SU1591024A1 - Устройство для контроля цифровых узлов - Google Patents
Устройство для контроля цифровых узлов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1591024A1 SU1591024A1 SU884422213A SU4422213A SU1591024A1 SU 1591024 A1 SU1591024 A1 SU 1591024A1 SU 884422213 A SU884422213 A SU 884422213A SU 4422213 A SU4422213 A SU 4422213A SU 1591024 A1 SU1591024 A1 SU 1591024A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- input
- output
- nodes
- checked
- information
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для проверки цифровых узлов и микросхем в цифровых узлах. Целью
2
изобретения является расширение функциональных возможностей устройства за счет обеспечения программного изменения генерируемого теста в зависимости от номера проверяемого узла и за счет определения дефектной микросхемы в данном узле. С этой целью в устройство, содержащее генератор тестов, генератор импульсов, первый элемент И, счетчик проверяемых узлов, блок индикации, первый триггер, блок памяти эталонных сигнатур, коммутатор проверяемых узлов, коммутатор регулировки, блок формирования сигна- . тур и схему сравнения, введены второй элемент И, второй триггер и эле- β мент ИЛИ. 2 ил. 8
Изобретение относится к вычислительной технике и можте быть использовано для проверки цифровых узлов и микросхем в цифровых узлах.
Целью изобретения является расширение фукциональных возможностей устройства за счет обеспечения программного изменения генерируемого теста в зависимости от номера проверяемого узла и за счет определения дефектной микросхемы в данном узле.
На фиг.1 изображена функциональная схема устройства; на фиг.2 - гене ратор тестов.
Устройство (фиг.1) содержит генератор 1 тестов, генератор 2 импульсов, первый элемент И 3, счетчик 4 проверяемых узлов, блок 5 индикации, первый триггер 6, второй элемент И 7, второй триггер 8, элемент ИЛИ 9,блок
10 памяти эталонных сигнатур, контролируемый узел 11, коммутатор 1 2 проверяемых узлов, коммутатор 13 регулировки, блок 14 формирования сигнатур и схему 15 сравнения.
Генератор 1 тестов (фиг.З) содержит счетчик 16 и блок 17 постоянной памяти, причем счетный вход счетчика 16 соединен с входом синхронизации генератора 1 ("Вх.1"), вход начальной установки счетчика 16 является входом режима· генератора 1,а выход переноса счетчика 16 - тактовым выходом генератора 1. Адресные входы блока 17 соединены с информационным выходом счетчика 16 и информационным выходом счетчика 4 (входом команды формирования теста генератора 1), а выход блока 17 является информационным выходом генератора 1.
5Ц 1591024 А1
1591024
Устройство работает следующим образом.
При включении режима "Контроль" на его вход ("Вх.2") подается им- $
пульс, который перебрасывает первый 6 и второй 8 триггеры. После этого генератор 1 тестов и счетчик 4 проверяемых узлов сигналом с выхода триггера 6 переводятся в рабочий режим. }θ Одновременно импульсом "Контроль" обеспечивается через элемент 9 сброс в начальное состояние блока 14 формирования сигнатур. С "Вх.1" устройства импульсы высокой частоты (3 - 15
5 мГц) поступают на входы генератора 1 тстов и блока 14 формирования сигнатур. В этом состоянии на выходах счетных ячеек счетчика 4 устанавливается код 00...0, который обеспе- 20 чивает, например, подключение информационного выхода генератора 1 через коммутатор 12 и коммутатор 13 к информационному входу блока 14 формирования сигнатур. Блок 14 форми- 25 рования сигнатур осуществляет сжатие тестового сигнала с выхода генератора 1 .
По окончании формирования теста зд с второго (тестового) выхода генератора 1 выдается сигнал переноса, который является сигналом останова для блока 14 формирования сигнатур, и прием информации в блок 14 прекращается. Производится сравнение полученной сигнатуры с эталонной, синхронно выбираемой по значению кода с выхода счетчика 4 из блока 10. Результат сравнения с выхода схемы 15 стробируется сигналом переноса генератора 1 на элементе 7. При отрицательном результате тестирования элементов контроля устройства сбрасывается триггер 8 и запрещается прохождение импульсов с выхода генератора 2 через элемент 7 на счетный вход счетчика А. Одновременно осуществляется подключение через коммутатор,13 информационного входа блока 14 с "Вх.З" зд устройства (для йхода щупа, подключаемого в произвольную точку контролируемого узла). При положительном результате тестирования импульс с генератора 2 через эдемент 7 пере- $$ брасывает счетчик 4 в состояние 00...1. Одновременно через элемент 9 производится сброс предыдущей сигнатуры в блоке 14. Контролируемый узел.
11 генератором 1 устанавливается в
начальное состояние.
По управляющему коду с выхода счетчика 4 генератор 11 обеспечивает формирование теста для первого контролируемогр узла, выход которого подключается к информационному входу блока 14. На схему 15 сравнения с выхода блока 10 подается эталонная сигнатура для первого контролируемого узла. При исправном контролируемом узле на блоке 5 индикации производится кратковременное отображение номера неисправного узла только в течение времени его проверки. При отрицательном результате тестирования производится остановка счетчика 4 и на блоке 5 индикации непрерывно отображается номер неисправного узла и оператор имеет возможность последовательно подключать "Вх.З" устройства к микросхемам неисправного узла. На блоке 5 индикации отображаются сигнатуры с микросхем неисправного узла, которые оператор сравнивает с эталонными.
Так производится поиск неисправной микросхемы. Если все цифровые узлы исправын, то после заполнения счетчика 4 импульсом переноса производится сброс триггера 6 в начальное состояние и процесс контроля устройства заканчивается.
Claims (1)
- Формула изобретенияУстройство для контроля цифровых узлов, содержащее генератор тестов, генератор импульсов, первый элемент И, счетчик проверяемых узлов, блок индикации, первый триггер, блок памяти эталонных сигнатур, коммутатор проверяемых узлов, коммутатор регулировки, блок формирования сигнатур и схему сравнения, первый и второй входы которой соединены с выходами соответственно блока памяти эталонных сигнатур и блока формирования сигнатур, вход синхронизации генератора тестов и вход синхронизации блока формирования сигнатур подключены к входу синхронизации устройства, установочный вход и выход первого триггера соединены соответственно с входом режима устройства и входом начальной установки счетчика проверяемых узлов, счетный вход и информационный выход которого под1591024ключены соответственно к выходу пер-~ вого элемента И и адресному входу блока памяти эталонных сигнатур, первый информационный вход коммутатора проверяемых узлов является входом уст- $ ройства для подключения к информационному выходу контролируемого узла, первый информационный вход и выход коммутатора регулировки соединены соответственно с выходом коммутатора проверяемых узлов и информационным входом блока формирования сигнатур,' отличающееся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей за счет обеспечения программного изменения генерируемого теста в зависимости от номера проверяемого узла и за счет определения дефектной микросхемы в данном узле, оно содержит второй элемент И, второй триггер й элемент ИЛИ, первый и второй входы и выход которого подключены соответственно к выходу генератора импульсов, входу режима уст- 25 ройства и входу пуска блока формирования сигнатур, первый и второй входы первого элемента И соединены соответственно с выходом генератора импульсов и выходом второго триг- здгера, первый, второй и третий входы блока индикации подключены соответственно ·к информационному выходу счет чика проверяемых узлов, тактовому выходу генератора тестов и выходу блокаформирования сигнатур, вход сброса и выход первого триггера соединены •соответственно с выходом переноса счетчика проверяемых узлов и входом режима генератора тестов, вход команды формирования теста которого подключен к информационному выходу счетчика проверяемых узлов информационный выход генератора тестов является выходом устройства для подключения к информационно му входу контролируемого узла й соединен с вторым информационным входом коммутатора проверяемых узлов,управляющий вход которого подключен к информационному выходу счетчика проверяемых узлов,тактовый выход генератора тестов является выходом устройства для подключения к входу синхронизации контролируемого узла и соеди- нен с входом запуска генератора импульсов, входом останова блока формирования сигнатур и первым входом второго элемента И, второй вход и выход второго элемента И подключены соответственно к выходу схемы сравнения и входу сброса второго триггера, установочный вход и выход которого соединены соответственно с рходом режима устройства и управляющим входом коммутатора регулировки, второй информационный вход которого является входом устройства для подключения щупа.Фиг. /1591024Фиг. Ζ
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884422213A SU1591024A1 (ru) | 1988-05-06 | 1988-05-06 | Устройство для контроля цифровых узлов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884422213A SU1591024A1 (ru) | 1988-05-06 | 1988-05-06 | Устройство для контроля цифровых узлов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1591024A1 true SU1591024A1 (ru) | 1990-09-07 |
Family
ID=21373659
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884422213A SU1591024A1 (ru) | 1988-05-06 | 1988-05-06 | Устройство для контроля цифровых узлов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1591024A1 (ru) |
-
1988
- 1988-05-06 SU SU884422213A patent/SU1591024A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4484329A (en) | Apparatus for the dynamic in-circuit element-to-element comparison testing of electronic digital circuit elements | |
US4503536A (en) | Digital circuit unit testing system utilizing signature analysis | |
US5329188A (en) | Clock pulse measuring and deskewing system and process | |
EP0589553A1 (en) | Register to enable and disable built-in testing logic | |
JPS5915558B2 (ja) | デジタル式ト−ン信号デコ−ダ装置 | |
EP0054111B1 (en) | Circuit for use on an lsi chip and for measuring the turn-on and turn-off delays of a logic circuit on said chip | |
US4837521A (en) | Delay line control system for automatic test equipment | |
US4329652A (en) | Apparatus for synchronization control of a plurality of inverters | |
US4758737A (en) | Clock generator circuit | |
SU1591024A1 (ru) | Устройство для контроля цифровых узлов | |
EP0098399A2 (en) | Test circuitry for determining turn-on and turn-off delays of logic circuits | |
JPS61155874A (ja) | 大規模集積回路の故障検出方法およびそのための装置 | |
US5315242A (en) | Method for measuring AC specifications of microprocessor | |
JPS58129621A (ja) | タイミング・パルス分配装置 | |
EP0479460A2 (en) | Logic circuit for reliability and yield enhancement | |
JP3368572B2 (ja) | 周期発生装置 | |
KR100323370B1 (ko) | 클럭 출력 회로를 갖는 장치 | |
JP2999803B2 (ja) | 複数掃引装置を同期させる方法 | |
SU1173415A1 (ru) | Устройство дл статистического контрол логических блоков | |
JP3042209B2 (ja) | 半導体メモリの故障自己診断装置 | |
SU1403097A1 (ru) | Устройство дл контрол полупроводниковой пам ти | |
SU1674019A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых интегральных схем | |
SU1536444A1 (ru) | Устройство дл контрол многоразр дных блоков пам ти | |
SU1554000A1 (ru) | Устройство дл контрол состо ни датчиков | |
SU1432528A2 (ru) | Устройство дл контрол функционировани логических блоков |