SU1620826A1 - Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени - Google Patents

Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени Download PDF

Info

Publication number
SU1620826A1
SU1620826A1 SU894651368A SU4651368A SU1620826A1 SU 1620826 A1 SU1620826 A1 SU 1620826A1 SU 894651368 A SU894651368 A SU 894651368A SU 4651368 A SU4651368 A SU 4651368A SU 1620826 A1 SU1620826 A1 SU 1620826A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
hole
holes
diffraction
image
length
Prior art date
Application number
SU894651368A
Other languages
English (en)
Inventor
Виктор Николаевич Ильин
Евгений Владимирович Галушко
Original Assignee
Институт электроники АН БССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт электроники АН БССР filed Critical Институт электроники АН БССР
Priority to SU894651368A priority Critical patent/SU1620826A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1620826A1 publication Critical patent/SU1620826A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано при измерении диаметра отверстий. Целью изобретени   вл етс  повышение точности за счет исключени  ошибок, св занных с вли нием на регистрируемые параметры длины отверсти , и повышение информативности путем определени  длины отверсти . Освещают контролируемое и эталонное отверсти . Формируют действительное изображение эталонного отверсти . Формируют дифракционное изображение от входной плоскости контролируемого отверсти  и действительное изображение от его выходной плоскости, сравнивают действительные изображени  контролируемого и эталонного отверстий , фиксируют координату эталонного отверсти , принимают ее за начало отсчета, перемещают эталонное отверстие вдоль пучка , формируют его дифракционные изображени  и сравнивают их с дифракционным изображением контролируемого отверсти , добиваютс  совпадени  этих изображений, при совпадении фиксируют координату эталонного отверсти , принимают ее за окончание отсчета и наход т разность зафиксированных координат, по которой определ ют диаметр отверсти  и его длину. 2 с.п. ф-лы, 1 ил. (Л

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано при измерении диаметра отверстий.
Целью изобретени   вл етс  повышение точности за счет исключени  ошибок. св занных с вли нием на регистрируемые параметры длины отверсти , и повышение инфopмaтивнocYи путем определени  длины отверсти .
На чертеже изображена оптическа  схема устройства дл  определени  диаметра отверстий.
Устройство содержит лазер 1, оптически св занные коллиматор 2 и первый светоделитель 3, первую призму 4, второй светоделитель 5, оптически св занный с отражателем 6 и первым фотоприемником 7, диафрагму 8, установленную перед входом первого фотоприемника 7, оптически св занные объектив 9 и второй фотоприемник 10, узел 11 креплени  обьекта 12 с контролируемым отверстием, вторую призму 13, установленную между первой призмой 4 и вторым светоделителем 5, диафрагму 14 с эталонным отверстием, установленную между второй призмой 13 и объективом 9, коммутатор 15, установленный между диафрагмой 14 с эталонным отверстием и объективом 9 под углом 45° к его оси. диафрагма 14 с эталонным отверстием механически св зана с отражателем 6 с возможностью совместного перещени , а узел 11 креплени  размещен между первым светоделителем 3 и коммутатором 15.
Способ осуществл ют следующим образом .
Излучение лазера 1 коллимируют коллиматором 2 и дел т первым светоделителем 3
на два пучка: прошедший и отраженный. Отраженным пучком освещают контролируемое отверстие. Прошедший пучок последовательно отражаетс  первой призмой 4 и второй призмой 13. Этим пучком освещают эталонное отверстие и с помощью объектива 9 получают его действительное изображение на втором фотоприемнике 10, Отраженный первым светоделителем 3 пучок излучени  после прохождени  контролируемого отверсти  отражаетс  коммутатором 15, проходит объектив 9 и попадает на второй фотоприемник 10. С помощью фотоприемника 10 регистрируют интенсивность излучени  в дифракционной картине вдоль оси пучка излучени , прошедшего отверстие, и фиксируют координаты трех последовательных центральных минимумов интенсивности излучени  в дифракционной картине. Формируют дифракционное изображение от входной плоскости контролируемого отверсти  и действительное изображение от его выходной плоскости. Действительные изображени  контролируемого и эталонного отверстий сравнивают с помощью коммутатора 15, выполненного с зеркальными участками, чередующимис  с равными им по размеру и форме прозрачными участками. Коммутаци  изображений осуществл етс  вращением коммутатора 15. Фиксируют координату эталонного отверсти , соответствующую его положению при получении действительного изображени , и принимают ее за начало отсчета . Эталонное отверстие перемещают вдоль пучка, вместе с ним перемещаетс  отражатель 6. Отражатель 6 со вторым светоделителем 5 образуют линейный интерферометр Майкельсона. В интерферометр поступает часть излучени  от первой призмы 4, не попавша  на вторую призму 13. Проинтерферировавшее излучение регистрируетс  первым фотоприемником 7, по сигналу с которого определ ют величину совместного перемещени  диафрагмы 14 с эталонным отверстием и отражател  6. При перемещении эталонного отверсти  формируют его дифракционные изображени  и сравнивают их с дифракционным изображением контролируемого отверсти , добиваютс  совпадени  сравниваемых изображений, при совпадении фиксируют координату эталонного отверсти , принимают ее за окончание отсчета и наход т разность зафиксированных координат , по которой определ ют диаметр отверсти . С учетом зафиксированных координат определ ют длину отверсти . Длину отверсти  вычисл ют по формуле
(R ± AR)2/2A(nk + nЈ) ,
где R - радиус отверсти ; Д R - разность радиусов контролируемого и эталонного отверстий; Я - длина волны; пе - полное число минимумов интенсивности в дифракционной картине; rtk - число колец минимумов интенсивности в дифракционной картине контролируемого отверсти .
Диаметр отверсти  вычисл ют по формуле
D - ( nk + nЈ ) ,
где Si - относительна  координата диафрагмы с эталонным отверстием.

Claims (2)

1. Способ определени  диаметра отверстий , заключающийс  в том, что освещают
контролируемое отверстие, регистрируют интенсивность излучени  в дифракционной картине вдоль оси пучка излучени , прошедшего отверстие, фиксируют координаты трех последовательных центральных минимумов интенсивности излучени  в дифракционной картине и определ ют диаметр отверсти  с учетом зафиксированных координат , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности и информативности путем определени  длины отверсти , одновременно с контролируемым освещают эталонное отверстие, получают его действительное изображение, после освещени  отверстий формируют дифракционное
изображение от входной плоскости контролируемого отверсти  и действительное изобра- жение от его выходной плоскости, сравнивают действительные изображени  контролируемого и эталонного отверстий,
фиксируют координату эталонного отверсти , принимают ее за начало отсчета, перемещают эталонное отверстие вдоль пучка, формируют его дифракционные изображени  и сравнивают их с дифракционным изображением контролируемого отверсти , добиваютс  совпадени  этих изображений, при совпадении фиксируют координату эталонного отверсти , принимают ее за окончание отсчета и наход т разность зафиксированных
координат, по которой определ ют длину отверсти .
2. Устройство дл  определени  диаметра отверстий, содержащее лазер, оптически св занные коллиматор и первый светоделитель,
5 первую призму, второй светоделитель, оптически св занный с отражателем и первым фотоприемником , диафрагму, установленную перед входом первого фотоприемника, оптически св занные объектив и второй фотоприемник и узел креплени  объекта с контролируемым отверстием, отличающее- с   тем, что, с целью повышени  точности и информативности путем определени  длины отверсти , оно снабжено второй призмой , установленной между первой призмой и вторым светоделителем, диафрагмой с эталонным отверстием, установленной
между второй призмой и объективом, коммутатором , установленным между диафрагмой с эталонным отверстием и объективом под углом 45° к его оси, диафрагма с эталонным отверстием механически св зана с отражателем с возможностью совместного перемещени , а узел креплени  размещен между первым светоделителем и коммутатором.
ю
75
SU894651368A 1989-02-17 1989-02-17 Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени SU1620826A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894651368A SU1620826A1 (ru) 1989-02-17 1989-02-17 Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894651368A SU1620826A1 (ru) 1989-02-17 1989-02-17 Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1620826A1 true SU1620826A1 (ru) 1991-01-15

Family

ID=21429135

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894651368A SU1620826A1 (ru) 1989-02-17 1989-02-17 Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1620826A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР Ns 1413415, кл. G01 В 11/12, 1988. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4743117A (en) Device for optically measuring aspheric surface
US4620089A (en) Automatic optical focusing device
US4361402A (en) Apparatus for determining the refractive-index profile of optical fibers
JPS6347606A (ja) 非球面形状測定装置
JPS6413403A (en) Interference length measuring apparatus
US3552857A (en) Optical device for the determination of the spacing of an object and its angular deviation relative to an initial position
SU1620826A1 (ru) Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени
JPH0256604B2 (ru)
US4487503A (en) Refractometer using the limiting angle method
CN216900213U (zh) 一种飞点扫描白光光谱分光干涉仪
SU1518669A1 (ru) Устройство дл измерени углов призм
JP2592254B2 (ja) 変位量及び変位速度の測定装置
JPH05500853A (ja) ガラス管壁の厚さを決定するための方法及び装置
JPS57199909A (en) Distance measuring device
SU1379610A1 (ru) Сферометр
JPS6242327Y2 (ru)
US5100227A (en) Translation insensitive keratometer using moire deflectometry
SU1762118A1 (ru) Интерферометрический способ контрол детали
SU410243A1 (ru)
SU953451A2 (ru) Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей
SU1441194A1 (ru) Устройство дл контрол состо ни поверхности
SU1530962A1 (ru) Устройство дл контрол центрировани оптических деталей
SU1486776A1 (ru) Устройство измерения линейных размеров деталей
SU1413415A1 (ru) Способ определени диаметра отверстий
SU1551991A1 (ru) Устройство дл контрол профил криволинейной поверхности