SU443338A1

SU443338A1 - Method of measuring illumination

Info

Publication number: SU443338A1
Application number: SU1838898A
Authority: SU
Inventors: Бабамурат Атамурадович Базаров; Дмитрий Семенович Стребков; Вадим Алексеевич Унишков; Вера Алексеевна Чваркова; Хаджимурат Атамурадович Базаров; Алексей Васильевич Власов
Original assignee: Предприятие П/Я В-2763
Priority date: 1972-10-23
Filing date: 1972-10-23
Publication date: 1974-09-15

Description

1one

Изобретение относитс к области фотометрии, в частности к методам измерени энергетической освещенности в околофокальной области солнечных установок с концентраторами излучени .The invention relates to the field of photometry, in particular, to methods for measuring the energy illuminance in the near-focal region of solar installations with radiation concentrators.

Известен метод измерени распределени светового пол в околофокальной области солнечных установок с параболоидаыми концентраторами , в процессе реализации которого в околофокальной области располагают светопроводшцее оптическое волокно (светопровод), с помощью которого излучение отвод т на фотоумножитель, фототок которого регистрируют электронным потенциометром . Недостатком известного способа вл ютс малый диапазон измерени освещенности и сложность аппаратуры, необходимой дл его реализации.A known method for measuring the distribution of the light field in the near-focal region of solar systems with paraboloid concentrators, during the implementation of which a light guide optical fiber (light guide) is placed in the near-focus region, by means of which radiation is diverted to a photomultiplier, the photocurrent of which is recorded by an electronic potentiometer. The disadvantage of the known method is the small range of measuring the illumination and the complexity of the equipment necessary for its implementation.

Трудности измерени освещенности , превышающей 1(Я вт/м, состо т в том, что указанна освещенность обуславливает нагрев измерительннх элементов до температурыв превышающей температуру плавленж кварца. Поэтому обычно фотоэлементы , в частности матричные высоковольтные фотопреобразователи, помещают в кварцевый светопровод,охлаждаемый водой.Difficulties in measuring illumination greater than 1 (I W / m) consist in the fact that this illumination causes the heating of the measuring elements to a temperature above the fused silica temperature. Therefore, usually photo cells, in particular matrix high-voltage photoconverters, are placed in a quartz light guide cooled by water.

С целью расширени диапазона измерени и повышени точности ss« мервни пр освещекност х In order to extend the measurement range and increase the accuracy of ss "mernie pr lighting

0 фотоэлементы во врем измерени перемещают со скоростью, соответствующей предельной частоте полосы пропускани фотоэлементов.0 during the measurement, the photocells are moved at a speed corresponding to the limit frequency of the passband of the photocells.

5five

ПРВдаЕТ ИЗОБРЕТЕНИЯINVENTES

Способ измерени освещенности путем измерени тока короткого замыкани фотоэлементов, отличающийс тем, что, с прлью расширени диапазона измерени и повышени точности измерени при больших освещеннсст х , фотоэлементы во врем измерени перемещают со скоростью, соответствующей предельной частоте полосы пропускани фотоэлементов.A method of measuring illumination by measuring a short-circuit current of photo cells, characterized in that, by extending the measuring range and increasing the measurement accuracy at high light, the photo cells during the measurement are moved at a speed corresponding to the limiting frequency of the photocell passband frequency.