SU1620826A1 - Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени - Google Patents
Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1620826A1 SU1620826A1 SU894651368A SU4651368A SU1620826A1 SU 1620826 A1 SU1620826 A1 SU 1620826A1 SU 894651368 A SU894651368 A SU 894651368A SU 4651368 A SU4651368 A SU 4651368A SU 1620826 A1 SU1620826 A1 SU 1620826A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- hole
- holes
- diffraction
- image
- length
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано при измерении диаметра отверстий. Целью изобретени вл етс повышение точности за счет исключени ошибок, св занных с вли нием на регистрируемые параметры длины отверсти , и повышение информативности путем определени длины отверсти . Освещают контролируемое и эталонное отверсти . Формируют действительное изображение эталонного отверсти . Формируют дифракционное изображение от входной плоскости контролируемого отверсти и действительное изображение от его выходной плоскости, сравнивают действительные изображени контролируемого и эталонного отверстий , фиксируют координату эталонного отверсти , принимают ее за начало отсчета, перемещают эталонное отверстие вдоль пучка , формируют его дифракционные изображени и сравнивают их с дифракционным изображением контролируемого отверсти , добиваютс совпадени этих изображений, при совпадении фиксируют координату эталонного отверсти , принимают ее за окончание отсчета и наход т разность зафиксированных координат, по которой определ ют диаметр отверсти и его длину. 2 с.п. ф-лы, 1 ил. (Л
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано при измерении диаметра отверстий.
Целью изобретени вл етс повышение точности за счет исключени ошибок. св занных с вли нием на регистрируемые параметры длины отверсти , и повышение инфopмaтивнocYи путем определени длины отверсти .
На чертеже изображена оптическа схема устройства дл определени диаметра отверстий.
Устройство содержит лазер 1, оптически св занные коллиматор 2 и первый светоделитель 3, первую призму 4, второй светоделитель 5, оптически св занный с отражателем 6 и первым фотоприемником 7, диафрагму 8, установленную перед входом первого фотоприемника 7, оптически св занные объектив 9 и второй фотоприемник 10, узел 11 креплени обьекта 12 с контролируемым отверстием, вторую призму 13, установленную между первой призмой 4 и вторым светоделителем 5, диафрагму 14 с эталонным отверстием, установленную между второй призмой 13 и объективом 9, коммутатор 15, установленный между диафрагмой 14 с эталонным отверстием и объективом 9 под углом 45° к его оси. диафрагма 14 с эталонным отверстием механически св зана с отражателем 6 с возможностью совместного перещени , а узел 11 креплени размещен между первым светоделителем 3 и коммутатором 15.
Способ осуществл ют следующим образом .
Излучение лазера 1 коллимируют коллиматором 2 и дел т первым светоделителем 3
на два пучка: прошедший и отраженный. Отраженным пучком освещают контролируемое отверстие. Прошедший пучок последовательно отражаетс первой призмой 4 и второй призмой 13. Этим пучком освещают эталонное отверстие и с помощью объектива 9 получают его действительное изображение на втором фотоприемнике 10, Отраженный первым светоделителем 3 пучок излучени после прохождени контролируемого отверсти отражаетс коммутатором 15, проходит объектив 9 и попадает на второй фотоприемник 10. С помощью фотоприемника 10 регистрируют интенсивность излучени в дифракционной картине вдоль оси пучка излучени , прошедшего отверстие, и фиксируют координаты трех последовательных центральных минимумов интенсивности излучени в дифракционной картине. Формируют дифракционное изображение от входной плоскости контролируемого отверсти и действительное изображение от его выходной плоскости. Действительные изображени контролируемого и эталонного отверстий сравнивают с помощью коммутатора 15, выполненного с зеркальными участками, чередующимис с равными им по размеру и форме прозрачными участками. Коммутаци изображений осуществл етс вращением коммутатора 15. Фиксируют координату эталонного отверсти , соответствующую его положению при получении действительного изображени , и принимают ее за начало отсчета . Эталонное отверстие перемещают вдоль пучка, вместе с ним перемещаетс отражатель 6. Отражатель 6 со вторым светоделителем 5 образуют линейный интерферометр Майкельсона. В интерферометр поступает часть излучени от первой призмы 4, не попавша на вторую призму 13. Проинтерферировавшее излучение регистрируетс первым фотоприемником 7, по сигналу с которого определ ют величину совместного перемещени диафрагмы 14 с эталонным отверстием и отражател 6. При перемещении эталонного отверсти формируют его дифракционные изображени и сравнивают их с дифракционным изображением контролируемого отверсти , добиваютс совпадени сравниваемых изображений, при совпадении фиксируют координату эталонного отверсти , принимают ее за окончание отсчета и наход т разность зафиксированных координат , по которой определ ют диаметр отверсти . С учетом зафиксированных координат определ ют длину отверсти . Длину отверсти вычисл ют по формуле
(R ± AR)2/2A(nk + nЈ) ,
где R - радиус отверсти ; Д R - разность радиусов контролируемого и эталонного отверстий; Я - длина волны; пе - полное число минимумов интенсивности в дифракционной картине; rtk - число колец минимумов интенсивности в дифракционной картине контролируемого отверсти .
Диаметр отверсти вычисл ют по формуле
D - ( nk + nЈ ) ,
где Si - относительна координата диафрагмы с эталонным отверстием.
Claims (2)
1. Способ определени диаметра отверстий , заключающийс в том, что освещают
контролируемое отверстие, регистрируют интенсивность излучени в дифракционной картине вдоль оси пучка излучени , прошедшего отверстие, фиксируют координаты трех последовательных центральных минимумов интенсивности излучени в дифракционной картине и определ ют диаметр отверсти с учетом зафиксированных координат , отличающийс тем, что, с целью повышени точности и информативности путем определени длины отверсти , одновременно с контролируемым освещают эталонное отверстие, получают его действительное изображение, после освещени отверстий формируют дифракционное
изображение от входной плоскости контролируемого отверсти и действительное изобра- жение от его выходной плоскости, сравнивают действительные изображени контролируемого и эталонного отверстий,
фиксируют координату эталонного отверсти , принимают ее за начало отсчета, перемещают эталонное отверстие вдоль пучка, формируют его дифракционные изображени и сравнивают их с дифракционным изображением контролируемого отверсти , добиваютс совпадени этих изображений, при совпадении фиксируют координату эталонного отверсти , принимают ее за окончание отсчета и наход т разность зафиксированных
координат, по которой определ ют длину отверсти .
2. Устройство дл определени диаметра отверстий, содержащее лазер, оптически св занные коллиматор и первый светоделитель,
5 первую призму, второй светоделитель, оптически св занный с отражателем и первым фотоприемником , диафрагму, установленную перед входом первого фотоприемника, оптически св занные объектив и второй фотоприемник и узел креплени объекта с контролируемым отверстием, отличающее- с тем, что, с целью повышени точности и информативности путем определени длины отверсти , оно снабжено второй призмой , установленной между первой призмой и вторым светоделителем, диафрагмой с эталонным отверстием, установленной
между второй призмой и объективом, коммутатором , установленным между диафрагмой с эталонным отверстием и объективом под углом 45° к его оси, диафрагма с эталонным отверстием механически св зана с отражателем с возможностью совместного перемещени , а узел креплени размещен между первым светоделителем и коммутатором.
ю
75
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894651368A SU1620826A1 (ru) | 1989-02-17 | 1989-02-17 | Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894651368A SU1620826A1 (ru) | 1989-02-17 | 1989-02-17 | Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1620826A1 true SU1620826A1 (ru) | 1991-01-15 |
Family
ID=21429135
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894651368A SU1620826A1 (ru) | 1989-02-17 | 1989-02-17 | Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1620826A1 (ru) |
-
1989
- 1989-02-17 SU SU894651368A patent/SU1620826A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР Ns 1413415, кл. G01 В 11/12, 1988. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4743117A (en) | Device for optically measuring aspheric surface | |
US4620089A (en) | Automatic optical focusing device | |
US4361402A (en) | Apparatus for determining the refractive-index profile of optical fibers | |
JPS6347606A (ja) | 非球面形状測定装置 | |
JPS6413403A (en) | Interference length measuring apparatus | |
US3552857A (en) | Optical device for the determination of the spacing of an object and its angular deviation relative to an initial position | |
SU1620826A1 (ru) | Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени | |
JPH0256604B2 (ru) | ||
US4487503A (en) | Refractometer using the limiting angle method | |
CN216900213U (zh) | 一种飞点扫描白光光谱分光干涉仪 | |
SU1518669A1 (ru) | Устройство дл измерени углов призм | |
JP2592254B2 (ja) | 変位量及び変位速度の測定装置 | |
JPH05500853A (ja) | ガラス管壁の厚さを決定するための方法及び装置 | |
JPS57199909A (en) | Distance measuring device | |
SU1379610A1 (ru) | Сферометр | |
JPS6242327Y2 (ru) | ||
US5100227A (en) | Translation insensitive keratometer using moire deflectometry | |
SU1762118A1 (ru) | Интерферометрический способ контрол детали | |
SU410243A1 (ru) | ||
SU953451A2 (ru) | Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей | |
SU1441194A1 (ru) | Устройство дл контрол состо ни поверхности | |
SU1530962A1 (ru) | Устройство дл контрол центрировани оптических деталей | |
SU1486776A1 (ru) | Устройство измерения линейных размеров деталей | |
SU1413415A1 (ru) | Способ определени диаметра отверстий | |
SU1551991A1 (ru) | Устройство дл контрол профил криволинейной поверхности |