SU1421989A1 - Способ определени отклонени размеров объекта от номинального - Google Patents

Способ определени отклонени размеров объекта от номинального Download PDF

Info

Publication number
SU1421989A1
SU1421989A1 SU874186634A SU4186634A SU1421989A1 SU 1421989 A1 SU1421989 A1 SU 1421989A1 SU 874186634 A SU874186634 A SU 874186634A SU 4186634 A SU4186634 A SU 4186634A SU 1421989 A1 SU1421989 A1 SU 1421989A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
nominal
deviation
speckle structure
movement
size
Prior art date
Application number
SU874186634A
Other languages
English (en)
Inventor
Вячеслав Геннадьевич Бахтин
Людмила Владиславовна Бахтина
Валентин Петрович Сарычев
Original Assignee
Предприятие П/Я А-3697
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-3697 filed Critical Предприятие П/Я А-3697
Priority to SU874186634A priority Critical patent/SU1421989A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1421989A1 publication Critical patent/SU1421989A1/ru

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

4;ii 1чЭ
со
00
со
Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано при контроле размеров деталей методами когерентной оптики.
Цель изобретени  - повышение информативности контрол  за счет обеспечени  возможности измерени  величины и знака otклoнeни  размера объекта от номинального.
На чертеже представлена оптическа  схема, реализующа  способ.
Схема включает в себ  линзу 1, фокусирующую пучок когерентного излучени  2 в точку 3, расположенную на номинальной поверхности 4, нормаль но к этой поверхности, полупрозрачное зеркало 5 служит дл  направлени  пучка 2 на поверхность 6 объекта, отсто щую от номинального значени  на величину сГ, позици ми 7 и 8 обозначены единичные элементы спекл- структуры, расположенные на оси 9, нормальной к номинальной поверхности 4 и проход щей через точку 3 фокуси- ровки, на заданных рассто ш хЛ,i и 1д соответственно, v, V.,, V - вектора перемещени  исследуемой поверхности 6 единичных элементов 7 и 8 соответственно .
Способ осуществл етс  следующим образом.
Пучок 2 когерентного излучени  фокусируетс  линзой 1 нормально к номинальной поверхности 4 в точку 3, ле- жащую на этой поверхности. В отраженном от исследуемой диффузной поверхности 6 объекта излучении выдел ют единичные элементы 7 и 8 спекл струк- туры 9, расположенные на оси на заданных рассто ни х li от исследуемой поверхности 6, значени  которых определ ют заранее. Перемещают исследуемую поверхность 6 в плоскости со скоростью V и определ ют величину и направление скоро сти перемещени  V и v единичных элементов 7 и 8 в плоскост х, параллельных номинальной поверхности. .(Дл  случа  нештоской поверхности номинальна  поверхность 4 в точке 3 фокусировки принимаетс  совпадающей с касательной к этой поверхности в точке 3).
По соотношению направлений смещени  исследуемой поверхности 6 и-еди ничных элементов 7 и 8 спекл-структуры суд т об отклонении размера объекта от номинального: а) если перемещение элементов спекл-структуры отсутствует , то исследуема  поверхность 6 в данной точке 3 совпадает с номинальной 4; б) если направлени  смещени  исследуемой поверхности 6 и элементов спекл-структуры совпадают, то размер объекта мёньще номинального, т.е. исследуема  поверхность находитс  за номинальной по ходу пучка излучени  (этот случай приведен на чертеже ) ; в) если направлени  смещени  исследуемой поверхности 6 и элементов 7, 8 спекл-структуры противоположны, то.размер объекта больше номинального , т.е. исследуема  поверхность на- ходит.с  перед номинальной.
После определени  наличи  и знака отклонени  определ ют величину отклонени  с/ по соотношению скоростей v и v перемещени  единичньрс элементов 7 и 8 спекл-структуры, расположенных на рассто ни х 1., и 1 от исследуемой поверхности 6, по формуле f
Va2- Vail ,.ч
17 . .
V - V v V,
Определение величины отклонени  основано на результатах экспериментальных исследований, которые показали, что при Фокусировке излучени  нормально к поверхности на рассто нии е от Нее и выделении элементов 7 и 8 спекл структуры на. оси, проход щей через точку 3 фокусировки нормально к по - верхности, соотношение скоростей перемещени  спекл-структуры V и поверхности V в своих плоскост х имеет вид V/V (1 +«/)/«Г (2), где 1 - рассто ние от поверхности до вьщеленного элемента спекл-структуры. Определ   скорости перемещени  спеклов на двух различных рассто ни х 1, и l/ вдоль оси, можно на основе полученной экспериментальной зависимости (2) определить величину отклонени  Jпо формуле (1). Путем изменени  выбора заданных рассто ний 1, и 1 можно мен ть чувствительность способа в пределах О,1 - 10 мм.
Пример. Исследуют отклонение размеров плоских образцов после лазерной термообработки. Пучок лазерного излучени  от ЛГ-38 посредством линзы (F 250 мм, D 100 мм) фокусируют в.точку, расположенную на номинальной поверхности. В отраженном излучении на рассто ни х 1, 200 мм и l-i 800 мм выдел ют единичные элементы спекл-структуры на оси, нормальной к поверхности образца и проход щей через точку фокусировки. Дл  устранени  перекрыти  излучени  при выделении единичных элементов спекл- структуры используют ответвители света в виде полупрозрачных зеркал, расположенных под углом на оси. Перемещают исследуемый объект в своей плоскости и определ ют направление и величину скорости смещени  единичных элементов спекл структуры, т.е. величину перемещени  в единицу времени. Определение направлени  осуществл ют визуально, а величину скорости определ ют путем регистрации спеклов до и после перемещени  поверхности на фотопластинках.

Claims (1)

  1. Направление смещени  спеклов противоположно направлению перемещени  поверхности, что свидетельствует об отклонении размера образца от номинального в сторону его увеличени . По соотношению скоростей перемещени  единичных элементов спекл-структуры дл  различных точек исследуемой по- верхности образца было определено, что величина отклонени  находитс  в диапазоне / 0,5 - 2,2 мм. .Формула изобрет. вни 
    чающийс  в том, что фокусируют пучок когерентного излучени  в точку, соот- с
    ве;тству1 щую положению номинальной поверхности , и по результатам анализа
    излучени , отраженного от поверхно-. ;( сти, суд т об отклонении размера объекта от номинального, отличающийс  тем, что, с целью повышени  информативности определени  отк юнени  размеров, пучок фокусируют нормально к номинальной поверхности, в анализируемом излучении выдел ют единичные элементы спекл-структуры на двух заданных рассто ни х от объ- ектгГ -вдоль оси, нормальной к номинальной поверхности и проход щей через точку фокусировки пучка, одновременно поступательно перемещают объект в своей плоскости и определ ют направление и скорости перемещени  выделенных элементов спекл-структуры в плоскост х, параллельных номинальной ловерхности, и оАредел ют наличие и знак отклонени  размера объекта от номинального по соотношению направлений перемещени  объекта и элементов спекл-структуры, а величину этого отклонени  - по соотношению скоростей
    Способ определени  отклонени  раз- зо элементов спекл-структуры на различ- меров объекта от номинального, заклю- ных рассто ни х от объекта.
    гг
SU874186634A 1987-01-28 1987-01-28 Способ определени отклонени размеров объекта от номинального SU1421989A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874186634A SU1421989A1 (ru) 1987-01-28 1987-01-28 Способ определени отклонени размеров объекта от номинального

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874186634A SU1421989A1 (ru) 1987-01-28 1987-01-28 Способ определени отклонени размеров объекта от номинального

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1421989A1 true SU1421989A1 (ru) 1988-09-07

Family

ID=21282589

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874186634A SU1421989A1 (ru) 1987-01-28 1987-01-28 Способ определени отклонени размеров объекта от номинального

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1421989A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Реди Дж. Промьшшенные применени лазеров. - М.; Мир, 1981, с. 345- .347. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4764016A (en) Instrument for measuring the topography of a surface
KR940002356B1 (ko) 비접촉자동초점위치맞춤방법 및 장치
KR900018714A (ko) 대물렌즈 및 그 주사 장치
EP0877225A3 (en) Optical surface measurement apparatus and methods
US3895872A (en) Optical speed-measuring devices and methods for maximizing their accuracies
UST102104I4 (en) Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices
US4063814A (en) Optical scanner
SU1421989A1 (ru) Способ определени отклонени размеров объекта от номинального
JPS6117905A (ja) 厚さ測定装置
JPH11173821A (ja) 光学式検査装置
JPS56132309A (en) Automatically focusable binoculars
JPS63241407A (ja) 微細凹部の深さ測定方法及びその装置
JPS6242327Y2 (ru)
JPS57199909A (en) Distance measuring device
SU868343A1 (ru) Способ измерени толщины прозрачных пластин
JPS60211306A (ja) 縞走査シエアリング干渉測定装置における光学系調整方法
SE8404376D0 (sv) A measuring device for identification of the surface profile of an object
JPH0652168B2 (ja) 3次元形状測定装置
SU1449842A1 (ru) Способ измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали
JPS63259404A (ja) 深さ測定装置
SU1442817A1 (ru) Способ определени глубины дефектов на поверхности объекта
GB1286598A (en) Optical device for examining profile or roughness of a surface of a specimen by an optical intersection method
SU419721A1 (ru) Оптическая система фотоэлектрических угломеров следящей отработки
SU798552A1 (ru) Способ определени размеров сферичес-КиХ МиКРОчАСТиц
KR910007629Y1 (ko) 렌즈 초점거리 측정장치