SU613404A1 - Запоминающее устройство - Google Patents

Запоминающее устройство

Info

Publication number
SU613404A1
SU613404A1 SU752183507A SU2183507A SU613404A1 SU 613404 A1 SU613404 A1 SU 613404A1 SU 752183507 A SU752183507 A SU 752183507A SU 2183507 A SU2183507 A SU 2183507A SU 613404 A1 SU613404 A1 SU 613404A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
transistor
potential
bus
base
transistors
Prior art date
Application number
SU752183507A
Other languages
English (en)
Inventor
Алексей Геннадьевич Сергеев
Александр Александрович Орликовский
Original Assignee
Московский институт электронной техники
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Московский институт электронной техники filed Critical Московский институт электронной техники
Priority to SU752183507A priority Critical patent/SU613404A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU613404A1 publication Critical patent/SU613404A1/ru

Links

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)

Description

ти, которые соедин ютс  с соответствующими разр дными шинами 5 и 6 и шинами 14, 15 строки. Резисторы 16, 17, одни выводы которых соединены с шинами 7 и 8, а другие подключены к общей щине источника питани , обеспечивают режим работы усилителей считывани . Источник 18 тока, подключенный к щине 15, обеспечивает режим питани  строки элементов пам ти.
Устройство работает следующим образом.
В режлме хранени  информации ток в щину 12, а соответственно и в щины 5 и 6 поступает , и все транзисторы 1, 2 выключены. При этом разр дные усилители не потребл ют мощность. При выборке информации потенциал шины 14 повышаетс , а в шину 12 выбираемого разр да подаетс  импульс тока. Транзисторы 9 и 10 выполн ютс  идентичными по структуре и топологии, поэтому практически равные токи поступают в разр дные шины 5 и 6. Поскольку в шины 12 других разр дов ток не поступает, соответствующие разр дные усилители не потребл ют мощность.
При считывании информации уровни напр жени  щин 3, 4 на базах транзисторов 1 и 2 равны и должны быть выше потенциала базы включенного транзистора в невыбранном элементе 13 пам ти. Уровень высокого напр жени  на шипе 14 при выборке таков, что потенциал базы включенного транзистора выбранного элемента 13 выше, а потенциал базы выключенного транзистора ниже потенциала баз транзисторов 1, 2.
Будем считать, что хранению логического «О соответствует такое состо ние элемента, при котором транзистор элемента 13, св занный с шиной 5, включен, а транзистор, св занный с шиной 6, выключен. При хранении логической «1 наоборот: первый транзистор выключен, а второй включен. Пусть, например, элемент пам ти хранит «О. В этом случае при считывании потенциал базы включенного транзистора элемента 13 пам ти становитс  выше потенциала базы транзистора 1, и разр дный ток, поступающий в шину 5, переключаетс  в транзистор элемента 13 пам ти. Поскольку через транзистор 1 ток не идет, «а шине 7 - высокий потенциал. С другой стороны , потенциал базы выключенного транзистора элемента 13 ниже потенциала базы транзистора 2, и разр дный ток шины 6 переключаетс  в транзистор 2. В результате на шине 8 формируетс  нижний уровень напр жени . Разность потенциалов шин 7 и 8 представл ет сигнал считанной информации. Аналогично происходит считывание «1. При этом разность .потенциалов шин 7 и 8 имеет противополол ный знак.
При записи информации выборка элемента пам ти производитс  так же как и при считывании , а запись осуществл етс  по щинам 3 и 4 путем понижени  потенциала базы одного из транзисторов 1, 2 отиосительно его значени  в режиме хранени  и считывани . 5 Предположим, что элемент пам ти хранит «О. В этом случае дл  записи логической «1 потенциал базы транзистора 2 понижаетс  и становитс  ниже потенциала базы транзистора элемента 13, св занного с шиной 6. При
0 этом разр дный ток шины 6 переключаетс  в транзистор элемента, св занный с щиной 6, который включаетс . Перекос напр жений на базах транзисторов 1, 2 приводит к перебросу триггера элемента пам ти. После окончани  выборки элемент пам ти оказываетс  в состо нии хранени  «1. Если в исходном состо нии элемент пам ти хранит «1, то его состо ние не мен етс .
Предлагаемое устройство обладает следующими преимуществами в сравнении с прототипом . Не нужны диоды и резисторные источники посто нных токов разр дных щин и диодов, что упрощает устройство и исключает потребление мощности в режиме хранени .
5 Соединение эмиттеров двух транзисторов, обеспечивающих выборку разр дов соответствующими адресными шинами, уменьшает узловые паразитные емкости, что повышает быстродействие устройства. Транзисторы, обеспечивающие выборку разр да, одновременно служат оконечным каскадом дещифратора, что упрощает схему дешифратора, повышает его быстродействие и уменьшает потребл емую им мощность.

Claims (2)

1.Патент США № 3725878, кл. 340-173, опубл. 1973.
2.Патент Великобритании № 1331815, кл. ПОЗК, опубл. 1973.
/ г
,9 ю
--ч
л-т-Ц
SU752183507A 1975-10-22 1975-10-22 Запоминающее устройство SU613404A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU752183507A SU613404A1 (ru) 1975-10-22 1975-10-22 Запоминающее устройство

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU752183507A SU613404A1 (ru) 1975-10-22 1975-10-22 Запоминающее устройство

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU613404A1 true SU613404A1 (ru) 1978-06-30

Family

ID=20635394

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU752183507A SU613404A1 (ru) 1975-10-22 1975-10-22 Запоминающее устройство

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU613404A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3953839A (en) Bit circuitry for enhance-deplete ram
US4156941A (en) High speed semiconductor memory
KR100190080B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 메모리 셀 테스트용 고전압 감지 회로
US3969707A (en) Content-Addressable Memory capable of a high speed search
US3609712A (en) Insulated gate field effect transistor memory array
JP2919299B2 (ja) 列電圧保持回路を有する集積回路メモリ
US4023148A (en) Write speed-up circuit for integrated data memories
KR930000963B1 (ko) 불휘발성 메모리 회로장치
KR950001423B1 (ko) 비트선 구동기와 메모리 회로
US4460984A (en) Memory array with switchable upper and lower word lines
US5719811A (en) Semiconductor memory device
SU613404A1 (ru) Запоминающее устройство
US4404662A (en) Method and circuit for accessing an integrated semiconductor memory
JP2685469B2 (ja) 半導体装置
JPS5855597B2 (ja) 双安定半導体メモリセル
KR950011730B1 (ko) 동적 랜덤 액세스 메모리 장치
JPS61242111A (ja) スイツチング段
KR900015345A (ko) 반도체장치
JPS62132300A (ja) マトリツクスアレイリ−ドオンリメモリ装置
EP0181819A2 (en) Memory cell power scavenging apparatus and method
JP2548737B2 (ja) ドライバ回路
US4555776A (en) Voltage balancing circuit for memory systems
JP2680278B2 (ja) 半導体装置
US3742465A (en) Electronic memory storage element
SU744724A1 (ru) Матричное запоминающее устройство