SU1208496A1 - Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени - Google Patents

Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени Download PDF

Info

Publication number
SU1208496A1
SU1208496A1 SU823439555A SU3439555A SU1208496A1 SU 1208496 A1 SU1208496 A1 SU 1208496A1 SU 823439555 A SU823439555 A SU 823439555A SU 3439555 A SU3439555 A SU 3439555A SU 1208496 A1 SU1208496 A1 SU 1208496A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
optical axis
laser
optical
photodetector
scattered radiation
Prior art date
Application number
SU823439555A
Other languages
English (en)
Inventor
Владимир Михайлович Землянский
Original Assignee
Киевский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Инженеров Гражданской Авиации
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Киевский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Инженеров Гражданской Авиации filed Critical Киевский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Инженеров Гражданской Авиации
Priority to SU823439555A priority Critical patent/SU1208496A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1208496A1 publication Critical patent/SU1208496A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

1. Способ измерени  размера частиц, заключающийс  в облучении потока частиц двум  когерентньми пучками различной частоты и регистрации электрического сигнала, образуемого после оптического гетеродини- ровани  рассе нного излучени , по которому суд т о размере частиц, о т- лича ющий с  тем, что, с целью повьшени  точности измерени  путем уменьшени  погрешности, обусловленной неравномерностью освещенности области измерени , облучающие пучки выбирают одинаковой интенсивности , вектора пол ризации пучков ориентируют в одном направлении или взаимно ортогонально, рассе нное излучение собирают в направлении, не совпадающем с плоскост ми колебаний электрического и магнитного векторов излучений дл  каждого из облучающих пучков, регистрируют посто нную и переменную составл ющие рассе нного излучени , определ ют коэффициент пол ризационного согласовани  Kfj двух смешивав№1х волн, равный квадрату соотношени  переменной и посто нной составл ющих рассе нного излучени , и по значению Кп суд т о размере частиц. 2, Устройство дл  измерени  размера частиц, содержащее лазер, расположенные по оптической оси лазера два фокусирующих объектива, четвертьволновую пластинку, электрооптический кристалл и зеркало, а также собирающий объектив, .оптическа  ось которого расположена под углом 90 к оптической оси лазера, фотоприемник, расположенный на оптической оси собирающего объектива, генератор высокой частоты, подключенный к электрооптическому кристаллу, селективный усилитель, подключенный к фотопри емнику, и амплитудный анализатор импульсов, отличающеес  тем, что, с целью повышени  точности измерени , в нем дополнительно установлены второй собирающий объектив и фотоприемник, фильтр низкой частоты, линейный детектор . огибающей, два усилител , измеритель отношени  напр жений и устройство возведени  в квадрат, причем оптические оси двух собирающих объективов располагаютс  в плоскости, перпендикул рной оптической оси лазера , и симметрично относительно оси, лежащей в этой плоскости и проход щей через оптическую ось лазера перпендикул рно к плоскости пол ризации излучени  лазера, второй фотоприемник расположен на оптической оси второго собирающего объектива и выход его через фильтр низкой i СЛ С tc о 00 4;;tk со О5

Description

частоты и усилитель подключен к первому входу измерител  отношени j выход селективного усилител  соединен с входом линейного детектора огибающей, выход которого через усилитель подключен к второму входу
1
Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  измерени  р азмеров и кой центраций частиц в движущихс  жидких и газообразных средах оптичес- }:.ими средствами.
Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерени  путем уменьшени  погрешности, обусловленной неравномерностью .ocвeщe нocти области изйерени .
На чертеже изображена схема устройства дл  осуществлени  способа измерени  размеров частиц.
Устройство состоит из лазера 1 излучающего линейно пол ризованный, например, в вертикальной плоскости луч 2, фокусирующего объектива 3, собирающего излучение в области измерени  4, через которую движет- с  исследуемый поток частиц 5, второго объектива 6, четвертьволновой, фазовой пластинки 7, электрооптического кристалла 8, помещенного в круговое четвертьволновое вращаю- щеес  электриче скоа поле, зеркала 9, отражающа  поверхность которого перпендикул рна лучу лазера„ собирающие рассе нный свет 10 и 11 объективы 12 и 13, аперту1жые диаф- рагмы 14 и 15, фотоприемники 16 и 17, селективный усилитель 18, линейный детектор огибающей 19, усилитель 20, измеритель 21 отношений напр жений, фильтр 22 низкой частоты усилитель 23, устройство 24 возведе ни  в квадрат, амплитудный анализатор 25 импульсов, генератор 26.
Сущность способа измерени  размеров частиц заключаетс  в следующем.
lEeJ и движ уща с  в потЪке частдаа; облучаетс  двум  когерентными лучами различной частоты u) и ), где разница частот этшС лучей.
измерител  отношени , выход измерител  отношени  соединен с входом устройства возведени  в квадрат , выход которого соединен с амплитудным анализатором им- , пульсов.
причем вектор скорости потока направлен перпендикул рно разностному волновому вектору двух облучающих лучей, то в этом случае при оптическом гетеродинировании рассе нного излучени , принимаемого в определенном направлении, где на выходе фотоприемника образуетс  сигнал I:
( Ps)cosao,t +
. , CD
коэффициент пропорциональности;
мощности рассе нного излучени , регистрируемые фотоприемником при облучении частицы соответственно первым и вторым облучающим лучом;
к- 2JaZ; &jL
%. PS,
коэффициент амплитудного согласовани  двух смешиваемых на фотоприемнике лучей;
Кр, - коэффициент пол ризационного согласовани  двух смешиваемых на фотоприемнике волн, определ емый через элементы матрицы когерентности первой и второй рассе нной волны;
- разность частот лучей; t - врем ; t - фаза сигнада. Если прием рассе нного излучени  осуществл етс  в направлении распространени  двух волн с равной интенсивностью, то Кд 1. Следовательно , измерив амплитуду переменной составл ющей фототока 1л/ |1 f KnCPs PS и посто нную соетавл ющую фототока 1, (Pj, Р ),
, - Д о J
МОЖНО рассчитать Kj по формупе
кп (-i- )
(2)
Значение Kfj измен етс  от нул  до единицы и зависит от размеров частиц. Расчеты, выполненные на основе теории рассе ни  Мц, показывают , что дл  заданного диапазона размеров частиц с известными оп- Фическими свойствами существует сво  градуированна  характеристика, в соответствии с которой значение К/й монотонно возрастает в пределах измерительного диапазона размеров с увеличением размера частиц.
Расчеты, выполненные на основе векторной теории рассе ни , показывают , что с учетом зависимости 1л, и К от угла направлени  приема рассе нного излучени , дл  регистрации 1 и I- достаточно выбрать два направлени , симметричных относительно оси, расположенной перпендикул рно оптической оси облучающих лучей и вектору скорости потока частиц.
Таким образом, рассчитав по результатам измерений 1 и I- коэффициент пол ризационного согласовани  К с помощью соответствующих градуировочных графиков, можно однозначно определить размер частиц.
Устройство дл  осуществлени  способа измерени  размера частиц работает следующим образда.
Область измерений 4 в исследуемом потоке частиц 5 облучаетс  когерентным лучом 2 от лазера 1 и отраженным от зеркала 9 после прохождени  четвертьволновой фазовой пластинки 7 и электрооптического кристалла 8, на который от генератора 26 подаютс  два сигнала в квадратуре, имеющие одинаковую частоту и равные
четвертьволновые напр жени . От1 ажаю- щий луч после повторного прохождени 
через электрооптический кристалл 8 и четвертьволновую фазовую пластинку 7 имеет линейную вертикальную по- л ризацию и сдвинут по частоте относительно частоты луча 2 на величинуи )| . .
Объективы 3 и 6 фокусируют оба луча в области 4 измерений. С помощью объективов 12 и 13 и апертурных
диафрагм 14 и 15 рассе нное излучение собираетс  в направлени х, симметричных относительно оси, расположенной перпендикул рно onти ikcкoA оси облучающих лучей и вектору скот- рости потока частиц, направл етс  на фотоприемники 16 и 17, причем амплитуда переменной составл ющей фототока регистрируетс  с помощью селективного усилител  18, линейно го детектора огибающей 19 и усилител  20, а посто нна  составл юща  фототока регистрируетс  с помощью фильтра 22 низкой частоты, усилител  23, далее измеритель 21 отношений напр жений,
устройство 24 возведени  в квадрат и амплитудный анализатор импульсов производ т обработку составл ющих фототока и определение размеров частиц .
Редактор Л.Авраменко
Составитель Г.Плешков
Техред С.Мигунова Корректор С.Шекмар
Заказ 252/55Тираж 770 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР
по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска  наб., д. 4/5
Филиал ПГШ Патент, г.Ужгород, ул.Проектна , 4

Claims (2)

1, Способ измерения размера частиц, заключающийся в облучении потока частиц двумя когерентными пучками различной частоты и регистрации электрического сигнала, образуемого после оптического гетеродинирования рассеянного излучения, по которому судят о размере частиц, о тлича'ющий ся тем, что, с целью повышения точности измерения путем уменьшения погрешности, обусловленной неравномерностью освещенности области измерения, облучающие пучки выбирают одинаковой интенсивности, вектора поляризации пучков ориентируют в одном направлении или взаимно ортогонально, рассеянное излучение собирают в направлении, не совпадающем с плоскостями колебаний электрического и магнитного векторов излучений для каждого из облучающих пучков, регистрируют постоянную и переменную составляющие рассеянного излучения, определяют коэффициент, поляризационного сог ласования двух смешиваемых волн, равный квадрату соотношения переменной и постоянной составляющих рассеянного излучения, и по значению судят о размере частиц.
2. Устройство для измёрения размера частиц, содержащее лазер, расположенные по оптической оси лазера два фокусирующих объектива, четвертьволновую пластинку, электрооптический кристалл и зеркало, а также собирающий объектив, .оптическая ось которого расположена под углом 90° к оптической оси лазера, фотоприемник, расположенный на опти- В ческой оси собирающего объектива, генератор высокой частоты, подключенный к электрооптическому кристаллу, селективный усилитель, подключенный к фотопрйемнику, и амплитудный анализатор импульсов, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, в нем дополнительно установлены второй собирающий объектив и фотоприемник, фильтр низкой частоты, линейный детектор огибающей, два усилителя, измеритель отношения напряжений и устройство возведения в квадрат, причем оптические оси двух собирающих объективов располагаются в плоскости, перпендикулярной* оптической оси лазера, и симметрично относительно оси, лежащей в этой плоскости и проходящей через оптическую ось лазера перпендикулярно к плоскости поляризации излучения лазера, второй фотоприемник расположен на оптической оси второго собирающего объектива и выход его через фильтр низкой
SU ,,„1208496 частоты и усилитель подключен к первому входу измерителя отношения, выход селективного усилителя соединен с входом линейного детектора огибающей, выход которого через усилитель подключен к второму входу измерителя отношения, выход измерителя отношения соединен с входом устройства возведения в квадрат, выход которого соединен с амплитудным анализатором им- , пульсов.
SU823439555A 1982-05-17 1982-05-17 Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени SU1208496A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823439555A SU1208496A1 (ru) 1982-05-17 1982-05-17 Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU823439555A SU1208496A1 (ru) 1982-05-17 1982-05-17 Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1208496A1 true SU1208496A1 (ru) 1986-01-30

Family

ID=21012233

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823439555A SU1208496A1 (ru) 1982-05-17 1982-05-17 Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1208496A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2770149C1 (ru) * 2021-06-26 2022-04-14 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Донской государственный технический университет», (ДГТУ) Способ контроля параметров запыленности

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Каталог фирмы Roycolustrument, US, 1978. Авторское свидетельство СССР № 987474, кл. G 01 N 15/02, 198Ь *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2770149C1 (ru) * 2021-06-26 2022-04-14 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Донской государственный технический университет», (ДГТУ) Способ контроля параметров запыленности

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5192870A (en) Optical submicron aerosol particle detector
US5515163A (en) Method and apparatus for detection, analysis and identification of particles
JPH0694596A (ja) 粒子経路決定装置
FI81449B (fi) Laser-doppleranordning foer bestaemning av storleken hos sfaeriska partiklar som roer sig i ett vaetskefloede.
CN105548722B (zh) 一种铁磁材料太赫兹介电常数的测量系统
Mishina et al. A laser Doppler microscope
CN105572076B (zh) 基于散射效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法
DE3366743D1 (en) A method of measuring velocity gradients in a flowing medium and apparatus for carrying out the method
SU1208496A1 (ru) Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени
SU987474A1 (ru) Лазерный анализатор дисперсного состава аэрозолей
Li et al. Sensitive photothermal interferometric detection method for characterization of transparent plate samples
SU1363022A1 (ru) Лазерный измеритель размеров и дисперсного состава частиц
CN219532909U (zh) 磁致旋光效应增强装置
SU1091076A1 (ru) Оптический доплеровский измеритель напр жений Рейнольдса в потоке жидкости или газа
SU1728742A1 (ru) Оптический способ контрол объемного содержани частиц в растворе
SU1067449A1 (ru) Когерентный оптический анализатор пространственных спектров двумерных сигналов
SU529660A1 (ru) Лазерный допплеровский измеритель скорости
RU2060475C1 (ru) Способ измерения амплитуд гармонических колебаний
SU1080084A1 (ru) Инверсно-дифференциальный лазерный доплеровский измеритель скорости потока жидкости или газа
SU1645811A1 (ru) Способ определени распределени крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей
SU1464046A1 (ru) Устройство дл измерени амплитуды угловых колебаний
RU2276348C1 (ru) Способ измерения изменений азимута плоскости поляризации оптического излучения
SU1753271A1 (ru) Способ определени параметров вибрации
JPH0536727B2 (ru)
SU1435942A1 (ru) Способ измерени скорости движени рассеивающих объектов в прозрачных средах