SU151063A1 - Способ рефлексометрических измерений - Google Patents

Способ рефлексометрических измерений

Info

Publication number
SU151063A1
SU151063A1 SU669758A SU669758A SU151063A1 SU 151063 A1 SU151063 A1 SU 151063A1 SU 669758 A SU669758 A SU 669758A SU 669758 A SU669758 A SU 669758A SU 151063 A1 SU151063 A1 SU 151063A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
reflexometric
measurement method
mirrors
reflections
measurements
Prior art date
Application number
SU669758A
Other languages
English (en)
Inventor
Б.М. Левин
Original Assignee
Б.М. Левин
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Б.М. Левин filed Critical Б.М. Левин
Priority to SU669758A priority Critical patent/SU151063A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU151063A1 publication Critical patent/SU151063A1/ru

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

Известны способы рефлексометрических измерений. Однако такие способы недостаточно точны.
В описываемом способе дл  повышени  точности измерений, исобснно дл  зеркал с высоким коэффициентом отражени , примен ют многократное отражение параллельного пучка лучей.
На чертеже изображена схема устройства, примен емого дл  осуществлени  описываемого способа.
Способ рефлексометрических измерений состоит в том, что зеркала / и 2, коэффициент отражени  которых определ етс , устанавливают на базовые опоры 3 и 4 полок 5 и 6, рассто ние между которыми выбирают таким образом, чтобы при попадании параллельного пучка лучей от точечного осветител  7, расположенного в фокальной плоскости объектива 8, через щелевую диафрагму 9 на зеркало 1 количество отражений между зеркалами / и 2 было минима; ьным, например равн лось трем.
Отраженное изображение осветител  7 посредством объектива 10 совмещают с фотоэлементом 11 и фиксируют при помощи измерительного прибора, например гальванометра, величину фототока. Затем зеркало 2 перемещают в направлении, перпендикул рном его плоскости , до тех пор, пока количество отражений не возрастет и не станет равным любому целому числу натурального -р да. |При этом длина хода луча остаетс  неизменной. Снова производ т измерение величины |фототока, причем разность между количеством отражений во втором и в первом случа х выбирают достаточно большой, и по зафиксированным показани м прибора расчетным путем определ ют искомый коэффициент отражени .
Описываемый способ позвол ет значительно снизить величину ошибок измерени  за счет относительной жесткости элементов оптической системы и использовани  одного и того же участка поверхности фотоэлемента.. Кроме того,, при использовании монохроматоров оказываетс  возможным оценивать с высокой степенью точности спектральные коэффициенты отражени  высокоотражающих слоев.
Предмет изобретени 
Способ рефлексометрических измерений, отличающийс5г тем„ что, с целью повышени  точности измерений, особенно дл  зеркал с высоким коэффициентом отражени , в нем примен ют многократное отражение параллельного пучка лучей..
SU669758A 1960-06-10 1960-06-10 Способ рефлексометрических измерений SU151063A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU669758A SU151063A1 (ru) 1960-06-10 1960-06-10 Способ рефлексометрических измерений

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU669758A SU151063A1 (ru) 1960-06-10 1960-06-10 Способ рефлексометрических измерений

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU151063A1 true SU151063A1 (ru) 1961-11-30

Family

ID=48305879

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU669758A SU151063A1 (ru) 1960-06-10 1960-06-10 Способ рефлексометрических измерений

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU151063A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3418053A (en) * 1964-08-28 1968-12-24 Technicon Instr Colorimeter flow cell
RU2467309C1 (ru) * 2011-07-22 2012-11-20 Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (ОАО "НПО ГИПО") Способ измерения коэффициентов отражения зеркал

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3418053A (en) * 1964-08-28 1968-12-24 Technicon Instr Colorimeter flow cell
RU2467309C1 (ru) * 2011-07-22 2012-11-20 Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Государственный институт прикладной оптики" (ОАО "НПО ГИПО") Способ измерения коэффициентов отражения зеркал

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4309109A (en) Pulsed interferometric remote gauge
US4969744A (en) Optical angle-measuring device
JPS5483854A (en) Measuring device
CN105043242B (zh) 一种对比式抗干扰阶梯平面反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法
GB914038A (en) Interferometer using a diffraction grating
CN110579284B (zh) 一种干涉式激光波长测量装置及其使用方法
SU151063A1 (ru) Способ рефлексометрических измерений
SU411356A1 (ru)
CN104848782B (zh) 一种对比式抗干扰微动级联阶梯角反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法
SU135664A1 (ru) Зеркальный умножитель с параллельными зеркалами
CN105157559B (zh) 一种对比式抗干扰级联阶梯角反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法
SU450077A1 (ru) Устройство дл контрол формы параболической поверхности
CN105180801B (zh) 一种对比式抗干扰阶梯型角反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法
SU661234A1 (ru) Высотомер
US3043182A (en) Interferometer for testing large surfaces
SU1627827A2 (ru) Устройство дл многократных отражений в двухлучевом интерферометре
SU104421A1 (ru) Оптический микрометр
SU389397A1 (ru) Многолучевой клиновидный интерферометр
CN105136020B (zh) 一种对比式抗干扰微动阶梯平面反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法
SU535454A1 (ru) Устройство дл определени взаимного положени элементов объекта
SU444053A1 (ru) Устройство дл дистанционного измерени углов поворота объектов
SU715928A1 (ru) Способ определени разности хода интерферирующих лучей
SU69099A1 (ru) Оптический прибор дл измерени углов
SU422948A1 (ru)
Jones The Optical Micrometer