SU391411A1 - Способ измерения зеркальной составляющей - Google Patents

Description

Изобретение относитс  к способам измерени  зеркальной составл ющей отражени  малых участков «ривол.инейных поверхностей. Известные способы дл  измерени  плоских и криволинейных поверхностей трудны в эксплуатации , дают низкую точность, что особенно относитс  к измерени м кр иволинейных поверхностей. Кроме того, некоторые способы ограничиваютс  измерением только плотских или только криволинейных поверхностей. Цель изобретени -разработка способа оценки качества криволинейных поверхностей, имеющих большой радиус кривизны (60 мм,) а также пригодного дл  измерени  плоских поверхностей. Это достигаетс  тем, что оптический блок, установленный в шарнирах, плавно покачивают так, чтобы сфокусированный пучок света скользил по измер емой поверхности, а индикаци  качества поверхности осуществл етс  по максимальной величине показани  измерительного прибора. Измерение качества производ т при помощи оптического блока, который состоит из источника излучени , системы, фокусирующей пучок света иа измер емую поверхность, диафрагм и фотоприемника. Все указанные элементы жестко закреплены в одном корпусе. При этом детали блока размещены следуюDXHM образом: источник света, фокусирующа  система и диафрагма-по направлению падающего пучка, втора  диафрагма и фотоприемник- по направлению отраженного пучка света, т. е. элементы размещены под определенным углом огносвтелыю друг друга. В предлагаемом способе величина угла падени  (отражени ) светового пучка может быть выбрана различной, но посто нной дл  выбранной оптической схемы. На чертеже представлена схема, иллюстрирующа  предлагаемый способ. Прин ты следующие обозначени : источник / света; линзы 2, 3, фокусирующие пучок света на измер емую поверхность; входна  диафрагма 4, 5; выходна  диафрагма 6; фотоприемник 7. Углы ее и Р соответствуют углам падени  и отражени  светового пучка. Дл  измерени  качества поверхности блок устанавливают на повер.хности таким образом, чтобы сфокусироваН1Ный пучок света падал на измер емую поверхность. Затем оператор плавно покачивает блок относительно измер емой поверхности. Отраженный свет принимаетс  фотоприемником. По максимальному показанию измерительного прибора определ ют качество издели . Предлагаемым способом можно оценивать качество плоских и криволинейных поверхностей .

Предмет изобретени 

Способ измерени  зеркальной составл ющей отражени  малых участков криволинейных поверхностей с радиусом кривизны 60 мм с использованием оптического блока , содержащего источник света, фокусирующую систему, фотоприемпик, отличающийс  тем, что, с целью повышени  качества измерени , оптический блок плавно покачивают относительно исследуемого образца так, чтобы сфокусированный пучок света скользил по измер емому образцу.

//////Л////// ////. 5