SU1421989A1 - Способ определени отклонени размеров объекта от номинального - Google Patents
Способ определени отклонени размеров объекта от номинального Download PDFInfo
- Publication number
- SU1421989A1 SU1421989A1 SU874186634A SU4186634A SU1421989A1 SU 1421989 A1 SU1421989 A1 SU 1421989A1 SU 874186634 A SU874186634 A SU 874186634A SU 4186634 A SU4186634 A SU 4186634A SU 1421989 A1 SU1421989 A1 SU 1421989A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- nominal
- deviation
- speckle structure
- movement
- size
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
4;ii 1чЭ
со
00
со
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано при контроле размеров деталей методами когерентной оптики.
Цель изобретени - повышение информативности контрол за счет обеспечени возможности измерени величины и знака otклoнeни размера объекта от номинального.
На чертеже представлена оптическа схема, реализующа способ.
Схема включает в себ линзу 1, фокусирующую пучок когерентного излучени 2 в точку 3, расположенную на номинальной поверхности 4, нормаль но к этой поверхности, полупрозрачное зеркало 5 служит дл направлени пучка 2 на поверхность 6 объекта, отсто щую от номинального значени на величину сГ, позици ми 7 и 8 обозначены единичные элементы спекл- структуры, расположенные на оси 9, нормальной к номинальной поверхности 4 и проход щей через точку 3 фокуси- ровки, на заданных рассто ш хЛ,i и 1д соответственно, v, V.,, V - вектора перемещени исследуемой поверхности 6 единичных элементов 7 и 8 соответственно .
Способ осуществл етс следующим образом.
Пучок 2 когерентного излучени фокусируетс линзой 1 нормально к номинальной поверхности 4 в точку 3, ле- жащую на этой поверхности. В отраженном от исследуемой диффузной поверхности 6 объекта излучении выдел ют единичные элементы 7 и 8 спекл струк- туры 9, расположенные на оси на заданных рассто ни х li от исследуемой поверхности 6, значени которых определ ют заранее. Перемещают исследуемую поверхность 6 в плоскости со скоростью V и определ ют величину и направление скоро сти перемещени V и v единичных элементов 7 и 8 в плоскост х, параллельных номинальной поверхности. .(Дл случа нештоской поверхности номинальна поверхность 4 в точке 3 фокусировки принимаетс совпадающей с касательной к этой поверхности в точке 3).
По соотношению направлений смещени исследуемой поверхности 6 и-еди ничных элементов 7 и 8 спекл-структуры суд т об отклонении размера объекта от номинального: а) если перемещение элементов спекл-структуры отсутствует , то исследуема поверхность 6 в данной точке 3 совпадает с номинальной 4; б) если направлени смещени исследуемой поверхности 6 и элементов спекл-структуры совпадают, то размер объекта мёньще номинального, т.е. исследуема поверхность находитс за номинальной по ходу пучка излучени (этот случай приведен на чертеже ) ; в) если направлени смещени исследуемой поверхности 6 и элементов 7, 8 спекл-структуры противоположны, то.размер объекта больше номинального , т.е. исследуема поверхность на- ходит.с перед номинальной.
После определени наличи и знака отклонени определ ют величину отклонени с/ по соотношению скоростей v и v перемещени единичньрс элементов 7 и 8 спекл-структуры, расположенных на рассто ни х 1., и 1 от исследуемой поверхности 6, по формуле f
Va2- Vail ,.ч
17 . .
V - V v V,
Определение величины отклонени основано на результатах экспериментальных исследований, которые показали, что при Фокусировке излучени нормально к поверхности на рассто нии е от Нее и выделении элементов 7 и 8 спекл структуры на. оси, проход щей через точку 3 фокусировки нормально к по - верхности, соотношение скоростей перемещени спекл-структуры V и поверхности V в своих плоскост х имеет вид V/V (1 +«/)/«Г (2), где 1 - рассто ние от поверхности до вьщеленного элемента спекл-структуры. Определ скорости перемещени спеклов на двух различных рассто ни х 1, и l/ вдоль оси, можно на основе полученной экспериментальной зависимости (2) определить величину отклонени Jпо формуле (1). Путем изменени выбора заданных рассто ний 1, и 1 можно мен ть чувствительность способа в пределах О,1 - 10 мм.
Пример. Исследуют отклонение размеров плоских образцов после лазерной термообработки. Пучок лазерного излучени от ЛГ-38 посредством линзы (F 250 мм, D 100 мм) фокусируют в.точку, расположенную на номинальной поверхности. В отраженном излучении на рассто ни х 1, 200 мм и l-i 800 мм выдел ют единичные элементы спекл-структуры на оси, нормальной к поверхности образца и проход щей через точку фокусировки. Дл устранени перекрыти излучени при выделении единичных элементов спекл- структуры используют ответвители света в виде полупрозрачных зеркал, расположенных под углом на оси. Перемещают исследуемый объект в своей плоскости и определ ют направление и величину скорости смещени единичных элементов спекл структуры, т.е. величину перемещени в единицу времени. Определение направлени осуществл ют визуально, а величину скорости определ ют путем регистрации спеклов до и после перемещени поверхности на фотопластинках.
Claims (1)
- Направление смещени спеклов противоположно направлению перемещени поверхности, что свидетельствует об отклонении размера образца от номинального в сторону его увеличени . По соотношению скоростей перемещени единичных элементов спекл-структуры дл различных точек исследуемой по- верхности образца было определено, что величина отклонени находитс в диапазоне / 0,5 - 2,2 мм. .Формула изобрет. вничающийс в том, что фокусируют пучок когерентного излучени в точку, соот- све;тству1 щую положению номинальной поверхности , и по результатам анализаизлучени , отраженного от поверхно-. ;( сти, суд т об отклонении размера объекта от номинального, отличающийс тем, что, с целью повышени информативности определени отк юнени размеров, пучок фокусируют нормально к номинальной поверхности, в анализируемом излучении выдел ют единичные элементы спекл-структуры на двух заданных рассто ни х от объ- ектгГ -вдоль оси, нормальной к номинальной поверхности и проход щей через точку фокусировки пучка, одновременно поступательно перемещают объект в своей плоскости и определ ют направление и скорости перемещени выделенных элементов спекл-структуры в плоскост х, параллельных номинальной ловерхности, и оАредел ют наличие и знак отклонени размера объекта от номинального по соотношению направлений перемещени объекта и элементов спекл-структуры, а величину этого отклонени - по соотношению скоростейСпособ определени отклонени раз- зо элементов спекл-структуры на различ- меров объекта от номинального, заклю- ных рассто ни х от объекта.гг
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874186634A SU1421989A1 (ru) | 1987-01-28 | 1987-01-28 | Способ определени отклонени размеров объекта от номинального |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874186634A SU1421989A1 (ru) | 1987-01-28 | 1987-01-28 | Способ определени отклонени размеров объекта от номинального |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1421989A1 true SU1421989A1 (ru) | 1988-09-07 |
Family
ID=21282589
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874186634A SU1421989A1 (ru) | 1987-01-28 | 1987-01-28 | Способ определени отклонени размеров объекта от номинального |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1421989A1 (ru) |
-
1987
- 1987-01-28 SU SU874186634A patent/SU1421989A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Реди Дж. Промьшшенные применени лазеров. - М.; Мир, 1981, с. 345- .347. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4764016A (en) | Instrument for measuring the topography of a surface | |
KR940002356B1 (ko) | 비접촉자동초점위치맞춤방법 및 장치 | |
KR900018714A (ko) | 대물렌즈 및 그 주사 장치 | |
EP0877225A3 (en) | Optical surface measurement apparatus and methods | |
US3895872A (en) | Optical speed-measuring devices and methods for maximizing their accuracies | |
UST102104I4 (en) | Scanning optical system adapted for linewidth measurement in semiconductor devices | |
US4063814A (en) | Optical scanner | |
SU1421989A1 (ru) | Способ определени отклонени размеров объекта от номинального | |
JPS6117905A (ja) | 厚さ測定装置 | |
JPH11173821A (ja) | 光学式検査装置 | |
JPS56132309A (en) | Automatically focusable binoculars | |
JPS63241407A (ja) | 微細凹部の深さ測定方法及びその装置 | |
JPS6242327Y2 (ru) | ||
JPS57199909A (en) | Distance measuring device | |
SU868343A1 (ru) | Способ измерени толщины прозрачных пластин | |
JPS60211306A (ja) | 縞走査シエアリング干渉測定装置における光学系調整方法 | |
SE8404376D0 (sv) | A measuring device for identification of the surface profile of an object | |
JPH0652168B2 (ja) | 3次元形状測定装置 | |
SU1449842A1 (ru) | Способ измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали | |
JPS63259404A (ja) | 深さ測定装置 | |
SU1442817A1 (ru) | Способ определени глубины дефектов на поверхности объекта | |
GB1286598A (en) | Optical device for examining profile or roughness of a surface of a specimen by an optical intersection method | |
SU419721A1 (ru) | Оптическая система фотоэлектрических угломеров следящей отработки | |
SU798552A1 (ru) | Способ определени размеров сферичес-КиХ МиКРОчАСТиц | |
KR910007629Y1 (ko) | 렌즈 초점거리 측정장치 |