SU272647A1 - УНИВЕРСАЛЬНЫЙ ФОКУСИРУЮЩИЙ КВАНТ*ВСЕСОЮЗНАЯПАТЕП :;С-^.-Х1ШЧ^СКАЯбиблиотека_МБА - Google Patents

УНИВЕРСАЛЬНЫЙ ФОКУСИРУЮЩИЙ КВАНТ*ВСЕСОЮЗНАЯПАТЕП :;С-^.-Х1ШЧ^СКАЯбиблиотека_МБА

Info

Publication number
SU272647A1
SU272647A1 SU1254353A SU1254353A SU272647A1 SU 272647 A1 SU272647 A1 SU 272647A1 SU 1254353 A SU1254353 A SU 1254353A SU 1254353 A SU1254353 A SU 1254353A SU 272647 A1 SU272647 A1 SU 272647A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sample
quantum
unional
liblibrary
h1shch
Prior art date
Application number
SU1254353A
Other languages
English (en)
Original Assignee
А. В. Пивоваров , И. А. Рубанов Казахский научно исследовательский институт минерального сырь
Publication of SU272647A1 publication Critical patent/SU272647A1/ru

Links

Description

Квантометр относитс  к приборам дл  флуоресцентного анализа веществ переменного состава путем измерени  интенсивностей линий вторичных спектров элементов (в частности , рентгеновских спектров).
Дл  анализа веществ примен ютс  флуоресцентные спектрометры (квантометры) различных конструкций - одноканальные и многоканальные . При определении концентраций элементов, когда необходимо учитывать общий состав пробы, выполн ют последовательно или одновременно не менее двух операций: измер ют интенсивность флуоресцентной аналитической линии от пробы и определ ют поглощательную способность пробы дл  этой линии.
Предлагаемый квантометр отличаетс  тем, что, кроме регистрации сигналов (интенсивности флуоресцентных рентгеновских аналитических линий элементов) от облучаемой поверхности пробы, он позвол ет одновременно регистрировать вторичное излучение от стороны иробы, противоположной облучаемой, т. е. сигналы , возбужденные первичным излучением, «фильтрованные пробой. Дл  этого квантометр содержит второй контейнер со щелевыми коллиматорами и детекторами вторичного излучени  и кристалл-анализатор.
Кроме того, прободержатель снабжен поворотным устройством дл  изменени  угла падени  лучей от О до 90°. На чертеже схематично показан предлагаемый квантометр.
Первичное излучение от источника / проходит через коллиматор первичных лучей 2, который представл ет собой насадку или приставку к источнику первичных лучей, служащую дл  направлени  их на пробу. Пройд  коллиматор 2, лучи падают на пробу ;. Возбужденные вторичные лучи расход тс  от облучаемой и противоположной ей поверхностей в противополол ные стороны, проход т через
коллиматоры 4 к 5 и разлагаютс  в спектр анализаторами 6 и 7. Спектральные линии, сфокусированные анализаторами, попадают на щелевые коллиматоры контейнеров 8 и 9 и регистрируютс  детекторами, например счетчиками импульсов. Число импульсов в каналах фиксируетс  пересчетными приборами, не показанными на чертеже, которые включаютс  и выключаютс  одновременно.
Прободержатель 10 жестко св зан с указателем угла наклона пробы и может поворачиватьс  вокруг оси, перпендикул рной направлению первичных лучей и направлению отбора вторичных, посредством поворотного устройства. Ось поворота пробы с прободержателем лежит в облучаемой плоскости и проходит через центр симметрии этой плоскости. Угол наклопа облучаемой плоскости пробы к направлению первичных лучей выбираетс  экспериментально в зависимости от требований к анализу и пробе. Прибор допускает изменение угла наклона от О до 90°. В процессе работы поворотный прободержатель служит дл  нахождени  оптимального соотношени  интенсивностей линий, зарегистрированных от облучаемой и обратной сторон пробы, с учетом всех регистрируемых линий. В дальнейшем при съемке данной партии проб угол наклона остаетс  неизменным. Градусна  шкала // предназначена дл  замера углов наклона плоскости пробы к первичному пучку. В приборе предусмотрена ловушка первичных лучей 12,
Предмет изобретени 
Универсальный фокусируюш.ий квантометр, содержащий источник первичного излучени ,
коллиматор, кристалл-анализатор и контейнер со щелевыми коллиматорами и детекторами вторичного излучени , отличающийс  тем, что, с целью ускорени  одновременного анализа проб переменного состава дес ти элементов и повышени  точности измерений, он содержит второй контейнер со щелевыми коллиматорами и детекторами вторичного излучени  и кристалл-анализатор, расположенные так, что они исследуют вторичное излучение,
исход щее от поверхности пробы, противоположной облучаемой, а прободержатель снабжен поворотным устройством дл  изменени  угла падени  лучей от О до 90°.
SU1254353A УНИВЕРСАЛЬНЫЙ ФОКУСИРУЮЩИЙ КВАНТ*ВСЕСОЮЗНАЯПАТЕП :;С-^.-Х1ШЧ^СКАЯбиблиотека_МБА SU272647A1 (ru)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU272647A1 true SU272647A1 (ru)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9031187B2 (en) Method and apparatus for performing X-ray analysis of a sample
WO2018211664A1 (ja) X線分光分析装置
US4822169A (en) Measuring assembly for analyzing electromagnetic radiation
Wobrauschek et al. X-ray fluorescence analysis in the ng region using total reflection of the primary beam
JP3511826B2 (ja) 蛍光x線分析装置
JP2001124711A (ja) 蛍光x線分析方法及び試料構造の評価方法
SU272647A1 (ru) УНИВЕРСАЛЬНЫЙ ФОКУСИРУЮЩИЙ КВАНТ*ВСЕСОЮЗНАЯПАТЕП :;С-^.-Х1ШЧ^СКАЯбиблиотека_МБА
JP2000504422A (ja) 2つのコリメータマスクを有するx線分析装置
US3967122A (en) Radiation analyzer utilizing selective attenuation
US3344274A (en) Ray analysis apparatus having both diffraction amd spectrometer tubes mounted on a common housing
GB1369146A (en) Chemical analyzer
JPH0228819B2 (ja) Metsukiekibunsekisochi
JPH0219897B2 (ru)
SU868503A1 (ru) Рентгеновский спектрометр
US3179798A (en) Sample call for live zero spectrometer
RU2072515C1 (ru) Многоканальный рентгеновский анализатор элементного состава
JPH1151883A (ja) 蛍光x線分析装置および方法
SU295032A1 (ru) Универсальный сканирующий спектрометр
JP2002365245A (ja) 波長分散型蛍光x線分析装置
SU202571A1 (ru) Рентгеновский микроанализатор
SU911265A1 (ru) Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа
SU949441A1 (ru) Рентгеновский спектрометр
RU2171980C2 (ru) Способ распознавания химического состава объектов по ослаблению ими рентгеновского излучения
RU2216010C2 (ru) Многоканальный рентгеновский дифрактометр
JP2000009666A (ja) X線分析装置