SU200226A1 - Двухлучевой интерферометр - Google Patents

Двухлучевой интерферометр

Info

Publication number
SU200226A1
SU200226A1 SU1108515A SU1108515A SU200226A1 SU 200226 A1 SU200226 A1 SU 200226A1 SU 1108515 A SU1108515 A SU 1108515A SU 1108515 A SU1108515 A SU 1108515A SU 200226 A1 SU200226 A1 SU 200226A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
model
pattern
double
transparent
interferometer
Prior art date
Application number
SU1108515A
Other languages
English (en)
Original Assignee
В. И. Константинов , А. И. Харитонов
Publication of SU200226A1 publication Critical patent/SU200226A1/ru

Links

Description

устройство относитс  к оптическим приборам дл  определени  параметров обтекани  и деформации модели, например, в аэродинамических установках.
Известны двухлучевые интерферометры (типа Маха-Цендера), содержащие осветительную систему, ветвь сравнени , рабочую ветвь, в которой установлена камера с исследуемой газовой неоднородностью, и регистрирующую систему.
Предложенное устройство отличаетс  от известных тем, что в его осветительной системе в плоскости, сопр женной с плоскостью модели , установлена оптическа  прозрачна  решетка , создающа  муаровую картину.
Это позвол ет проводить одновременное исследование параметров газового потока и напр женного состо ни  модели путем совместного наблюдени  муаровых и интерференционных полос.
На чертеже изображена схема предложенного устройства.
Свет от источника света / с помощью конденсора 2 преобразуетс  в параллельный пучок , проходит оптическую прозрачную решетку 3, установленную в плоскости, сопр женной с плоскостью прозрачной модели 4, и через линзу 5, диафрагму 6, конденсор 7 нопадает на светоделительную пластину S. После светоделительной нластины 8 свет распростран етс  по двум оптическим ветв м интерферометра . Ветвь сравнени  образуетс  оптическими элементами 8, 9, 10, а друга  рабоча  ветвь - оптическими элементами 8, 1},10Световые пучки, распростран ющиес  по двум ветв м интерферометра, проход т через нолупрозрачную пластину 10 и интерферируют между собой. Интерференционна  картина, локализованна  в плоскости прозрачной модели 4, расположенной в камере 12 с исследуемой , неоднородностью, наблюдаетс  в приемной части /5. При воздействии на модель 4 газового потока в приемной части 13 интерференционна  картина измен етс  вне прозрачной модели 4. Внутри модели 4 интерференционна  картина не наблюдаетс  из-за большой разности хода между интерферирующими лучами, возникающей при прохождении света через прозрачную модель 4. По изменению интерференционной картины определ ютс  параметры газового потока вне модели .
Воздействие газового потока на модель 4 в камере 12 с газовой неоднородностью вызывает ее деформацию и, следовательно, искажение одного из изображений оптической прозрачной решетки 3. В нриемной части 13 устройства происходит наложение искаженного (в рабочей ветви) и неискаженного (в ветви сравиени ) изображений онтической решетки 3,   в результате этого возникает картина муаровых полос, по виду которой можно судить о величине деформации модели.
Таким образом, в ириемной части 13 устройства одновременно наблюдаютс  муаровые и интерференционные полосы, что дает возможность одновременно определ ть взаимозависимые параметры обтекани  и деформации модели.
Предмет изобретени 
Двухлучевой интерферометр, содержащий осветительную систему, ветвь сравнени , рабочую ветвь, в которой установлена камера с исследуемой газовой неоднородностью и прозрачной моделью, и регистрирующую систему, отличающийс  тем, что, с целью одновременного исследовани  параметров газового потока и напр женного состо ни  модели цутем совместного наблюдени  муаровых и интерференционных полос, в осветительной системе в плоскости, сопр женной с плоскостью модели , установлена оптическа  прозрачна  решетка , создающа  муаровую картину.
/ 2 3 5
SU1108515A Двухлучевой интерферометр SU200226A1 (ru)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU200226A1 true SU200226A1 (ru)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100785818B1 (ko) 파면 검출장치
KR960020553A (ko) 회절 광학장치를 이용한 표면 윤곽 묘사방법 및 묘사기
US5909282A (en) Interferometer for measuring thickness variations of semiconductor wafers
US20110085173A1 (en) Phase From Defocused Color Images
US6643024B2 (en) Apparatus and method(s) for reducing the effects of coherent artifacts in an interferometer
US10612905B2 (en) Interferometer using tilted object waves and comprising a Fizeau interferometer objective
US7023562B2 (en) Characterization of period variations in diffraction gratings
JPS61198012A (ja) 表面検査装置
CN102645181A (zh) 确定光学测试表面的形状的方法和设备
SU200226A1 (ru) Двухлучевой интерферометр
CN109716056A (zh) 干涉确定光学表面的形状的测量装置
JP4667965B2 (ja) 光ビーム測定装置
JP2003302205A (ja) シアリング干渉測定方法及びシアリング干渉計、投影光学系の製造方法、投影光学系、及び投影露光装置
RU178706U1 (ru) Оптическая схема анализатора волнового поля оптического излучения на основе световодной пластины с синтезированными голограммами
JP5353708B2 (ja) 干渉計
KR20060080878A (ko) 광학부품의 검사방법 및 검사장치
Rana et al. Automated collimation testing in Lau interferometry using phase shifting technique
TW202232475A (zh) 光學測定系統及光學測定方法
US20240003672A1 (en) Single frame-tilted wave interferometer
SU180377A1 (ru)
Towers et al. Analysis of holographic fringe data using the dual reference approach
SU1712778A1 (ru) Интерферометр дл контрол асферических поверхностей второго пор дка
JP2008209365A (ja) 干渉測定装置及び干渉測定方法
SU920367A1 (ru) Интерферометр дл контрол вогнутых сферических поверхностей
SU200816A1 (ru) Устройство для исследования газовых неоднородностей