SU741041A1 - Интерферометр типа майкельсона дл измерени криволинейных поверхностей - Google Patents

Интерферометр типа майкельсона дл измерени криволинейных поверхностей Download PDF

Info

Publication number
SU741041A1
SU741041A1 SU782669223A SU2669223A SU741041A1 SU 741041 A1 SU741041 A1 SU 741041A1 SU 782669223 A SU782669223 A SU 782669223A SU 2669223 A SU2669223 A SU 2669223A SU 741041 A1 SU741041 A1 SU 741041A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
michelson
measuring
type interferometer
curvilinear surfaces
superimposed
Prior art date
Application number
SU782669223A
Other languages
English (en)
Inventor
Григорий Борисович Кайнер
Александр Вульфович Ляховский
Original Assignee
Бюро Взаимозаменяемости В Металлообрабатывающей Промышленности
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Бюро Взаимозаменяемости В Металлообрабатывающей Промышленности filed Critical Бюро Взаимозаменяемости В Металлообрабатывающей Промышленности
Priority to SU782669223A priority Critical patent/SU741041A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU741041A1 publication Critical patent/SU741041A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относитс  к области контрольно-измерительной техники, а именно к интерференционным измерени м криволинейных поверхностей, и может быть использовано, например, дл  измерени  радиусов кривизны, дл  контрол  формы поверхности, дл  измерени  длины образующей поверхности и т.д. Известно интерференционное устрой ство дл  измерени  радиусов выпуклых неполных цилиндрических и сферических поверхностей, содержащее прозрач ную установочную призму с определенным двугранным углом, контактирующую с измер емой поверхностью в двух точ ках 1 . Известное устройство не обеспечивает высокой точности измерени . Наиболее близким по технической сущности к изобретению  вл етс  интерферометр .типа Майкельсона дл  измерени  криволинейных поверхностей, измерительна  ветвь которого включает элемент, предназначенный .цл  наложени  на измер емую поверхность и .выполненный в виде специальных маленьких зеркал, наклеиваемых на измер емую поверхность в нескольких контрольных точках 2. Недостатком известного интерферометра  вл етс  то, что он позвол ет произвести лишь дискретные измерени , поскольку они провод тс  лишь в нескольких контрольных точках, что снижает точность измерени . Целью изобретени   вл етс  повышение точности измерени . Указанна  цель достигаетс  тем, что элемент, предказначенный дл  наложени  на измер емую поверхность, выполнен в виде гибкого световода с аттестованной длиной, На фиг. 1 изображена оптическа  схема интерферометра типа Майкельсона дл  измерени  криволинейных поверхностей; на фиг. 2 - то же, в процессе контрол . Интерферометр содержит (фиг. 1) осветительную систему 1, светоделительный кубик 2 с зеркальной гранью 3, образующей референтное зеркало, измерительную ветвь, включающую элемент , предназначенный дл  наложени  на измер емую поверхность (фиг. 2) и выполненный в виде гибкого световода 4 с отражательным торцом 5, оптическую систему (окул р 6), предназначенную дл  образовани  в плоскости изображени  интерференционной картины .
Работает описываемый интерферометр следующим образом.
Гибкий световод 4 накладываетс  на измер емую поверхность 7 (фиг. 2) Крепление световода 4 к поверхности 7 детали может осуществл тьс  различными известными способами, например наклеиванием, прижатием механическими прижимами и т.п. При наложении на измер емую поверхность 7 детали световод 4 изгибаетс  соответственно прфилю поверхности 7 детали. Следствием изгиба  вл етс  изменение ойтической длины световода (как это видно на фиг. 2) и, соответственно, изменение (смещение) интерференционной картины, наблюдаемой через оптическую систему 6, по сравнению с интерференционной картиной,наблюдаемой при пр молинейном световоде (фиг. 1) По изменению интерференционной картины , соответствующей изменению оптической длины световода, и по известной геометрической длине его вычисл ют требуемый размер, например радиус кривизны детали.
Выполнение в описываемом интерферометре элемента, вход щего в измерительную ветвь и предназначенного дл  наложени  на измер емую поверхность , в виде гибкого световода позвол ет осуществить непрерывное измерение в отличие от дискретных.измерений осуществл емых в отдельных контрольных точках, что позвол ет nf высить точность измерени .

Claims (2)

  1. Формула изобретени 
    Интерферометр типа Майкельсона дл  измерени  криволинейных поверхностей , измерительна  ветвь которог включает элемент, предназначенный дл  наложени  на измер емую поверхность , отличающийс   тем что, с целью повышени  точности измерени , элемент, предназначенный дл  наложени  на измер емую поверхность , выполнен в виде гибкого световода с аттестованной длиной. Источники информации,прин тые во внимание при экспертизе
    1,Авторское свидетельство СССР № 408141, кл. G 01 В 11/24, 1971.
  2. 2.Патент США № 4022532, кл. 356-109, 1977 (прототип).
SU782669223A 1978-10-03 1978-10-03 Интерферометр типа майкельсона дл измерени криволинейных поверхностей SU741041A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782669223A SU741041A1 (ru) 1978-10-03 1978-10-03 Интерферометр типа майкельсона дл измерени криволинейных поверхностей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU782669223A SU741041A1 (ru) 1978-10-03 1978-10-03 Интерферометр типа майкельсона дл измерени криволинейных поверхностей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU741041A1 true SU741041A1 (ru) 1980-06-15

Family

ID=20787352

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU782669223A SU741041A1 (ru) 1978-10-03 1978-10-03 Интерферометр типа майкельсона дл измерени криволинейных поверхностей

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU741041A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2793074C1 (ru) * 2022-11-25 2023-03-28 Диана Маратовна Хайретдинова Устройство для определения фактической кривизны стенки резервуара

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2793074C1 (ru) * 2022-11-25 2023-03-28 Диана Маратовна Хайретдинова Устройство для определения фактической кривизны стенки резервуара

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100225923B1 (ko) 이상 회절 간섭계
SU741041A1 (ru) Интерферометр типа майкельсона дл измерени криволинейных поверхностей
EP0502162B1 (en) Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface
US4917498A (en) Arrangement for testing grazing hyperboloids and similar reflective solid bodies for shape deviations
JPS60225008A (ja) 円筒面を光学的に試験する方法および装置
SU750273A1 (ru) Микроинтерферометр дл контрол шероховатости поверхностей
US3519337A (en) Internal reading means,chiefly for ophthalmometers
Bhattacharya et al. Finite fringe moire deflectometry for the measurement of radius of curvature: an alternative approach
SU823846A2 (ru) Двухлучевой интерферометр дл измере-Ни лиНЕйНыХ пЕРЕМЕщЕНий
SU974115A1 (ru) Устройство дл контрол цилиндрических линз
SU1044969A1 (ru) Способ измерени профил оптических поверхностей
SU1620826A1 (ru) Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени
JPH03156305A (ja) 非球面形状測定装置
SU1762118A1 (ru) Интерферометрический способ контрол детали
SU1037066A1 (ru) Способ измерени угла поворота издели
SU1776989A1 (ru) Датчик угла скручивания
SU1603189A1 (ru) Устройство дл измерени перемещений объекта
RU2054620C1 (ru) Способ измерения углов двугранных отражателей
RU2154256C2 (ru) Интерференционный способ измерений относительных перемещений диффузно отражающих объектов
SU832326A1 (ru) Устройство дл измерени деформацийОб'ЕКТА
SU1128115A1 (ru) Способ контрол радиусов сфер большой кривизны
SU966491A1 (ru) Устройство дл измерени линейных размеров и формы элементов на плоских объектах с дифракционными тестовыми структурами
Saxena et al. Low cost method for subarcsecond testing of a right angle prism
SU1308829A1 (ru) Способ определени толщины кристаллической пластины
SU729439A1 (ru) Способ измерени радиуса кривизны цилиндрической поверхности