SU669202A1 - Устройство дл измерени уровн сыпучих материалов - Google Patents

Устройство дл измерени уровн сыпучих материалов

Info

Publication number
SU669202A1
SU669202A1 SU762419259A SU2419259A SU669202A1 SU 669202 A1 SU669202 A1 SU 669202A1 SU 762419259 A SU762419259 A SU 762419259A SU 2419259 A SU2419259 A SU 2419259A SU 669202 A1 SU669202 A1 SU 669202A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
light
cosv
video
optical system
time intervals
Prior art date
Application number
SU762419259A
Other languages
English (en)
Inventor
Константин Лонгинович Куликовский
Виталий Яковлевич Купер
Александр Иванович Шимаров
Original Assignee
Куйбышевский политехнический институт им. В.В.Куйбышева
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Куйбышевский политехнический институт им. В.В.Куйбышева filed Critical Куйбышевский политехнический институт им. В.В.Куйбышева
Priority to SU762419259A priority Critical patent/SU669202A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU669202A1 publication Critical patent/SU669202A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

1
Изобретение относитс  к фотоэлектрический уровнемерам и может найти применение дл  измерени  уровн  сыпучих материалов.
Известны фотоэлектрические уровнемеры, содержаЕЦие оптическое устройство, расположенное над урсжнем контролируемого материала, при этом оптическое устройство выполнено в виде камеры-обскуры с экраном, на котором в р д закреплены светочувствительные элементы 1.
Этим уровнемерам свойственны низка  точность , узкий даапазон измерени  и ограниченна  область применени .
близким по технической сущности к изобретению  вл етс  устройство дл  электрооптического нзм€ре19   рассто ний, которое содержит передатчик, излучающий пучок модулированного света, оптическую систему и фотоп{жемтк; в котором свет, отраженный от контролируемой поверхности, сравниваетс  по фазе с иэпучеийьт {2}. Это устройство имеет высокую точность измерени , однако, оно может быть использовано дл  локацин контролируемой поверхности с дистанцией не ближе 20 м, что обусловлено малым временем прохождени  световыми
2
лучами указанных рассто ний и сложностью аппературной реализации,подобней устройств, предназначенных дл  локации на более коротких дистанци х . Кроме того, известное устройство не позвол ет измер ть углы наклона контролируемой поверхности.
Целью изобретени   вл етс  pacumpewie диапазона измерени , повышение точности и одновременное измерение углов наклона контролируемой поверхности.
Достигаетс  это тем, что устройство снабжено дополнительной оптической системой, котора  вместе с первой формирует на своем выходе три плоских веерообразных световых луча, образующих между собой известные углы, двум  ска5 нисторами, установленными в фокальной плоскости объектива фотоприемника параллельно друг другу и симиктрнчно относительно плоскости,проход щей через оптическую ось и перпендикул рной к световым лучам, двум  блоками выделв0 ми  видеосигналов, блоком измерени  временньк интервалов, кодирующим устройством, вьь числительным устройством и регистрирующим устройством, при зтом каждый из сканисторов
через блок выделени  видеосигнана подсоединен к соответствующим входам блока измерени  временных интервалов, выход которого подключен к последовательно соединенным кодирующему, вычислительному и регистрирующему устройствам .
На фиг. 1 представлена блок-схема предлагаемого фотоэлектрического устройства дл  одновременного измерени  уровн  и углов накло на поверхности сыпучих материалов; на фиг,2 - схема фотоприемника; на фиг.З - схема опта ,ческой системы; фиг. 4, 5. 6, 7 - иллюстрирую : работу фотоэлектрического устройства.
Устройство содержит источник света I, оптическую систему 2, котора  формирует три плеских веерообразных световых пуча 3, образуюац между собой известные углы а, фотоприемник 4, а также блоки 5 и 6 вь делеш1  видеосигналов, блок 7 измерени  временных интервалов, кодирующее устройство 8, вычислительное устройство 9 и регистрирующее устройство 10,
Система 2 и фотоприемник 4 расположены таким образом, что их оптические оси лежат в плокости , перпендикул рной плоскости горизонта и световым лучам 3,
Фотоприемник 4 (см. фи, 2) образован двум  позиционно-чувствительными фотоприборами II и П , например сканисторами, которые размещены в фокальной гшоскости обьектнвгг; фотоприемника 4 параллельно друг другу и симметрично относительно плоскости, проход щей через оптическую ось и перпендикул рной к веерообразным световым 3.
Сканисторы II и 11 через блоки вьщелени  видеосигналов 5 и 6 соединены с последовательно вклгоченнырли блоком 7 измерени  временных интервалов, кодирующим 8, вычислительным 9 и регистрирующим 10 устройствами.
Поверх сканисторов п и И установл:ень5 оптические ппаншалбы 12и 12, которые выполнены из тонких стекл нных волокон, расположенных перпендикул рно к их поверхност Мо Вследствие того, что свет в планшайбе распростран етс  вдоль отдельных волокон, она обладает свойством однозначно передавать изображение с одной своей поверхности на другую. Планихайбы 12 и 12 уменьшают фоновую засветку сканисторов 11и повышают контраст изображени  световых следов.
Оптическа  система 2 содержит последовательно расположенные конденсор 13, два оптических клина 14, три цилинтфические линзы 15- 17 с апертурными диафрагмами 18. Клинь  1.4 расположены в плоскости перпендикул рной к оптической оси конденсора 13, симметрично относительной этой оси таким образом, что рассто ние между их вершинами, которые обращены друг к другу, составл ет 0,2-0,3 дааметра конденсора 13. Оптические оси цилиндрических
линз 15 и 16 расгюложены в одной плоскости с оптаческой осью цилиндрвдеской линзы 17, совпадающей с осьш конденсора 13, и образуют с ней равные )тльг о.
Фотоэлектрическое устройство дл  измереims уровн  сыпучих материалов работает следующим образом.
Световые лучи 3 попадают на поверхность материала 19, уровень которого измер ют, образу  -фи узкие световьге полосы - следы 20 (см, фиг. 4). При углах наклона поверхности материала равных нулю, световые следы 20 представл ют собой равноотсто щие пр мые, лежаоще в плоскости XOZ. При наличии углов а п j наjcfiOKa поверхности материала относительно осей ОХ и OZ, соответственно, параллельность следов 20, а также их изображений 20 нарушаетс , измер ютс  также и рассто шм С,к (2,(см.фиг. 5). йзменег-ше уровн  Н контролируемого материала ведет к йзмеиеш ю положени  изображени  следов на сканисторах 11 и п. Фиг, 6 иллюстрирует изменение положени  Зк следа среднего л}Ча ш сканисторах 11 , 11 в зависимоети от уровн  Н материала 19 (точки rj, Г2, г )
Под действием света ка сканисторах 11 и И создаетс  рельеф возбуждени  светом и разделенных р-п переходами неосновных носителей зарйда. При сканировании, которое происходит путем изменени  пилообразного напр х ени , приложенного к сканистору от О до Е (схема питаш{  на чертеже не показана), скашгрующа  благодар  нелинейным свойствам переходов {гмеет Н-апертуру. Видеосигнал, стражающш распределегие освещенносп на сканисторах П и il снимаетс  с соответствующих блоков выделени  видеосигнала 5 и 6 и подаетс  в блок 7 измереш1  временных интервалов.
На фиг„ 7 (а, 6) представлены осщшлограммы видеосигнала со сканисторов 11 и 11 гфи отсзтствии углов наклона (, ) контролируемой поверхности сыпучего материала на фиг, 7 ( в, г) - при наличии углов наклона (. у). Как видно из фиг. 7 информацию об уровне Н материала в бункере и углахУи 7 наклош его поверхности содержат интервалы времеш г.

Claims (2)

  1. HanHtfflc угла V наклона гюверхности материала (относительно оси ОХ) приводит к изменению соотношени  интервалов времени TI и т| мелсду видеоимпульсами с каждого из скаиисторов 11, а наличие угла j (относительно оси OZ) приводит к неравенству соответствующих временных интервалов между видеоимпульсами со сканисторов 1Г и И, т. е. Г|т т/и Г2 Гг/ из гюдоби  треугольников ДГ|О{ О2 и (см, фиг. 6) следует, что рассто ние Ьз от центра Oi оптической системы 2 до поврехности контролируемого материала св зано с положением Sxi светового следа на сканисторе соотношением , )iV рассто ние между оптическими ос ми системы 2 и фотоприемника 4; f - фокусное рассто ние оптической систе мы фотоприемника 4; - временной интервал между началом о счета и вторым видеоимпульсом; скорость сканировани ; i 1, 2, 3 ... По Тогда уровень Н контролируемого материала определ етс  выражением Н hi - k:.,f , (2) где HI - рассто ние от центра Oj оптической системы 2 до нижней отметки (точки Г)) уровн . Световой след на плоскости XOZ в систем координат XYZ определ етс  уравнением Zi iK-sinj)((a)sV- tq :-3inV-cos --y (sinv-t j :-c sv-cob)o (3) Данное уравнение описьтает все три световые плоскости 3, если положить, Е +а, Е 0 и Е -о, соответственно, а , гдёЕ - угол ме ду световой плоскостью и осью OY. Дл  получени  координат х.(, Xj, Xg, х/, Х Хз точек пересечени  световых плоскостей 3 с сканисторами 11 и 11 в уравнение (3) необхо димо представить значени  z ±d: , А,, (Sin Vi.osV-cos у) - d- ЦХ smjr Г oDS V- sinV-cosr , 4 , dtcjdsiп - fi i5ttiV-tqdi-co5V-co }) COSV-ij7 i-SfnV-C05y ((Q Ji-to -co&-f-, C05 .,-5/пУ№5 xJ V4 11 l),((;SVCosy)-(.. Хз . ccsV- of-smV-ccsj(4 Рассто ни  Axi, Axj, , Дхз между точ 1г/(. //II ftII ками х и Xj, Х2 и Хз, X, и Х2, Х2 и Хз,соот ветственно, св заны с временными интервалам между видеоимпульсами соотношени ми г; дх;/у .х г;.йх;/у/ t2.uX /Vx(5) С учетом выражени  (4) выражение (5) имет вид lqJ-(k,.cc5A. dcosV sin I f V -cosV cosV-tgc & nV-toST-) , iq()sy-Ki/-a sv-sr/i) Vx №$ 5 (.со, j s/n V- cos i-) (b CCtSJ -C -COSV- 5/П J ) V.-ro5WcosV-t ot-srnV-c«j -) {((ft cCS -d-cosV-sin) 2 Vx-a)sV(cosV 4S nV-wsi) Решение системы (6) дает следующие форулы дл  расчета углов наклона v и т поверхости контролируемого материала 1 fii vl / m 2 (f) c (f-A)c)SV Чс1 A t / г г - г | 3 ,(). причем угол V имеет тот же знак, что и величина А, а угол 7 имеет тот же знак, что и величина С. Описываемое устройство позвол ет одновременно измер ть уровень и углы наклона поверхности сыпучих материалов во взрывоопасных средах с высокой точностью и большом динамическом диапазоне, не чувствительно к изменению давлени , температуры, влажности и газового состава в зоне измерений; измерительную информацию получают в виде временных интервалов между видеоимпульсами, которые легко преобразуютс  в цифровой код дл  ввода в вьиислнтельное устройство. Кроме того, временные интервалы между импульсами , мало завис т от параметров самих импульсов (амплитуды, длительности и крутизны фронтов), что обеспечивает высокую точность измерений. Формула изобретени  Устройство дл  измерени  уровн  сыпучих материалов, содержащее источ{тк светового излучени , оптическую систему и фотоприемиик, отличающеес  тем, что, с целью расширени  диапазона измерени , повышени  точности и одновременного измерени  углов наклона контролируемой поверхности, оно снабжено дополнительной оптической системой, котора  вместе с первой формирует иа своем вьрсоде три плоских веерообразных световых луча, образующих между собой известные углы, двум  сканисторами , установленными в фокальной плоскости объектива фотоприемника параллельно друг дру гу и симметрично относительно плоскости, проход щей через оптическую ось и перпендикул рЛ ной световым лучам, двум  блоками выделени  видеосигналов, блоком измерени  временных интервалов, кодирующим устройством, вычислительиым устройством и регистрирующим устройством , при этом каждый из сканисторов через блок вьщелеии  видеосигнала подсоединен к соответствующим входам блока измерени  временных интервалов, выход которого подключен к последовательно соединенным кодирующему, вычислительному и регистрирующему устройствам. Источники информации, прин тые во внима1ше при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР N 295988, кл. G 01 F 23/22, 1969.
  2. 2. Авторское свидетельство СССР N 233227, кл. G 01 С, 1968.
    фиг.3
    ipue.f
    //////////////////7/// фиг.6
    J,
SU762419259A 1976-11-10 1976-11-10 Устройство дл измерени уровн сыпучих материалов SU669202A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762419259A SU669202A1 (ru) 1976-11-10 1976-11-10 Устройство дл измерени уровн сыпучих материалов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762419259A SU669202A1 (ru) 1976-11-10 1976-11-10 Устройство дл измерени уровн сыпучих материалов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU669202A1 true SU669202A1 (ru) 1979-06-25

Family

ID=20682513

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762419259A SU669202A1 (ru) 1976-11-10 1976-11-10 Устройство дл измерени уровн сыпучих материалов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU669202A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2567435C1 (ru) * 2014-08-26 2015-11-10 Анатолий Георгиевич Малюга Способ контроля уровня тампонажных растворов
RU2661314C1 (ru) * 2017-05-16 2018-07-13 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники" (ТУСУР) Способ контроля параметров сыпучих материалов в резервуарах

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2567435C1 (ru) * 2014-08-26 2015-11-10 Анатолий Георгиевич Малюга Способ контроля уровня тампонажных растворов
RU2661314C1 (ru) * 2017-05-16 2018-07-13 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники" (ТУСУР) Способ контроля параметров сыпучих материалов в резервуарах

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5371951A (en) Two-axis inclinometer
US4071297A (en) Method and apparatus for photoelectrically determining the position of at least one image focus plane
WO2021056668A1 (zh) 一种动态距离测量系统及方法
US3856400A (en) Apparatus for no-contact measurement having a multi-colored grating
WO2021056666A1 (zh) 一种发射器及距离测量系统
JPS6324115A (ja) 磁気ヘツドの浮上量測定方法及びその装置
WO2021056667A1 (zh) 一种发射器及距离测量系统
US4758720A (en) Method and means for measuring guidance errors at one or more points along the length of a displacement-measuring system
SU669202A1 (ru) Устройство дл измерени уровн сыпучих материалов
EP0502162B1 (en) Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface
RU2248093C1 (ru) Оптико-электронный преобразователь положение-код
JPH07110216A (ja) レーザ光を利用したスペックルパターンによる上下および横移動量の測定方法ならびにその装置
SE7407984L (sv) Forfarande och anordning for fotoelektrisk bestemning av leget av atminstone ett skerpeplan av en bild
RU164082U1 (ru) Устройство контроля линейных размеров трехмерных объектов
SU659901A1 (ru) Устройство дл измерени углов наклона
JP3031929B2 (ja) 測距方法および補助投光装置
SU1362925A1 (ru) Фотоэлектрический преобразователь
JPS62138715A (ja) 変位の測定方法および装置
SU1049735A1 (ru) Способ измерени угловых перемещений объекта в двух взаимно перпендикул рных плоскост х и устройство дл его осуществлени
JPS62138709A (ja) 変位の測定方法および装置
JPS57190202A (en) Device for reading optical scale
US3566353A (en) Precision cathode ray tube scanner with reference grid network
RU2073202C1 (ru) Отсчетная система и ее варианты
SU781563A1 (ru) Оптический датчик перемещений объекта
SU1035419A1 (ru) Оптико-электронное устройство дл измерени линейных перемещений