SU411356A1 - - Google Patents
Info
- Publication number
- SU411356A1 SU411356A1 SU1729256A SU1729256A SU411356A1 SU 411356 A1 SU411356 A1 SU 411356A1 SU 1729256 A SU1729256 A SU 1729256A SU 1729256 A SU1729256 A SU 1729256A SU 411356 A1 SU411356 A1 SU 411356A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- reflector
- light
- photodetector
- mirrors
- mirror
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
1
Изобретение относитс к области прикладной оптики.
Известны устройства дл измерени коэффициента отражени полированной поверхности или покрыти на полированной поверхности абсолютным методом, в которых одно зеркало сделано подвижным. Однако при использовании таких устройств при повороте зеркала световое п тно на нем мен ет свое положение, т. е. происходит зеркальный поворот п тна, на фотоприемнике также происходит зеркальный поворот п тна, кроме того, используетс однократное отражение от исследуемой поверхности. Все это снижает точность измерени коэффициента отражени .
Дл повышени точности измерени в предлагаемом устройстве отражатель состоит из четного количества зеркал и ось его поворота перпендикул рна плоскости, проход щей через падающий на отражатель и выход щий из него луч.
На чертеже показано описываемое устройство , включающее луч света 1, уголковый отражатель 2, исследуемую деталь 3 и фотоприемник 4.
Направление движени луча показано стрелками, а направление поворота отражател показано двойной стрелкой.
Луч. света 1 от источника света, например ОКГ, падает на одно зеркало отражател 2,
наход щегос в положении I, отражаетс на второе зеркало и попадает на фотоприемник. Так происходит измерение падающей световой энергии, при этом исследуема деталь 3
отсутствует. Затем на пути луча помещаетс исследуема деталь, а уголковый отражатель 2 поворачивают в положение II. Поворот отражател происходит в плоскости чертежа. Луч света отражаетс от поверхности исследуемой детали 3, падает ,на уголковый отражатель 2, отражаетс от его двух зеркал и вторично падает на исследуемую деталь в ту же точку, от которой происходило первое отражение, но под другим углом падени .
После вторичного отражени от исследуемой детали луч света попадает на фотоприемник 4. Происходит измерение отраженной световой энергии. Коэффициент отражени исследуемой поверхности определ етс по формуле
/ Т/ отр
где /пад - падающа светова энерги ;
25/отр - отраженна светова энерги .
При такой схеме и при углах падени светового луча, меньших 10°, описанное устройство свободно от указанных выше недостатков . Дл существенного повышени точности
30 измерени можно использовать не один уголковыи отражатель, а несколько, из которых часть неподвижна, а друга закреплена на подвижном основании.
Предмет изобретени
Устройство дл измерени коэффициента отражени абсолютным методом, содержащее отражатель, выполненный из зеркал.
жестко св занньгх между собой и расположенных под определенным углом друг к другу , источник света, образец и фотоприемник, отличающеес тем, что, с целью повышени точности измерени , отражатель состоит из четного количества зеркал и ось его поворота перпендикул рна плоскости, проход щей через падающий на отражатель и выхЬд щий из него луч.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1729256A SU411356A1 (ru) | 1971-12-27 | 1971-12-27 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1729256A SU411356A1 (ru) | 1971-12-27 | 1971-12-27 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU411356A1 true SU411356A1 (ru) | 1974-01-15 |
Family
ID=20497466
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1729256A SU411356A1 (ru) | 1971-12-27 | 1971-12-27 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU411356A1 (ru) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1983000927A1 (en) * | 1981-09-10 | 1983-03-17 | Chernin, Semen, Moiseevich | Multipath optical system |
JPS58501439A (ja) * | 1981-04-15 | 1983-08-25 | インスチツ−ト ヒミチエスコイ フイジキ アカデミ− ナウク エスエスエスエル | 光学的多重経路装置 |
RU2660398C1 (ru) * | 2017-08-30 | 2018-07-06 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом") | Способ определения коэффициентов отражения или пропускания оптических деталей |
-
1971
- 1971-12-27 SU SU1729256A patent/SU411356A1/ru active
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58501439A (ja) * | 1981-04-15 | 1983-08-25 | インスチツ−ト ヒミチエスコイ フイジキ アカデミ− ナウク エスエスエスエル | 光学的多重経路装置 |
JPS6334420B2 (ru) * | 1981-04-15 | 1988-07-11 | Inst Khim Fiz An Sssr | |
WO1983000927A1 (en) * | 1981-09-10 | 1983-03-17 | Chernin, Semen, Moiseevich | Multipath optical system |
US4676652A (en) * | 1981-09-10 | 1987-06-30 | Chernin Semen M | Multiple pass optical system |
RU2660398C1 (ru) * | 2017-08-30 | 2018-07-06 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом") | Способ определения коэффициентов отражения или пропускания оптических деталей |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5015096A (en) | Method and apparatus for testing optical components | |
JPS5483854A (en) | Measuring device | |
KR880008043A (ko) | 비접촉 자동 초점위치 맞춤방법 및 장치. | |
SU411356A1 (ru) | ||
CN110579284B (zh) | 一种干涉式激光波长测量装置及其使用方法 | |
US3844660A (en) | Method and apparatus for aligning an interferometer mirror | |
US4171910A (en) | Retroreflectance measurement system | |
US3002419A (en) | Alignment theodolite | |
JPS5483853A (en) | Measuring device | |
SU151063A1 (ru) | Способ рефлексометрических измерений | |
RU2106619C1 (ru) | Лазерный центратор для рентгеновского излучателя | |
SU450077A1 (ru) | Устройство дл контрол формы параболической поверхности | |
SU1603190A1 (ru) | Устройство дл измерени линейных размеров | |
SU1627827A2 (ru) | Устройство дл многократных отражений в двухлучевом интерферометре | |
SU444053A1 (ru) | Устройство дл дистанционного измерени углов поворота объектов | |
SU362217A1 (ru) | Оптическое контрольное устройство | |
US3572929A (en) | Range finder with rotating prism & successive reflections | |
RU2243629C2 (ru) | Лазерный центратор для рентгеновского излучателя | |
SU1416865A1 (ru) | Устройство дл контрол малых угловых смещений | |
GB1441386A (en) | Scanning apparatus | |
SU1490463A1 (ru) | Устройство дл многократных отражений в двухлучевом интерферометре | |
SU1196686A1 (ru) | Система компенсации угловых смещений объекта дл двухлучевых интерференционных измерителей перемещений | |
SU1538038A1 (ru) | Устройство дл многократных отражений в двухлучевом интерферометре | |
RU1798935C (ru) | Лазерный центратор дл рентгеновского излучател | |
RU5065451A (ru) | Устройство для определения характеристик шероховатой отражающей поверхности |