<p>Изобретение относится к измерительной технике н может быть использовано в машино- и приборостроении для контроля линейных размеров деталей. Цель изобретения - повышение точности измерений за счет удваива-</p>
<p>51)1486776 А1</p>
<p>1486776</p>
<p>ния расстояния смещения марки и повышение надежности измерений за счет исключения влияния изменения наклона детали. Пучок света от источника 1 освещает марку 3 и падает на светоделитель 4. Отраженный от светоделителя 4 пучок лучей с помощью зеркал 5 и 6 и объектива 7 и прошедший через светоделитель 4 пучок лучей с помощью зеркала 8 и объектива 9 проецируют два изображения марки 3 в совмещенных фокусах объективов 7 и 9 на пересечении их оптических осей. После отражения от поверхности детали два</p>
<p>пучка лучей проходят те же оптические элементы, с помощью которых осуществлялось проецирование изображений марки, и с помощью светоделителя 4 соединяются в один пучок. С помощью линзы 10 строятся два совмещенных изображения марки в плоскости анализа узла 11, При отклонении контролируемого размера от эталонного в плоскости анализа узла 11 строятся два раздельных изображения марки, расстояние между которыми пропорционально отклонению контролируемого размера.</p>
<p>1 ил.</p>
<p>Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано на машино- и приборостроительных заводах для контроля линейных размеров деталей.</p>
<p>Цель изобретения - повышение точности измерений за счет удваивания расстояния смещения марки и повышение надежности измерений за счет исключения влияния изменения наклона детали.</p>
<p>На чертеже изображена оптическая схема устройства.</p>
<p>Устройство содержит последовательно установленные источник 1 света, конденсор 2, марку 3, светоделитель 4, в одной ветви которого установлены отражатели 5,6 и объектив 7, а в другой - отражатель 8 и объ- ί ектив 9, линзу 10 и узел 11 измерения поперечного смещения изображения марки 3.</p>
<p>Устройство работает следующим образом.</p>
<p>Свет источника 1 света с помощью конденсора 2, освещающего марку 3, выходит параллельным пучком и падает на светоделитель 4. Отраженный от светоделителя 4 пучок лучей с помощью зеркал 5 и 6 и объектива 7 и прошедший через светоделитель 4 пучок лучей с помощью зеркала 8 и объектива 9 проецируют два изображения марки в совмещенных фокусах этих объективов в точке М<sub>о</sub>, лежащей на пересечении их оптических осей и при предварительной настройке лежащей на поверхности эталонной детали, которая имеет номинальный линейный размер А<sub>о</sub>.</p>
<p>При дальнейшем прохождении лучей и после их отражения от поверхности</p>
<p>20</p>
<p>25</p>
<p>30</p>
<p>35</p>
<p>40</p>
<p>45</p>
<p>50</p>
<p>55</p>
<p>Р<sub>о</sub> детали два пучка лучей в обратном ходе проходят раздельно те же оптические элементы, с помощью которых осуществлялось проецирование двух изображений марки на поверхность детали, с помощью светоделителя 4 скова соединяются и проходят линзу 10 приемного' канала. В фокальной плоскости линзы 10, совпадающей с плоскостью анализа узла 11, строятся совмещенными два изображения марки в точке Мр, оптически сопряженной с точкой М<sub>о</sub>,</p>
<p>При установке контролируемой детали с линейным размером А<sub>Л</sub> на месте эталонной детали поверхность контролируемой детали смещается относительно первоначального положения поверхности Р<sub>о</sub> эталона на величину ЙА=А<sub>1</sub>-А<sub>0</sub>. При этом центры спроецированных изображений марки смещаются по поверхности контролируемой детали в противоположные стороны в точки и , находящиеся на продолжении оптических осей объективов 7 и 9.</p>
<p>Изображения марки в точках М , к в обратном ходе лучей строятся в точках М!, и М5г плоскости анализа приемного канала. С помощью используемого узла 11 измеряют расстояние С поперечного смещения двух изображений марки М’ и М<sup>(<sub></sup>2</sub> и рассчитывают величину 4 А отклонения линейного размера А<sub>1</sub> контролируемой детали от номинального размера А<sub>о</sub> эталонной по формуле</p>
<p><sup>д</sup> 2ν*6Ϊη:»(’</p>
<p>где V* - линейное увеличение системы</p>
<p>объектив 7 (9) + линза 10.</p>
<p>Таким образом осуществляется работа устройства в режиме измерения</p>
<p>1486776</p>
<p>6</p>
<p>отклонения линейного размера проверяемой детали от номинального размера эталонной детали, а также измерения линейного перемещения поверхности контролируемой детали от первоначаль- ® ного ее положения, отсчитываемого как нулевое.</p>
<p>Устройство можно использовать и для контроля линейных размеров детали в режиме нультиндикатора, при котором устройство устанавливают на каретке другого устройства, которая имеет возможность перемещения и отсчета этого перемещения. При этом режиме работы в случае изменения линейного положения поверхности контролируемой детали и наблюдения раздвоения двух изображений марки в устройстве производят перемещение каретки до тех пор, пока два изображения марки не совместятся друг с другом, и в этот момент отсчитывают величину этого перемещения каретки.</p>
<p>Устройство может быть использова- 25 но для контроля деталей, имеющих поверхности с разными отражающими свойствами: как матовые поверхности, диффузно-рассеивающие падающий на них свет, так и полированные (зеркально <sub>3</sub>θ отражающие). Для деталей с зеркально отражающими поверхностями исключается влияние изменения наклона этих поверхностей на результаты измерени^.</p>
<p>Это достигается благодаря тому, что количество отражателей, которые уста- <sup>35 </sup>новлены в обоих каналах,, проецирующих два изображения марки в плоскость анализа, отличается на единицу. При этом в самом неблагоприятном случае, когда изменение наклона поверхности происходит в направлении, совпадающем</p>
<p>с направлением измерения размера, в приемном канале два изображения марки смещаются одновременно в одну сторону и на одну и ту же величину и поэтому расстояние между двумя изображениями остается неизменным.</p>