SU772499A3 - Фотоэлектрическое устройство дл измерени характеристик листового материала - Google Patents
Фотоэлектрическое устройство дл измерени характеристик листового материала Download PDFInfo
- Publication number
- SU772499A3 SU772499A3 SU721781815A SU1781815A SU772499A3 SU 772499 A3 SU772499 A3 SU 772499A3 SU 721781815 A SU721781815 A SU 721781815A SU 1781815 A SU1781815 A SU 1781815A SU 772499 A3 SU772499 A3 SU 772499A3
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sheet material
- moisture content
- measuring
- detector
- absorption
- Prior art date
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims abstract description 6
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 abstract description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 abstract 2
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 abstract 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 abstract 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 abstract 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 abstract 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
- G01N21/3559—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content in sheets, e.g. in paper
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/34—Paper
- G01N33/346—Paper sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N9/00—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
- G01N9/36—Analysing materials by measuring the density or specific gravity, e.g. determining quantity of moisture
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
Description
плоскостей выполнены отверсти , смещенньае относительно друг друга к про тивоположным концам, при этом вблизи одного отверсти расположен источник излучени , а другого - фотоприемник .
На фиг. 1 показан общий вид устройства; на фиг. 2 - эскизный разрез устройства; на фиг. 3 - отражающа плоскость, на фиг. 4 - одна из разновидностей предложенного устройства , на фиг. 5 изобрахсены графики зависимостей отношени величин прин тых сигналов на волнах 2. от содержани влаги в бумаге; на фиг.б-н зависимости тех же отношений, что и на фиг. 5, но от метода обработки волокна и базисного вала бумаги.
Сканирующее устройство 1 содержит каркас 2, два параллельных бруса 3, исследуемый материал 4 (бумагу), который движетс через сканирующее устройство в направлении, указанном стрелкой, источник излучени 5, фотоприемник б, зазор 7,образованный направл ющими плоскост ми 8 и 9, выполненными в виде зеркально отражающих плоскостей, расположенных зеркальными сторонами навстречу и параллельно- друг другу.
Источник излучени и фотоприемник располагаютс вблизи отверстий 10, 11 соответственно (фиг.2). Эти отверсти , выполненные в отражающих плоскост х, смещены друг относительно друга к противоположным концам. Отражающие плоскости выполнены из анодированного алюмини .
Одна из разновидностей предложенного устройства показана на фиг. 4, где отверсти 10, 11 выполнены в одной отражающей плоскости. В качестве отражающих поверхностей могут быт использованы любые известные отражатели , пригодные дл решаемой задачи
Луч излучени (на фиг.2 он показан стрелкой в отверстии 10) проходит через отверстие на бумагу, частично отра каетс от нее, частично, диффузно рассеива сь, проходит через нее. ОтрахсЕгюпие поверхности 8 и 9 отражают упавшее на них излучение снова на бумагу и так процесс повтор етс .
После многократного отражени от бумаги и прохождени через нее излучение достигает фотоприемника 6. Фотоприемник регистрирует пришедшее излучение, вл ющеес функцией состава бумаги и содержани в ней влаги.
Графики зависимостей отношени величины прин тых сигналов на волнах -l и содержани влаги в бумаге, от метода обработки волокна и базисного вала бумаги проведены соответственно на фиг. 5 и 6.
Сплошна лини на графикс1х характеризует чувствительность предложенного устройства (чувствительность характеризуетс крутизной графика).
Эт графики дают нагл дное представление о преимуществах предложенного устройства по отношению к известному .
Таким образом предложенное устройство , основанное на принципе отражени от измер емого материала излучени и прохождени его через него позвол ет существенно повысить точность измерений.
Claims (1)
- Формула изобретениФотоэлектрическое устройство дл измерени характеристик листового материала, содержащее источник инфракрасного излучени с двум спектральными диапазонаш частот, фотоприемник и регистрирукадий блок, отличающеес тем, что, с целью повышени точности измерений, в нем установлены две зеркально отра хан дие плоскости, расположенные зеркальными повер:4ност ми навстречу и параллельно.одна другой, причем по крайней мере в одной из указанных плоскостей выполнены отверсти , смещенные относительно друг друга к противоположным концам, при,этом вблизи одного отверсти уста;новлен источник излучени , а вблизи друго ,го - фотоприемник. /////////////У А А т ( W jZi,,.«ff л , tl
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US14076271A | 1971-05-06 | 1971-05-06 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU772499A3 true SU772499A3 (ru) | 1980-10-15 |
Family
ID=22492695
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU721781815A SU772499A3 (ru) | 1971-05-06 | 1972-05-05 | Фотоэлектрическое устройство дл измерени характеристик листового материала |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS587938B1 (ru) |
| CA (1) | CA947106A (ru) |
| CH (1) | CH553977A (ru) |
| FI (1) | FI56078C (ru) |
| GB (1) | GB1367193A (ru) |
| NO (1) | NO146451C (ru) |
| SU (1) | SU772499A3 (ru) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102015013140A1 (de) | 2015-10-13 | 2017-04-13 | Blue Ocean Nova AG | Vorrichtung für die automatisierte Analyse von Feststoffen oder Fluiden |
| EP3613877B1 (en) | 2018-02-02 | 2021-03-03 | Marui Galvanizing Co., Ltd | Electrolytic polishing method and device |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3080789A (en) * | 1960-07-01 | 1963-03-12 | Technicon Instr | Flow cells |
| US3414354A (en) * | 1964-10-28 | 1968-12-03 | Perkin Elmer Corp | Raman spectrometers |
| US3319071A (en) * | 1964-11-27 | 1967-05-09 | Gen Motors Corp | Infrared gas analysis absorption chamber having a highly reflective specular internal surface |
| GB1325753A (en) * | 1969-11-06 | 1973-08-08 | Baxter Laboratories Inc | Testing radiation absorption characteristics |
-
1972
- 1972-04-18 CA CA139,964A patent/CA947106A/en not_active Expired
- 1972-04-20 GB GB1834172A patent/GB1367193A/en not_active Expired
- 1972-04-26 FI FI1193/72A patent/FI56078C/fi active
- 1972-05-04 JP JP47044515A patent/JPS587938B1/ja active Pending
- 1972-05-05 SU SU721781815A patent/SU772499A3/ru active
- 1972-05-05 NO NO1609/72A patent/NO146451C/no unknown
- 1972-05-05 CH CH671972A patent/CH553977A/fr not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FI56078C (fi) | 1979-11-12 |
| FI56078B (fi) | 1979-07-31 |
| NO146451B (no) | 1982-06-21 |
| NO146451C (no) | 1982-09-29 |
| JPS587938B1 (ru) | 1983-02-14 |
| CA947106A (en) | 1974-05-14 |
| DE2221993A1 (de) | 1972-11-23 |
| DE2221993B2 (de) | 1977-03-24 |
| CH553977A (fr) | 1974-09-13 |
| GB1367193A (en) | 1974-09-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3793524A (en) | Apparatus for measuring a characteristic of sheet materials | |
| US4568191A (en) | Distance-independent optical reflectance instrument | |
| US4302108A (en) | Detection of subsurface defects by reflection interference | |
| US3994586A (en) | Simultaneous determination of film uniformity and thickness | |
| GB1474191A (en) | Measurement of surface roughness | |
| IE39867B1 (en) | Improved gauging method and apparatus | |
| GB1382081A (en) | Transmission spectra | |
| SU772499A3 (ru) | Фотоэлектрическое устройство дл измерени характеристик листового материала | |
| EP0453797B1 (en) | Infrared ray moisture meter | |
| GB1213145A (en) | Apparatus for the detection of flaws in a transparent material | |
| GB1461866A (en) | Measurement of optical properties of surfaces | |
| GB1484148A (en) | Apparatus for determining the transverse position of a surface defect in a sheet material moving longitudinally | |
| JPS6151257B2 (ru) | ||
| US5044754A (en) | Apparatus and method for use in determining the optical transmission factor or density of a translucent element | |
| JPS57157105A (en) | Device for measuring thickness of thin film | |
| US5023441A (en) | Method to measure the angle of incidence for radiation and a detector to carry out the method | |
| SU1272279A1 (ru) | Свч-датчик дл измерени малых значений диэлектрической проницаемости листовых материалов | |
| SU853414A1 (ru) | Способ измерени коэффициентов пропускани и КОэффициЕНТОВ ОТРАжЕНи ОпТичЕСКиХМАТЕРиАлОВ | |
| ATE222651T1 (de) | Optisches abbildungssystem | |
| RU1802295C (ru) | Способ определени посто нной уголкового отражател светодальномера | |
| RU1816964C (ru) | Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели | |
| JPH0850007A (ja) | 膜厚評価方法および装置 | |
| JPS5850330Y2 (ja) | 光学測定装置 | |
| JPS5813333Y2 (ja) | ピンホ−ル検出装置 | |
| SU1357705A1 (ru) | Устройство дл контрол шероховатости отражающих поверхностей издели |