SU1441202A1 - Устройство контрол децентровки оптических поверхностей - Google Patents

Устройство контрол децентровки оптических поверхностей Download PDF

Info

Publication number
SU1441202A1
SU1441202A1 SU874244993A SU4244993A SU1441202A1 SU 1441202 A1 SU1441202 A1 SU 1441202A1 SU 874244993 A SU874244993 A SU 874244993A SU 4244993 A SU4244993 A SU 4244993A SU 1441202 A1 SU1441202 A1 SU 1441202A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radiation
modulator
optical
axis
phase detector
Prior art date
Application number
SU874244993A
Other languages
English (en)
Inventor
Юрий Васильевич Сальников
Алла Дмитриевна Седова
Юрий Кириллович Грузевич
Original Assignee
МВТУ им.Н.Э.Баумана
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by МВТУ им.Н.Э.Баумана filed Critical МВТУ им.Н.Э.Баумана
Priority to SU874244993A priority Critical patent/SU1441202A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1441202A1 publication Critical patent/SU1441202A1/ru

Links

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл  контрол  децен- тровки оптических поверхностей при изготовлении линз в оптическом приборостроении . Цель изобретени  - повышение чувствительности и мощности - достигаетс  за счет устранени  погрешностей , св занных с флуктуаци ми оптического излучени  и разными характеристиками : приемников излучени . Излучение лазера 1, отразившись от контролируемой поверхности 3 объекта, установленного на вращающейс  поворотной платформе 4-, попадает на све- тоделительный блок 5, вьшолненный в виде призмы с четырьм  отражающими поверхност ми . На выходе светоделитель- ного блока формируютс  четыре световых пучка, пространственное положение которых определ етс  положением оси отражающей поверхности 3 объекта. С помощью модул тора 14 и приемников излучени  10-13 координаты положени  оси преобразуютс  в фазы электрических сигналов. Фазовьш детектор 19 осуществл ет вычисление разностей фаз § (или координаты положени  оси излучени  относительно оси модул тора 14). Поскольку вычисл етс  разность сигналов с фотоприемников, то компенсируютс  нестабильность излучени  лазе- ра и характеристик приемников излучени  . 1 ил. 4 N lN3 N)

Description

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быт использовано дл  контрол  децентров- ки оптических поверхностей при изго- товлении линз и зеркал в оптическом приборостроении.
Цель изобретени  - повьопение чувствительности и точности за счет устранени  погрешностей, св занных с фпуктуаци ми оптического излучени  и разными характерист иками приемников излучени  путем использовани  дополнительных каналов, включенных с основными приемными каналами по различ ной схеме.
На чертеже приведена блок-схема устройства.
Устройство содержит источник 1 оптического излучени ,(лазер) расши- ритель 2 монохроматического излучени , контролирующую оптическую- поверхность 3, закрепленную на -поворотной платформе 4, светоделительньй блок 5, выполненньш в виде призмы, отражательные призмы 6-9, приемники 10-13 излучени  (ПИ), растровый модул тор 14 анализатора изображений (МАИ), усилители 15-18 и фазовьш детектор 1 9.
Устройство работает следующим образом .
Излучение лазера 1, сформированное расширителем 2, направл етс  под углом //А к оптической оси контролируемой оптической поверхности 3. После отражени  от контролируемой поверхности 3 поток излучени  попадает на светоделительньй-блок 5, который раздел ет поток на четыре части попарно по ортогональным ос м X и У, Поток,. разделенный светоделитель- ным блоком 5, после первой отражательной призмы 6 попадает на ПИ 10, после отражени  от второй призмы 7 - на ПИ 11, после отражени  от третьей призмы 8 - на ПИ 12 и, отража сь от призмы 9, попадает на ПИ 13.
Перед ПИ расположен радиально-сек торный растровьй модул тор 14 (МАИ) которьй вращаетс  с посто нной угловой скоростью.
Если отсутствует децентровка, то поток излучени  пересекает МАИ 14 в четырех точках на диаметрально про- тйвоположных участках растра sL и а f к сГ , расположенных по окружности сканировани  МАИ 14 через . Электрические сигналы с ПИ 10-13 после
усилени  (усилител ми 16-18) подаютс  на фазовый детектор 19. Разность фаз сигналов на выходе ПИ 10 и 11, 12 и 13 в этом случае равна нулю, следовательно, сигналы на выходе фазового детектора 19 U(AX) и U(jy) также равны нулю.
Если имеетс  децентровка, то потоки оптического излучени , отраженные от призм 8 и 9, пересекают МАИ в точках а и а , смещенных на величину х, пропорционально величине де- центровки контролируемой поверхнрсти 3 в направлении оси X. При этом одна из оптических ветвей может быть условно прин та за опорный сигнал, а друга  - за измерительный. Тогда фаза сигнала в измерительном канале получит приращение J с/ -ЗбОлх/Т , где Tj( - пространственный период растра МАИ, а в опорном канапе -41/ -360лх/Т.
Разность приращений фазы сигнала ,с ПИ 13 и 12 равна
cfi/i 44 -d 720 x/T
(1)
fX X
Аналогично потоки излучени , отраженные от призм б и 8, пересекающие МАИ в точках с и cf , смещенных на величину /5у,позвол ют определить децентрировку контролируемой оптической поверхности вдоль оси У.Тогда разность приращений фазы сигнала с ПИ 10 и 11 равна
с/ ч ,Л1/ ,,-йч °.720йу/Т., . , (2)
Таким образом, сигналы с выхода фазового детектора пропорциональны величинам децентрировки по ортогональным ос м X и У..

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Устройство контрол  децентровки оптических поверхностей, содержащее оптически св занные источник оптического излучени , светоделительньй блок,, растровьй модул тор и два измерительных канала, каждый из кото- рых состоит из оптически св занных отражательной призмы и фотоприемника , установленного за растровым модул тором и усилител , вход которого соединен с выходом фотоприемника, фазовьй детектор, первый и второй вход которого соединен соответственно с выходами измерительных каналов.
    31441202.4
    и поворотную платформу, предназначен-полнительных каналов соответственно
    кую дл  установки на ней объекта из-соединены с третьим и четвертым вхомерени , отличающеес дами фазового детектора, светоделитем , что, с целью увеличени  чувстви-с тельный блок вьпюлнен в виде призмы
    тельности и точности, оно снабженос четырьм  отражающими гран ми, а фодвум  дополнительными измерительны-топриемники установлены за растровым
    ми каналами, идентичными основным,модул тором симметрично относительно
    оптически св занньтми со светодели-оси вращени  растрового модул тора
    тельным блоком, фазовый детектор вы-Ш и сДвинуты друг относительно друга
    полнен с четырьм  входами, выходы до-на величину it 12,
SU874244993A 1987-05-14 1987-05-14 Устройство контрол децентровки оптических поверхностей SU1441202A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874244993A SU1441202A1 (ru) 1987-05-14 1987-05-14 Устройство контрол децентровки оптических поверхностей

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874244993A SU1441202A1 (ru) 1987-05-14 1987-05-14 Устройство контрол децентровки оптических поверхностей

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1441202A1 true SU1441202A1 (ru) 1988-11-30

Family

ID=21304238

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874244993A SU1441202A1 (ru) 1987-05-14 1987-05-14 Устройство контрол децентровки оптических поверхностей

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1441202A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Биберман Л.М. Растры в электрооптических устройствах. М.: Энерги , 1969. с. 160. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3942894A (en) Self referencing retransmitting alignment sensor for a collimated light beam
JP2755757B2 (ja) 変位及び角度の測定方法
US9518816B2 (en) Dual beam splitter interferometer measuring 3 degrees of freedom, system and method of use
US4436424A (en) Interferometer using transverse deviation of test beam
US5026162A (en) Optical interference position measurement system
US4395123A (en) Interferometric angle monitor
SU1441202A1 (ru) Устройство контрол децентровки оптических поверхностей
TWI712773B (zh) 雷射干涉儀定位系統
US4290697A (en) Method to eliminate fiber interferometer reflections
US3438712A (en) Magneto-optical displacement sensing device
US3820902A (en) Measuring method and apparatus which compensate for abbe s error
CN219104954U (zh) 一种噪声自校正激光多普勒测速系统
JP2592254B2 (ja) 変位量及び変位速度の測定装置
SU916976A1 (ru) Устройство дл контрол углового положени объекта
SU1167426A1 (ru) Устройство дл контрол углового положени излучател
RU1779925C (ru) Лазерный нивелир
SU1668862A1 (ru) Устройство контрол параллельности оптических осей бинокул рного прибора
SU406180A1 (ru) Двухкоординатный автоколлиматор
JPS59218903A (ja) 光学計測装置
RU1775598C (ru) Способ измерени параметров прозрачных труб и устройство дл его осуществлени
SU938011A1 (ru) Фотоэлектрическое устройство дл контрол пр молинейности
SU1019233A1 (ru) Двухкоординатный интерферометр дл измерени линейных перемещений
RU2137097C1 (ru) Оптическое трехкоординатное устройство контроля вибросмещений
SU1019236A1 (ru) Способ контрол динамической погрешности фотоэлектрической угломерной след щей системы
SU940018A1 (ru) Двухлучевой фотометр