SU868503A1 - Рентгеновский спектрометр - Google Patents

Рентгеновский спектрометр Download PDF

Info

Publication number
SU868503A1
SU868503A1 SU802876866A SU2876866A SU868503A1 SU 868503 A1 SU868503 A1 SU 868503A1 SU 802876866 A SU802876866 A SU 802876866A SU 2876866 A SU2876866 A SU 2876866A SU 868503 A1 SU868503 A1 SU 868503A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sample
angle
radiation
ray
sample holder
Prior art date
Application number
SU802876866A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Евгеньевич Веретененко
Владимир Павлович Николаев
Роберт Исаакович Плотников
Игнатий Владимирович Сериков
Владимир Иосифович Шаензон
Original Assignee
Предприятие П/Я М-5912
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я М-5912 filed Critical Предприятие П/Я М-5912
Priority to SU802876866A priority Critical patent/SU868503A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU868503A1 publication Critical patent/SU868503A1/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076X-ray fluorescence

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

(54) РЕНТГЕНОВСКИЙ СПЕКТРОМЕТР

Claims (2)

  1. Изобретение относитс  к рентгеноспектральным приборам дл  исследова/ ни  количественного и качественного состава вещества и может найти широкое применение в аналитических лаб ратори х промышленных предпри тий и научно-исследовательских институтов при анализе образцов переменного состава . Известен рентгеновский спектрометр , -содержащий источник излучени , держатель образца со средствами дл  вращени  образца в продессе измерени  и спектрометрический (ие)канал(ы со средствами регистрации и обработки информации tl . Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому  вл етс  многоканальный рентгеновский спектрометр , содержащий источник рентгено ского излучени , расположенные по хо ду рентгеновского излучени  держатель образца со средствами вращени  образца в процессе измерени , п ть спектрометрических каналов со сред .ствами регистрации и обработки ийформации . Вращение держател  с расположенным в нем образцом, осуществл емое дл  усреднени  результатов измерени  при анализе неоднородных проб, производитс  вокруг оси, перпендикул рной к рабочей поверхности образца. При этом угол отбора вторичного излучени  в процессе измерени  остаетс  посто нным 2 . Дл  учета матричного эффекта в таком спектрометре приходитс  измер ть интенсивности линий не только определ емого элемента, но и почти всех посторонних химических элементов , присутствуюпщх в образце. Особенно это трудно сделать, когда полный анализ не производитс , а нужно определить только один или несколько химических элементов. Точность такого анализа сравнительно невысока. Цель изобретени  - повышение точности анализа путем учета матричного Эффекта при изменении угла отбора вт ричного излучени . Указанна  цель достигае1-с  тем, что в спектрометре, содержащем источ ник излучени , расположенные по ходу рентгеновского излучени  держатель образца со средствами дл  вращени  его п процессе измерени  вокруг собственной оси, спектрометрический(ие) канал(ы)со средствами обработки информации , плоскость держател  образца наклонена к оси его вращени  под углом , держатель образца снабжен датчиком угла поворота, а средства обработки информации канало содержат многоканальный анализатор временных распределений нормализован ных импульсов с адресным регистром, который соединен с датчиком угла поворота держател  образца. На фиг. 1 представлена конструкци  предлагаемого спектрометра; на фиг. 2 - график зависимости интенсивности флуоресцентного излучени  от угла поворота держател  образца. Рентгеновский спектрометр содержит рентгеновскую.трубку 1 с фокусом 2, держатель 3 образца с окном 4 имеющий гшоскость 5, фиксирующую рабочую поверхность образца 6, средства 7 дл  вращени  держател  с образцом вокруг оси 8 вращени , спектрометрический канал, состо щий из вход ной щели 9, кристалла-анализатора 10 и выходной щели 11, детектор 12 рент геновского излучени , средства 13 об работки информации, включающие электронные блоки 14 и многоканальный анализатор 15 временных распределений импульсов, адресный регистр кото рого св зан с датчиком 16 угла поворота держател  образца. Плоскость 5 держател  образца, фиксирующа  рабочую поверхность образца 6, установлена под углом oL к оси 8 вращени . Спектрометр работает следующим образом. Первичное рентгеновское излучение возникшее в фокусе 2 рентгеновской трубки 1, падает на рабочую поверхность образца 6, фиксируемую плоскостью 5 держател  образца. В процессе измерени  с помощью механизма 7 вращени  держатель 3 образца поворачиваетс  вокруг оси 8 вращени , наклоненной к поверхности образца под углом ol,, причем, угол поворота держател  образца liy контролируетс  датчиком 16 угла поворота. Возникающее в образце вторичное рентгеновское излучение , отбираемое под углом Ч , пос тупает через входную щель 9 на кристалл-анализатор 10 спектрометрического канала, выдел ющего аналитическую линию определ емого элемента, и через выходную щель 11 - на детектор 12рентгеновского излучени , регистрирующий эту линию. Электрические импульсы с выхода детектора 12 после амплитудной дискриминации и нормализации в электронных блоках 14 средств 13обработки информации поступают на многоканальный анализатор 15 временных распределений, адресный регистр которого св зан с датчиком 16 угла поворота держател  3 образца. Пусть в начальном положении держател  образца (фиг. I) угол U 0. При этом перпендикул р к поверхности образца, проход щий через его центр лежит в плоскости чертежа и в спектрометрический канал поступает вторичное излучение с облучаемой поверхности образца. В этом случае угол отбора tf 1), .При повороте держател  образца на угол (f угол отбора определ етс  как cos ly, т.е. угол отбора излучени   вл етс  периодической функцией угла, поворота держател  образца . Провед  два измерени  при двух значени х угла Oj , можно реализовать способ учета матричного эффекта, основанный на измерении интенсивности флуоресцентного излучени  под двум  различными углами отбора. Б интервалах значений U} от 2 И -1tf2. ц,о 2ГСи 1t 2 где п 0,1,2,3, происходит регистраци  излучени  с облучаемой поверхности образца, а в интервалах значений угла UJ от 27tvi 7t/2 до 27ГИ4- /2с необлучаемой его поверхности ( через окно держател  образца), что позвол ет реализовать способ анализа, основанный на регистрации флуоресцентного излучени  с облучаемой и необлучаемой поверхностей образца. Включение в средства обработки информации многоканального анализатора временных распределений нормализованных импульсов, адресный регистр которого соединен с датчиком угла поворота держател  образца, позвол ет получить угловое распределение интенсивности излучени  той длины волны,на которую настроен дан1Ш1Й канал. На фиг. 2 приведен пример такого углового распределени  интенсивности 5 флуоресцентного излучени  1 (в зависимости от угла поворота держател  образца (JU .. Форма пиков и соотношение между их амплитудами завис т от абсорбционных свойств пробы и ее толщины , что позвол ет учесть вли ние абсорбционных свойств пробы, т.е. матричного эффекта, на результаты анализа. Предлагаемьй рентгеновский спектр метр позвол ет проводить определение содержани  искомых элементов в образ цах неизвестного матричного состава как насыщенных так и ненасыщенных. Причем точность этих определений выше , чем в случае .регистрации излучени  только под двум  фиксированными углами отбора, так как в предлагаемо спектрометре объем получаемой информации о матрице образца значительно полнее. Спектрометр может быть выполнен как одноканальным, так и многоканаль ным: учет ВЛИЯНИЯэффекта матрицы на интенсивность определ емого каналом элемента ведетс  по своей программе , составленной с учетом выбора оптимального дл  данного элемента диапазона углов. Предлагаемое изобретение используетс  при разработке рентгеновского анализатора, предназначенного дл  оп ределени  в рудах и продуктах обогащени  цветных и редких металлов, а экономический эффект от его использовани  составл ет 15-30 тыс.руб в год на один прибор. 3 Формула изобретени  Рентгеновский спектрометр, содержащий источник излучени , расположенные по ходу рентгеновского излучени  держатель образца со средствами дл  вращени  его в процессе измерени  вокруг собственной оси, спектрометрический (ие) канал(ы) со cpeдcтвa fи обработки информации, о т л и ч а ю щ и и с   тем, что, с целью повышени  точности анализа путем учета матричного эффекта при изменении угла отбора-вторичного излучени , плоскость держател  образца, фиксирующа  рабочую поверхность образца, наклонена к оси его вращени  под углом , держатель образца снабжен датчиком угла поворота, а средства обработки информации каналов содержат многоканальный анализатор временных распределений нормализованных импульсов с адресным регистром, которьш соединен с датчиком угла поворота держател  образца. Источники информации, прин тые во внимание при экспертизе 1.Автоматический флуоресцентный рентгеновский спектрометр ВРА-20. - Йенское обозрение, 1977, № 5, с. 211.
  2. 2.Барский С. М. и др. Новые промьшшенные флуоресцентные вакуумные рентгеновские квантометры. Сб. Аппаратура и методы рентгеновского ана лиза, 1970, вып , УП, с. 98 (прототип ) .
SU802876866A 1980-01-29 1980-01-29 Рентгеновский спектрометр SU868503A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802876866A SU868503A1 (ru) 1980-01-29 1980-01-29 Рентгеновский спектрометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU802876866A SU868503A1 (ru) 1980-01-29 1980-01-29 Рентгеновский спектрометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU868503A1 true SU868503A1 (ru) 1981-09-30

Family

ID=20875257

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU802876866A SU868503A1 (ru) 1980-01-29 1980-01-29 Рентгеновский спектрометр

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU868503A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110678743A (zh) * 2017-05-18 2020-01-10 株式会社岛津制作所 X射线分光分析装置
US11137360B2 (en) 2017-09-27 2021-10-05 Shimadzu Corporation X-ray spectrometer and chemical state analysis method using the same

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110678743A (zh) * 2017-05-18 2020-01-10 株式会社岛津制作所 X射线分光分析装置
EP3627146A4 (en) * 2017-05-18 2020-05-13 Shimadzu Corporation X-RAY SPECTROMETER
US11112371B2 (en) 2017-05-18 2021-09-07 Shimadzu Corporation X-ray spectrometer
CN110678743B (zh) * 2017-05-18 2022-06-24 株式会社岛津制作所 X射线分光分析装置
US11137360B2 (en) 2017-09-27 2021-10-05 Shimadzu Corporation X-ray spectrometer and chemical state analysis method using the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Wright Application of infrared spectroscopy to industrial research
US2404064A (en) Apparatus for investigating absorption spectra of substances
US3897155A (en) Atomic fluorescence spectrometer
US4016419A (en) Non-dispersive X-ray fluorescence analyzer
SU868503A1 (ru) Рентгеновский спектрометр
US4377342A (en) Zeeman atomic absorption spectrophotometer
KR100326286B1 (ko) 레이져-생성된플라스마상의광학적방출분광법에의한동위원소분석공정
Boumans et al. A computerised programmable monochromator for flexible multi-element analysis with special reference to the inductively coupled plasma
JPS58143254A (ja) 物質同定装置
JPH0228819B2 (ja) Metsukiekibunsekisochi
WO2003107037A2 (en) Scatter spectra method for x-ray fluorescent analysis with optical components
JPH01156646A (ja) 蛍光x線分析方法
US3226556A (en) Photosensitive liquid examining means for electrophoresis apparatus
Bryant et al. Front-face laser fluorescence technique with microabsorption cells
JP3312001B2 (ja) 蛍光x線分析装置
USH922H (en) Method for analyzing materials using x-ray fluorescence
Hulmston et al. Comparison of photographic and photoelectric detection for multi-element analysis by inductively coupled plasma atomic-emission spectrometry
SU911265A1 (ru) Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа
SU272647A1 (ru) УНИВЕРСАЛЬНЫЙ ФОКУСИРУЮЩИЙ КВАНТ*ВСЕСОЮЗНАЯПАТЕП :;С-^.-Х1ШЧ^СКАЯбиблиотека_МБА
JPS63140941A (ja) 赤外線ガス分析計
JP2002365245A (ja) 波長分散型蛍光x線分析装置
SU330381A1 (ru) Способ рентгеноспектрального флуоресцентного анализа растворов и суспензий
JP3367999B2 (ja) X線定量分析方法及び装置
CA1038970A (en) Method and device for analysing a liquid sample according to the principle of x-ray fluorescence
JPS6122240A (ja) 微小部x線分析装置