SU1125588A1 - Интерференционный отрезающий фильтр - Google Patents
Интерференционный отрезающий фильтр Download PDFInfo
- Publication number
- SU1125588A1 SU1125588A1 SU823387317A SU3387317A SU1125588A1 SU 1125588 A1 SU1125588 A1 SU 1125588A1 SU 823387317 A SU823387317 A SU 823387317A SU 3387317 A SU3387317 A SU 3387317A SU 1125588 A1 SU1125588 A1 SU 1125588A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- refractive index
- low refractive
- multilayer systems
- optical thickness
- layers
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/20—Filters
- G02B5/28—Interference filters
- G02B5/285—Interference filters comprising deposited thin solid films
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Filters (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
1. ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ ОТРЕЗАЮЩИЙ ФИЛЬТР, содержащий прозрачную подложку с последовательно располо-женными на ней первой и второй многослойными системами, состо щими из чередующихс четвертьволновых по оптической толщине слоев материалов с высоким и низким показател ми преломлени и выполненными с центром на длине волны / и -соответственно, при этом riepDbrfi и последний слои первой и вторрй многослойньк систем выполнены из материала с высоким показателем преломлени и оптической толщиной и соответственно, отличающийс тем, что, с целью уменьшени интегрального коэффициента фона при сохранении максимального пропускани , между первой и второй многослойными системами введен согласующий слой материала с низким показателем преломлени и оптической толщиной, равной 71/8. S 2. Фильтр поп, 1,отлича (Л ю щ и и с тем, что в качестве ма-. териала с высоким показателем преломлени использован германий, а материт ала с низким показателем преломлени -С моноокись кремни .
Description
--Р уХХУуХхУУХХ/УхТ
j-pZZZZj
v7///////////////.
У Х
« J , ч N
Изобретение относитс к интерфе- . . ренционным покрыти м физики тонких пленок и может найти широкое; применение в оптике, астрономииэ спектральных и космических исследовани- 5 к., в частности в аналитическом приборостроении интерференционные фильтры могут быть использованы в качестве монохроматизиругощих элементов дл вьщелени полос поглощени анализи- Р руемых газовых компонентов.
Известен интерференционный фильтр. содержащий стекл нную, кварцевую или какую-либо иную прозрачную подложку , два четвертьволновых зеркала, ti образованных чередующимис сло ми диэлектриков свысоким и низким показател ми преломле 1и , при этом между зеркалами расположен промежуточный диэлектрический слой с опти- 20 ческой толщиной, кратной половине длины световой волны lj .
Недостатком такого устройства вл етс то, что область максимального отражени сравнительно неве- 25 лика и имеет, кроме того, осцилл цию , т.е. участки с низким коэффициентом отражени .
Известен интерференционный отрезающий фильтр, содержащий прозрач- ЗО ную подложку с последовательно расположенными на ней первой и второй многослойными-системами, состо щими из чередующихс четвертьволновых по оптической толщине слоев материалов с высоким и низким показател ми преломлени , и выполненными с центром на длине волны f и соответственно, при этом первый и последний слои первой и второй многослойной сие- Q темы выполнены из материала с высоКИМ показателем преломлени и оптической толщиной и соответственно 2j ,
Известна конструкци расшир ет область максимального отражени , но не устран ет осцилл ции коэффициента отражени в области блокировани , что приводит к увеличению интегрального значени фона.50
Цель изобретени - уменьшение интегрального) коэффициента фона при сохранении максимального пропускани .
Поставленна цель достигаетс 55 тем, что в интерференционном отреза ющем фильтре,, содержащем прозрачную подложку с последовательно расположенными на ней первой и второй многослойньми системами, состо щими из чередующихс четвертьволновых по оптической толщине слоев материалов с высоким и низким показател ми преломлени и выполненными с центром на длине волны 9 Т соответственно , при этом первый и последний слои первой и второй многослойных систем выполнены из материала с высоким показателем преломлени и оптической толщиной Х /8 и /8 соответственно, между первой и второй многослойными системами вбеден согласующий слой материала с низким показателем преломлени и оптической ТОЛ1ЦННОЙ, равной /8.
При этом в качестве материала с высоким показателем преломлени использован германий ((je); а материала с низким показателем преломлени двуокись кремни (SiO).
На фиг. приведена конструкци интерференционного отрезающего филь|ра; на фиг. 2 - спектральна характеристика предлагаемого фильтра с согласующим слоем; на фиг. 3-то же, с согласующим слоем в области блокировани , где Т - коэффициент пропускани , 7,- длина волны (мкм).
Устройство содержит подложку 1, слои 2 с высоким показателем «преломлени , слои 3 с низким показателем преломлени и согласующий слой 4.
Из фиг, 2 и 3 видно, что в области максимального отражени фильтра отсутствуют участки с низким коэффициентом отражени , чем улучшаютс эксплуатационные характеристики фильтра, повьпиаетс его избирательность .
Например, дл интерференционного отрезающего фильтра, состо щего из слоев германи и моноокиси кремни , дл 13-слойной системы введение согласующего сло приводит к уменьшению значени интегрального пропускани в области блокировани на пор док.
.Предлагаемое устройство может быть использовано во многих област х науки и техники: в оптике, астрономии , спектральных и космических исследовани х, так как позвол ет уменьшить осцилл ции коэффициента
311255884
отражени в области блокировани , что этом коэффициент пропускани и приводит к уменьшению интеграль- не усложн технологии изготовного значени фона, не уменьша при лени .
7-.% WO
80 60
itO 20
2.0
3,0 Фиг, 2
.т.% 1,5
1.0
ffJO Л,мкм
5.0
.0
Claims (2)
1. ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ ОТРЕЗАЮЩИЙ ФИЛЬТР, содержащий прозрачную подложку с последовательно расположенными на ней первой и второй многослойными системами, состоящими из чередующихся четвертьволновых по оптической толщине слоев материалов с высоким и низким показателями пре ломления и выполненными с центром на длине волны ft и ft -соответственно, при этом первый и последний слои первой и второй многослойных систем вы полнены из материала с высоким показателем преломления и оптической толщиной ft/8 и ft /8 соответственно, отличающийся тем, что, с целью уменьшения интегрального коэффициента фона при сохранении мак симального пропускания, между первой и второй многослойными системами введен согласующий слой материала с низким показателем преломления и оптической толщиной, равной ft/8.
2. Фильтр поп. 1, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что в качестве ма-. териала с высоким показателем преломления использован германий, а матери- ала с низким показателем преломления -Q моноокись кремния. , w фиг 1 >
ί ί 125588
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823387317A SU1125588A1 (ru) | 1982-01-27 | 1982-01-27 | Интерференционный отрезающий фильтр |
DE19833302565 DE3302565A1 (de) | 1982-01-27 | 1983-01-26 | Frequenzbegrenzendes interferenzfilter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU823387317A SU1125588A1 (ru) | 1982-01-27 | 1982-01-27 | Интерференционный отрезающий фильтр |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1125588A1 true SU1125588A1 (ru) | 1984-11-23 |
Family
ID=20994261
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU823387317A SU1125588A1 (ru) | 1982-01-27 | 1982-01-27 | Интерференционный отрезающий фильтр |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE3302565A1 (ru) |
SU (1) | SU1125588A1 (ru) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2523733Y2 (ja) * | 1989-07-25 | 1997-01-29 | 株式会社堀場製作所 | 光学フィルタ |
DE19932082A1 (de) * | 1999-07-12 | 2001-01-18 | Schott Glas | Interferenzoptisches Schmalbandfilter |
CN105842770B (zh) * | 2016-05-17 | 2018-06-01 | 江苏大学 | 一种co2气体检测用红外滤光片及其制备方法 |
CN106990466B (zh) * | 2017-04-24 | 2020-01-24 | 江苏大学 | 一种窄带滤光片及其制备方法 |
CN111596396B (zh) * | 2020-07-21 | 2020-10-27 | 上海翼捷工业安全设备股份有限公司 | 氯乙烯气体检测用红外滤光片、气体传感器及制备方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH502603A (de) * | 1969-12-17 | 1971-01-31 | Balzers Patent Beteilig Ag | Vielschichtinterferenzlichtfilter mit einem breitbandigen spektralen Transmissionsbereich |
US3781089A (en) * | 1971-08-02 | 1973-12-25 | Eastman Kodak Co | Neutral density filter element with reduced surface reflection |
CH564785A5 (ru) * | 1972-12-08 | 1975-07-31 | Balzers Patent Beteilig Ag | |
DE2637616A1 (de) * | 1976-08-20 | 1978-02-23 | Siemens Ag | Filter fuer fotodetektoren |
-
1982
- 1982-01-27 SU SU823387317A patent/SU1125588A1/ru active
-
1983
- 1983-01-26 DE DE19833302565 patent/DE3302565A1/de active Granted
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
1. Фурман Ш.А. Тонкослойные оптические покрыти . Л., Машиностро-. ение, 1977, с. 77-78. 2. Крылова Т.Н. Интерференционные покрыти . Л., 1973, с. 81 (прототип). * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3302565A1 (de) | 1983-08-11 |
DE3302565C2 (ru) | 1988-01-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CA2220291C (en) | Multilayer thin film dielectric bandpass filter | |
US6809859B2 (en) | Optical filter and fluorescence spectroscopy system incorporating the same | |
EP0763757B1 (en) | Wavelength-selective devices using silicon-on-insulator | |
US6624945B2 (en) | Thin film filters using omnidirectional reflectors | |
US3697153A (en) | Multilayer optical interference filter with wideband spectral transmission region and reduced ripple | |
US2412496A (en) | Color selective reflector | |
US6301042B1 (en) | Fabry-perot optical filter with chirped dielectric mirrors | |
US20120099188A1 (en) | Laser Protection Structures and Methods of Fabrication | |
US7411679B2 (en) | Optical filter and fluorescence spectroscopy system incorporating the same | |
JPH10508113A (ja) | 光学部品 | |
EP0372438A2 (en) | UV and plasma stable high-reflectance multilayer dielectric mirror | |
US4929063A (en) | Nonlinear tunable optical bandpass filter | |
CN106405709A (zh) | 一种宽带截止超窄带滤光片 | |
US4408825A (en) | Vacuum ultraviolet reflectance filter | |
SU1125588A1 (ru) | Интерференционный отрезающий фильтр | |
US6859483B1 (en) | Induced absorption filter (IAF) | |
US3623797A (en) | Internally reflecting barrier control filtering apparatus | |
JP2007279534A (ja) | 光学素子 | |
USH1182H (en) | Dielectric optical switch | |
US11226503B2 (en) | Tunable spectral filters | |
US4884868A (en) | Optical component for separating light into different wavelength components | |
JP7251099B2 (ja) | バンドパスフィルタ及びその製造方法 | |
US2964635A (en) | Infra-red-radiation polarizer | |
CN118068470B (zh) | 一种激光发射角度定位识别滤光片及其应用 | |
RU2079861C1 (ru) | Полосовой светофильтр |