SU200816A1 - Устройство для исследования газовых неоднородностей - Google Patents

Устройство для исследования газовых неоднородностей

Info

Publication number
SU200816A1
SU200816A1 SU1091856A SU1091856A SU200816A1 SU 200816 A1 SU200816 A1 SU 200816A1 SU 1091856 A SU1091856 A SU 1091856A SU 1091856 A SU1091856 A SU 1091856A SU 200816 A1 SU200816 A1 SU 200816A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
study
shadow
inhomogenities
gas
light
Prior art date
Application number
SU1091856A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Ю. К. Ермилов, А. П. Овечкин , А. И. Харитонов
Publication of SU200816A1 publication Critical patent/SU200816A1/ru

Links

Description

Известен двухлучевой интерферометр, в котором используетс  в качестве источника света онтический квантовый генератор (ОКГ). Интерферометр содержит две оптические ветви с разными сечени ми, одна из которых (широка  рабоча  ветвь) состоит из системы теневого прибора с двум  коллиматорами и камеры дл  исследуемой неоднородности, а друга  (узка  ветвь сравнени ) - из двух полупрозрачных пластин и регистрирующей системы.
Предложенное устройство отличаетс  от известного тем, что неред одной из полупрозрачных пластин установлен второй источник света , спектр которого отличаетс  от спектра первого, а после другой полупрозрачной пластины расположена втора  нриемна  часть дл  регистрации теневой картины. Это позвол ет осуществл ть раздельное и одновременное наблюдение теневой и интерференционной картины, что дает возможность нолучить в одном эксперименте более полные сведени  о параметрах исследуемой неоднородности.
На чертеже изображено предложенное устройство .
на пути которого помещена камера 5 дл  исследуемой неоднородности. Пройд  камеру 5, пучок падает на коллиматор 6, отражаетс  от него н попадает на полупрозрачную пластину 7. Свет, отраженный от нластины 7,
проходит через светофильтр 8, пропускающий
излучение только от ОКГ, и попадает на
экран 9.
Часть нучка от ОКГ, прошедша  через полупрозрачную пластину 2, проходит через фильтр 10, срезающий излучение источника света 11.
Пучок света от второго источника // проходит оптическую систему 12, рабочую ветвь
интерферометра (2, 3, 4, 5, 6, 7), светофильтр 13, срезающий излучение от ОКГ, и попадает на экран 14. Дл  получени  теневой картины в фокальной плоскости коллиматора 6 установлен нож Фуко 15.
Линзы 16 и 17 обеспечивают настройку на плоскость исследуемого объекта. Настройкой источников света 1 и 11 обеснечиваетс  раздельность их изобрал{ений в фокальной плоскости коллиматора 6, а нож Фуко 15 устанавливают таким образом, чтобы он частично перекрывал изобрал енне источника 11, не среза  при этом световых лучей от ОКГ.
7 образует ветвь сравнени , а система 12, 3, 4, 5, 6, 15, 16, 13, 14 служит дл  получени  теневой картины. Предлагаемый прибор может быть построен на базе теневого прибора ИАБ451 .
Предмет изобретени 
Устройство дл  исследовани  газовых неоднородностей , в качестве источника света в котором использован оптический квантовый генератор , содержащее две оптические ветви, одна из которых (широка  рабоча  ветвь) состоит из системы теневого прибора с двум  коллиматорами и камеры дл  исследуемой неоднородности, а друга  (узка  ветвь сравнени ) - из двух полупрозрачных пластин и регистрирующей системы, отличающеес  тем, что, с целью осуществлени  раздельного и одновременного наблюдени  теневой и иитерференционной картины, перед одной из полупрозрачных пластин установлен второй источник света с отличным от первого спектром излучени , а после другой полупрозрачной пластины установлена втора  приемна  часть дл  регистрации теневой картины.
// /« 13 7 7 S
SU1091856A Устройство для исследования газовых неоднородностей SU200816A1 (ru)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU200816A1 true SU200816A1 (ru)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7463366B2 (en) Digital holographic microscope
EP0101507B1 (en) Holographic optical processing method and apparatus
CA1174494A (en) Optical system for observation in real time with scanning
KR20010072818A (ko) 생물학적 조직의 표면 형태를 결정하기 위한 방법 및 장치
JP3392145B2 (ja) 半導体ウエファの厚さ誤差測定用干渉計
US3977795A (en) Method of determining the modulation transfer function
RU2561867C2 (ru) Устройство и способ для оптической когерентной томографии
JP2011133580A (ja) ホログラム像投影方法およびホログラム像投影装置
US11920977B2 (en) Metrology system and method for measuring an excitation laser beam in an EUV plasma source
SU200816A1 (ru) Устройство для исследования газовых неоднородностей
US5170063A (en) Inspection device for detecting defects in a periodic pattern on a semiconductor wafer
RU2579640C1 (ru) Конфокальный спектроанализатор изображений
US3520610A (en) Particle distribution readout using holographic methods
US20200379406A1 (en) An improved holographic reconstruction apparatus and method
US4566757A (en) Holographic optical processing method and apparatus
CN214374304U (zh) 一种复合超分辨成像装置
US3934461A (en) Multiple exposure holographic interferometer method
US3672776A (en) Holographic real-time interferometry with a reconstructed reference beam
SU532279A1 (ru) Голографический интерферометр
RU2727088C1 (ru) Способ ввода в скоростной фотохронографический регистратор оптического излучения для нанесения меток времени
RU186041U1 (ru) Автоматизированное оптико-электронное устройство для оперативной диагностики и определения параметров микрорельефа защитных голограмм
SU243216A1 (ru) Интерференционный резольвометр
SU192435A1 (ru) Двухлучевой интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей
RU2077738C1 (ru) Способ аттестации телескопа
Ladera et al. Measurement of the spatial degree of coherence in a Lloyd´ s Mirror interferometer