SU1208496A1 - Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени - Google Patents
Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1208496A1 SU1208496A1 SU823439555A SU3439555A SU1208496A1 SU 1208496 A1 SU1208496 A1 SU 1208496A1 SU 823439555 A SU823439555 A SU 823439555A SU 3439555 A SU3439555 A SU 3439555A SU 1208496 A1 SU1208496 A1 SU 1208496A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- optical axis
- laser
- optical
- photodetector
- scattered radiation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
1. Способ измерени размера частиц, заключающийс в облучении потока частиц двум когерентньми пучками различной частоты и регистрации электрического сигнала, образуемого после оптического гетеродини- ровани рассе нного излучени , по которому суд т о размере частиц, о т- лича ющий с тем, что, с целью повьшени точности измерени путем уменьшени погрешности, обусловленной неравномерностью освещенности области измерени , облучающие пучки выбирают одинаковой интенсивности , вектора пол ризации пучков ориентируют в одном направлении или взаимно ортогонально, рассе нное излучение собирают в направлении, не совпадающем с плоскост ми колебаний электрического и магнитного векторов излучений дл каждого из облучающих пучков, регистрируют посто нную и переменную составл ющие рассе нного излучени , определ ют коэффициент пол ризационного согласовани Kfj двух смешивав№1х волн, равный квадрату соотношени переменной и посто нной составл ющих рассе нного излучени , и по значению Кп суд т о размере частиц. 2, Устройство дл измерени размера частиц, содержащее лазер, расположенные по оптической оси лазера два фокусирующих объектива, четвертьволновую пластинку, электрооптический кристалл и зеркало, а также собирающий объектив, .оптическа ось которого расположена под углом 90 к оптической оси лазера, фотоприемник, расположенный на оптической оси собирающего объектива, генератор высокой частоты, подключенный к электрооптическому кристаллу, селективный усилитель, подключенный к фотопри емнику, и амплитудный анализатор импульсов, отличающеес тем, что, с целью повышени точности измерени , в нем дополнительно установлены второй собирающий объектив и фотоприемник, фильтр низкой частоты, линейный детектор . огибающей, два усилител , измеритель отношени напр жений и устройство возведени в квадрат, причем оптические оси двух собирающих объективов располагаютс в плоскости, перпендикул рной оптической оси лазера , и симметрично относительно оси, лежащей в этой плоскости и проход щей через оптическую ось лазера перпендикул рно к плоскости пол ризации излучени лазера, второй фотоприемник расположен на оптической оси второго собирающего объектива и выход его через фильтр низкой i СЛ С tc о 00 4;;tk со О5
Description
частоты и усилитель подключен к первому входу измерител отношени j выход селективного усилител соединен с входом линейного детектора огибающей, выход которого через усилитель подключен к второму входу
1
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл измерени р азмеров и кой центраций частиц в движущихс жидких и газообразных средах оптичес- }:.ими средствами.
Целью изобретени вл етс повышение точности измерени путем уменьшени погрешности, обусловленной неравномерностью .ocвeщe нocти области изйерени .
На чертеже изображена схема устройства дл осуществлени способа измерени размеров частиц.
Устройство состоит из лазера 1 излучающего линейно пол ризованный, например, в вертикальной плоскости луч 2, фокусирующего объектива 3, собирающего излучение в области измерени 4, через которую движет- с исследуемый поток частиц 5, второго объектива 6, четвертьволновой, фазовой пластинки 7, электрооптического кристалла 8, помещенного в круговое четвертьволновое вращаю- щеес электриче скоа поле, зеркала 9, отражающа поверхность которого перпендикул рна лучу лазера„ собирающие рассе нный свет 10 и 11 объективы 12 и 13, аперту1жые диаф- рагмы 14 и 15, фотоприемники 16 и 17, селективный усилитель 18, линейный детектор огибающей 19, усилитель 20, измеритель 21 отношений напр жений, фильтр 22 низкой частоты усилитель 23, устройство 24 возведе ни в квадрат, амплитудный анализатор 25 импульсов, генератор 26.
Сущность способа измерени размеров частиц заключаетс в следующем.
lEeJ и движ уща с в потЪке частдаа; облучаетс двум когерентными лучами различной частоты u) и ), где разница частот этшС лучей.
измерител отношени , выход измерител отношени соединен с входом устройства возведени в квадрат , выход которого соединен с амплитудным анализатором им- , пульсов.
причем вектор скорости потока направлен перпендикул рно разностному волновому вектору двух облучающих лучей, то в этом случае при оптическом гетеродинировании рассе нного излучени , принимаемого в определенном направлении, где на выходе фотоприемника образуетс сигнал I:
( Ps)cosao,t +
. , CD
коэффициент пропорциональности;
мощности рассе нного излучени , регистрируемые фотоприемником при облучении частицы соответственно первым и вторым облучающим лучом;
к- 2JaZ; &jL
%. PS,
коэффициент амплитудного согласовани двух смешиваемых на фотоприемнике лучей;
Кр, - коэффициент пол ризационного согласовани двух смешиваемых на фотоприемнике волн, определ емый через элементы матрицы когерентности первой и второй рассе нной волны;
- разность частот лучей; t - врем ; t - фаза сигнада. Если прием рассе нного излучени осуществл етс в направлении распространени двух волн с равной интенсивностью, то Кд 1. Следовательно , измерив амплитуду переменной составл ющей фототока 1л/ |1 f KnCPs PS и посто нную соетавл ющую фототока 1, (Pj, Р ),
, - Д о J
МОЖНО рассчитать Kj по формупе
кп (-i- )
(2)
Значение Kfj измен етс от нул до единицы и зависит от размеров частиц. Расчеты, выполненные на основе теории рассе ни Мц, показывают , что дл заданного диапазона размеров частиц с известными оп- Фическими свойствами существует сво градуированна характеристика, в соответствии с которой значение К/й монотонно возрастает в пределах измерительного диапазона размеров с увеличением размера частиц.
Расчеты, выполненные на основе векторной теории рассе ни , показывают , что с учетом зависимости 1л, и К от угла направлени приема рассе нного излучени , дл регистрации 1 и I- достаточно выбрать два направлени , симметричных относительно оси, расположенной перпендикул рно оптической оси облучающих лучей и вектору скорости потока частиц.
Таким образом, рассчитав по результатам измерений 1 и I- коэффициент пол ризационного согласовани К с помощью соответствующих градуировочных графиков, можно однозначно определить размер частиц.
Устройство дл осуществлени способа измерени размера частиц работает следующим образда.
Область измерений 4 в исследуемом потоке частиц 5 облучаетс когерентным лучом 2 от лазера 1 и отраженным от зеркала 9 после прохождени четвертьволновой фазовой пластинки 7 и электрооптического кристалла 8, на который от генератора 26 подаютс два сигнала в квадратуре, имеющие одинаковую частоту и равные
четвертьволновые напр жени . От1 ажаю- щий луч после повторного прохождени
через электрооптический кристалл 8 и четвертьволновую фазовую пластинку 7 имеет линейную вертикальную по- л ризацию и сдвинут по частоте относительно частоты луча 2 на величинуи )| . .
Объективы 3 и 6 фокусируют оба луча в области 4 измерений. С помощью объективов 12 и 13 и апертурных
диафрагм 14 и 15 рассе нное излучение собираетс в направлени х, симметричных относительно оси, расположенной перпендикул рно onти ikcкoA оси облучающих лучей и вектору скот- рости потока частиц, направл етс на фотоприемники 16 и 17, причем амплитуда переменной составл ющей фототока регистрируетс с помощью селективного усилител 18, линейно го детектора огибающей 19 и усилител 20, а посто нна составл юща фототока регистрируетс с помощью фильтра 22 низкой частоты, усилител 23, далее измеритель 21 отношений напр жений,
устройство 24 возведени в квадрат и амплитудный анализатор импульсов производ т обработку составл ющих фототока и определение размеров частиц .
Редактор Л.Авраменко
Составитель Г.Плешков
Техред С.Мигунова Корректор С.Шекмар
Заказ 252/55Тираж 770 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР
по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д. 4/5
Филиал ПГШ Патент, г.Ужгород, ул.Проектна , 4
Claims (2)
1, Способ измерения размера частиц, заключающийся в облучении потока частиц двумя когерентными пучками различной частоты и регистрации электрического сигнала, образуемого после оптического гетеродинирования рассеянного излучения, по которому судят о размере частиц, о тлича'ющий ся тем, что, с целью повышения точности измерения путем уменьшения погрешности, обусловленной неравномерностью освещенности области измерения, облучающие пучки выбирают одинаковой интенсивности, вектора поляризации пучков ориентируют в одном направлении или взаимно ортогонально, рассеянное излучение собирают в направлении, не совпадающем с плоскостями колебаний электрического и магнитного векторов излучений для каждого из облучающих пучков, регистрируют постоянную и переменную составляющие рассеянного излучения, определяют коэффициент, поляризационного сог ласования двух смешиваемых волн, равный квадрату соотношения переменной и постоянной составляющих рассеянного излучения, и по значению судят о размере частиц.
2. Устройство для измёрения размера частиц, содержащее лазер, расположенные по оптической оси лазера два фокусирующих объектива, четвертьволновую пластинку, электрооптический кристалл и зеркало, а также собирающий объектив, .оптическая ось которого расположена под углом 90° к оптической оси лазера, фотоприемник, расположенный на опти- В ческой оси собирающего объектива, генератор высокой частоты, подключенный к электрооптическому кристаллу, селективный усилитель, подключенный к фотопрйемнику, и амплитудный анализатор импульсов, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, в нем дополнительно установлены второй собирающий объектив и фотоприемник, фильтр низкой частоты, линейный детектор огибающей, два усилителя, измеритель отношения напряжений и устройство возведения в квадрат, причем оптические оси двух собирающих объективов располагаются в плоскости, перпендикулярной* оптической оси лазера, и симметрично относительно оси, лежащей в этой плоскости и проходящей через оптическую ось лазера перпендикулярно к плоскости поляризации излучения лазера, второй фотоприемник расположен на оптической оси второго собирающего объектива и выход его через фильтр низкой
SU ,,„1208496 частоты и усилитель подключен к первому входу измерителя отношения, выход селективного усилителя соединен с входом линейного детектора огибающей, выход которого через усилитель подключен к второму входу измерителя отношения, выход измерителя отношения соединен с входом устройства возведения в квадрат, выход которого соединен с амплитудным анализатором им- , пульсов.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823439555A SU1208496A1 (ru) | 1982-05-17 | 1982-05-17 | Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823439555A SU1208496A1 (ru) | 1982-05-17 | 1982-05-17 | Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1208496A1 true SU1208496A1 (ru) | 1986-01-30 |
Family
ID=21012233
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU823439555A SU1208496A1 (ru) | 1982-05-17 | 1982-05-17 | Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1208496A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2770149C1 (ru) * | 2021-06-26 | 2022-04-14 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Донской государственный технический университет», (ДГТУ) | Способ контроля параметров запыленности |
-
1982
- 1982-05-17 SU SU823439555A patent/SU1208496A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Каталог фирмы Roycolustrument, US, 1978. Авторское свидетельство СССР № 987474, кл. G 01 N 15/02, 198Ь * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2770149C1 (ru) * | 2021-06-26 | 2022-04-14 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования «Донской государственный технический университет», (ДГТУ) | Способ контроля параметров запыленности |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5192870A (en) | Optical submicron aerosol particle detector | |
US5515163A (en) | Method and apparatus for detection, analysis and identification of particles | |
JPH0694596A (ja) | 粒子経路決定装置 | |
FI81449B (fi) | Laser-doppleranordning foer bestaemning av storleken hos sfaeriska partiklar som roer sig i ett vaetskefloede. | |
CN105548722B (zh) | 一种铁磁材料太赫兹介电常数的测量系统 | |
Mishina et al. | A laser Doppler microscope | |
CN105572076B (zh) | 基于散射效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法 | |
DE3366743D1 (en) | A method of measuring velocity gradients in a flowing medium and apparatus for carrying out the method | |
SU1208496A1 (ru) | Способ измерени размера частиц и устройство дл его осуществлени | |
SU987474A1 (ru) | Лазерный анализатор дисперсного состава аэрозолей | |
Li et al. | Sensitive photothermal interferometric detection method for characterization of transparent plate samples | |
SU1363022A1 (ru) | Лазерный измеритель размеров и дисперсного состава частиц | |
CN219532909U (zh) | 磁致旋光效应增强装置 | |
SU1091076A1 (ru) | Оптический доплеровский измеритель напр жений Рейнольдса в потоке жидкости или газа | |
SU1728742A1 (ru) | Оптический способ контрол объемного содержани частиц в растворе | |
SU1067449A1 (ru) | Когерентный оптический анализатор пространственных спектров двумерных сигналов | |
SU529660A1 (ru) | Лазерный допплеровский измеритель скорости | |
RU2060475C1 (ru) | Способ измерения амплитуд гармонических колебаний | |
SU1080084A1 (ru) | Инверсно-дифференциальный лазерный доплеровский измеритель скорости потока жидкости или газа | |
SU1645811A1 (ru) | Способ определени распределени крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей | |
SU1464046A1 (ru) | Устройство дл измерени амплитуды угловых колебаний | |
RU2276348C1 (ru) | Способ измерения изменений азимута плоскости поляризации оптического излучения | |
SU1753271A1 (ru) | Способ определени параметров вибрации | |
JPH0536727B2 (ru) | ||
SU1435942A1 (ru) | Способ измерени скорости движени рассеивающих объектов в прозрачных средах |