SU853414A1 - Способ измерени коэффициентов пропускани и КОэффициЕНТОВ ОТРАжЕНи ОпТичЕСКиХМАТЕРиАлОВ - Google Patents

Description

1

Изобретение относитс  к области фотометрии и может быть использовано дл  измерени  поглощающих и отражающих свойств оптических элементов и материалов .

Известен способ измерени  коэффициентов пропускани  оптических материалов и коэффициентов отражени  оптических материалов.

При реализации этого способа световой пучок источника при помощи светоделительного покрыти  раздел ют на измерительный и эталонный пучки, пропускают измерительный пучок через, исследуекый материал или отражают его 15 от исследуемого зеркала, провод т временное разделение пучков, подают их на приемник излучени  и сравнивают выходные сигналы приемника.

Недостатком известного способа «  вл етс  мала  чувствительность.

наиболее близким по технической сущности к изобретению  вл етс  способ измерени  коэффициентов пропускани  и коэффициентов отражени  оптических материалов, заключанидийс  в том, что световой пучок источника пространственно раздел ют на измерительный и эталонный, пропускают измерительный пучок через исследуемый w

оптический материал или отражают его от исследуемого оптического материала , производ т временное разделение пучков, подают их на фотоприемник и сравнивают выходные сигналы фотоприемни а ,

Недостатком способа  вл етс  то, что световой пучок источника два раза проходит через светоделительное покрытие, в результате чего интенсивность излучени  в измерительном и эталонном пучках оказываетс  в два раза меньше, а на приемнике излучени  в четыре раза меньше, чем интенсивность излучени  источника, что приводит к снижению точности измерений и уменьшению диапазона измер емых коэффициентов пропускани  оптических материалов и коэффициентов отражени  зеркал.

Целью изобретени   вл етс  повышение точности и расширение диапазона измерений.

Поставленна  цель достигаетс  тем, что по предложенному способу, при осуществлении которого световой пучок источника пространственно раздел ют на измерительный и этгшонный, пропускают измерительный пучок через оптический материал или отражают его

г оптического материала, провод т временное разделение пучков, подают их на фотоприемник и сравнивают выходные сигналы фотоприемника, пространственное и временное разделение световых пучков производ т одновремено ггутем скан1- ровани  .

Способ реализуетс  следуюашм образом . Оптическое ;- Злучение от источника подают на отражающее покрытие, путем сканировани  отражающим покрытием провод т пространственное и временное разделение светового пучка источника на измерительный и эталонный пучки, пропускают измерительный пучо через исследуе елй материал или отраукают его от исследуемого зеркала, подают оба пучка  а приемник излучени  и сравнивают выходные сигналы приемника .

На чертеже представлен вариант cxeiMbi устройства, на котором может быть реализован предлагаемый способ.

Устройство состоит из источника оптического излучени  1, сканирующего отрал ающего покрыти , выполненного в виде зеркала 2, рефлекторов 3 и 4 измерительного и эталоннс5го пучков соответственно, линзы 5 и приемника излучени  6 «

Устройство работает следующим образ ом.

Световой пучок источника поступает на сканирующее зеркало 2. В момент времени г когда зеркало 2 находитс  в положении, обозначенном на чертеже сплошными лини ми, световой пучок источника 1 отражаетс  зеркалом 2 на рефлектор измерительново пучка 3, и после прдхождени  исследуемого образца 7, фокусируетс  линзой 5 на приемник излучени  6. В момент времени, когда зеркало 2 находитс  в положении, обозначенном на чертеже пунктирными лини ми, светово пучок источника отражаетс  зеркалом 2 на рефлектор эталонного пучка 4 и фокусируетс  на приемник -излучени  б, Таким образом, путем сканировани  отражающим покрытием, выполненным в виде зеркала, одновременно производитс  как пространственное, так и временное разделение светового пучка источника на измерительный и эталонный пучки. При этом интенсивность измерительного и эталонного пучков и интенсивность излучени  на приемнике равны интенсивности источника излучени  1, Отсюда следует, что интенсивность измерительного и эталонного

пучков оказываетс  в два раза выше, а интенсивность излучени  на приемнике - в четыре раза выше, чем при реализации известного способа. Сравнива  выходные сигналы приемника излучени  б от измерительного и эталонного пучков определ ют коэффициент пропускани  исследуемого образца 7. При этом за счет того, что интенсивность измерительного и эталонного пучков сравнительно высока, обеспечиваетс  высока  точность и широкий диапазон измере (НИЙ .

При измерении коэффициентов отражени  зеркал, исследуег ъгй образец 7 убирают, а вместо рефлектора измерительного пучка 3 устанавливают исследуемое зеркало.

Таким образом, одновременное пространственное и временное разделение светового пучка источника, проводимое путем сканировани  отражающим покрытием, позвол ет увеличить в два раза интенсивность излучени  в измерительном и эталонном пучках и в четыре раза интенсивность излучени  на приемнике, что существенно повышает точность и расшир ет диапазон измерений . Кроме того, установка дл  реализации способа оказываетс  более проста , что дает экономический эффект.

Claims (2)

1.Волькенштейн А.А., Кириллов А.Ф., Кувалдин Э.В. Импульсна  фотометри . Л.. Машиностроение, 1975, с. 151-157.

2.Патент ФРГ № 1281170, кл. G 0.1 J 1/04, опублик. 1968 (прототип).