RU1816964C - Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели - Google Patents
Устройство дл измерени шероховатости поверхности изделиInfo
- Publication number
- RU1816964C RU1816964C SU4945251A RU1816964C RU 1816964 C RU1816964 C RU 1816964C SU 4945251 A SU4945251 A SU 4945251A RU 1816964 C RU1816964 C RU 1816964C
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- axis
- base
- hole
- reflector
- lens
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к оптическим измери- тел м шероховатости поверхности различных изделий, и предназначено дл использовани в металлургической, машиностроительной и электронной промышленности . Цель изобретени - повышение точности и расширение диапазона измерени за счет многократного отражени от исследуемого участка поверхности и организации отражени во взаимно противоположных направлени х.Устройство содержит осветительную систему, котора создает пучок света , направленный к поверхности основани с отверстием, две оптические системы. На оси .оптической системы расположено зеркало , которое направл ет излучение, сканируемое модул тором с пластиной, на фотодиод. В зазоре между светодиодом и фотоприемником проходит пластина таким образом, что фотодиод всегда фиксирует только одну составл ющую отраженного потока . Система измерени сигналов состоит из усилител , блока разделени сигналов, который св зан с фотоприемником, блоком делени и показывающим устройством. 3 з.п. ф-лы, 4 ил. ел
Description
Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к оптическим измери- тел м шероховатости поверхности различных изделий, и предназначено дл использовани в металлургической, машиностроительной и электронной промышленности .
Цель изобретени - повышение точности и расширение диапазона измер емой величины.
На фиг.1 изображена блок-схема устройства; на фиг.2 - оптическа система с плоским отражателем - зеркало с отверстием; на фиг.З - оптическа система с отражателем - конической формы с отверстием; на
фиг.4 - оптическа система с отражателем - формы призмы.
Устройство содержит осветительную систему 1, котора создает пучок света, направленный под углом 20-30° к поверхности основани 2 с отверстием, две оптические системы 3 и 4. Оптическа система 3 расположена на оси падающего луча от осветител 1, на фокусном рассто нии линзы 5 от точки падени луча на поверхность . Друга оптическа система 4 расположена между точкой падени излучени на фокусном рассто нии линзы 5 по направлению зеркальногоотражени . На оси оптической системы 4 расположено зеркало 6,
о
которое направл ет излучение, сканируемое модул тором 7 с пластиной 8 на фотоприемник 9. Ключевое устройство состоит из светодиода 10 с фотоприемником 11, в зазоре между которыми проходит пластина 8 модул тора 7, таким образом, что фотоприемник 9 всегда фиксирует только одну составл ющую отраженного потока, либо зеркальную, либо диффузную составл ющую отраженного потока. Блок обработки электрического сигнала состоит из усилител 12, блока разделени сигналов диффузной и зеркальной составл ющей отраженного потока 13, который св зан с фотоприемником 11, блоком делени сигналов 14 и показывающим устройством 15. Отражатели оптических систем 3, 4 могут быть выполнены в виде плоского зеркала с отверстием 16, в виде усеченного конуса с отверстием в вершине 17, в виде призмы крышки 18.
Устройство работает следующим образом .
Осветитель 1 (лазер) дает тонкий пучок света, который падает под углом в к нормали основани через отверстие основани 2 на исследуемую поверхность. Этот луч проходит через отверстие оптической системы 3, так что ось этой оптической системы совпадает с направлением падающего луча. Зеркальна составл юща отраженного излучени проходит через отверстие оптической системы 4. Оптическа ось системы 4 совпадает с направлением зеркальной составл ющей отраженного излучени . Диффузна составл юща отраженного излучени вблизи направлени зеркальной составл ющей отражаетс оптической системой 4 обратно, причем отраженный поток лежит в конусе, вершина которого находитс в точке падени луча А, а основанием конуса вл етс отражающа поверхность оптической системы 4. Часть этого диффузного потока после отражени от исследуемой поверхности вновь возвращаетс оптической системой 3 в точку падени излучени . Таким образом между оптическими системами 3 и 4 осуществл етс многократное отражение диффузной составл ющей излучени , проход щего через точку падени луча А. Через отверстие оптической системы 4 проходит зеркальна составл юща отраженного излучени и часть диффузной составл ющей, обусловленной многократными отражени ми между оптическими системами 3, 4 и отражени ми в точке А. Этот поток, обозначим его Фь отража сь от зеркала 6, направл етс на фотоприемник 9. На фотоприемник 9 также
0
5
0
5
0
5
0
5
0
5
направл етс диффузно составл юща отраженного излучени под углом 90° к поверхности , обозначим его Фг. Эта диффузно составл юща обусловлена падающим лучом от осветител 1 и лучами многократного отражени между оптическими системами 3 и 4 в точке А. Потоки Ф) и ф сканируютс цилиндрическим модул тором 7 с двум одинаковыми пр моугольными отверсти ми на боковой поверхности. Ось модул тора 7 проходит через поверхность фотоприемника 9. Модул тор 7 имеет пластину 8, котора проходит в зазоре ключевого устройства между светодиодом 10 и фотоприемником 11. Пластина 8 расположена таким образом, что ключевое устройство срабатывает в моменты, когда отверстие модул торе 7 сканирует либо поток Ф| , либо Фг. Сигнал от фотоприемника 9 усиливаетс усилителем 12 и подаетс на блок разделени сигналов 13, который св зан с фотоприемником 11 ключевого устройства. Усиленные и разделенные сигналы, характеризующие потоки Ф1 и Фг, далее подаютс на блок делени сигналов 14, а с него на показывающее устройство 15. Так как поток Ф)ехр(-КРа ), а поток Фг , то их отношение Ф1/Ф2 KRa2exp(KRa ) зависит от величины параметра шероховатости, где К- посто нный коэффициент, завис щий от длины волны падающего излучени , Ra - среднее арифметическое отклонение абсолютных значений ординат микропрофил от базовой линии. Показани регистрирующе- го устройства завис т от величины Ra. Если оптические системы 3 и 4 реализованы в виде плоского зеркала с отверстием, то когерентные составл ющие светового потока многократно отраженные между этими оптическими системами не перемешиваютс . Если оптические системы 3 и 4 реализованы в виде уголкового конического отражател , то когерентные составл ющие светового потока многократно отраженные между этими оптическими системами перемешиваютс . Если оптические системы 3 и 4 реализованы одна в виде призмы-крышки, то когерентные составл ющие светового потока, многократно отраженные между этими системами, перемешиваютс .
Claims (4)
- Формула изобретени 1. Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели , содержащее основание , в котором выполнено отверстие, осветительную систему, укрепленную на основании и предназначенную дл формировани светового потока под углом а «20 - 30° к плоскости основани , оптическую приемную систему зеркальной и диффузной составл ющей отраженного светового потока, состо щую из цилиндрического модул тора , фотоприем ни ка, который расположен на оси вращени цилиндрического модул тора , и параболического зеркала, установлен- ного по ходу зеркальной составл ющей отраженного светового потока, оптическа ось которого образует с плоскостью основани угол / а I 2, а его вершина равноудалена от оси цилиндрического модул тора и от плоскости основани , источник света, дополнительный фотоприемник и блок обработки сигнала, отличающеес тем, что, с целью повышени точности и расширени диапазона измере- ки , оно снабжено двум оптическими системами , кажда из которых содержит линзу и отражатель, одна из которых расположена на оси падающего луча от осветительной системы, друга расположена по ходу эер-калькой составл ющей отраженного светового потока, а оптические оси линз совпадают с ос ми, соответственно падающего и зеркально отраженного светового потока.
- 2. Устройство по п.1, о т л и ч а ю щ е е- с тем, что отражатель выполнен в виде плоского зеркала с отверстием, а ось отверсти совпадает с осью линзы.
- 3. Устройство по п. 1, о т л и ч а ю щ е е- с тем, что отражатель выполнен в виде уголкового конического отражател с отверстием в вершине, а ось отверсти совпадает с осью линзы и с осью конуса.
- 4. Устройство по п.1. о т л и ч а ю щ е е- с тем, что отражатель выполнен в виде призмы-крыши, развернутой большим основанием к линзе, а ось, проход ща через центры большой и малой граней призмы, совладает с осью линзы.Фиг.1
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4945251 RU1816964C (ru) | 1991-06-13 | 1991-06-13 | Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU4945251 RU1816964C (ru) | 1991-06-13 | 1991-06-13 | Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
RU1816964C true RU1816964C (ru) | 1993-05-23 |
Family
ID=21579171
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU4945251 RU1816964C (ru) | 1991-06-13 | 1991-06-13 | Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
RU (1) | RU1816964C (ru) |
-
1991
- 1991-06-13 RU SU4945251 patent/RU1816964C/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Кучин А.А., Обрадович К.П. Оптические приборы дл определени шероховатости поверхности. Л.: Машиностроение, 1981, с. 173-174. Авторское свидетельство СССР № 1427180, кл. G 01 В 21/30, 1988., * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4079252A (en) | Photoelectric grating displacement measuring apparatus | |
US5703692A (en) | Lens scatterometer system employing source light beam scanning means | |
US3954339A (en) | Angular sensor | |
JPS5483854A (en) | Measuring device | |
FI78355B (fi) | Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden. | |
US3552857A (en) | Optical device for the determination of the spacing of an object and its angular deviation relative to an initial position | |
RU1816964C (ru) | Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели | |
US3002419A (en) | Alignment theodolite | |
EP0547054A1 (en) | Optical measuring system | |
US4105335A (en) | Interferometric optical phase discrimination apparatus | |
KR880014364A (ko) | 무기질원소 농도 측정장치 | |
US4115008A (en) | Displacement measuring apparatus | |
JPS61140802A (ja) | 裏面反射光を防止した光波干渉装置 | |
JP3040131B2 (ja) | 球体表面の傷検査装置 | |
WO1981003073A1 (en) | Process and apparatus for measurement of physical parameters of moving matter by means of coherent light source,by heterodyne detection of light reflected or scattered by moving matter | |
SU868348A1 (ru) | Устройство дл контрол шероховатости поверхности | |
SU1688165A1 (ru) | Устройство дл определени параметров вращени вала | |
SU1249324A1 (ru) | Устройство дл контрол шероховатости поверхности | |
SU1619014A1 (ru) | Интерферометр | |
SU1399644A1 (ru) | Устройство дл многократных отражений в двухлучевом интерферометре | |
SU1416865A1 (ru) | Устройство дл контрол малых угловых смещений | |
SU1651106A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров колебаний объекта | |
SU1649262A1 (ru) | Интерференционный преобразователь угла | |
SU1312377A1 (ru) | Устройство дл измерени перемещений | |
GB2061548A (en) | Optical Position Sensor |