SU1619016A1 - Способ измерени поперечных размеров микроизделий - Google Patents

Способ измерени поперечных размеров микроизделий Download PDF

Info

Publication number
SU1619016A1
SU1619016A1 SU894636254A SU4636254A SU1619016A1 SU 1619016 A1 SU1619016 A1 SU 1619016A1 SU 894636254 A SU894636254 A SU 894636254A SU 4636254 A SU4636254 A SU 4636254A SU 1619016 A1 SU1619016 A1 SU 1619016A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
micro
product
controlled micro
controlled
control
Prior art date
Application number
SU894636254A
Other languages
English (en)
Inventor
Лариса Зеликовна Касюга
Анатолий Николаевич Малыхин
Юрий Алексеевич Носков
Игорь Петрович Шаповалов
Original Assignee
Одесский Университет Им.И.И.Мечникова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Одесский Университет Им.И.И.Мечникова filed Critical Одесский Университет Им.И.И.Мечникова
Priority to SU894636254A priority Critical patent/SU1619016A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1619016A1 publication Critical patent/SU1619016A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  контрол  поперечных размеров длинномерных изделий, например оптического волокна . Цель изобретени  - расширение видов контролируемых микроизделий за счет обеспечени  контрол  прозрачных микроизделий путем исключени  вли ни  прелом- ленного пучка на формирование дифракционной картины. Пучком лазера освещают контролируемое микроизделие, наклон ют изделие в плоскости, проход щей через освещающий пучок и контролируемое микроизделие, на угол а 50° и анализируют дифракционную картину контролируемого микроиздели , после чего суд т о поперечном размере контролируемого микроиздели . 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  контрол  поперечных размеров длинномерных изделий, например, оптического волокна .
Цель изобретени  - расширение видов контролируемых микроизделий за счет обеспечени  контрол  прозрачных микроизделий .
На чертеже представлена схема устройства , реализующего способ.
Устройство содержит лазер 1, держатель 2 оптического волокна, установленного с возможностью поворота на угол а 50° в плоскости, проход щей через освещающий пучок и микроизделие, пространственный фильтр 3 и фотоприемник4, расположенный за фильтром по ходу пучка.
Способ осуществл етс  следующим образом .
Когерентный пучок лазера 1 направл ют на микроизделие, оптическое волокно, установленное в держателе 2. В зоне дифракции Фраунгофера устанавливаетс  пространственный фильтр 3, представл ющий собой негативное изображение дифракционной картины микроиздели  с возможностью перемещени  вдоль оси пучка лазера 1. Держатель 2 оптического волокна наклон ют на угол а : 50° в плоскости, проход щей через пучок лазера 1 и оптическое волокно, при этом преломленна  составл юща  пучка в дифракционной картине отсутствует . Перемеща  пространственный фильтр 3 вдоль пучка лазера 1 с помощью шкалы, проградуированной в соответствии с формулой дифракции Фраунгофера и установленной параллельно пучку лазера, опре- дел ют контролируемый поперечный размер. Погрешность измерени  прозрачных оптических волокон не превышает 0,5%.

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Способ измерени  поперечных размеров микроизделий, заключающийс  в том, что формируют когерентный пучок, освещаЈ
    CS
    N0
    о
    ют им контролируемое микроизделие, формируют дифракционное изображение, анализируют дифракционное изображение микроиздели  и определ ют контролируемый размер микроиздели , отличающийс  тем, что, с целью расширени  видов
    контролируемых микроизделий за счет обеспечени  контрол  прозрачных микроиэ- делий, перед формированием дифракционного изображени  наклон ют микроиэделие в плоскости, проход щей через освещающий пучок и микроизделие, на угол а 50°.
    /
SU894636254A 1989-01-12 1989-01-12 Способ измерени поперечных размеров микроизделий SU1619016A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894636254A SU1619016A1 (ru) 1989-01-12 1989-01-12 Способ измерени поперечных размеров микроизделий

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894636254A SU1619016A1 (ru) 1989-01-12 1989-01-12 Способ измерени поперечных размеров микроизделий

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1619016A1 true SU1619016A1 (ru) 1991-01-07

Family

ID=21422247

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894636254A SU1619016A1 (ru) 1989-01-12 1989-01-12 Способ измерени поперечных размеров микроизделий

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1619016A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 925168, кл. G01 В 11/10,1981. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE163476T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der abmessung eines objekts
ATE295551T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur messung der teilchengrössenverteilung unter verwendung von laserstreuung
Persson Measurement of surface roughness on rough machined surfaces using spectral speckle correlation and image analysis
SU1619016A1 (ru) Способ измерени поперечных размеров микроизделий
WO1997002477A1 (en) Imaging and characterisation of the focal field of a lens by spatial autocorrelation
SE7612568L (sv) Radavkenningsanordning for materialbanor for detektering av felstellen
DK0380046T3 (da) Fremgangsmåde til afprøvning af målere, især elektricitets-, gas- og vandmålere, samt anordning til brug ved udøvelse af fremgangsmåden
JPS57204437A (en) Measuring method for interval of inspection body in concentration measuring apparatus
SU1605140A1 (ru) Способ контрол размера элементов топологической структуры и устройство дл его осуществлени
FR2235354A1 (en) Photoelectric optical test sensor - measures displacement of a diffraction screen with constant spacing in the test sensor plane
SU1677506A1 (ru) Микроинтерферометр
SU1620826A1 (ru) Способ определени диаметра отверстий и устройство дл его осуществлени
SU1219917A1 (ru) Способ контрол формы вогнутых оптических поверхностей
SU1302140A1 (ru) Устройство дл измерени поперечных размеров микрообъектов
SU1226195A1 (ru) Устройство дл измерени градиента показател преломлени
SU1044969A1 (ru) Способ измерени профил оптических поверхностей
SU1733920A1 (ru) Сканирующий интерферометр
SU954813A1 (ru) Устройство дл измерени деформаций деталей
SU1421996A1 (ru) Способ измерени шероховатости поверхности издели
SU714253A1 (ru) Способ измерени градиента показател преломлени оптически прозрачных сред
SU1464046A1 (ru) Устройство дл измерени амплитуды угловых колебаний
RU1770739C (ru) Устройство дл измерени угловых перемещений объекта
SU1247776A1 (ru) Способ оптического спектрального анализа двумерных сигналов
SU1388482A1 (ru) Устройство дл контрол линейной плотности волокнистого продукта
JPH0210230A (ja) 光強度測定装置