SU272647A1 - УНИВЕРСАЛЬНЫЙ ФОКУСИРУЮЩИЙ КВАНТ*ВСЕСОЮЗНАЯПАТЕП :;С-^.-Х1ШЧ^СКАЯбиблиотека_МБА - Google Patents
УНИВЕРСАЛЬНЫЙ ФОКУСИРУЮЩИЙ КВАНТ*ВСЕСОЮЗНАЯПАТЕП :;С-^.-Х1ШЧ^СКАЯбиблиотека_МБАInfo
- Publication number
- SU272647A1 SU272647A1 SU1254353A SU1254353A SU272647A1 SU 272647 A1 SU272647 A1 SU 272647A1 SU 1254353 A SU1254353 A SU 1254353A SU 1254353 A SU1254353 A SU 1254353A SU 272647 A1 SU272647 A1 SU 272647A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sample
- quantum
- unional
- liblibrary
- h1shch
- Prior art date
Links
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000002083 X-ray spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000003595 spectral Effects 0.000 description 1
Description
Квантометр относитс к приборам дл флуоресцентного анализа веществ переменного состава путем измерени интенсивностей линий вторичных спектров элементов (в частности , рентгеновских спектров).
Дл анализа веществ примен ютс флуоресцентные спектрометры (квантометры) различных конструкций - одноканальные и многоканальные . При определении концентраций элементов, когда необходимо учитывать общий состав пробы, выполн ют последовательно или одновременно не менее двух операций: измер ют интенсивность флуоресцентной аналитической линии от пробы и определ ют поглощательную способность пробы дл этой линии.
Предлагаемый квантометр отличаетс тем, что, кроме регистрации сигналов (интенсивности флуоресцентных рентгеновских аналитических линий элементов) от облучаемой поверхности пробы, он позвол ет одновременно регистрировать вторичное излучение от стороны иробы, противоположной облучаемой, т. е. сигналы , возбужденные первичным излучением, «фильтрованные пробой. Дл этого квантометр содержит второй контейнер со щелевыми коллиматорами и детекторами вторичного излучени и кристалл-анализатор.
Кроме того, прободержатель снабжен поворотным устройством дл изменени угла падени лучей от О до 90°. На чертеже схематично показан предлагаемый квантометр.
Первичное излучение от источника / проходит через коллиматор первичных лучей 2, который представл ет собой насадку или приставку к источнику первичных лучей, служащую дл направлени их на пробу. Пройд коллиматор 2, лучи падают на пробу ;. Возбужденные вторичные лучи расход тс от облучаемой и противоположной ей поверхностей в противополол ные стороны, проход т через
коллиматоры 4 к 5 и разлагаютс в спектр анализаторами 6 и 7. Спектральные линии, сфокусированные анализаторами, попадают на щелевые коллиматоры контейнеров 8 и 9 и регистрируютс детекторами, например счетчиками импульсов. Число импульсов в каналах фиксируетс пересчетными приборами, не показанными на чертеже, которые включаютс и выключаютс одновременно.
Прободержатель 10 жестко св зан с указателем угла наклона пробы и может поворачиватьс вокруг оси, перпендикул рной направлению первичных лучей и направлению отбора вторичных, посредством поворотного устройства. Ось поворота пробы с прободержателем лежит в облучаемой плоскости и проходит через центр симметрии этой плоскости. Угол наклопа облучаемой плоскости пробы к направлению первичных лучей выбираетс экспериментально в зависимости от требований к анализу и пробе. Прибор допускает изменение угла наклона от О до 90°. В процессе работы поворотный прободержатель служит дл нахождени оптимального соотношени интенсивностей линий, зарегистрированных от облучаемой и обратной сторон пробы, с учетом всех регистрируемых линий. В дальнейшем при съемке данной партии проб угол наклона остаетс неизменным. Градусна шкала // предназначена дл замера углов наклона плоскости пробы к первичному пучку. В приборе предусмотрена ловушка первичных лучей 12,
Предмет изобретени
Универсальный фокусируюш.ий квантометр, содержащий источник первичного излучени ,
коллиматор, кристалл-анализатор и контейнер со щелевыми коллиматорами и детекторами вторичного излучени , отличающийс тем, что, с целью ускорени одновременного анализа проб переменного состава дес ти элементов и повышени точности измерений, он содержит второй контейнер со щелевыми коллиматорами и детекторами вторичного излучени и кристалл-анализатор, расположенные так, что они исследуют вторичное излучение,
исход щее от поверхности пробы, противоположной облучаемой, а прободержатель снабжен поворотным устройством дл изменени угла падени лучей от О до 90°.
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU272647A1 true SU272647A1 (ru) |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9031187B2 (en) | Method and apparatus for performing X-ray analysis of a sample | |
WO2018211664A1 (ja) | X線分光分析装置 | |
US4822169A (en) | Measuring assembly for analyzing electromagnetic radiation | |
Wobrauschek et al. | X-ray fluorescence analysis in the ng region using total reflection of the primary beam | |
JP3511826B2 (ja) | 蛍光x線分析装置 | |
JP2001124711A (ja) | 蛍光x線分析方法及び試料構造の評価方法 | |
SU272647A1 (ru) | УНИВЕРСАЛЬНЫЙ ФОКУСИРУЮЩИЙ КВАНТ*ВСЕСОЮЗНАЯПАТЕП :;С-^.-Х1ШЧ^СКАЯбиблиотека_МБА | |
JP2000504422A (ja) | 2つのコリメータマスクを有するx線分析装置 | |
US3967122A (en) | Radiation analyzer utilizing selective attenuation | |
US3344274A (en) | Ray analysis apparatus having both diffraction amd spectrometer tubes mounted on a common housing | |
GB1369146A (en) | Chemical analyzer | |
JPH0228819B2 (ja) | Metsukiekibunsekisochi | |
JPH0219897B2 (ru) | ||
SU868503A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
US3179798A (en) | Sample call for live zero spectrometer | |
RU2072515C1 (ru) | Многоканальный рентгеновский анализатор элементного состава | |
JPH1151883A (ja) | 蛍光x線分析装置および方法 | |
SU295032A1 (ru) | Универсальный сканирующий спектрометр | |
JP2002365245A (ja) | 波長分散型蛍光x線分析装置 | |
SU202571A1 (ru) | Рентгеновский микроанализатор | |
SU911265A1 (ru) | Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа | |
SU949441A1 (ru) | Рентгеновский спектрометр | |
RU2171980C2 (ru) | Способ распознавания химического состава объектов по ослаблению ими рентгеновского излучения | |
RU2216010C2 (ru) | Многоканальный рентгеновский дифрактометр | |
JP2000009666A (ja) | X線分析装置 |