SU669202A1 - Устройство дл измерени уровн сыпучих материалов - Google Patents
Устройство дл измерени уровн сыпучих материаловInfo
- Publication number
- SU669202A1 SU669202A1 SU762419259A SU2419259A SU669202A1 SU 669202 A1 SU669202 A1 SU 669202A1 SU 762419259 A SU762419259 A SU 762419259A SU 2419259 A SU2419259 A SU 2419259A SU 669202 A1 SU669202 A1 SU 669202A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- light
- cosv
- video
- optical system
- time intervals
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к фотоэлектрический уровнемерам и может найти применение дл измерени уровн сыпучих материалов.
Известны фотоэлектрические уровнемеры, содержаЕЦие оптическое устройство, расположенное над урсжнем контролируемого материала, при этом оптическое устройство выполнено в виде камеры-обскуры с экраном, на котором в р д закреплены светочувствительные элементы 1.
Этим уровнемерам свойственны низка точность , узкий даапазон измерени и ограниченна область применени .
близким по технической сущности к изобретению вл етс устройство дл электрооптического нзм€ре19 рассто ний, которое содержит передатчик, излучающий пучок модулированного света, оптическую систему и фотоп{жемтк; в котором свет, отраженный от контролируемой поверхности, сравниваетс по фазе с иэпучеийьт {2}. Это устройство имеет высокую точность измерени , однако, оно может быть использовано дл локацин контролируемой поверхности с дистанцией не ближе 20 м, что обусловлено малым временем прохождени световыми
2
лучами указанных рассто ний и сложностью аппературной реализации,подобней устройств, предназначенных дл локации на более коротких дистанци х . Кроме того, известное устройство не позвол ет измер ть углы наклона контролируемой поверхности.
Целью изобретени вл етс pacumpewie диапазона измерени , повышение точности и одновременное измерение углов наклона контролируемой поверхности.
Достигаетс это тем, что устройство снабжено дополнительной оптической системой, котора вместе с первой формирует на своем выходе три плоских веерообразных световых луча, образующих между собой известные углы, двум ска5 нисторами, установленными в фокальной плоскости объектива фотоприемника параллельно друг другу и симиктрнчно относительно плоскости,проход щей через оптическую ось и перпендикул рной к световым лучам, двум блоками выделв0 ми видеосигналов, блоком измерени временньк интервалов, кодирующим устройством, вьь числительным устройством и регистрирующим устройством, при зтом каждый из сканисторов
через блок выделени видеосигнана подсоединен к соответствующим входам блока измерени временных интервалов, выход которого подключен к последовательно соединенным кодирующему, вычислительному и регистрирующему устройствам .
На фиг. 1 представлена блок-схема предлагаемого фотоэлектрического устройства дл одновременного измерени уровн и углов накло на поверхности сыпучих материалов; на фиг,2 - схема фотоприемника; на фиг.З - схема опта ,ческой системы; фиг. 4, 5. 6, 7 - иллюстрирую : работу фотоэлектрического устройства.
Устройство содержит источник света I, оптическую систему 2, котора формирует три плеских веерообразных световых пуча 3, образуюац между собой известные углы а, фотоприемник 4, а также блоки 5 и 6 вь делеш1 видеосигналов, блок 7 измерени временных интервалов, кодирующее устройство 8, вычислительное устройство 9 и регистрирующее устройство 10,
Система 2 и фотоприемник 4 расположены таким образом, что их оптические оси лежат в плокости , перпендикул рной плоскости горизонта и световым лучам 3,
Фотоприемник 4 (см. фи, 2) образован двум позиционно-чувствительными фотоприборами II и П , например сканисторами, которые размещены в фокальной гшоскости обьектнвгг; фотоприемника 4 параллельно друг другу и симметрично относительно плоскости, проход щей через оптическую ось и перпендикул рной к веерообразным световым 3.
Сканисторы II и 11 через блоки вьщелени видеосигналов 5 и 6 соединены с последовательно вклгоченнырли блоком 7 измерени временных интервалов, кодирующим 8, вычислительным 9 и регистрирующим 10 устройствами.
Поверх сканисторов п и И установл:ень5 оптические ппаншалбы 12и 12, которые выполнены из тонких стекл нных волокон, расположенных перпендикул рно к их поверхност Мо Вследствие того, что свет в планшайбе распростран етс вдоль отдельных волокон, она обладает свойством однозначно передавать изображение с одной своей поверхности на другую. Планихайбы 12 и 12 уменьшают фоновую засветку сканисторов 11и повышают контраст изображени световых следов.
Оптическа система 2 содержит последовательно расположенные конденсор 13, два оптических клина 14, три цилинтфические линзы 15- 17 с апертурными диафрагмами 18. Клинь 1.4 расположены в плоскости перпендикул рной к оптической оси конденсора 13, симметрично относительной этой оси таким образом, что рассто ние между их вершинами, которые обращены друг к другу, составл ет 0,2-0,3 дааметра конденсора 13. Оптические оси цилиндрических
линз 15 и 16 расгюложены в одной плоскости с оптаческой осью цилиндрвдеской линзы 17, совпадающей с осьш конденсора 13, и образуют с ней равные )тльг о.
Фотоэлектрическое устройство дл измереims уровн сыпучих материалов работает следующим образом.
Световые лучи 3 попадают на поверхность материала 19, уровень которого измер ют, образу -фи узкие световьге полосы - следы 20 (см, фиг. 4). При углах наклона поверхности материала равных нулю, световые следы 20 представл ют собой равноотсто щие пр мые, лежаоще в плоскости XOZ. При наличии углов а п j наjcfiOKa поверхности материала относительно осей ОХ и OZ, соответственно, параллельность следов 20, а также их изображений 20 нарушаетс , измер ютс также и рассто шм С,к (2,(см.фиг. 5). йзменег-ше уровн Н контролируемого материала ведет к йзмеиеш ю положени изображени следов на сканисторах 11 и п. Фиг, 6 иллюстрирует изменение положени Зк следа среднего л}Ча ш сканисторах 11 , 11 в зависимоети от уровн Н материала 19 (точки rj, Г2, г )
Под действием света ка сканисторах 11 и И создаетс рельеф возбуждени светом и разделенных р-п переходами неосновных носителей зарйда. При сканировании, которое происходит путем изменени пилообразного напр х ени , приложенного к сканистору от О до Е (схема питаш{ на чертеже не показана), скашгрующа благодар нелинейным свойствам переходов {гмеет Н-апертуру. Видеосигнал, стражающш распределегие освещенносп на сканисторах П и il снимаетс с соответствующих блоков выделени видеосигнала 5 и 6 и подаетс в блок 7 измереш1 временных интервалов.
На фиг„ 7 (а, 6) представлены осщшлограммы видеосигнала со сканисторов 11 и 11 гфи отсзтствии углов наклона (, ) контролируемой поверхности сыпучего материала на фиг, 7 ( в, г) - при наличии углов наклона (. у). Как видно из фиг. 7 информацию об уровне Н материала в бункере и углахУи 7 наклош его поверхности содержат интервалы времеш г.
Claims (2)
- HanHtfflc угла V наклона гюверхности материала (относительно оси ОХ) приводит к изменению соотношени интервалов времени TI и т| мелсду видеоимпульсами с каждого из скаиисторов 11, а наличие угла j (относительно оси OZ) приводит к неравенству соответствующих временных интервалов между видеоимпульсами со сканисторов 1Г и И, т. е. Г|т т/и Г2 Гг/ из гюдоби треугольников ДГ|О{ О2 и (см, фиг. 6) следует, что рассто ние Ьз от центра Oi оптической системы 2 до поврехности контролируемого материала св зано с положением Sxi светового следа на сканисторе соотношением , )iV рассто ние между оптическими ос ми системы 2 и фотоприемника 4; f - фокусное рассто ние оптической систе мы фотоприемника 4; - временной интервал между началом о счета и вторым видеоимпульсом; скорость сканировани ; i 1, 2, 3 ... По Тогда уровень Н контролируемого материала определ етс выражением Н hi - k:.,f , (2) где HI - рассто ние от центра Oj оптической системы 2 до нижней отметки (точки Г)) уровн . Световой след на плоскости XOZ в систем координат XYZ определ етс уравнением Zi iK-sinj)((a)sV- tq :-3inV-cos --y (sinv-t j :-c sv-cob)o (3) Данное уравнение описьтает все три световые плоскости 3, если положить, Е +а, Е 0 и Е -о, соответственно, а , гдёЕ - угол ме ду световой плоскостью и осью OY. Дл получени координат х.(, Xj, Xg, х/, Х Хз точек пересечени световых плоскостей 3 с сканисторами 11 и 11 в уравнение (3) необхо димо представить значени z ±d: , А,, (Sin Vi.osV-cos у) - d- ЦХ smjr Г oDS V- sinV-cosr , 4 , dtcjdsiп - fi i5ttiV-tqdi-co5V-co }) COSV-ij7 i-SfnV-C05y ((Q Ji-to -co&-f-, C05 .,-5/пУ№5 xJ V4 11 l),((;SVCosy)-(.. Хз . ccsV- of-smV-ccsj(4 Рассто ни Axi, Axj, , Дхз между точ 1г/(. //II ftII ками х и Xj, Х2 и Хз, X, и Х2, Х2 и Хз,соот ветственно, св заны с временными интервалам между видеоимпульсами соотношени ми г; дх;/у .х г;.йх;/у/ t2.uX /Vx(5) С учетом выражени (4) выражение (5) имет вид lqJ-(k,.cc5A. dcosV sin I f V -cosV cosV-tgc & nV-toST-) , iq()sy-Ki/-a sv-sr/i) Vx №$ 5 (.со, j s/n V- cos i-) (b CCtSJ -C -COSV- 5/П J ) V.-ro5WcosV-t ot-srnV-c«j -) {((ft cCS -d-cosV-sin) 2 Vx-a)sV(cosV 4S nV-wsi) Решение системы (6) дает следующие форулы дл расчета углов наклона v и т поверхости контролируемого материала 1 fii vl / m 2 (f) c (f-A)c)SV Чс1 A t / г г - г | 3 ,(). причем угол V имеет тот же знак, что и величина А, а угол 7 имеет тот же знак, что и величина С. Описываемое устройство позвол ет одновременно измер ть уровень и углы наклона поверхности сыпучих материалов во взрывоопасных средах с высокой точностью и большом динамическом диапазоне, не чувствительно к изменению давлени , температуры, влажности и газового состава в зоне измерений; измерительную информацию получают в виде временных интервалов между видеоимпульсами, которые легко преобразуютс в цифровой код дл ввода в вьиислнтельное устройство. Кроме того, временные интервалы между импульсами , мало завис т от параметров самих импульсов (амплитуды, длительности и крутизны фронтов), что обеспечивает высокую точность измерений. Формула изобретени Устройство дл измерени уровн сыпучих материалов, содержащее источ{тк светового излучени , оптическую систему и фотоприемиик, отличающеес тем, что, с целью расширени диапазона измерени , повышени точности и одновременного измерени углов наклона контролируемой поверхности, оно снабжено дополнительной оптической системой, котора вместе с первой формирует иа своем вьрсоде три плоских веерообразных световых луча, образующих между собой известные углы, двум сканисторами , установленными в фокальной плоскости объектива фотоприемника параллельно друг дру гу и симметрично относительно плоскости, проход щей через оптическую ось и перпендикул рЛ ной световым лучам, двум блоками выделени видеосигналов, блоком измерени временных интервалов, кодирующим устройством, вычислительиым устройством и регистрирующим устройством , при этом каждый из сканисторов через блок вьщелеии видеосигнала подсоединен к соответствующим входам блока измерени временных интервалов, выход которого подключен к последовательно соединенным кодирующему, вычислительному и регистрирующему устройствам. Источники информации, прин тые во внима1ше при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР N 295988, кл. G 01 F 23/22, 1969.
- 2. Авторское свидетельство СССР N 233227, кл. G 01 С, 1968.фиг.3ipue.f//////////////////7/// фиг.6J,
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762419259A SU669202A1 (ru) | 1976-11-10 | 1976-11-10 | Устройство дл измерени уровн сыпучих материалов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU762419259A SU669202A1 (ru) | 1976-11-10 | 1976-11-10 | Устройство дл измерени уровн сыпучих материалов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU669202A1 true SU669202A1 (ru) | 1979-06-25 |
Family
ID=20682513
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU762419259A SU669202A1 (ru) | 1976-11-10 | 1976-11-10 | Устройство дл измерени уровн сыпучих материалов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU669202A1 (ru) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2567435C1 (ru) * | 2014-08-26 | 2015-11-10 | Анатолий Георгиевич Малюга | Способ контроля уровня тампонажных растворов |
RU2661314C1 (ru) * | 2017-05-16 | 2018-07-13 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники" (ТУСУР) | Способ контроля параметров сыпучих материалов в резервуарах |
-
1976
- 1976-11-10 SU SU762419259A patent/SU669202A1/ru active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2567435C1 (ru) * | 2014-08-26 | 2015-11-10 | Анатолий Георгиевич Малюга | Способ контроля уровня тампонажных растворов |
RU2661314C1 (ru) * | 2017-05-16 | 2018-07-13 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники" (ТУСУР) | Способ контроля параметров сыпучих материалов в резервуарах |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5371951A (en) | Two-axis inclinometer | |
US4071297A (en) | Method and apparatus for photoelectrically determining the position of at least one image focus plane | |
WO2021056668A1 (zh) | 一种动态距离测量系统及方法 | |
US3856400A (en) | Apparatus for no-contact measurement having a multi-colored grating | |
WO2021056666A1 (zh) | 一种发射器及距离测量系统 | |
JPS6324115A (ja) | 磁気ヘツドの浮上量測定方法及びその装置 | |
WO2021056667A1 (zh) | 一种发射器及距离测量系统 | |
US4758720A (en) | Method and means for measuring guidance errors at one or more points along the length of a displacement-measuring system | |
SU669202A1 (ru) | Устройство дл измерени уровн сыпучих материалов | |
EP0502162B1 (en) | Moire distance measurements using a grating printed on or attached to a surface | |
RU2248093C1 (ru) | Оптико-электронный преобразователь положение-код | |
JPH07110216A (ja) | レーザ光を利用したスペックルパターンによる上下および横移動量の測定方法ならびにその装置 | |
SE7407984L (sv) | Forfarande och anordning for fotoelektrisk bestemning av leget av atminstone ett skerpeplan av en bild | |
RU164082U1 (ru) | Устройство контроля линейных размеров трехмерных объектов | |
SU659901A1 (ru) | Устройство дл измерени углов наклона | |
JP3031929B2 (ja) | 測距方法および補助投光装置 | |
SU1362925A1 (ru) | Фотоэлектрический преобразователь | |
JPS62138715A (ja) | 変位の測定方法および装置 | |
SU1049735A1 (ru) | Способ измерени угловых перемещений объекта в двух взаимно перпендикул рных плоскост х и устройство дл его осуществлени | |
JPS62138709A (ja) | 変位の測定方法および装置 | |
JPS57190202A (en) | Device for reading optical scale | |
US3566353A (en) | Precision cathode ray tube scanner with reference grid network | |
RU2073202C1 (ru) | Отсчетная система и ее варианты | |
SU781563A1 (ru) | Оптический датчик перемещений объекта | |
SU1035419A1 (ru) | Оптико-электронное устройство дл измерени линейных перемещений |