SU1198374A1 - Способ изготовлени полупроводникового преобразовател - Google Patents
Способ изготовлени полупроводникового преобразовател Download PDFInfo
- Publication number
- SU1198374A1 SU1198374A1 SU843789921A SU3789921A SU1198374A1 SU 1198374 A1 SU1198374 A1 SU 1198374A1 SU 843789921 A SU843789921 A SU 843789921A SU 3789921 A SU3789921 A SU 3789921A SU 1198374 A1 SU1198374 A1 SU 1198374A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- strain
- sections
- resistance
- width
- resistances
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕШ, заключающийс в том, что изготавливают промежуточные фотошаблоны тензорезисторов преобразовател в виде полос с участками дл корректировки номиналов тензорезисторов и выводными контактами,изготавливают по ним пробный преобразователь, измер ют сопротивлени полученных тензорезисторов, измен ют конфигурацию участков дл корректировки номиналов тензорезисторов в соответствии с величиной отклонени результатов измерени сопротивлений от номинала и изготавливают преобразователь по измененному фотошаблону , отличающийс тем, что, с целью повышени точности за счет снижени разброса сопротивлений тензорезисторов, выполн ют участок корректировки номинала каждого тензорезистора в виде полосы, ширина которой в 2-5 раз превышает ширину полосы самого тензорезистора , а концы соединены с выводным контактом и с одним из концов тензорезистора, а изменение конфигурации участков осуществл ют с S выполнением на этих участках на промежуточном фотошаблоне с учетом его масштаба прорезей, ширина которых превышает двойную ширину бокового легировани при формировании тензорезисторов, а длина пропорциональна отклонению соответствующего сопротивлени тензорезистора от номинала.
Description
. 1
Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к способам изготовлени полупроводниковых тензометрических преобразователей , и может быть использовано при создании тензометрических преобразователей повышенной точности, изготавливаемых методами интегральной микроэлектронной технологии.
Цель изобретени - повьшение точности преобразовател за счет снижени разброса сопротивлений тензорезисторов . ;
На чертеже представлен пример преобразовател , изготавливаемого по предлагаемому способу, вид в плане.
Способ осуществл ют следующим образом.
Изготавливают промежуточные фотошаблоны тензорезисторов 1-4 преобразовател в виде полос, образующих .решетку тензорезисторов, с Участками 5-12 дл корректировки номиналов тензорезисторов 1-А, также выполненными в виде полос, ширина которых в 2-5 раз превьшает ширину полосы самого тензорезистора, а концы соединены с выводным контактом и с одним из концов тензорезистора,. и выводными контактами 13-17, изготавливают по ним пробный преобразователь , измер ют сопротивлени полученных т.ензорезисторов 1-4, подключа измеритель сопротивлений поочередно к выводным контактам 13 и 17, 13 и 14, 15 и -16, 16 и 17. По этим результатам измерени определ ют отклонени сопротивлений тензорезисторов 1-4 от номинала, а также геометрические размеры про98374
резей, выполн емых на корректировочных участках дл подгонки номинала сопротивлени каждого тензорезистора 1-4.
5 Затем на промежуточном фотошаблоне методами эррозионной или ла . верной обработки тонких пленок на корректировочных участках 5-12 выполн ют прорези 18-25, ширина 0 которых превьпиает (с учетом масштаба фотошаблона) двойную ширину бокового легировани при формировании тензорезисторов, а длина пропорциональна отклонению соответствующего сопротивлени тенэорезистора от номинала.
После описанного изменени конфигурации участков 5-10 корректировки Номиналов тензорезисторов .приступают к изготовлению рабочих фотошаблонов , а по ним - партии полупроводниковых преобразователей. При соединении тензорезисторов 1-4 в
25 мост- разбаланс такого моста будет близок к нулю, что .обеспечивает повьш1ение точности измерений за счет снижени погрешностей ухода начального уровн сигнала от моста до
30 дестабшщзирующих факторов. При данном способе изготовлени преобразователей обеспечиваетс также их взаимозамен емость, поскольку все они имеют одни и те же номиналы и минимальный разбаланс.
Точность изготовлени тензорезисторов повьш1аетс в 3-5 раз, а трудоемкость корректировки фотошаблонов при применении данного способа снижаетс на 20-30%.
/4
Claims (1)
- СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ, заключающийся в том, что изготавливают промежуточные фотошаблоны тензорезисторов преобразователя в виде полос с участками для корректировки номиналов тензорезисторов и выводными контактами,изготавливают по ним пробный преобразователь, измеряют сопротивления полученных тензорезисторов, изменяют конфигурацию участков для корректировки номиналов тензорезисторов в соответствии с величиной отклонения результатов измерения сопротивлений от номинала и изготавливают преобразователь по измененному фотошаблону, отличающийся тем, что, с целью повышения точности за счет снижения разброса сопротивлений тензорезисторов, выполняют участок корректировки номинала каждого тензорезистора в виде полосы, ширина которой в 2-5 раз превышает ширину полосы самого тензорезистора, а концы соединены с выводным контактом и с одним из концов тензорезистора, а изменение конфигурации участков осуществляют выполнением на этих участках на промежуточном фотошаблоне с учетом его масштаба прорезей, ширина которых превышает двойную ширину бокового легирования при формировании тензорезисторов, а длина пропорциональна отклонению соответствующего сопротивления тензорезистора от номинала.Mat юэо м•fe»
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843789921A SU1198374A1 (ru) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | Способ изготовлени полупроводникового преобразовател |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843789921A SU1198374A1 (ru) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | Способ изготовлени полупроводникового преобразовател |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1198374A1 true SU1198374A1 (ru) | 1985-12-15 |
Family
ID=21138248
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843789921A SU1198374A1 (ru) | 1984-07-11 | 1984-07-11 | Способ изготовлени полупроводникового преобразовател |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1198374A1 (ru) |
-
1984
- 1984-07-11 SU SU843789921A patent/SU1198374A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 691682, кл. G 01 В 7/18, 1978. Авторское свидетельство СССР № 769370, кл. G 01 L 1/22, 1978. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4047144A (en) | Transducer | |
RU2498249C1 (ru) | Способ изготовления тензорезисторного датчика давления на основе тонкопленочной нано- и микроэлектромеханической системы | |
SU1198374A1 (ru) | Способ изготовлени полупроводникового преобразовател | |
RU1822245C (ru) | Интегральный преобразователь деформаций егиазаряна и способ его изготовления | |
JPS5983167A (ja) | 多層印刷の位置合わせ方法 | |
CN110645896B (zh) | 一种带钢纤维条长度测量方法及测量装置 | |
JPH0125425B2 (ru) | ||
SU1171748A1 (ru) | Способ настройки реле времени | |
SU1583763A1 (ru) | Способ определени механических напр жений | |
GB2183051A (en) | Strain gage sensor | |
SU1453159A1 (ru) | Способ определени внутренних напр жений в образце | |
JPS57196124A (en) | Load cell | |
SU1515035A1 (ru) | Способ измерени деформаций твердых тел | |
SU815479A1 (ru) | Способ изготовлени фольговыхТЕНзОРЕзиСТОРОВ HA МЕТАлличЕСКОйОСНОВЕ | |
SU1302138A1 (ru) | Устройство контрол отклонений линейных размеров элементов фотошаблонов | |
SU1259104A1 (ru) | Способ группового изготовлени полупроводниковых чувствительных тензоэлементов | |
SU977937A1 (ru) | Способ измерени динамических деформаций | |
SU917014A1 (ru) | Датчик давлени | |
SU1224563A1 (ru) | Интегральный тензопреобразователь | |
SU1415086A2 (ru) | Полупроводниковый тензопреобразователь | |
JP2554881B2 (ja) | ロ−ドセル | |
SU450970A1 (ru) | Способ изготовлени термометров сопротивлени | |
SU1073560A1 (ru) | Тензопреобразователь | |
RU1827573C (ru) | Способ определени динамического коэффициента Пуассона материала | |
SU1106982A1 (ru) | Датчик деформаций |