RU1816964C - Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели - Google Patents

Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели

Info

Publication number
RU1816964C
RU1816964C SU4945251A RU1816964C RU 1816964 C RU1816964 C RU 1816964C SU 4945251 A SU4945251 A SU 4945251A RU 1816964 C RU1816964 C RU 1816964C
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
axis
base
hole
reflector
lens
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
Валерий Константинович Белов
Абдулазиз Каналудинович Басиров
Вячеслав Георгиевич Бочкарев
Original Assignee
Магнитогорский горно-металлургический институт им.Г.И.Носова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Магнитогорский горно-металлургический институт им.Г.И.Носова filed Critical Магнитогорский горно-металлургический институт им.Г.И.Носова
Priority to SU4945251 priority Critical patent/RU1816964C/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU1816964C publication Critical patent/RU1816964C/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к оптическим измери- тел м шероховатости поверхности различных изделий, и предназначено дл  использовани  в металлургической, машиностроительной и электронной промышленности . Цель изобретени  - повышение точности и расширение диапазона измерени  за счет многократного отражени  от исследуемого участка поверхности и организации отражени  во взаимно противоположных направлени х.Устройство содержит осветительную систему, котора  создает пучок света , направленный к поверхности основани  с отверстием, две оптические системы. На оси .оптической системы расположено зеркало , которое направл ет излучение, сканируемое модул тором с пластиной, на фотодиод. В зазоре между светодиодом и фотоприемником проходит пластина таким образом, что фотодиод всегда фиксирует только одну составл ющую отраженного потока . Система измерени  сигналов состоит из усилител , блока разделени  сигналов, который св зан с фотоприемником, блоком делени  и показывающим устройством. 3 з.п. ф-лы, 4 ил. ел

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике, а именно к оптическим измери- тел м шероховатости поверхности различных изделий, и предназначено дл  использовани  в металлургической, машиностроительной и электронной промышленности .
Цель изобретени  - повышение точности и расширение диапазона измер емой величины.
На фиг.1 изображена блок-схема устройства; на фиг.2 - оптическа  система с плоским отражателем - зеркало с отверстием; на фиг.З - оптическа  система с отражателем - конической формы с отверстием; на
фиг.4 - оптическа  система с отражателем - формы призмы.
Устройство содержит осветительную систему 1, котора  создает пучок света, направленный под углом 20-30° к поверхности основани  2 с отверстием, две оптические системы 3 и 4. Оптическа  система 3 расположена на оси падающего луча от осветител  1, на фокусном рассто нии линзы 5 от точки падени  луча на поверхность . Друга  оптическа  система 4 расположена между точкой падени  излучени  на фокусном рассто нии линзы 5 по направлению зеркальногоотражени . На оси оптической системы 4 расположено зеркало 6,
о
которое направл ет излучение, сканируемое модул тором 7 с пластиной 8 на фотоприемник 9. Ключевое устройство состоит из светодиода 10 с фотоприемником 11, в зазоре между которыми проходит пластина 8 модул тора 7, таким образом, что фотоприемник 9 всегда фиксирует только одну составл ющую отраженного потока, либо зеркальную, либо диффузную составл ющую отраженного потока. Блок обработки электрического сигнала состоит из усилител  12, блока разделени  сигналов диффузной и зеркальной составл ющей отраженного потока 13, который св зан с фотоприемником 11, блоком делени  сигналов 14 и показывающим устройством 15. Отражатели оптических систем 3, 4 могут быть выполнены в виде плоского зеркала с отверстием 16, в виде усеченного конуса с отверстием в вершине 17, в виде призмы крышки 18.
Устройство работает следующим образом .
Осветитель 1 (лазер) дает тонкий пучок света, который падает под углом в к нормали основани  через отверстие основани  2 на исследуемую поверхность. Этот луч проходит через отверстие оптической системы 3, так что ось этой оптической системы совпадает с направлением падающего луча. Зеркальна  составл юща  отраженного излучени  проходит через отверстие оптической системы 4. Оптическа  ось системы 4 совпадает с направлением зеркальной составл ющей отраженного излучени . Диффузна  составл юща  отраженного излучени  вблизи направлени  зеркальной составл ющей отражаетс  оптической системой 4 обратно, причем отраженный поток лежит в конусе, вершина которого находитс  в точке падени  луча А, а основанием конуса  вл етс  отражающа  поверхность оптической системы 4. Часть этого диффузного потока после отражени  от исследуемой поверхности вновь возвращаетс  оптической системой 3 в точку падени  излучени . Таким образом между оптическими системами 3 и 4 осуществл етс  многократное отражение диффузной составл ющей излучени , проход щего через точку падени  луча А. Через отверстие оптической системы 4 проходит зеркальна  составл юща  отраженного излучени  и часть диффузной составл ющей, обусловленной многократными отражени ми между оптическими системами 3, 4 и отражени ми в точке А. Этот поток, обозначим его Фь отража сь от зеркала 6, направл етс  на фотоприемник 9. На фотоприемник 9 также
0
5
0
5
0
5
0
5
0
5
направл етс  диффузно составл юща  отраженного излучени  под углом 90° к поверхности , обозначим его Фг. Эта диффузно составл юща  обусловлена падающим лучом от осветител  1 и лучами многократного отражени  между оптическими системами 3 и 4 в точке А. Потоки Ф) и ф сканируютс  цилиндрическим модул тором 7 с двум  одинаковыми пр моугольными отверсти ми на боковой поверхности. Ось модул тора 7 проходит через поверхность фотоприемника 9. Модул тор 7 имеет пластину 8, котора  проходит в зазоре ключевого устройства между светодиодом 10 и фотоприемником 11. Пластина 8 расположена таким образом, что ключевое устройство срабатывает в моменты, когда отверстие модул торе 7 сканирует либо поток Ф| , либо Фг. Сигнал от фотоприемника 9 усиливаетс  усилителем 12 и подаетс  на блок разделени  сигналов 13, который св зан с фотоприемником 11 ключевого устройства. Усиленные и разделенные сигналы, характеризующие потоки Ф1 и Фг, далее подаютс  на блок делени  сигналов 14, а с него на показывающее устройство 15. Так как поток Ф)ехр(-КРа ), а поток Фг , то их отношение Ф1/Ф2 KRa2exp(KRa ) зависит от величины параметра шероховатости, где К- посто нный коэффициент, завис щий от длины волны падающего излучени , Ra - среднее арифметическое отклонение абсолютных значений ординат микропрофил  от базовой линии. Показани  регистрирующе- го устройства завис т от величины Ra. Если оптические системы 3 и 4 реализованы в виде плоского зеркала с отверстием, то когерентные составл ющие светового потока многократно отраженные между этими оптическими системами не перемешиваютс . Если оптические системы 3 и 4 реализованы в виде уголкового конического отражател , то когерентные составл ющие светового потока многократно отраженные между этими оптическими системами перемешиваютс . Если оптические системы 3 и 4 реализованы одна в виде призмы-крышки, то когерентные составл ющие светового потока, многократно отраженные между этими системами, перемешиваютс .

Claims (4)

  1. Формула изобретени  1. Устройство дл  измерени  шероховатости поверхности издели , содержащее основание , в котором выполнено отверстие, осветительную систему, укрепленную на основании и предназначенную дл  формировани  светового потока под углом а «20 - 30° к плоскости основани , оптическую приемную систему зеркальной и диффузной составл ющей отраженного светового потока, состо щую из цилиндрического модул тора , фотоприем ни ка, который расположен на оси вращени  цилиндрического модул тора , и параболического зеркала, установлен- ного по ходу зеркальной составл ющей отраженного светового потока, оптическа  ось которого образует с плоскостью основани  угол / а I 2, а его вершина равноудалена от оси цилиндрического модул тора и от плоскости основани , источник света, дополнительный фотоприемник и блок обработки сигнала, отличающеес  тем, что, с целью повышени  точности и расширени  диапазона измере- ки , оно снабжено двум  оптическими системами , кажда  из которых содержит линзу и отражатель, одна из которых расположена на оси падающего луча от осветительной системы, друга  расположена по ходу эер-
    калькой составл ющей отраженного светового потока, а оптические оси линз совпадают с ос ми, соответственно падающего и зеркально отраженного светового потока.
  2. 2. Устройство по п.1, о т л и ч а ю щ е е- с   тем, что отражатель выполнен в виде плоского зеркала с отверстием, а ось отверсти  совпадает с осью линзы.
  3. 3. Устройство по п. 1, о т л и ч а ю щ е е- с   тем, что отражатель выполнен в виде уголкового конического отражател  с отверстием в вершине, а ось отверсти  совпадает с осью линзы и с осью конуса.
  4. 4. Устройство по п.1. о т л и ч а ю щ е е- с   тем, что отражатель выполнен в виде призмы-крыши, развернутой большим основанием к линзе, а ось, проход ща  через центры большой и малой граней призмы, совладает с осью линзы.
    Фиг.1
SU4945251 1991-06-13 1991-06-13 Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели RU1816964C (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4945251 RU1816964C (ru) 1991-06-13 1991-06-13 Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4945251 RU1816964C (ru) 1991-06-13 1991-06-13 Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU1816964C true RU1816964C (ru) 1993-05-23

Family

ID=21579171

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU4945251 RU1816964C (ru) 1991-06-13 1991-06-13 Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU1816964C (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Кучин А.А., Обрадович К.П. Оптические приборы дл определени шероховатости поверхности. Л.: Машиностроение, 1981, с. 173-174. Авторское свидетельство СССР № 1427180, кл. G 01 В 21/30, 1988., *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4079252A (en) Photoelectric grating displacement measuring apparatus
US5703692A (en) Lens scatterometer system employing source light beam scanning means
US3954339A (en) Angular sensor
JPS5483854A (en) Measuring device
FI78355B (fi) Metod foer maetning av glans och apparatur foer tillaempning av metoden.
US3552857A (en) Optical device for the determination of the spacing of an object and its angular deviation relative to an initial position
RU1816964C (ru) Устройство дл измерени шероховатости поверхности издели
US3002419A (en) Alignment theodolite
EP0547054A1 (en) Optical measuring system
US4105335A (en) Interferometric optical phase discrimination apparatus
KR880014364A (ko) 무기질원소 농도 측정장치
US4115008A (en) Displacement measuring apparatus
JPS61140802A (ja) 裏面反射光を防止した光波干渉装置
JP3040131B2 (ja) 球体表面の傷検査装置
WO1981003073A1 (en) Process and apparatus for measurement of physical parameters of moving matter by means of coherent light source,by heterodyne detection of light reflected or scattered by moving matter
SU868348A1 (ru) Устройство дл контрол шероховатости поверхности
SU1688165A1 (ru) Устройство дл определени параметров вращени вала
SU1249324A1 (ru) Устройство дл контрол шероховатости поверхности
SU1619014A1 (ru) Интерферометр
SU1399644A1 (ru) Устройство дл многократных отражений в двухлучевом интерферометре
SU1416865A1 (ru) Устройство дл контрол малых угловых смещений
SU1651106A1 (ru) Устройство дл измерени параметров колебаний объекта
SU1649262A1 (ru) Интерференционный преобразователь угла
SU1312377A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений
GB2061548A (en) Optical Position Sensor