SU727469A1 - Способ обработки кристаллов - Google Patents
Способ обработки кристаллов Download PDFInfo
- Publication number
- SU727469A1 SU727469A1 SU782649769A SU2649769A SU727469A1 SU 727469 A1 SU727469 A1 SU 727469A1 SU 782649769 A SU782649769 A SU 782649769A SU 2649769 A SU2649769 A SU 2649769A SU 727469 A1 SU727469 A1 SU 727469A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- crystal
- mol
- processing
- melt
- temperature
- Prior art date
Links
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
Description
(54) СПОСОБ ОБРАБОТКИ КРИСТАЛЛОВ
Изобретение относитс к оезласти обработки кристаллов, а именно, к способам химической обработки кристаллов . Известен способ обработки кристаллов , включающий травление кристалла в расплавах при температуре 1100-1200°С 1. Недостаток способа заключаетс в том, что одновременно с процессом травлени осуществл етс п роцесс перекристаллизации вещества, что снижает качество обработки. Наиболее близким к изобретению п технической сущности и достигаемому результату вл етс способ обработки кристаллов, включающий травление кристалла в расплаве смеси веществ/ содержащей окислы металлов 2. Недостаток известного способа заключаетс в по влении сколов и ми трещин в местах контакта кристалла затвердевшими капл ми смеси веществ обусловленных различным тепловым расширением :ме.си веществ и кристал ла,что снижает качество обработки Целью изобретени вл етс повышение качества обработки. Поставленна це.ль достигаетс те что в способе обработки кристаллов, включающем травление кристалла в расплаве смеси веществ, содержащей окислы металлов, травление осуществл ют с изотермической выдержкой в течение 0,01-0,1 часа в области температур на ниже температуры плавлени кристалла и на выше температуры плавлени смеси веществ, ai в качестве смеси веществ используют компоненты, вход щие в состав обра батываемого кристалла, при избытке одного из компонентов,в количестве 5-20% мол. Способ обработки кристаллов обеспечивает услови , близкие к услови м выращивани кристаллов, что обеспечивает равномерность обработки поверхности кристалла и исключает возможность ее загр знени или повреждени . На чертеже изображена диаграмма системы трех кристаллических сое-. динений А, В, С. Состав и температура плавлени соединений А, В, С, определ етс точками 1, 3 и 5. Крива 1-2-3-4-5 вл етс линией ликвидуса системы.
Способ обработки кристаллов осуществл ют следующим образом.
При погружении кристалла в распЯав СмеСйвеществ , вход щих в состав обрабатьшаемого кристалла, при температуре на 1-5°С ниже температуры плавлени кристалла и на 1-5 С выше температуры плавлени смеси веществ, происходит растворение части кристалла, так как он находитс в неравновесных услови х с расплавом .
Так как расплав не содержит иных компонентов кроме вход щих в соста кристалла, то обрабатываема поверхность не загр зн етс посторонними примес ми в процессе травлени .
Равномерность травлени обеспечиваетс изотермической вьвдержкой кристалла в расплаве в течение 0,01-0,1 часа.
Скорость травлени поверхности в глубину составл ет 1-3 мм в минуту , а продолжительность выдержки кристалла в расплаве зависит от ТОЛЩИНЫснимаемого сло .
Обработка кристалла состава А может проводитьс в области температур и составов расплава, смеси компонентов А и С, лежащей внутри замкнутой кривой 1-2-3-4-5-7-1. Область составов итемператур расплава дл обработки кристалла С ограничиваетс замкнутой кривой 6-2-3-4-5-6, дл обработки кристалла В существуют две области составов и температур расплава, ограниченные кривыми 8-2-3-8 и 3-4-9-3.
Диапазон составов и температур расплавов дл обработки конкретных кристаллов определ етс диаграммой состо ний конкретной системы. Пример.
Пластинка граната УЗ Alg О (температура плавлени 1930°С) размером 40x15x15 мм состава 65,5% мол. AlgOg + 37,5 мол. V Од при температу{ е 1830с помещена в расплав состава 58% мол. +.42% мол. и выдержана при этой температуре в .течение двух минут. Поверхность Пластинки селективно протравлена на глубину 2,3 мм со всех сторон, поJryyeiHd полированна , поверхность, на которой четко вы вл ютс дислокации по оси {110) и (1П) в видо Ямок травлени . П р и м е р 2.
Пластинка кристалла ортоалюмината иттри . VAlOjy состава 50% мол. V-iOg- 50% мол. размером 15x10x10 мм помещена в расплав состава 75% мол. AlgOj f 25% мол. при температуре 1830° ,j; и вьщержана при зтой температуре в, течение 0,5 минут. Поверхность пластинки протравлена на глубину 0,5 мм со всех сторон с удалением всех дефектов (царапин,. микротрёщин и т. п.) механической обработки. П р и м е, р 3.
Кристалл КзНЖМоОд), размером 5 5x5x5 мм состава 35,7,% мол. KjO + 7,15% мол. Нб12Оз + 57% мол. МоО (температура плавлени ) помещен в расплав состава 15,7% мол. + 7,15% мол. + 77,15% мол. МоО при температуре 865с и выдержан при этой температуре в течение 1 минуты. В результате все грани кристалла протравлены на глубину 0,6 мм с вы влением дефектов структуры в виде мок травлени на полированной поверхлости.
Claims (2)
1. Патент США № 3878005, кл. 156-2, 1975.
50
2. Авторское свидетельство СССР № 231336, кл. В 24 в 9/16, 1966.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782649769A SU727469A1 (ru) | 1978-07-26 | 1978-07-26 | Способ обработки кристаллов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782649769A SU727469A1 (ru) | 1978-07-26 | 1978-07-26 | Способ обработки кристаллов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU727469A1 true SU727469A1 (ru) | 1980-04-15 |
Family
ID=20779283
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782649769A SU727469A1 (ru) | 1978-07-26 | 1978-07-26 | Способ обработки кристаллов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU727469A1 (ru) |
-
1978
- 1978-07-26 SU SU782649769A patent/SU727469A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Thompson et al. | Xi. The origin of fatigue fracture in copper | |
US2984897A (en) | Fabrication of semiconductor devices | |
DE2537464A1 (de) | Verfahren zur entfernung spezifischer kristallbaufehler aus halbleiterscheiben | |
JPS58209126A (ja) | 半導体ウエハからの不純物除去方法 | |
SU727469A1 (ru) | Способ обработки кристаллов | |
US3998653A (en) | Method for cleaning semiconductor devices | |
US4900363A (en) | Method and liquid preparation for removing residues of auxiliary sawing materials from wafers | |
US3480474A (en) | Method for preparing semiconductor crystals | |
US3619309A (en) | Treatment of aluminum oxide surfaces with molten vanadium pentoxide | |
US4028137A (en) | Process for the quantitative removal of residual melts from crucibles | |
FR2321326A1 (fr) | Procede de fabrication en continu de monocristaux preformes | |
US4244753A (en) | Method for purification of II-VI crystals | |
Dunn et al. | On the thermal etching of silicon iron | |
JPS60191094A (ja) | Bνルツボの前処理方法 | |
SU1738878A1 (ru) | Состав дл травлени монокристаллов германата свинца Р @ G @ О @ | |
US4372808A (en) | Process for removing a liquid phase epitaxial layer from a wafer | |
SU1067082A1 (ru) | Состав расплава дл хромоалитировани деталей из неметаллических материалов | |
JPS55121644A (en) | Method of fabricating semiconductor substrate | |
RU1778610C (ru) | Способ цветного травлени титана и его сплавов | |
SU927863A1 (ru) | Способ химической полировки подложек галлий-гадолиниевого граната | |
SU1530360A1 (ru) | Способ бесфлюсовой пайки деталей из алюмини или покрытых слоем алюмини | |
SU1213074A1 (ru) | Состав сол ной ванны дл нагрева под закалку изделий из быстрорежущей стали | |
RU1815156C (ru) | Способ обработки изделий | |
JPS5612735A (en) | Peeling of monocrystalline wafer | |
JPH0714755A (ja) | シリコン半導体基板及びその製造方法 |