru) | 1970-11-02 | 1970-11-02 | Способ измерения зеркальной составляющей |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU391411A1 true SU391411A1 (ru) | 1973-07-25 |
Family
ID=20459185
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1488262A SU391411A1 (ru) | 1970-11-02 | 1970-11-02 | Способ измерения зеркальной составляющей |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU391411A1 (ru) |
-
1970
- 1970-11-02 SU SU1488262A patent/SU391411A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4254337A (en) | Infrared interference type film thickness measuring method and instrument therefor | |
US5257092A (en) | Apparatus for measuring polarization and birefringence | |
US3536405A (en) | Optical thickness gauge | |
CN106767545A (zh) | 一种高精度高空间分辨角度测量仪及角度测量方法 | |
SU391411A1 (ru) | Способ измерения зеркальной составляющей | |
GB1190564A (en) | Method of and Means for Surface Measurement. | |
SU932341A1 (ru) | Способ определени величины фокусного рассто ни и положени заднего фокуса оптической системы | |
RU2815604C1 (ru) | Оптическая система формирования изображения кодирующей структуры измерительной шкалы | |
SU1448908A1 (ru) | Способ определени оптических характеристик атмосферы | |
RU1770848C (ru) | Способ определени показател преломлени клиновидных образцов | |
RU2025656C1 (ru) | Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок в фиксированной точке | |
SU868496A1 (ru) | Способ измерени флуктуаций угла прихода излучени | |
JPH0432729A (ja) | フーリエ変換形分光分析装置 | |
SU1458779A1 (ru) | Автоколлимационный способ определения показателя преломления клиновидных образцов | |
RU1770850C (ru) | Способ определени спектральных направленно-полусферических коэффициентов отражени образцов | |
RU2032166C1 (ru) | Способ определения показателя преломления клиновидных образцов | |
SU393652A1 (ru) | Дифференциальный рефрактометр | |
SU1668922A1 (ru) | Способ определени коэффициента пропускани объектива | |
SU1067449A1 (ru) | Когерентный оптический анализатор пространственных спектров двумерных сигналов | |
SU887924A1 (ru) | Способ измерени угла оптического клина | |
SU1449842A1 (ru) | Способ измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали | |
SU935701A1 (ru) | Устройство дл контрол оптических систем | |
JPH0569362B2 (ru) | ||
RU2006792C1 (ru) | Устройство для измерения радиусов кривизны поверхности детали | |
SU1702178A1 (ru) | Устройство дл измерени шероховатости полированной поверхности образца |